標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 5170.1-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第1部分：總則》是針對電工電子產(chǎn)品在進(jìn)行環(huán)境試驗時所使用的試驗設(shè)備的檢驗方法而設(shè)立的標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)適用于確定這些試驗設(shè)備是否滿足特定要求，確保試驗結(jié)果的有效性和可靠性。它定義了檢驗的基本原則、程序以及對設(shè)備性能的一般性要求。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)，檢驗過程分為預(yù)檢驗、正式檢驗和后續(xù)檢驗三個階段。預(yù)檢驗主要是為了確認(rèn)試驗設(shè)備及其輔助設(shè)施能夠正常運(yùn)行，并且符合即將進(jìn)行的檢驗項目的要求；正式檢驗則是按照規(guī)定的方法對設(shè)備的各項性能指標(biāo)進(jìn)行全面測試；后續(xù)檢驗是在一定時間間隔后重復(fù)進(jìn)行的部分或全部正式檢驗內(nèi)容，以監(jiān)測設(shè)備性能的變化情況。

標(biāo)準(zhǔn)中還詳細(xì)說明了如何制定檢驗計劃，包括但不限于選擇合適的檢驗項目、確定每個項目的具體檢驗條件（如溫度范圍、濕度水平等）、規(guī)定檢驗步驟及記錄數(shù)據(jù)的方式等內(nèi)容。此外，對于不同類型的環(huán)境試驗設(shè)備（如高低溫試驗箱、濕熱試驗箱等），標(biāo)準(zhǔn)提供了相應(yīng)的特殊要求和技術(shù)細(xì)節(jié)。

在整個檢驗過程中，強(qiáng)調(diào)了對測量儀器準(zhǔn)確度的要求，以及對操作人員專業(yè)技能的需求，保證了整個檢驗活動的專業(yè)性和公正性。通過遵循本標(biāo)準(zhǔn)提供的指導(dǎo)方針，可以有效提高電工電子產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性的評估質(zhì)量。


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....

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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2016-12-13 頒布
  • 2017-07-01 實施
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GB/T 5170.1-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第1部分：總則_第1頁
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GB/T 5170.1-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第1部分：總則-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡介

ICS19040

K04.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T51701—2016

代替.

GB/T5170.1—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法

第1部分總則

:

Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipments

forelectricandelectronicroducts—Part1General

p:

2016-12-13發(fā)布2017-07-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T51701—2016

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

檢驗條件

4…………………11

檢驗用儀器及要求

5………………………11

檢驗周期

6…………………11

檢驗負(fù)載

7…………………11

對受檢設(shè)備的外觀和安全要求

8…………12

檢驗記錄表

9………………12

檢驗結(jié)果的處理

10………………………12

Ⅰ

GB/T51701—2016

.

前言

分為以下部分

GB/T5170:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第部分總則

———GB/T5170.1—20161:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

———GB/T5170.2—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第部分濕熱試驗設(shè)備

———GB/T5170.5—20165:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備

———GB/T5170.8—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備

———GB/T5170.9—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

———GB/T5170.10—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備

———GB/T5170.11—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動正弦試驗

———GB/T5170.13—2005()

用機(jī)械振動臺

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動正弦試驗

———GB/T5170.14—2009()

用電動振動臺

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動正弦試驗

———GB/T5170.15—2005()

用液壓振動臺

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗

———GB/T5170.16—2005

用離心機(jī)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫低氣壓濕

———GB/T5170.17—2005//

熱綜合順序試驗設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度濕度組合循

———GB/T5170.18—2005/

環(huán)試驗設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度振動正弦

———GB/T5170.19—2005/()

綜合試驗設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備

———GB/T5170.20—2005

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動隨機(jī)試驗用

———GB/T5170.21—2008()

液壓振動臺

本部分是的第部分

GB/T51701。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則與

GB/T5170.1—2008《》,GB/T5170.1—

相比主要技術(shù)內(nèi)容變化如下

2008,:

在規(guī)范性引用文件中增加了

———GB/T2298—2010、GB/T2422—2012、GB/T23715—2009;

溫度偏差的定義由原來的試驗箱室穩(wěn)定狀態(tài)下工作空間各測量點(diǎn)在規(guī)定時間內(nèi)實測最高

———“(),

溫度和最低溫度與標(biāo)稱溫度的上下偏差修改為試驗箱室穩(wěn)定狀態(tài)下工作空間各測量點(diǎn)

”,“(),

在規(guī)定時間內(nèi)實測最高溫度和最低溫度與設(shè)定溫度的上下偏差見

”(3.2.4);

相對濕度偏差的定義由原來的試驗箱室穩(wěn)定狀態(tài)下工作空間各測量點(diǎn)在規(guī)定時間內(nèi)實測

———“(),

最高相對濕度和最低相對濕度與標(biāo)稱相對濕度的上下偏差修改為試驗箱室穩(wěn)定狀態(tài)下

”,“(),

工作空間各測量點(diǎn)在規(guī)定時間內(nèi)實測最高相對濕度和最低相對濕度與設(shè)定相對濕度的上下偏

差見

”(3.2.5);

術(shù)語每溫度平均變化速率修改為溫度平均變化速率定義由原來的試驗箱

———“5min”“5min”,“

Ⅲ

GB/T51701—2016

.

室工作空間幾何中心點(diǎn)測得的兩個規(guī)定溫度之間每的平均轉(zhuǎn)變速率用表

()5min,℃/min

示修改為試驗箱室工作空間幾何中心點(diǎn)測得的兩個規(guī)定溫度之間任意時間的平

”,“()5min

均轉(zhuǎn)變速率用表示見

,℃/min”(3.2.11);

氣壓偏差的定義由原來的試驗箱室穩(wěn)定狀態(tài)下工作空間測量點(diǎn)在規(guī)定時間內(nèi)實測最高氣

———“(),

壓和最低氣壓與標(biāo)稱氣壓的上下偏差修改為試驗箱室穩(wěn)定狀態(tài)下工作空間測量點(diǎn)在規(guī)

”,“(),

定時間內(nèi)實測最高氣壓和最低氣壓與設(shè)定氣壓的上下偏差見

”(3.2.12);

刪除了術(shù)語頻率范圍頻率穩(wěn)定度本底噪聲加速度臺面漏磁

———“”、“”、“”、“”;

增加了術(shù)語輻照度偏差二氧化硫濃度偏差硫化氫濃度偏差降雨強(qiáng)度雨滴直

———“”、“”、“”、“”、“

徑振動發(fā)生器振動臺激振器振動發(fā)生器系統(tǒng)電動振動發(fā)生器電動振動臺電

”、“//”、“”、“/”、“

磁振動發(fā)生器電磁振動臺液壓式振動發(fā)生器機(jī)械式振動發(fā)生器掃頻速率線性

/”、“”、“”、“”、“

掃頻速率對數(shù)頻率掃頻速率振幅掃頻精度

”、“()”、“”、“”;

檢驗用儀器及要求由原來的使用的測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度k不大于被測

———“(=2)

參數(shù)允許偏差的三分之一二次儀表與一次儀表應(yīng)一同校驗修改為由各部分具體規(guī)定見

,”,“”(

第章

5);

檢驗報告增加了至少應(yīng)包含的信息見

———(10.3)。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC8)。

本部分起草單位工業(yè)和信息化部電子第五研究所廣州五所環(huán)境儀器有限公司中國電器科學(xué)研

:、、

究院有限公司中國航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長城計量測試技術(shù)研究所廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)

、、

研究院無錫蘇南試驗設(shè)備有限公司

、。

本部分主要起草人伍偉雄謝晨浩黃開云呂國義蘇偉倪一明賴文光呂旺燕鄭術(shù)力

:、、、、、、、、、

謝凱鋒

。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB5170.1—1985、GB/T5170.1—1995、GB/T5170.1—2008。

Ⅳ

GB/T51701—2016

.

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法

第1部分總則

:

1范圍

的本部分規(guī)定了環(huán)境試驗設(shè)備以下簡稱設(shè)備檢驗所用術(shù)語和定義檢驗條件檢

GB/T5170(“”)、、

驗用儀器及要求檢驗周期檢驗負(fù)載外觀和安全檢驗記錄表檢驗結(jié)果處理等

、、、、、。

本部分適用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗所用設(shè)備的檢驗其他產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗所用設(shè)備的檢

,

驗亦可參照使用

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

機(jī)械振動沖擊與狀態(tài)監(jiān)測詞匯

GB/T2298、

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗概述和指南

GB/T2421.1

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