標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 17551-1998 識(shí)別卡 光記憶卡 一般特性》這一標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光記憶卡的基本要求、測(cè)試方法以及質(zhì)量評(píng)定規(guī)則等,旨在為光記憶卡的生產(chǎn)、檢驗(yàn)及應(yīng)用提供統(tǒng)一的技術(shù)規(guī)范。然而,您提供的對(duì)比信息并不完整,沒(méi)有明確指出要與哪個(gè)具體的標(biāo)準(zhǔn)版本或文件進(jìn)行比較。因此,直接對(duì)比其與某一特定標(biāo)準(zhǔn)的變更內(nèi)容無(wú)法實(shí)現(xiàn)。

若需要了解《GB/T 17551-1998》相比于其前一版或其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的具體變更,通常會(huì)涉及對(duì)兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)文檔的詳細(xì)比對(duì),包括技術(shù)參數(shù)的調(diào)整、新增或刪除的測(cè)試項(xiàng)目、性能指標(biāo)的修訂、以及任何因技術(shù)進(jìn)步或市場(chǎng)需求變化而引入的新要求等。例如,可能包括對(duì)光記憶卡的物理尺寸、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)容量、讀寫(xiě)速度、耐用性、數(shù)據(jù)安全性等方面規(guī)定的更新。

為了獲取詳細(xì)的變更信息,建議直接查閱該標(biāo)準(zhǔn)的歷次修訂記錄或技術(shù)修訂說(shuō)明,或參考相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)化機(jī)構(gòu)發(fā)布的對(duì)比分析報(bào)告。這樣可以確保獲取到最準(zhǔn)確、最全面的更新內(nèi)容概述。


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  • 1998-11-05 頒布
  • 1999-06-01 實(shí)施
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ICS35.240.15L64中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17551-1998idtISO/IEC11693:1994識(shí)別卡光記憶卡一般特性TdentificationCards-0pticalmemorycards-Generalcharacteristics1998-11-05發(fā)布1999-06-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17551-1998三次前言ISO/IEC前言引言·范圍2引用標(biāo)準(zhǔn)定義結(jié)構(gòu)尺寸5···6物理特性7可訪問(wèn)光區(qū)域的大小和位置8光屬性和特性邏輯數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)

CB/T17551-1998前言:光記憶卡本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC11693:1994《識(shí)別卡一般特性》本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:馮敬、馮惠、李韻琴、蔡懷忠、陳云峰。

GB/T17551—1998ISO/IEC前言ISO(國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織)和IEC(國(guó)際電工委員會(huì))建立了世界范圍標(biāo)準(zhǔn)化的專(zhuān)門(mén)系統(tǒng)。ISO或IEC的國(guó)家成員團(tuán)體通過(guò)國(guó)際組織建立的各個(gè)技術(shù)委員會(huì)參與制定針對(duì)特定技術(shù)領(lǐng)域的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。ISO和IEC技術(shù)委員會(huì)在共同感興趣的領(lǐng)域合作。其他與ISO和IC有聯(lián)系的官方和非官方的各國(guó)際組織也參與此項(xiàng)工作。在信息技術(shù)領(lǐng)域,ISO和IEC建立了一個(gè)聯(lián)合技術(shù)委員會(huì),即ISO/IECJTCl。由聯(lián)合技術(shù)委員會(huì)提出的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)草案,需分發(fā)給各成員團(tuán)體進(jìn)行表決。作為國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布至少需要75%的成員團(tuán)體投票贊成。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC11693由聯(lián)合技術(shù)委員會(huì)ISO/IECJTCl"信息技術(shù)”的分委員會(huì)SC17“識(shí)別卡及相關(guān)設(shè)備”制定。

GB/T17551-1998本標(biāo)準(zhǔn)是描述光記憶卡的參數(shù)以及如何使用這些卡存儲(chǔ)和交換數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的一系列標(biāo)準(zhǔn)之一。這些標(biāo)準(zhǔn)承認(rèn)用于記錄和讀取光記憶卡上的信息存在各種不同方法,光記憶卡的特性對(duì)所采用的記錄方式來(lái)說(shuō)是明確的。一般而言.這些不同的記錄方法不能相互兼容。因此,以一種一致的方式制定這些標(biāo)準(zhǔn)來(lái)包容現(xiàn)有的和將來(lái)的記錄方法、本標(biāo)準(zhǔn)是光記憶卡的通用標(biāo)準(zhǔn),適用于某種特定記錄方法的特性將出現(xiàn)在一些獨(dú)立的標(biāo)準(zhǔn)文件中,這些文件定義了符合、加入和/或不符合此相關(guān)的基本文件的范圍。

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)識(shí)別卡光記憶卡一般特性GB/T17551-1998idtIso/IEC11693:1994ldentificationcards-Opticalmemorycards-Generalcharacteristics范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在卡上存儲(chǔ)數(shù)據(jù)、從卡上讀取數(shù)據(jù),以及在信息處理系統(tǒng)中光記憶卡的物理、光學(xué)和數(shù)據(jù)交換能力所必需的信息。本標(biāo)準(zhǔn)定義了光記憶卡的一般特性,包括卡的材料、結(jié)構(gòu)、特性、尺寸和測(cè)試環(huán)境,這些特性已經(jīng)被確定為適用于所有類(lèi)型的光記憶卡且與所使用的記錄方法無(wú)關(guān)。本標(biāo)準(zhǔn)的意圖是為對(duì)在光記憶卡上編碼的數(shù)字信息交換感興趣的卡制造商、發(fā)卡者和卡用戶(hù)提供必要的信息。本標(biāo)準(zhǔn)可作為計(jì)劃開(kāi)發(fā)使用光記憶卡的設(shè)備和系統(tǒng)的廠商和用戶(hù)的指南。。卡的數(shù)據(jù)內(nèi)容及其使用依賴(lài)于每個(gè)工業(yè)組織開(kāi)發(fā)的應(yīng)用。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文,通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí),所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂,使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T14916-1994識(shí)別卡物理特性(idtISO7810:1985)GB/T16649.1一1996識(shí)別卡帶觸點(diǎn)的集成電路卡第1部分:物理特性(idtISO7816-1:1987)GB/T17554-1998識(shí)別卡測(cè)試方法(idtISO/IEC10373:1993)3定義本標(biāo)準(zhǔn)采用下列定義:3.1可訪間的光區(qū)域accessibleopticalarea可以由所用光系統(tǒng)的該和/或?qū)懝馐M(jìn)行訪問(wèn)的光記憶卡的任何部分,3.2背景反射率backgroundreflectivity以特定波長(zhǎng)通過(guò)位于相鄰光跡導(dǎo)軌中間的透明層所測(cè)得的可訪間光區(qū)域的未寫(xiě)、未格式化部分的反射率。3.3背景透射率backgroundtransmissivity以特定波長(zhǎng)穿過(guò)卡的有效寫(xiě)和/或讀位置所測(cè)得的可訪問(wèn)光區(qū)域的未寫(xiě)、未格式化部分的透射率。3.4光束直徑beamdiameter光層表面上測(cè)得的激光束直徑的1/e"。3.5

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