標準解讀

《GB/T 17723-1999 黃金制品鍍層成分的X射線能譜測量方法》是一項由中國國家標準化管理委員會頒布的標準，旨在規(guī)定使用X射線能譜技術(shù)來測定黃金制品表面鍍層成分的具體方法和要求。這項標準詳細闡述了測試流程、儀器校準、樣品準備、數(shù)據(jù)采集與分析以及結(jié)果判定的各項準則，以確保測量結(jié)果的準確性和可重復(fù)性。以下是該標準的主要內(nèi)容概覽：

  1. 范圍：明確了標準適用的對象，即適用于各類黃金制品表面鍍層中元素種類及其含量的定量分析。這包括但不限于首飾、裝飾品及電子元件等上的鍍金層。

  2. 引用標準：列出了實施本標準時需要參考的其他相關(guān)國家標準和國際標準，確保測試方法與國際接軌，保持一致性和科學(xué)性。

  3. 術(shù)語和定義：對涉及的專業(yè)術(shù)語進行了解釋，幫助讀者準確理解標準中的具體內(nèi)容和技術(shù)要求。

  4. 儀器設(shè)備：詳細描述了執(zhí)行測試所需的X射線熒光光譜儀的技術(shù)要求，包括能量分辨率、檢測限、穩(wěn)定性等關(guān)鍵性能指標，以及必要的輔助設(shè)備如樣品臺、標準物質(zhì)等。

  5. 樣品制備：規(guī)定了樣品選取、清潔處理、切割或打磨等預(yù)處理步驟，確保樣品表面狀態(tài)符合測試條件，避免外來污染對測試結(jié)果的影響。

  6. 測試條件與參數(shù)設(shè)置：說明了進行X射線能譜測量時的儀器設(shè)置，如測量時間、電壓、電流等參數(shù)的選擇，以達到最佳的檢測效果。

  7. 校準與質(zhì)量控制：強調(diào)了儀器校準的重要性，包括使用標準參考物質(zhì)進行校正，確保測量結(jié)果的準確性，并提出了質(zhì)量控制措施，如定期檢查儀器性能、記錄并分析測試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性等。

  8. 數(shù)據(jù)處理與分析：介紹了數(shù)據(jù)采集后應(yīng)遵循的分析流程，包括背景扣除、定量分析方法（如經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法）的選擇與應(yīng)用，以及如何計算和報告鍍層中各元素的含量。

  9. 結(jié)果表示與報告：規(guī)定了測試結(jié)果的表示方式，要求包括但不限于元素名稱、含量及其不確定度等信息，并給出了報告模板示例，以保證報告的一致性和專業(yè)性。

  10. 安全要求：提醒在進行X射線能譜測量過程中應(yīng)注意的安全事項，如輻射防護、操作規(guī)范等，以保護操作人員和環(huán)境安全。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 17362-2008
  • 1999-04-11 頒布
  • 1999-12-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 17723-1999黃金制品鍍層成分的X射線能譜測量方法_第1頁
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文檔簡介

TcS.37.020N33中華人民共和國國家標準GB/T17723—1999黃金制品鍍層成分的X射線能譜測量方法Surfacecompositionanalysismethodofgold-platedproductsbyEDX1999-04-11發(fā)布1999-12-01實施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準黃金制品鍍層成分的X射線能譜測量方法GB/T17723-1999中中國標準出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號郵政編碼：100045電話：63787337、637874471999年7月第一版2004年11月電子版制作書號：155066·1-15976版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報電話：（01068533533

GB/T17723-1999為了檢驗鍍金飾品的質(zhì)量，許多單位都開展了鍍金飾品的無損檢測。經(jīng)過許多單位多年來的實踐，采用掃描電鏡X射線能譜法對鍍金飾品進行無損檢測.證明是一種簡單易行的方法。既可以達到對鍍金飾品不造成損傷，又可檢測出鍍層成分的目的。該方法是通過掃描電鏡結(jié)合能譜分析技術(shù)的特點，使電子束能很準確地選擇需要分析的部位，并且可以很好地避開表面的粗糙面(劃道、磨痕、不平整等等)獲得較為理想的結(jié)果。更為重要的是應(yīng)用改變掃描電鏡的加速電壓使人射電子具有不同能量，而使它進人樣品的不同表面深度。這樣可以發(fā)現(xiàn)在不同深度范圍內(nèi)元素是否有變化.并且也可以說明在基體上金或金合金鍍層大致有多厚。本標準規(guī)定了應(yīng)用掃描電鏡X射線能譜儀（包括裝有X射線能譜儀的電子探針儀）對鍍金制品表面金及金合金單層均勻鍍層成分的非破壞性分析測量方法的技術(shù)要求和規(guī)范本標準的附錄A是提示的附錄。本標準由全國微束分析標準化技術(shù)委員會提出并負責(zé)技術(shù)歸口本標準由北京有色金屬研究總院、核工業(yè)總公司北京地質(zhì)研究院、北京鋼鐵研究總院共同負責(zé)起本標準主要起草人：劉安生、張宜、毛允靜、

中華人民共和國國家標準黃金制品鍍層成分的X射線能譜測量方法GB/T17723-1999Surfacecompositionanalysismethodofgold-platedproductsbyEDx1范圍本標準規(guī)定了應(yīng)用掃描電鏡×射線能譜儀(包括裝有X射線能譜儀的電子探針儀)對鍍金制品表面金及金合金單層均勻鍍層成分的非破壞性分析測量方法。本標準適用于表面鍍金及金合金，其鍍層厚度為0.2m以上.3m以下范圍內(nèi)的成分測量(不包括基體和金鍍層材料相近的鍍層成分的測量)。2引用標準下列標準所包含的條文.通過在本標準中引用而構(gòu)成為本標準的條文。本標準出版時，所示版本均為有效。所有標準都會被修訂，使用本標準的各方應(yīng)探討使用下列標準最新版本的可能性，GB/T15075—1994電子探針分析儀的檢測方法GB/T17359—1998電子探針和掃描電鏡定量X射線能譜定量分析方法通則GB/T17362-1998黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法術(shù)語3.1金鍍層采用電鍍或化學(xué)鍍等加工方法得到的金或金合金的覆蓋層·稱為金鍍層3.2電子穿透深度當(dāng)具有一定能量的入射電子與樣品相互作用，其能量逐漸損失，當(dāng)能量達到零時,人射電子在樣品表面下所達到的深度，稱為電子穿透深度。4方法原理通過改變掃描電鏡的工作電壓·來改變?nèi)肷潆娮拥拇┩干钇?從而獲得不同深度內(nèi)元素存在的信息。在相同的實驗條件下.測量鍍層中存在元素和相應(yīng)的標準樣品中同種元素的特征X射線·經(jīng)對比、修正后求出鍍層內(nèi)相應(yīng)于電子穿透深度范圍內(nèi)的元素的定量分析結(jié)果。5實驗儀器設(shè)備及材料5.1帶有X射線能譜

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