GB/T 17626.28-2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗

ICS33.100L06中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.28-2006/IEC61000-4-28：2001電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗ElectromagneticcompatibilityTestingandmeasurementtechniques-Variationofpowerfreguency,immunitytest(IEC61000-4-28:2001Electromagneticcompatibility（EMC)-Part4-28:TestingandmeasurementtechniquesVariationofpowerfrequency,immunitytest.IDT)2006-12-01發(fā)布2007-07-01實(shí)施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T17626.28-2006/IEC61000-4-28:2001三前言范圍2規(guī)范性引用文件3概述4術(shù)語和定義5試驗等級6試驗設(shè)備7試驗配置8試驗程序9試驗結(jié)果和試驗報告附錄A(資料性附錄）工頻頻率變化的源及其影響附錄B（資料性附錄）電電磁環(huán)境的分類…圖1顏率變化順序圖2過渡期的例子圖3帶有功率放大器的試驗儀器的原理圖表1頻率變化試驗等級，表2發(fā)生器特性

GB/T17626.28-2006/IEC61000-4-28:2001GB/T17626《電磁兼容試驗和測量技術(shù)》系列標(biāo)準(zhǔn)目前包括以下部分GB/T17626.1-2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)抗擾度試驗總論GB/T17626.2—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗GB/T17626.3—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗GB/T17626.4—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗GB/T17626.5—1999電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗GB/T17626.6-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度GB/T17626.7—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備譜波、譜間波的測量和測量儀器導(dǎo)則GB/T17626.8-—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗GB/T17626.9-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)：脈沖磁場抗擾度試驗GB/T17626.10—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗GB/T17626.11-1999F：試驗和測量技術(shù)電磁兼容電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗GB/T17626.12-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)振蕩波抗擾度試驗GB/T17626.13—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號的低頻抗擾度試驗GB/T17626.14-2005電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗GB/T17626.17-2005電磁兼容：試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗GB/T17626.27—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗GB/T17626.28-2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗GB/T17626.29—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗本部分為GB/T17626的第28部分。本部分等同采用IEC61000-4-28:2001《電磁兼容第4部分：試驗和測量技術(shù)第28分部分：工頻頻率變化抗擾度試驗》。本部分規(guī)定了電氣和電子設(shè)備工頻頻率變化抗擾度試驗的試驗等級和方法等本部分的附錄A、附錄B是資料性附錄本部分由中國電力企業(yè)聯(lián)合會提出。本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC246)歸口本部分起草單位：國網(wǎng)武漢高壓研究院。本部分主要起草人：張廣洲、鄒雄、萬保權(quán)、張小武、路遙

GB/T17626.28-2006/IEC61000-4-28:2001電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗1范圍本部分是EMC(電磁兼容)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)。它涉及電氣和/或電子設(shè)備在其所處的電磁環(huán)境中的抗擾度試驗。本部分僅僅涉及傳導(dǎo)現(xiàn)象,包括連接到公用和工業(yè)網(wǎng)絡(luò)中設(shè)備的抗擾度試驗。本部分的目的是為評價電氣和電子設(shè)備在受到工頻頻率變化時的抗擾度提供依據(jù)本部分適用于連接到50Hz配電網(wǎng)絡(luò)中每相額定線電流不超過16A的電氣和/或電子設(shè)備本部分不適用于連接到交流400Hz配電網(wǎng)絡(luò)中的電氣和/或電子設(shè)備。該類網(wǎng)絡(luò)的設(shè)備的試驗將在其他標(biāo)準(zhǔn)中涉及。一般來說.電氣和電子設(shè)備對工頻頻率的細(xì)微變化并不敏感。根據(jù)本部分所進(jìn)行的試驗只限于被認(rèn)為由于設(shè)計、環(huán)境和缺陷等特性而引起的對工頻頻率變化敏感的產(chǎn)品。特定電磁環(huán)境中要求的抗擾度試驗水平以及性能規(guī)范應(yīng)一并在產(chǎn)品、產(chǎn)品類或適用的通用標(biāo)準(zhǔn)中給出。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T17626的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。GB/T4365電工術(shù)語電磁兼容（GB/T4365-2003.IEC60050（161）:1990.IDT）IEC60068-1環(huán)境試驗概論和導(dǎo)則IEC61000-2-4電磁兼容環(huán)境工廠中低頻傳導(dǎo)騷擾的電磁兼容限值3概述試驗的目的是研究對工頻頻率變化敏感的設(shè)備受這種騷抗的影響。這種影響通常是暫時的。電氣和電子設(shè)備可能會受到工頻頻率變化的影響來自公用系統(tǒng)的交流工頻頻率和發(fā)電機(jī)的轉(zhuǎn)速直接相關(guān)，這和從與公用網(wǎng)絡(luò)不相連的交流發(fā)電機(jī)上取得的交流工額頻率一樣。在任何時刻,頻率都依賴于負(fù)載和發(fā)電廠功率之間的動態(tài)平衡。因此，當(dāng)這一動態(tài)平衡發(fā)生改變,頻率就會發(fā)生微小的變化。變化的大小和持續(xù)時間依賴于負(fù)載變化的特性以及電廠對負(fù)載變化的響應(yīng)。如果電源由一個獨(dú)立逆變器提供,頻率是從控制電路中獲得并且是固定不變的。在正常情況下，公用系統(tǒng)的頻率由供電部門用具有微小帶寬的標(biāo)稱值（50Hz）來公布，頻率的變化限制在該帶寬范圍內(nèi)。然而,在非互聯(lián)的系統(tǒng)中(孤立系