GB/T 2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫

ICS19.040K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.1—200°idtIEc60068-2-1：1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A:低溫EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2：TestmethodsTestsA：Cold2001-07-12發(fā)布2001-12-01實施中華：人民共和國發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T2423.1-2001前言IEC前言試驗A：低溫試驗的歷史概況試驗A:低溫與試驗B：干熱下標(biāo)字母之間的關(guān)系批述2引用標(biāo)準(zhǔn)………非散熱試驗樣品與散熱試驗樣品試驗方法應(yīng)用對比4非散熱試驗樣品：溫度突變試驗和溫度漸變試驗應(yīng)用對比……5散熱試驗樣品有或無強迫空氣循環(huán)的試驗6圖解第一篇試驗Aa：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗?zāi)康?一般說明3試驗設(shè)備嚴(yán)酷等級5預(yù)處理6初始檢測條件試驗中間檢測9歡復(fù)10最后檢測·11相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息…第二篇試驗Ab:非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗12一般說明……試驗設(shè)備嚴(yán)酷等級……16預(yù)處理……初始檢測·18條件試驗·19中間檢測….

GB/T2423.1-200120恢復(fù)……21最后檢測……22相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息第三篇試驗Ad:散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗?zāi)康摹?4-般說明·試驗設(shè)備嚴(yán)酷等級·27預(yù)處理…28初始檢測·29條件試驗…30中間檢測31飲復(fù)32最后檢測00000000000033相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）環(huán)境溫度校準(zhǔn)計算圖附錄B(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）試驗Ad方法A：有強迫空氣循環(huán)試驗溫度狀態(tài)的圖示附錄C(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)試驗Ad方法B:有強迫空氣循環(huán)試驗溫度狀態(tài)的圖示附錄D(提示的附錄）試驗Ad（29.1.2)中方法A簡要流程圖附錄E(提示的附錄）試驗Ad(29.1.2)中方法B簡要流程圖

GB/T2423.1-2001第第2部分：試驗本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會IEC60068-2-1:1990（第五版）環(huán)境試驗成驗A:低溫》及其修改1:1993、修改2:1994。本標(biāo)準(zhǔn)與IEC60068-2-1:1990（第五版）的差異：為與GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》系列標(biāo)淮的名稱協(xié)調(diào)一致，本標(biāo)準(zhǔn)名稱為：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》。本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T2423.1—1989主要有下列差異：-本標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)內(nèi)容、編寫格式及表達方法與IEC60068-2-1:1990相一致。而GB/T2423.1-1989雖然等效采用IEC60068-2-1:1974(第四版）但編寫格式與表達方法與IEC60068-2-1:1974相差很多,如將試驗Aa、試驗Ab及試驗Ad三種試驗相同的內(nèi)容歸納編輯成章;將其附錄B、附錄C改為標(biāo)淮正文圖1、圖2,刪去了“試驗Aa、Ab.Ad的相同點和不同點示意圖?！?根據(jù)GB/T1.1標(biāo)準(zhǔn)編寫模板，在引言中加入引用標(biāo)準(zhǔn)一條。本標(biāo)準(zhǔn)增加了附錄D和附錄E（根據(jù)IEC60068-2-1:1990的修改2:1994）-刪去了GB/T2423.1-1989中6.2第3段(本標(biāo)準(zhǔn)為4.2、15.2和26.2)最后一句:“但在任何請況下，持續(xù)時間不應(yīng)少于30min”-根據(jù)GB/T2422—1995,本標(biāo)準(zhǔn)將relevantspecifieation譯成“相關(guān)規(guī)范”，而GB/T2423.1-1989是譯成“有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)”。本標(biāo)準(zhǔn)是GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》系列標(biāo)準(zhǔn)之一.在本標(biāo)準(zhǔn)涉及到的與IEC出版物相對應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)有：GB/T2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分：總則(idtIEC60068-1:1988）GB/T2422—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗術(shù)語(eqvIEC60068-5-2:1990)GB/T2424.1—1989電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程高低溫試驗導(dǎo)則(eqvIEC60068-3-1:1974)本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B、附錄C為標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄D、附錄E為提示的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)從實施之日起,同時代替GB/T2423.1—1989.本標(biāo)準(zhǔn)由國家機械工業(yè)局提出并由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：廣州電器科學(xué)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：趙世杰、陳潔、張水彬本標(biāo)準(zhǔn)首次發(fā)布于1981年，第1次修訂于1989年2月本標(biāo)準(zhǔn)委托全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會負責(zé)解釋

GB/T2423.1-2001IEC前言1）IEC關(guān)于技術(shù)事項的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對該問題有特殊興趣的所有國家委員會派代表參加的技術(shù)委員會制定的，它盡可能地表達國際上對所討論問題的一致意見。2）這些決議或協(xié)議以推薦形式供國際上使用.并在此意義上為各國委員會所接受3）為了促進國際間的統(tǒng)一性.IEC希望所有國家委員會.在其國家條件允許的范圍內(nèi)采用IEC推薦的標(biāo)準(zhǔn)的正文形式為國家標(biāo)準(zhǔn)形式。在國家標(biāo)準(zhǔn)與IC標(biāo)準(zhǔn)之間存在任何不一致時，要盡可能在國家標(biāo)準(zhǔn)中明確指出、本標(biāo)準(zhǔn)由IECTC50環(huán)境試驗技術(shù)委員會50B氣候分技術(shù)委員會制定IEC60068-2-1(第五版)是以IEC60068-2-1(1974)第四版（包括第四版校正版IEC60068-2-1A：1976和第四版修訂：1983)和下列文件為基礎(chǔ)：表1出版物六個月法投票報告兩個月法投票報告60068-2-1（第四版）50B（CO）15850B（CO)16350B（CO）16750B(C0)172第一次修訂本50B（CO)23950B（CO）25050068-2-1A50B（CO）182有關(guān)同意本標(biāo)準(zhǔn)的全部投票資料，可在上表投票報告中找到本標(biāo)準(zhǔn)引用了以下IEC出版物：出版號IEC60068-1:1988環(huán)境試驗第一部分：總則IEC60068-3-1:1974環(huán)境試驗第三部分:背景信息第一章：低溫和干熱試驗

GB/T2423.1-2001試驗A：低溫試驗的歷史概況第一次出版（1954）只包含試驗A：低溫試驗，僅涉及溫度的突變，標(biāo)準(zhǔn)試驗時間6h第二次出版(1960)與試驗A同.但標(biāo)準(zhǔn)試驗時間改為2h。第三次出版(1966）介紹：-試驗Aa:與前版試驗A同-試驗Ab:溫度漸變的新方法第四次出版(1974）介紹：試驗Aa:與前版試驗Aa同試驗Ab：與前版試驗Ab同試驗Ad:散熱樣品溫度漸變的新方法試驗A：低溫與試驗B：千熱下標(biāo)字母之間的關(guān)系試驗A:低溫與試驗B：干熱下標(biāo)字母之間的關(guān)系·見下表：試驗A：低溫試驗試驗B：干熱試驗下標(biāo)字母樣品類型溫度變化武試驗開始時的樣品溫度樣品類型溫度變化武驗開始時的樣品溫度非散熱穩(wěn)定非散熱突變穩(wěn)定燈非散熱非散熱穩(wěn)定*做熱穩(wěn)定小非散熱穩(wěn)定散熱新變穩(wěn)定水*：在試驗持續(xù)時間開始之前，試驗樣品要達到溫度穩(wěn)定。在特殊情況下，也可能不是這樣·這需要在相關(guān)規(guī)范中提供附加信息，見引言的第1節(jié)和IEC60068-3-1（所涉及的這些情況的修改正在考電中

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法9E/.2423.1-2001idtLEc600682-1:1990試驗A:低溫代替GB/T2423.1-1989Environmentaltestingforelectricandelectronicproducts概述本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的低溫試驗適用于非散熱和散熱兩類試驗樣品。。對于非散熱試驗樣品，試驗Aa和Ab不違背早期發(fā)行的標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)僅限于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品（包括元件、設(shè)備及其他產(chǎn)品)在低溫環(huán)境條件下購存和（或）使用的適應(yīng)性。這一低溫試驗不能用來評價試驗樣品對溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力，在這科情況下，應(yīng)當(dāng)采用試驗N:溫度變化試驗方法。低溫試驗方法分為以下三類：非散熱試驗樣品低溫試驗：試驗Aa:溫度突變試驗Ab:溫度漸變散熱試驗樣品低溫試驗：一試驗Ad：溫度漸變本試驗方法通常用于條件試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。試驗持續(xù)時間是從試驗樣品溫度達到穩(wěn)定時開始計算的。在特殊情況下，如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩(wěn)定·則試驗持續(xù)時間從試驗箱(室）達到規(guī)定試驗溫度時開始計算相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定：a）試驗箱(室）內(nèi)溫度變化速率；b）試驗樣品放入試驗箱(室)的時間：）試驗樣品在試驗條件下暴露試驗開始的時間：d）試驗樣品通電或加負載的時間。在這些條件下,相關(guān)規(guī)范的制定者可根據(jù)GB/T2424.1—1989導(dǎo)則選定以上4個參數(shù)（以上條件下的修訂正在考電之中)。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版