標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 22319.7-2015是關(guān)于石英晶體元件參數(shù)測量系列標(biāo)準(zhǔn)中的第七部分，專門針對石英晶體元件活性跳變的測量方法進行了規(guī)定。該標(biāo)準(zhǔn)適用于各類石英晶體振蕩器、濾波器等電子設(shè)備中使用的石英晶體元件，在其制造過程中或成品檢測時對活性跳變特性進行量化評估。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)，活性跳變指的是當(dāng)外界條件（如溫度、壓力）發(fā)生變化時，石英晶體元件頻率輸出的變化情況。它反映了晶體元件對外界環(huán)境變化敏感度的一個重要指標(biāo)。為了準(zhǔn)確測量這一特性，標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了實驗所需設(shè)備及其技術(shù)要求，包括但不限于信號發(fā)生器、頻率計數(shù)器以及溫控裝置等，并且明確了測試環(huán)境條件的具體設(shè)置，比如溫度范圍的選擇與控制精度等。

此外，GB/T 22319.7-2015還提供了具體的測量步驟指導(dǎo)，從樣品準(zhǔn)備到數(shù)據(jù)記錄整個流程都有所涵蓋。例如，在開始正式測試之前需要先將待測樣品置于指定條件下穩(wěn)定一段時間；然后按照預(yù)設(shè)程序改變外部條件（通常是溫度），同時連續(xù)監(jiān)測并記錄下相應(yīng)頻率值的變化；最后通過分析這些數(shù)據(jù)來計算出活性跳變的具體數(shù)值。

對于結(jié)果處理部分，標(biāo)準(zhǔn)也給出了明確指示，包括如何計算平均值、最大最小偏差等統(tǒng)計量，以及怎樣根據(jù)所得數(shù)據(jù)判斷產(chǎn)品是否符合既定規(guī)格要求。通過遵循這些規(guī)范化的操作流程，可以確保不同實驗室之間獲得的結(jié)果具有良好的可比性和重復(fù)性。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2015-06-02 頒布
  • 2016-02-01 實施
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GB/T 22319.7-2015石英晶體元件參數(shù)的測量第7部分：石英晶體元件活性跳變的測量_第1頁
GB/T 22319.7-2015石英晶體元件參數(shù)的測量第7部分：石英晶體元件活性跳變的測量_第2頁
GB/T 22319.7-2015石英晶體元件參數(shù)的測量第7部分：石英晶體元件活性跳變的測量_第3頁
GB/T 22319.7-2015石英晶體元件參數(shù)的測量第7部分：石英晶體元件活性跳變的測量_第4頁
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文檔簡介

ICS31140

L21.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T223197—2015/IEC60444-72004

.:

石英晶體元件參數(shù)的測量

第7部分石英晶體元件

:

活性跳變的測量

Measurementofquartzcrystalunitparameters—

Part7Measurementofactivitdisofuartzcrstalunits

:ypqy

(IEC60444-7:2004,Measurementofquartzcrystalunitparameters—

Part7:Measurementofactivityandfrequencydipsofquartzcrystalunits,IDT)

2015-06-02發(fā)布2016-02-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

中華人民共和國

國家標(biāo)準(zhǔn)

石英晶體元件參數(shù)的測量

第7部分石英晶體元件

:

活性跳變的測量

GB/T22319.7—2015/IEC60444-7:2004

*

中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行

北京市朝陽區(qū)和平里西街甲號

2(100029)

北京市西城區(qū)三里河北街號

16(100045)

網(wǎng)址

:

服務(wù)熱線

:400-168-0010

年月第一版

20156

*

書號

:155066·1-51203

版權(quán)專有侵權(quán)必究

GB/T223197—2015/IEC60444-72004

.:

前言

石英晶體元件參數(shù)的測量分為如下幾部分

GB/T22319《》:

第部分用型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法

———1:π;

第部分測量石英晶體元件動態(tài)電容的相位偏置法

———2:;

第部分頻率達(dá)石英晶體元件負(fù)載諧振頻率和負(fù)載諧振電阻R的測量方法及其

———4:30MHzL

他導(dǎo)出參數(shù)的計算

;

第部分采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定等效電參數(shù)的方法

———5:;

第部分激勵電平相關(guān)性的測量

———6:(DLD);

第部分石英晶體元件活性跳變的測量

———7:;

第部分表面貼裝石英晶體元件用測量夾具

———8:;

第部分石英晶體元件寄生諧振的測量

———9:。

本部分為的第部分

GB/T223197。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻譯法等同采用石英晶體元件參數(shù)的測量第部分石英晶體元

IEC60444-7:2004《7:

件活性跳變和頻率跳變的測量

》。

本部分作了下列編輯性修改

:

將表中腳注改為腳注

———1“*”“a”;

將中評估公式序號分別改為

———3.3(A)~(D)a)~d);

刪除評估公式前面的頻率跳變和公式前面的活性跳變

———a)“”c)“”。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任

。。

本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國頻率控制和選擇用壓電器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC182)。

本部分起草單位中國電子元件行業(yè)協(xié)會壓電晶體分會南京中電熊貓晶體科技有限公司唐山晶

:、、

源裕豐電子股份有限公司鄭州原創(chuàng)電子科技有限公司

、。

本部分主要起草人章怡梁生元胡志雄鄒飛

:、、、。

Ⅰ

GB/T223197—2015/IEC60444-72004

.:

石英晶體元件參數(shù)的測量

第7部分石英晶體元件

:

活性跳變的測量

1范圍

的本部分規(guī)定了在溫度范圍內(nèi)石英晶體元件活性跳變的測量方法

GB/T22319。

2術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

21

.

活性跳變activitydip

石英晶體元件在規(guī)定負(fù)載電容及激勵電平下在窄溫度范圍內(nèi)由不同振動模式的耦合而引起負(fù)載

,

諧振頻率和或者諧振電阻的不希望的變化見圖及圖

()(12)。

22

.

頻率跳變frequencydipbandbreak

()

石英晶體元件在窄的溫度范圍內(nèi)發(fā)生的不希望的擾動或起伏即負(fù)載諧振頻率偏離了平滑而規(guī)則

,

的頻率溫度特性曲線用一個多達(dá)五階的多項式描述通常呈現(xiàn)相關(guān)電阻的變化見圖該效應(yīng)常與

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