GB/T 2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗M：低氣壓

犐犆犛１９．０４０

犓０４

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２４２３．２１—２００８／犐犈犆６００６８２１３：１９８３

代替ＧＢ／Ｔ２４２３．２１—１９９１

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第２部分：試驗方法

試驗犕：低氣壓

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犘犪狉狋２：犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊—犜犲狊狋犕：犔狅狑犪犻狉狆狉犲狊狊狌狉犲

（ＩＥＣ６００６８２１３：１９８３，Ｂａｓｉｃｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔａｌｔｅｓｔｉｎｇｐｒｏｃｅｄｕｒｅｓ—

Ｐａｒｔ２：ＴｅｓｔＭ：Ｌｏｗａｉｒｐｒｅｓｓｕｒｅ，ＩＤＴ）

２００８１２３０發(fā)布２００９１００１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜２４２３．２１—２００８／犐犈犆６００６８２１３：１９８３

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

１導(dǎo)言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２一般說明!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３試驗設(shè)備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４嚴(yán)酷等級!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４．１氣壓!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

４．２試驗持續(xù)時間!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

５預(yù)處理!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

６初始檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

７條件試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

８恢復(fù)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

９最后檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

１０相關(guān)規(guī)范應(yīng)給的資料!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

附錄ＮＡ（資料性附錄）ＧＢ／Ｔ２４２３標(biāo)準(zhǔn)的組成部分!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

書

犌犅／犜２４２３．２１—２００８／犐犈犆６００６８２１３：１９８３

前言

ＧＢ／Ｔ２４２３．２１是ＧＢ／Ｔ２４２３標(biāo)準(zhǔn)的第２１部分，ＧＢ／Ｔ２４２３標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料性附錄ＮＡ。

本部分等同采用ＩＥＣ６００６８２１３：１９８３（第１版）《基本環(huán)境試驗規(guī)程第２部分：試驗試驗Ｍ：低

氣壓》（英文版），技術(shù)內(nèi)容上與ＩＥＣ６００６８２１３：１９８３相同，編寫格式上做了下列編輯性修改：

———為與新版ＩＥＣ６００６８的標(biāo)題名稱一致，本部分標(biāo)題名稱由“基本環(huán)境試驗規(guī)程”改為“電工電子

產(chǎn)品環(huán)境試驗”；

———“本標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為“本部分”；

———刪除了ＩＥＣ標(biāo)準(zhǔn)的前言和序，增加了本部分的前言；

———增加了資料性附錄“ＧＢ／Ｔ２４２３標(biāo)準(zhǔn)的組成部分”（見附錄ＮＡ）；

———在規(guī)范性引用文件中，引用了與國際標(biāo)準(zhǔn)有對應(yīng)關(guān)系的國家標(biāo)準(zhǔn)，并增加了在正文中引用到的

標(biāo)準(zhǔn)；

———對４．１中的表格增加了表格編號和表題，并將注１和注２的位置調(diào)整至表格當(dāng)中。

本部分替代ＧＢ／Ｔ２４２３．２１—１９９１《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ｍ：低氣壓試驗方法》。

本部分與ＧＢ／Ｔ２４２３．２１—１９９１相比主要變化如下：

———為與ＩＥＣ原文編寫格式一致，將ＧＢ／Ｔ２４２３．２１—１９９１的章條順序，按照ＩＥＣ６００６８２１３：

１９８３的結(jié)構(gòu)形式進行了調(diào)整。

本部分的附錄ＮＡ為資料性附錄。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并歸口。

本部分起草單位：廣州電器科學(xué)研究院、廣州威凱檢測技術(shù)研究所、重慶銀河試驗儀器有限公司。

本部分主要起草人：鐘志剛、劉功桂、王華斌。

本部分所代替的歷次標(biāo)準(zhǔn)版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ２４２３．２１—１９８１、ＧＢ／Ｔ２４２３．２１—１９９１。

Ⅰ

犌犅／犜２４２３．２１—２００８／犐犈犆６００６８２１３：１９８３

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第２部分：試驗方法

試驗犕：低氣壓

１導(dǎo)言

１．１范圍

本部分適用于室溫條件下的低氣壓試驗。

本試驗的目的是用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應(yīng)性。

注：在高溫和低氣壓綜合或低溫和低氣壓綜合環(huán)境下貯存、運輸或使用的產(chǎn)品，這種綜合環(huán)境對于施加于產(chǎn)品上的

應(yīng)力或失效機理的影響是十分重要的，應(yīng)按下列標(biāo)準(zhǔn)進行試驗：

———ＧＢ／Ｔ２４２３．２５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｚ／ＡＭ：低溫／低氣壓綜合試驗

———ＧＢ／Ｔ２４２３．２６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｚ／ＢＭ：高溫／低氣壓綜合試驗

１．２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ２４２３標(biāo)準(zhǔn)的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引

用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分

達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于

本部分。

ＧＢ／Ｔ２４２１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第１部分：總則（ＧＢ／Ｔ２４２１—１９９９，ＩＥＣ６００６