- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2021-12-31 頒布
- 2022-07-01 實(shí)施
文檔簡介
ICS7104099
CCSG.04.
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T41074—2021/ISO207202018
:
微束分析用于波譜和能譜分析的
粉末試樣制備方法
Microbeamanalysis—Methodofspecimenpreparationforanalysisof
generalpowdersusingWDSandEDS
ISO207202018IDT
(:,)
2021-12-31發(fā)布2022-07-01實(shí)施
國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布
國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T41074—2021/ISO207202018
:
目次
前言
…………………………Ⅲ
引言
…………………………Ⅳ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語和定義
3………………1
縮略語
4……………………1
試樣制備方法
5……………1
導(dǎo)電性處理
6………………6
附錄資料性壓強(qiáng)對(duì)壓片射線強(qiáng)度影響的實(shí)例
A()X…………………7
附錄資料性顆粒尺寸對(duì)壓片射線強(qiáng)度影響的實(shí)例
B()X……………8
參考文獻(xiàn)
………………………9
Ⅰ
GB/T41074—2021/ISO207202018
:
前言
本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)
GB/T1.1—2020《1:》
定起草
。
本文件等同采用微束分析用于波譜和能譜分析的粉末試樣制備方法
ISO20720:2018《》。
請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任
。。
本文件由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口
(SAC/TC38)。
本文件起草單位中國地質(zhì)科學(xué)院礦產(chǎn)資源研究所核工業(yè)北京地質(zhì)研究院中國科學(xué)院地質(zhì)與地
:、、
球物理研究所
。
本文件主要起草人陳振宇范光毛騫
:、、。
Ⅲ
GB/T41074—2021/ISO207202018
:
引言
雖然電子探針和掃描電鏡在粉末分析中廣泛應(yīng)用但也存在一些困難特別是在
(EPMA)(SEM),,
單個(gè)顆粒分析的情況下如
,:
試樣制備過程中的顆粒團(tuán)聚
a);
試樣的固定尤其是當(dāng)存在少量細(xì)小顆粒用于表面分析或截面分析時(shí)
b),;
具有核殼結(jié)構(gòu)的小顆粒的橫截面制備
c)-;
在顆粒表面對(duì)電子束敏感的情況下保護(hù)顆粒表面不受電子束輻照損傷
d),;
在電子輻照下對(duì)試樣荷電的中和以防止粉末由于電荷排斥而飛濺或分散
e),;
當(dāng)產(chǎn)生射線的體積大于粉末顆粒時(shí)定性定量分析結(jié)果的解釋
f)X,、。
在分析粉末元素組成的情況下試樣制備也會(huì)影響分析結(jié)果因?yàn)轭w粒聚集體或團(tuán)聚體中的粗糙
,,
度空隙空間可以影響射線強(qiáng)度
、X。
為了克服這些困難對(duì)顆粒分析的試樣制備進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化是非常重要的
,。
Ⅳ
GB/T41074—2021/ISO207202018
:
微束分析用于波譜和能譜分析的
粉末試樣制備方法
1范圍
本文件規(guī)定了使用安裝在電子探針或掃描電鏡上的能譜儀或波譜儀
(EPMA)(SEM)(EDS)
分析粉末中的顆粒時(shí)的試樣制備方法根據(jù)分析目的和顆粒尺寸對(duì)粉末顆粒試樣的制備方法
(WDS)。,
進(jìn)行了分類
。
本文件適用于粒徑范圍在的無機(jī)物顆粒
100nm~100μm。
本文件不適用于一些特殊應(yīng)用如法醫(yī)分析或痕量分析
,。
2規(guī)范性引用文件
本文件沒有規(guī)范性引用文件
。
3術(shù)語和定義
本文件沒有需要界定的術(shù)語和定義
。
4縮略語
下列縮略語適用于本文件
。
能譜儀
EDS:(energy-dispersiveX-rayspectrometer)
能譜術(shù)
EDX:(energy-dispersiveX-rayspectroscopy)
能譜法
(energy-dispersiveX-rayspectrometry)
電子探針顯微分析
EPMA:(electronprobemicroanalysis)
電子探針顯微分析儀
(electronprobemicroanalyzer)
掃描電子顯微術(shù)
SEM:
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