GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫

犐犆犛１９．０４０

犓０４

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２４２３．１—２００８／犐犈犆６００６８２１：２００７

代替ＧＢ／Ｔ２４２３．１—２００１

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第２部分：試驗方法試驗犃：低溫

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犘犪狉狋２：犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊—犜犲狊狋狊犃：犆狅犾犱

（ＩＥＣ６００６８２１：２００７，ＥｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔａｌＴｅｓｔｉｎｇ—

Ｐａｒｔ２１：Ｔｅｓｔｓ—ＴｅｓｔＡ：Ｃｏｌｄ，ＩＤＴ）

２００８１２３０發(fā)布２００９１００１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜２４２３．１—２００８／犐犈犆６００６８２１：２００７

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４非散熱試驗樣品與散熱試驗樣品試驗方法應(yīng)用對比!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

５試驗描述!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

６試驗程序!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

７相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

８試驗報告中應(yīng)給出的信息!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

附錄ＮＡ（資料性附錄）ＧＢ／Ｔ２４２３標(biāo)準(zhǔn)的組成部分!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

附錄ＮＢ（資料性附錄）試驗Ａ：低溫和試驗Ｂ：高溫的分類代號小寫字母之間的關(guān)系!!!!!１１

書

犌犅／犜２４２３．１—２００８／犐犈犆６００６８２１：２００７

前言

ＧＢ／Ｔ２４２３．１是ＧＢ／Ｔ２４２３標(biāo)準(zhǔn)的第１部分，ＧＢ／Ｔ２４２３標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料性附錄ＮＡ。

本部分等同采用ＩＥＣ６００６８２１：２００７《環(huán)境試驗第２１部分：試驗試驗Ａ：低溫》（英文版）。

本部分與ＩＥＣ６００６８２１：２００７相比，主要做了下列編輯性修改：

———本部分的名稱改為：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ａ：低溫》；

———“本標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為“本部分”；

———刪除了ＩＥＣ６００６８２１：２００７前言；

———刪除了ＩＥＣ６００６８２１：２００７引言，將其內(nèi)容轉(zhuǎn)化為增加的資料性附錄ＮＢ的內(nèi)容；

———增加了資料性附錄“ＧＢ／Ｔ２４２３標(biāo)準(zhǔn)的組成部分”（見附錄ＮＡ）；

———增加了資料性附錄“試驗Ａ：低溫和試驗Ｂ：高溫的分類代號小寫字母之間的關(guān)系”（見附錄

ＮＢ）；

———刪除了第１章第１段中的“對于非散熱試驗樣品，”；

———第１章中最后兩段的內(nèi)容移到４．１中；

———４．３標(biāo)題“非散熱試驗樣品”改為“非散熱試驗樣品的試驗”；

———６．２最后一段原文為正文，本部分改為注。

為清晰起見，上述修改已在正文相應(yīng)位置加了腳注。

本部分代替ＧＢ／Ｔ２４２３．１—２００１《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ａ：低溫》，

與之相比，主要變化如下：

———刪除了試驗Ａａ：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗；

———刪除了附錄Ａ、附錄Ｂ、附錄Ｃ、附錄Ｄ、附錄Ｅ；

———增加了試驗Ａｅ：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗———試驗樣品在整個試驗過程通電。

本部分的附錄ＮＡ、附錄ＮＢ為資料性附錄。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并歸口。

本部分由廣州電器科學(xué)研究院負(fù)責(zé)起草。

本部分主要起草人：張志勇。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ２４２３．１—１９８１、ＧＢ／Ｔ２４２３．１—１９８９、ＧＢ／Ｔ２４２３．１—２００１。

Ⅰ

犌犅／犜２４２３．１—２００８／犐犈犆６００６８２１：２００７

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第２部分：試驗方法試驗犃：低溫

１范圍

ＧＢ／Ｔ２４２３的本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ａｂ和試驗Ａｄ與早期

版本無實質(zhì)性的差異１），增加試驗Ａｅ的目的主要是檢測那些要求在整個試驗過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都

要通電運行的設(shè)備。

本低溫試驗的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。

本低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情

況下，應(yīng)采用ＧＢ／Ｔ２４２３．２２。

本低溫試驗方法細(xì)分為以下幾種：

———非散熱試驗樣品低溫試驗：

●試驗Ａｂ，溫度漸變。

———散熱試驗樣品低溫試驗：

●試驗Ａｄ，溫度漸變；

●試驗Ａｅ，溫度漸變，試驗樣品在整個試驗過程通電。

本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ２４２３的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＧＢ／Ｔ２４２１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第１部分：總則（ＧＢ／Ｔ２４２１—１９９９，ｉｄｔＩＥ