GB/T 2423.21-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法

UDC621.3.001.4K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB2423.21—91電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法BasieenvironmentaltcstingproceduresforelectricandelectronicproductsTestM：Lowairpressure1991-05-27發(fā)布1992-02-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程GB2423.21-91試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法代替GB2423.21-81BasicenvironmentaltestingproccdurcsforelectricandelectronicproductsTestM:Lowairpressure第二部分：試驗(yàn)本標(biāo)準(zhǔn)參照采用國(guó)際電工委員會(huì)IEC68—2—13《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓》1983年版)。主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品低氣壓試驗(yàn)方法的嚴(yán)酷等級(jí)、預(yù)處理、初始測(cè)量、條件試驗(yàn)、恢復(fù)和最后測(cè)量本標(biāo)準(zhǔn)適用于室溫條件下的低氣壓試驗(yàn)。主要用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下見(jiàn)存、運(yùn)輸或使用的適應(yīng)性。注：對(duì)于存、運(yùn)輸或使用條件下的產(chǎn)品·當(dāng)高溫和低氣壓或低溫和低氣壓綜合影響施于產(chǎn)品上的應(yīng)力或在此應(yīng)力作用下的失效機(jī)理是十分重要時(shí)，則應(yīng)按下列標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn)：GB2423.25以及GB2423.26.2引用標(biāo)準(zhǔn)GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程名詞術(shù)語(yǔ)GB2423.25電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程GB2423.26試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程GB2424.15溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則一般說(shuō)明低氣壓試驗(yàn)系將試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱(室）然后將箱(室)內(nèi)氣壓降低到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的值，并保持規(guī)定持續(xù)時(shí)間的試驗(yàn)。試驗(yàn)設(shè)備4.1試驗(yàn)箱(室)應(yīng)具有能保持本標(biāo)準(zhǔn)第5章所規(guī)定的低氣壓條件的能力4.2在恢復(fù)氣壓至正常時(shí)，應(yīng)注意避免發(fā)生由于輔助設(shè)備裝置及導(dǎo)入不清清的空氣而使箱內(nèi)空氣發(fā)生污染的情況、4.3當(dāng)試驗(yàn)散熱試驗(yàn)樣品時(shí)，對(duì)試驗(yàn)箱(室)的要求可根據(jù)GB2423.26進(jìn)行適當(dāng)?shù)囊?guī)定。5嚴(yán)酷等級(jí)5.1有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)當(dāng)規(guī)定氣壓和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間的嚴(yán)酷等級(jí)，