標準解讀
《GB/T 37128-2018 X射線計算機斷層成像安全檢查系統(tǒng)技術要求》是中國國家標準之一,該標準主要針對X射線計算機斷層成像(CT)安全檢查系統(tǒng)的性能、安全性以及測試方法等方面提出了具體的技術要求。這類系統(tǒng)廣泛應用于機場、火車站等公共場所的安全檢查工作,通過非侵入式手段對行李或貨物進行內(nèi)部結構的成像分析,以識別潛在危險物品。
根據(jù)文檔內(nèi)容,本標準涵蓋了以下幾個關鍵方面:
- 術語和定義:明確了與X射線CT安檢系統(tǒng)相關的專業(yè)術語及其定義,為理解后續(xù)章節(jié)提供基礎。
- 一般要求:規(guī)定了系統(tǒng)設計時需考慮的基本原則,包括但不限于操作便捷性、維護簡便性及用戶友好界面的設計理念。
- 性能指標:詳細列舉了CT安檢系統(tǒng)應達到的各項性能參數(shù),如空間分辨率、對比度分辨率、穿透力等,這些都是衡量一個CT安檢系統(tǒng)質(zhì)量好壞的重要依據(jù)。
- 安全性:強調(diào)了在使用過程中必須遵守的安全規(guī)范,比如輻射防護措施、電氣安全標準等,確保設備對人體健康無害的同時也能有效防止意外事故的發(fā)生。
- 環(huán)境適應性:指出了產(chǎn)品應在不同環(huán)境條件下正常工作的能力要求,考慮到實際應用場景可能存在的溫度變化、濕度等因素的影響。
- 試驗方法:提供了驗證上述各項技術要求是否滿足的方法指南,幫助企業(yè)或第三方機構開展相應的檢測活動。
- 標志、包裝、運輸和貯存:最后還涉及到了產(chǎn)品的標識信息、合適的包裝方式、合理的運輸條件以及正確的存儲環(huán)境等內(nèi)容,旨在保障從出廠到最終用戶的整個物流過程中產(chǎn)品質(zhì)量不受損害。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權發(fā)布的權威標準文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2018-12-28 頒布
- 2019-07-01 實施




文檔簡介
ICS13310
A91.
中華人民共和國國家標準
GB/T37128—2018
X射線計算機斷層成像安全檢查系統(tǒng)
技術要求
TechnicalrequirementsforX-raycomputedtomographysecurity
inspectionsystems
2018-12-28發(fā)布2019-07-01實施
國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
GB/T37128—2018
目次
前言
…………………………Ⅲ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術語和定義
3………………1
系統(tǒng)分類
4…………………3
技術要求
5…………………3
試驗方法
6…………………8
檢驗規(guī)則
7…………………11
標志和隨機文件
8…………………………12
包裝運輸及貯存
9、………………………13
附錄規(guī)范性附錄測試箱
A()……………15
Ⅰ
GB/T37128—2018
前言
本標準按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構不承擔識別這些專利的責任
。。
本標準由中華人民共和國公安部提出
。
本標準由全國安全防范報警系統(tǒng)標準化技術委員會歸口
(SAC/TC100)。
本標準起草單位同方威視技術股份有限公司中國民航科學技術研究院公安部第一研究所北京
:、、、
中盾安民分析技術有限公司公安部安全防范報警系統(tǒng)產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗測試中心公安部安全與警用
、、
電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測中心
。
本標準主要起草人陳志強李元景張麗趙悅李保磊劉彩霞張耀軍張彤
:、、、、、、、。
Ⅲ
GB/T37128—2018
X射線計算機斷層成像安全檢查系統(tǒng)
技術要求
1范圍
本標準規(guī)定了射線計算機斷層成像安全檢查系統(tǒng)的系統(tǒng)分類技術要求試驗方法檢驗規(guī)則
X、、、、
標志和隨機文件包裝運輸及貯存
、、。
本標準適用于射線計算機斷層成像安全檢查系統(tǒng)是設計制造驗收和使用此類設備的依據(jù)
X,、、。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
包裝儲運圖示標志
GB/T191—2008
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗低溫
GB/T2423.1—20082:A:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗高溫
GB/T2423.2—20082:B:
環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗恒定濕熱試驗
GB/T2423.3—20162:Cab:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗和導則沖擊
GB/T2423.5—19952:Ea:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第部分試驗方法試驗振動正弦
GB/T2423.10—20082:Fc:()
外殼防護等級代碼
GB/T4208—2017(IP)
測量控制和實驗室用電氣設備的安全要求第部分通用要求
GB4793.1—2007、1:
微劑量射線安全檢查設備第部分通用技術要求
GB15208.1—2018X1:
微劑量射線安全檢查設備第部分透射式行包安全檢查設備
GB15208.2—2018X2:
電磁兼容通用標準工業(yè)環(huán)境中的抗擾度試驗
GB/T17799.2—2003
電磁兼容通用標準工業(yè)環(huán)境中的發(fā)射
GB17799.4—2012
3術語和定義
下列術語和定義適用于本文件
。
31
.
X射線計算機斷層成像X-raycomputedtomography
計算機斷層掃描
一種利用一系列不同角度的射線透視圖像通過計算機運算處理得到物體內(nèi)
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