標準解讀
《GB/T 2831-2009 光學零件的面形偏差》與《GB/T 2831-1981 光學零件的面形偏差 檢驗方法(光圈識別)》相比,在內容上進行了多方面的更新和補充,主要體現在以下幾個方面:
-
范圍擴展:新標準不僅涵蓋了舊版中關于光學零件面形偏差的檢驗方法,還增加了更多種類的光學元件以及它們在不同應用條件下的要求。這意味著,《GB/T 2831-2009》適用范圍更廣,能夠滿足更多類型光學產品的檢測需求。
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術語定義明確化:新版標準對相關術語進行了更加詳細且準確的定義,有助于減少因理解差異導致的應用錯誤。例如,“面形偏差”、“局部不規(guī)則度”等關鍵概念都有了更為精確的表述。
-
測試方法多樣化:除了保留原有的光圈識別法外,《GB/T 2831-2009》引入了包括干涉測量、輪廓儀掃描等多種先進的檢測技術。這些新增加的方法提高了測量精度,并能適應不同類型或尺寸規(guī)格的樣品測試需求。
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數據處理及報告格式標準化:針對實驗結果的數據分析過程,《GB/T 2831-2009》給出了具體指導原則,同時規(guī)范了最終報告的形式,確保不同實驗室之間可以獲得一致可比的結果。
-
質量控制要求提高:為了保證產品質量,《GB/T 2831-2009》加強了對面形偏差的質量控制措施,明確了允許的最大偏差值及其對應的等級劃分,為生產制造提供了更嚴格的依據。
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....
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- 現行
- 正在執(zhí)行有效
- 2009-11-15 頒布
- 2010-02-01 實施
文檔簡介
犐犆犛37.020
犖30
中華人民共和國國家標準
犌犅/犜2831—2009
代替GB/T2831—1981
光學零件的面形偏差
犛狌狉犳犪犮犲犳狅狉犿犱犲狏犻犪狋犻狅狀狅犳狅狆狋犻犮犪犾犲犾犲犿犲狀狋狊
(ISO101105:2007,Opticsandphotonics—
Preparationofdrawingsforopticalelementsandsystems—
Part5:Surfaceformtolerances,NEQ)
20091115發(fā)布20100201實施
中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局
發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
書
犌犅/犜2831—2009
目次
前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ
1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
3術語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
4面形偏差的公差規(guī)定!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
5標注方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3
6公差標注示例!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4
7檢驗方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5
附錄A(規(guī)范性附錄)弧矢偏差的公差與曲率半徑公差間的換算!!!!!!!!!!!!!!8
附錄B(資料性附錄)光圈度量!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!9
附錄C(資料性附錄)使用干涉儀判讀不規(guī)則干涉條紋!!!!!!!!!!!!!!!!!!18
附錄D(資料性附錄)PV值、rms值及Power值與其他參數的關系!!!!!!!!!!!!!22
參考文獻!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!23
書
犌犅/犜2831—2009
前言
本標準對應ISO101105:2007《光學和光子學光學零件和光學系統圖樣第5部分:面形公差》,
與ISO101105:2007的一致性程度為非等效。
本標準與ISO101105:2007的主要差異:
———刪除國際標準的序言和前言;
———增加了術語和定義;
———增加了光圈識別檢驗方法;
———增加了面形偏差的未注公差規(guī)定;
———增加了不規(guī)則干涉條紋判讀及有關數字干涉條紋解析內容。
本標準代替GB/T2831—1981《光學零件面形偏差的檢驗方法(光圈識別法)》,本標準與
GB/T2831—1981的主要差異為:
———修改了標準名稱;
———增加了術語和定義,明確了PV值及rms值的定義;
———增加了面形偏差的公差的單位規(guī)定;
———增加了面形偏差的畫圖表示,并修改了面形偏差的表示方法及表示位置;
———增加了未注公差的標注規(guī)定;
———增加了數字化PV值及rms值的測量問題;
———將換算公式、光圈識別方法放入附錄A和附錄B;
———增加了不規(guī)則干涉條紋判讀及數字干涉條紋解析,并將其內容放入附錄C。
本標準的附錄A是規(guī)范性附錄,附錄B、附錄C和附錄D是資料性附錄。
本標準由中國機械工業(yè)聯合會提出。
本標準由全國光學和光子學標準化技術委員會(SAC/TC103)歸口。
本標準負責起草單位:寧波永新光學股份有限公司、上海光學精密機械研究所、上海理工大學、鳳凰
光學集團有限公司、江南永新光學有限公司、蘇州一光儀器有限公司。
本標準參加起草單位:浙江舜宇集團股份有限公司、寧波華光精密儀器有限公司、寧波市教學儀器
有限公司、麥克奧迪實業(yè)集團有限公司、貴陽新天光電科技有限公司、梧州奧卡光學儀器公司、南京東利
來光電實業(yè)有限公司。
本標準主要起草人:曾麗珠、徐德衍、章慧賢、馮瓊輝、鄔子剛。
本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T2831—1981。
Ⅰ
犌犅/犜2831—2009
光學零件的面形偏差
1范圍
本標準規(guī)定了光學零部件面形偏差的術語和定義、公差及檢驗方法。
本標準適用于使用光學樣板的等厚干涉方法及干涉儀方法檢驗光學零部件的面形偏差。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有
的修改單(不包括勘誤的內容)或修訂版均不適用于本標準,然而,鼓勵根據本標準達成協議的各方研究
是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標準。
GB/T13323光學制圖(GB/T13323—2009,ISO101101:2006,Opticsandphotonics—Prepara
tionofdrawingsforopticalelementsandsystems—Part1:General,NEQ)
3術語和定義
下列術語
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