GB/T 17626.3-2016電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗

ICS3310020

L06..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010

.代替:

GB/T17626.3—2006

電磁兼容試驗和測量技術(shù)

射頻電磁場輻射抗擾度試驗

Electromagneticcompatibility—

Testingandmeasurementtechniques—

Radiatedradio-freuencelectromaneticfieldimmunittest

,qy,gy

[IEC61000-4-3:2010,Electromagneticcompatibility(EMC)—

Part4-3:Testingandmeasurementtechniques—

Radiated,radio-frequency,electromagnetic

fieldimmunitytest,IDT]

2016-12-13發(fā)布2017-07-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010

.:

目次

前言…………………………

Ⅰ

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

術(shù)語和定義………………

31

概述………………………

44

試驗等級…………………

54

一般試驗等級………………………

5.15

保護設(shè)備抵抗數(shù)字無線電話和其他射頻發(fā)射裝置的射頻輻射的試驗等級…

5.2()5

試驗設(shè)備…………………

65

試驗設(shè)施的描述……………………

6.16

場的校準(zhǔn)……………

6.26

試驗布置…………………

79

臺式設(shè)備的布置……………………

7.110

落地式設(shè)備的布置…………………

7.210

布線…………………

7.310

人身攜帶設(shè)備的布置………………

7.410

試驗程序…………………

810

確認(rèn)實驗室的有關(guān)條件……………

8.111

測試的實施…………………………

8.211

試驗結(jié)果的評定…………………………

912

試驗報告………………

1012

附錄資料性附錄保護設(shè)備抵抗數(shù)字無線電話射頻輻射的試驗調(diào)制方式的選擇原理………

A()()19

附錄資料性附錄場發(fā)射天線………………………

B()23

附錄資料性附錄電波暗室的應(yīng)用…………………

C()24

附錄資料性附錄放大器非線性和校準(zhǔn)方法的示例…………

D()6.226

附錄資料性附錄產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)化專業(yè)委員會試驗等級選擇指南……

E()30

附錄資料性附錄試驗方法的選擇…………………

F()32

附錄資料性附錄環(huán)境描述…………

G()33

附錄規(guī)范性附錄頻率高于時的替代照射方法獨立窗口法………

H()1GHz(“”)37

附錄資料性附錄電場探頭的校準(zhǔn)方法……………

I()40

附錄資料性附錄由試驗儀器引起的測量不確定度………………

J()53

GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010

.:

前言

電磁兼容試驗和測量技術(shù)目前包括以下部分

GB/T17626《》:

電磁兼容試驗和測量技術(shù)抗擾度試驗總論

———GB/T17626.1—2006;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗

———GB/T17626.2—2006;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗

———GB/T17626.3—2016;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗

———GB/T17626.4—2008;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌沖擊抗擾度試驗

———GB/T17626.5—2008();

電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度

———GB/T17626.6—2008;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波諧間波的測

———GB/T17626.7—2008、

量和測量儀器導(dǎo)則

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗

———GB/T17626.8—2006;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗

———GB/T17626.9—2011;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗

———GB/T17626.10—1998;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降短時中斷和電壓變化抗擾

———GB/T17626.11—2008、

度試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)振鈴波抗擾度試驗

———GB/T17626.12—2013;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口諧波諧間波及電網(wǎng)信

———GB/T17626.13—2006、

號的低頻抗擾度試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗

———GB/T17626.14—2005;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計規(guī)范

———GB/T17626.15—2011;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度

———GB/T17626.16—20070Hz~150kHz

試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗

———GB/T17626.17—2005;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)橫電磁波波導(dǎo)中的發(fā)射和抗

———GB/T17626.20—2014(TEM)

擾度試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)混波室試驗方法

———GB/T17626.21—2014;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)傳導(dǎo)騷擾保護裝置的試驗

———GB/T17626.24—2012HEMP

方法

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗

———GB/T17626.27—2006;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗

———GB/T17626.28—2006;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降短時中

———GB/T17626.29—2006、

斷和電壓變化的抗擾度試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)電能質(zhì)量測量方法

———GB/T17626.30—2012;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)主電源每相電流大于的設(shè)備的

———GB/T17626.34—201216A

電壓暫降短時中斷和電壓變化抗擾度試驗

、。

本部分為的第部分

GB/T176263。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗

GB/T17626.3—2006《》。

與相比主要技術(shù)內(nèi)容變化如下

GB/T17626.3—2006,:

Ⅰ

GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010

.:

第章術(shù)語和定義中刪除了原帶狀線和雜散輻射

———4,4.144.15;

第章合并原表和表為表與常規(guī)用途裝置數(shù)字無線電話和其他射頻發(fā)射裝置有關(guān)的

———5121、

試驗等級

;

保護設(shè)備抵抗數(shù)字無線電話和其他射頻發(fā)射裝置的射頻輻射的測試高頻范圍由

———5.2()2GHz

擴展至

6GHz;

第章修改了對功率放大器的要求

———6;

場校準(zhǔn)中增加了完全照射部分照射和獨立窗口均勻場域的應(yīng)用要求

———6.2、;

恒定場強校準(zhǔn)法增加了步驟對測試系統(tǒng)的確認(rèn)

———6.2.1j),;

恒定功率校準(zhǔn)法增加了步驟對測試系統(tǒng)的確認(rèn)

———6.2.2m),;

附錄場發(fā)射天線刪除了圓極化天線

———B;

刪除了原附錄中小室和帶狀線測試方法

———DTEM;

原附錄改為附錄并增加表

———IGG.3;

原附錄改為附錄

———HF;

原附錄改為附錄

———JH;

原附錄改為附錄

———KD;

原附錄和附錄合并為附錄

———FGE;

增加了附錄場強探頭的校準(zhǔn)

———I;

增加了附錄試驗儀器引起的測量不確定度

———J。

本部分使用翻譯法等同采用電磁兼容第部分試驗和測量技術(shù)

IEC61000-4-3:2010《(EMC)4-3:

射頻電磁場輻射抗擾度試驗

》。

與本部分中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下

:

電工術(shù)語電磁兼容

———GB/T4365—2003[IEC60050(161):1990,IDT];

電磁兼容試驗和測試技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾

———GB/T17626.6—2008

度

(IEC61000-4-6:2006,IDT)。

本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC246)。

本部分起草單位上海電器科學(xué)研究院上海市計量測試技術(shù)研究院上海工業(yè)自動化儀表研究院

:、、、

北京市醫(yī)療器械檢驗所東鑠檢測科技蘇州有限公司上海三基電子工業(yè)有限公司

、()、。

本部分主要起草人鄭軍奇劉媛龔增王英孟志平瀟瀟苑明聰葉瓊瑜壽建霞錢楓

:、、、、、、、、、。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T17626.3—1992、GB/T17626.3—1998、GB/T17626.3—2006。

Ⅱ

GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010

.:

電磁兼容試驗和測量技術(shù)

射頻電磁場輻射抗擾度試驗

1范圍

的本部分適用于電氣電子設(shè)備的電磁場輻射抗擾度要求規(guī)定了試驗等級和必要的

GB/T17626、,

試驗程序

。

本部分的目的是建立電氣電子設(shè)備受到射頻電磁場輻射時的抗擾度評定依據(jù)在本部分中給出

、。

的試驗方法描述了評估設(shè)備或系統(tǒng)抵抗一定環(huán)境的抗擾度的符合性方法

。

注1如所述本部分是供有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會使用的基礎(chǔ)出版物同時在

:GB/Z18509,EMC。GB/Z18509

中規(guī)定有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會負(fù)責(zé)確定此抗擾度測試標(biāo)準(zhǔn)是否適用如適用他們有責(zé)任確定適合的試

,,,

驗等級及性能判據(jù)全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會及其分會與有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

。(SAC/TC246)

合作以評估對其產(chǎn)品的特定抗擾度試驗的試驗等級及性能判據(jù)

,。

本部分適用于防止所有發(fā)射源的射頻電磁場的抗擾度試驗

。

特別關(guān)注對防止數(shù)字無線電話和其他射頻發(fā)射裝置的射頻輻射