GB/T 5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則

犐犆犛１９．０４０

犓０４

中華人民共和國國家標準

犌犅／犜５１７０．１—２００８

代替ＧＢ／Ｔ５１７０．１—１９９５

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗

方法總則

犐狀狊狆犲犮狋犻狅狀犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉犲狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犲狇狌犻狆犿犲狀狋狊

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犌犲狀犲狉犪犾

２００８０６１６發(fā)布２００９０３０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

書

犌犅／犜５１７０．１—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４檢驗條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!６

５檢驗儀器!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

６檢驗周期!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

７檢驗負載!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

８對受檢設(shè)備的外觀和安全要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

９檢驗記錄表!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

１０檢驗結(jié)果的處理!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

Ⅰ

書

犌犅／犜５１７０．１—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ５１７０目前包含以下幾部分：

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則

———ＧＢ／Ｔ５１７０．２—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．５—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．８—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．９—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１０—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１１—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１３—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用

機械振動臺

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１４—１９８５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用

電動振動臺

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１５—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用

液壓振動臺

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１６—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用

離心機

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１７—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫／低氣壓／濕熱

綜合順序試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１８—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／濕度組合循環(huán)

試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１９—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／振動（正弦）綜

合試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．２０—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備

本部分是ＧＢ／Ｔ５１７０的第１部分。

本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．１—１９９５《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》。

本部分與ＧＢ／Ｔ５１７０．１—１９９５《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》相比，技術(shù)

內(nèi)容主要有如下變化：

———標準名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試

驗設(shè)備檢驗方法總則”；

———增加了前言；

———所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；

———刪除了術(shù)語“指示點”；

———修改了“溫度波動度”的定義和計算方法；

———修改了“溫度變化速率”的定義和計算方法；

———增加了“相對濕度波動度”的定義和計算方法；

———增加了“相對濕度均勻度”的定義和計算方法；

———增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”的定義和計算方法；

———增加了“溫度指示誤差”的定義；

Ⅲ

犌犅／犜５１７０．１—２００８

———增加了“相對濕度指示誤差”的定義；

———增加了“氣壓指示誤差”的定義；

———增加了“溫度過沖”的定義；

———增加了“溫度過沖量”的定義；

———增加了“相對濕度過沖”的定義；

———增加了“相對濕度過沖量”的定義；

———增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”的定義；

———增加了“相對濕度過沖恢復(fù)時間”的定義；

———刪除了“光譜能量分布偏差”的定義；

———刪除了“輻射強度偏差”的定義；

———刪除了“試驗箱（室）環(huán)境參數(shù)中值”的定義；

———刪除了“試驗箱（室）的調(diào)整值”的定義；

———刪除了“試驗箱（室）指示儀表修正值”的定義；

———增加了“諧波失真度”的定義；

———增加了“振動幅值均勻性”的定義；

———增加了“橫向振動比”的定義；

———檢驗負載改為空載；

———檢驗儀器的要求更改為使用的測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴展不確定度（犽＝２）不大于被測參數(shù)允

許偏差的三分之一；

———刪除了“試驗箱（室）的調(diào)整及修正”部分。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并歸口。

本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。

本部分主要起草人：伍偉雄、肖建紅、謝晨浩、鄭術(shù)力、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、喬新愚。

本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１—１９８５；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１—１９９５。

Ⅳ

犌犅／犜５１７０．１—２００８

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗

方法總則

１范圍

ＧＢ／Ｔ５１７０的本部分規(guī)定了環(huán)境試驗設(shè)備（以下簡稱“設(shè)備”）檢驗所用術(shù)語和定義、檢驗條件、檢

驗儀器、檢驗周期、檢驗負載、設(shè)備的外觀和安全、檢驗記錄表、檢驗結(jié)果處理等要求。

本部分適用于電工電子產(chǎn)品進行環(huán)境試驗所用設(shè)備的檢驗，其他產(chǎn)品進行環(huán)境試驗所用設(shè)備的檢

驗亦可參照使用。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ５１７０的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成

協(xié)議的各