GB/T 7153-2002直熱式階躍型正溫度系數(shù)熱敏電阻器第1部分：總規(guī)范

TcS.31.040.30L15中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T7153-2002idtIIEC60738-1：1958QC440000直熱式階躍型正溫度系數(shù)熱敏電阻器第1部分：總規(guī)范Directlyheatedpositivestep-functiontemperaturecoefficientthermistorsPart1:Genericspecification2002-07-18發(fā)布2002-12-01實施中華人民共和愛布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T71532002前言IEC前言總則.1范圍1.2用標(biāo)準(zhǔn)2技術(shù)數(shù)據(jù)2.1單位和符號2.2定義2.3優(yōu)選值(推薦值)2.4標(biāo)志3質(zhì)量評定程序3.1總則·……………·3.2初始制造階段3.33.4結(jié)構(gòu)相似元件3.5鑒定批準(zhǔn)程序3.6返工和返修…3.7交貨放行…………….3.8放行批試驗記錄證明?3.9延期交貨……….3.10替代的試驗方法3.11在超出IECQNSI地區(qū)范圍的制造3.12不檢查參數(shù)4試驗和測量程序………4.1總則··.4.2試驗的標(biāo)準(zhǔn)條件………………4.3干燥和恢復(fù)……4.4外觀檢查和尺寸檢驗…·4.5零功率電阻值…4.6電阻溫度系數(shù)……………4.7絕緣電阻(僅對絕緣型熱敏電阻器）4.8耐電壓（僅對絕緣型熱敏電阻器）4.9電阻/溫度特性4.10在。、下的耗散系數(shù)(o)4.11環(huán)境溫度變化引起的響應(yīng)時間(.）

GB/T7153-20024.12功率變化引起的響應(yīng)時間(4.)4.13環(huán)境溫度變化引起的熱時間常數(shù)4.14冷卻引起的熱時間常數(shù)4.151引出端強(qiáng)度······.…······4.16錫焊·………4.17溫度的快速變化4.18振動4.19碰撞4.20沖擊4.21氣候順序4.22穩(wěn)態(tài)濕熱4.23耐久性…4.24動作電流和動作時間4.25最大不動作電流4.26剩余電流4.27表面溫度4.28涌電流4.29安裝(僅對表面安裝熱敏電阻器）4.30剪切力（附著力)試驗28基片折曲（彎曲)試驗4.3128附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）1EC60410標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的抽樣方案和程序用在IEC電子元件質(zhì)量評定體系的解釋···29附錄B(提示的附錄）電氣測試安裝方法(表面安裝類型除外)30附錄C(提示的附錄）溫度測試安裝方法

GB/T7153-2002本標(biāo)準(zhǔn)適用于直熱式階躍型正溫度系數(shù)熱敏電阻器,它等同采用IEC60738-1:1998《直熱式階躍型正溫度系數(shù)熱敏電阻器第1部分：總規(guī)范》。本標(biāo)準(zhǔn)是對GB/T7153—1987《直熱式階躍型正溫度系數(shù)熱敏電阻器總規(guī)范（可供認(rèn)證用)》的修訂.本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T7153—1987主要區(qū)別是增加了有關(guān)作為限流、浪涌、加熱使用時直熱式階躍型正溫度系數(shù)熱敏電阻器的名詞術(shù)語、測試方法和試驗條件并分別給出了作為限流、浪涌、加熱和溫度敏感使用時直熱式階躍型正溫度系數(shù)熱敏電阻器的固定樣本大小鑒定批準(zhǔn)試驗一覽表，質(zhì)量評定水平由E改為EZ.補(bǔ)充了表面安裝用直熱式階躍型正溫度系數(shù)熱敏電阻器的試驗方法。本標(biāo)準(zhǔn)自實施之日起·同時代替GB/T7153—1987。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為標(biāo)準(zhǔn)的附錄，附錄B和附錄C均為提示的附錄中國電子元器件質(zhì)最認(rèn)證委員會標(biāo)準(zhǔn)化機(jī)構(gòu)是中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國電子設(shè)備用阻容元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口本標(biāo)準(zhǔn)由信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所負(fù)責(zé)起草本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：陳勤、向艷本標(biāo)準(zhǔn)首次發(fā)布日期：1987年1月7日。

GB/T7153-2002IEC前言1）IEC(國際電工委員會)是由各個國家電工委員會(IEC國家委員會)組成的世界性標(biāo)準(zhǔn)化組織IC的目的是促進(jìn)電工電子領(lǐng)域標(biāo)準(zhǔn)化問題的國際合作。為此目的.除其他活動外，IEC發(fā)布國際標(biāo)準(zhǔn)國際標(biāo)準(zhǔn)的制定由技術(shù)委員會承擔(dān)，對所涉及內(nèi)容關(guān)切的IEC國家委員會，均可參加國際標(biāo)準(zhǔn)的制定工作。與IC有連系的任何國際、政府和非官方組織也可參加國際標(biāo)準(zhǔn)的制定。IEC與國際標(biāo)準(zhǔn)組織（ISO）根據(jù)兩組織間協(xié)商確定的條件保持密切合作關(guān)系。2）IEC（國際電工委員會)在技術(shù)問題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對這些問題特別關(guān)切的國家委員會參加的技術(shù)委員會制定的.對所涉及的問題盡可能地代表了國際上的一致意見。3）這些決議或協(xié)議以推薦標(biāo)準(zhǔn)的形式供國際上使用,并在此意義上為各國家委員會所認(rèn)可。4）為了促進(jìn)國際上的統(tǒng)一.IEC希望各國家委員會在本國條件許可的情況下,采用IEC標(biāo)準(zhǔn)的文本作為國家標(biāo)準(zhǔn)。IEC標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)國家標(biāo)準(zhǔn)之間的差異，應(yīng)盡可能在國家標(biāo)準(zhǔn)中指明。5）IEC未制定使用認(rèn)可標(biāo)志的任何程序。當(dāng)宣稱某一產(chǎn)品符合相應(yīng)的IEC標(biāo)準(zhǔn)時,IEC概不負(fù)責(zé)。6）IEC注意到本國際標(biāo)準(zhǔn)中的某些元件已可能授子專利的事實，但卻沒有責(zé)任識別某一個或全部專利的事實。國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60738-1是由國際電工委員會第40技術(shù)委員會：電子設(shè)備用電容器和電阻器制定的本標(biāo)準(zhǔn)是第二版，它取代1982年出版的第一版本標(biāo)準(zhǔn)文本以下列文件為依據(jù)：最終文件表決報告40/1080/FDIS40/1096/RVD表決批準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)的詳細(xì)資料可在上表列出的表決報告中查閱附錄A是本標(biāo)準(zhǔn)的補(bǔ)充件、附錄B和附錄C僅是本標(biāo)準(zhǔn)的參考件本標(biāo)準(zhǔn)封面上的QC號是IEC電子元器件質(zhì)量評定體系(IECQ)的規(guī)范號

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)直熱式階躍型正溫度系數(shù)熱敏電阻器GB/T7153-2002第1部分：總規(guī)范idtIEC60738-1：1998QC440000代替GB/T7153—1987Directlyheatedpositivestep-functiontemperaturecoefficientthermistors-Part1:Genericspecification1總則1.1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了絕緣和非絕緣的階躍型正溫度系數(shù)熱敏電阻器的術(shù)語和試驗方法,這類電阻器一般由鐵電半導(dǎo)體材料制成本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于電子元件鑒定批準(zhǔn)和質(zhì)量評定體系詳細(xì)規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)術(shù)語、檢驗程序和試驗方法。1.2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文.通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂。使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。關(guān)于IEC60068號出版物,不管后面新版本的修改版本如何。都將用所引用的版本。GB/T2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗總則（idtIEC60068-1:1988）GB/T2423.1—2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A:低溫（idtIEC60068-2-1:1990）GB/T2423.2-1989）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法(eqvIEC60068-2-2:1974）GB/T2423.4—1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法(eqvIEC60068-2-30:1980），電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法GB/T2423.5-1995武驗Ea和導(dǎo)則：沖擊(idtIEC60068-2-27:1987）GB/T2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞(idtIEC60068-2-29:1987）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程GB/T2423.17-1993試驗Ka:鹽霧試驗方法（eqvIEC60068-2-11:1981）GB/T2423.21—1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法（neqIEC60068-2-13:1983）GB/T2423.22-1987電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法(eqvIEC60068-2-14:1984）電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程GB/T24