標準解讀
《GB/T 17551-1998 識別卡 光記憶卡 一般特性》這一標準規(guī)定了光記憶卡的基本要求、測試方法以及質量評定規(guī)則等,旨在為光記憶卡的生產、檢驗及應用提供統(tǒng)一的技術規(guī)范。然而,您提供的對比信息并不完整,沒有明確指出要與哪個具體的標準版本或文件進行比較。因此,直接對比其與某一特定標準的變更內容無法實現。
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- 現行
- 正在執(zhí)行有效
- 1998-11-05 頒布
- 1999-06-01 實施
文檔簡介
ICS35.240.15L64中華人民共和國國家標準GB/T17551-1998idtISO/IEC11693:1994識別卡光記憶卡一般特性TdentificationCards-0pticalmemorycards-Generalcharacteristics1998-11-05發(fā)布1999-06-01實施國家質量技術監(jiān)督局發(fā)布
GB/T17551-1998三次前言ISO/IEC前言引言·范圍2引用標準定義結構尺寸5···6物理特性7可訪問光區(qū)域的大小和位置8光屬性和特性邏輯數據結構
CB/T17551-1998前言:光記憶卡本標準等同采用國際標準ISO/IEC11693:1994《識別卡一般特性》本標準由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標準由電子工業(yè)部標準化研究所歸口。本標準起草單位:電子工業(yè)部標準化研究所。本標準主要起草人:馮敬、馮惠、李韻琴、蔡懷忠、陳云峰。
GB/T17551—1998ISO/IEC前言ISO(國際標準化組織)和IEC(國際電工委員會)建立了世界范圍標準化的專門系統(tǒng)。ISO或IEC的國家成員團體通過國際組織建立的各個技術委員會參與制定針對特定技術領域的國際標準。ISO和IEC技術委員會在共同感興趣的領域合作。其他與ISO和IC有聯系的官方和非官方的各國際組織也參與此項工作。在信息技術領域,ISO和IEC建立了一個聯合技術委員會,即ISO/IECJTCl。由聯合技術委員會提出的國際標準草案,需分發(fā)給各成員團體進行表決。作為國際標準的發(fā)布至少需要75%的成員團體投票贊成。國際標準ISO/IEC11693由聯合技術委員會ISO/IECJTCl"信息技術”的分委員會SC17“識別卡及相關設備”制定。
GB/T17551-1998本標準是描述光記憶卡的參數以及如何使用這些卡存儲和交換數字數據的一系列標準之一。這些標準承認用于記錄和讀取光記憶卡上的信息存在各種不同方法,光記憶卡的特性對所采用的記錄方式來說是明確的。一般而言.這些不同的記錄方法不能相互兼容。因此,以一種一致的方式制定這些標準來包容現有的和將來的記錄方法、本標準是光記憶卡的通用標準,適用于某種特定記錄方法的特性將出現在一些獨立的標準文件中,這些文件定義了符合、加入和/或不符合此相關的基本文件的范圍。
中華人民共和國國家標準識別卡光記憶卡一般特性GB/T17551-1998idtIso/IEC11693:1994ldentificationcards-Opticalmemorycards-Generalcharacteristics范圍本標準規(guī)定了在卡上存儲數據、從卡上讀取數據,以及在信息處理系統(tǒng)中光記憶卡的物理、光學和數據交換能力所必需的信息。本標準定義了光記憶卡的一般特性,包括卡的材料、結構、特性、尺寸和測試環(huán)境,這些特性已經被確定為適用于所有類型的光記憶卡且與所使用的記錄方法無關。本標準的意圖是為對在光記憶卡上編碼的數字信息交換感興趣的卡制造商、發(fā)卡者和卡用戶提供必要的信息。本標準可作為計劃開發(fā)使用光記憶卡的設備和系統(tǒng)的廠商和用戶的指南。。卡的數據內容及其使用依賴于每個工業(yè)組織開發(fā)的應用。2引用標準下列標準所包含的條文,通過在本標準中引用而構成為本標準的條文。本標準出版時,所示版本均為有效。所有標準都會被修訂,使用本標準的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性。GB/T14916-1994識別卡物理特性(idtISO7810:1985)GB/T16649.1一1996識別卡帶觸點的集成電路卡第1部分:物理特性(idtISO7816-1:1987)GB/T17554-1998識別卡測試方法(idtISO/IEC10373:1993)3定義本標準采用下列定義:3.1可訪間的光區(qū)域accessibleopticalarea可以由所用光系統(tǒng)的該和/或寫光束進行訪問的光記憶卡的任何部分,3.2背景反射率backgroundreflectivity以特定波長通過位于相鄰光跡導軌中間的透明層所測得的可訪間光區(qū)域的未寫、未格式化部分的反射率。3.3背景透射率backgroundtransmissivity以特定波長穿過卡的有效寫和/或讀位置所測得的可訪問光區(qū)域的未寫、未格式化部分的透射率。3.4光束直徑beamdiameter光層表面上測得的激光束直徑的1/e"。3.5
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