標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) M：低氣壓試驗(yàn)方法》與《GB 2423.21-1981》相比，在多個(gè)方面進(jìn)行了更新和改進(jìn)。這些變化主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

首先，標(biāo)準(zhǔn)的編號(hào)從GB變更為GB/T，這意味著該標(biāo)準(zhǔn)由強(qiáng)制性國家標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)變?yōu)橥扑]性國家標(biāo)準(zhǔn)，反映了標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)上的調(diào)整。

其次，新版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)術(shù)語定義進(jìn)行了更加精確和完善，確保了行業(yè)內(nèi)對(duì)于相關(guān)概念的一致理解和應(yīng)用。例如，可能增加了新的定義或修改了原有的定義以適應(yīng)技術(shù)發(fā)展需求。

再者，《GB/T 2423.21-1991》中詳細(xì)規(guī)定了試驗(yàn)條件、試驗(yàn)設(shè)備要求以及具體操作步驟等內(nèi)容，并且可能根據(jù)實(shí)際應(yīng)用反饋和技術(shù)進(jìn)步情況對(duì)這些內(nèi)容進(jìn)行了修訂。比如，對(duì)于如何設(shè)置氣壓水平、溫度控制范圍等關(guān)鍵參數(shù)給出了更明確指導(dǎo)；同時(shí)，也可能加入了關(guān)于安全措施的新條款或建議，旨在保障實(shí)驗(yàn)過程中人員及設(shè)備的安全。

此外，考慮到環(huán)境保護(hù)等因素，新版本或許還增加了一些關(guān)于節(jié)能減排方面的考慮或者建議，鼓勵(lì)采用更加環(huán)保的方式來執(zhí)行測試過程。


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  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替，建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.21-2008
  • 1991-05-27 頒布
  • 1992-02-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 2423.21-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法_第1頁
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GB/T 2423.21-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡介

UDC621.3.001.4K04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB2423.21—91電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法BasieenvironmentaltcstingproceduresforelectricandelectronicproductsTestM：Lowairpressure1991-05-27發(fā)布1992-02-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程GB2423.21-91試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法代替GB2423.21-81BasicenvironmentaltestingproccdurcsforelectricandelectronicproductsTestM:Lowairpressure第二部分：試驗(yàn)本標(biāo)準(zhǔn)參照采用國際電工委員會(huì)IEC68—2—13《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓》1983年版)。主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品低氣壓試驗(yàn)方法的嚴(yán)酷等級(jí)、預(yù)處理、初始測量、條件試驗(yàn)、恢復(fù)和最后測量本標(biāo)準(zhǔn)適用于室溫條件下的低氣壓試驗(yàn)。主要用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下見存、運(yùn)輸或使用的適應(yīng)性。注：對(duì)于存、運(yùn)輸或使用條件下的產(chǎn)品·當(dāng)高溫和低氣壓或低溫和低氣壓綜合影響施于產(chǎn)品上的應(yīng)力或在此應(yīng)力作用下的失效機(jī)理是十分重要時(shí)，則應(yīng)按下列標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn)：GB2423.25以及GB2423.26.2引用標(biāo)準(zhǔn)GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程名詞術(shù)語GB2423.25電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程GB2423.26試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程GB2424.15溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則一般說明低氣壓試驗(yàn)系將試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱(室）然后將箱(室)內(nèi)氣壓降低到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的值，并保持規(guī)定持續(xù)時(shí)間的試驗(yàn)。試驗(yàn)設(shè)備4.1試驗(yàn)箱(室)應(yīng)具有能保持本標(biāo)準(zhǔn)第5章所規(guī)定的低氣壓條件的能力4.2在恢復(fù)氣壓至正常時(shí)，應(yīng)注意避免發(fā)生由于輔助設(shè)備裝置及導(dǎo)入不清清的空氣而使箱內(nèi)空氣發(fā)生污染的情況、4.3當(dāng)試驗(yàn)散熱試驗(yàn)樣品時(shí)，對(duì)試驗(yàn)箱(室)的要求可根據(jù)GB2423.26進(jìn)行適當(dāng)?shù)囊?guī)定。5嚴(yán)酷等級(jí)5.1有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)當(dāng)規(guī)定氣壓和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間的嚴(yán)酷等級(jí)，

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