GB/T 5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

犐犆犛１９．０４０

犓０４

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜５１７０．１０—２００８

代替ＧＢ／Ｔ５１７０．１０—１９９６

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法

高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

犐狀狊狆犲犮狋犻狅狀犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉犲狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犲狇狌犻狆犿犲狀狋狊

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犆狅犿犫犻狀犲犱犺犻犵犺犪狀犱犾狅狑狋犲犿狆犲狉犪狋狌狉犲／犾狅狑

犪犻狉狆狉犲狊狊狌狉犲狋犲狊狋犻狀犵犲狇狌犻狆犿犲狀狋狊

２００８０６１６發(fā)布２００９０３０１實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書

犌犅／犜５１７０．１０—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術(shù)語(yǔ)和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４檢驗(yàn)項(xiàng)目!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

５檢驗(yàn)用主要儀器及要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

６檢驗(yàn)負(fù)載!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

７檢驗(yàn)條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

８檢驗(yàn)方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

９數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

１０檢驗(yàn)周期!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

附錄Ａ（規(guī)范性附錄）檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

Ⅰ

書

犌犅／犜５１７０．１０—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ５１７０目前包含以下幾部分：

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則

———ＧＢ／Ｔ５１７０．２—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．５—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．８—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．９—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１０—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１１—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１３—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用

機(jī)械振動(dòng)臺(tái)

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１４—１９８５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用

電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１５—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用

液壓振動(dòng)臺(tái)

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１６—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用

離心機(jī)

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１７—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫／低氣壓／濕熱

綜合順序試驗(yàn)設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１８—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／濕度組合循環(huán)

試驗(yàn)設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１９—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／振動(dòng)（正弦）

綜合試驗(yàn)設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．２０—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備

本部分是ＧＢ／Ｔ５１７０的第１０部分。

本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．１０—１９９６。與ＧＢ／Ｔ５１７０．１０—１９９６相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：

———標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備”更改為

“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備”；

———所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”；

———增加了“術(shù)語(yǔ)和定義”一章；

———增加了“溫度波動(dòng)度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；

———增加了“溫度均勻度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；

———檢驗(yàn)項(xiàng)目“綜合檢定溫度平均變化速率”更改為“綜合檢驗(yàn)每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”；

———增加了“溫度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目；

———增加了“氣壓指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目；

———增加了“溫度過(guò)沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目；

———增加了“溫度過(guò)沖恢復(fù)時(shí)間”檢驗(yàn)項(xiàng)目；

———增加了“噪聲”檢驗(yàn)項(xiàng)目；

Ⅲ

犌犅／犜５１７０．１０—２００８

———在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中，給出了測(cè)量系統(tǒng)其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（犽＝２）的

要求；

———增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章；

———測(cè)量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；

———?jiǎng)h除了“檢定過(guò)程中的處理”部分；

———增加了附錄Ａ“檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”。

附錄Ａ為規(guī)范性附錄。

本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)技術(shù)委員會(huì)（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并

歸口。

本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。

本部分主要起草人：伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國(guó)良。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１０—１９８５；

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１０—１９９６。

Ⅳ

犌犅／犜５１７０．１０—２００８

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法

高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

１范圍

ＧＢ／Ｔ５１７０的本部分規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)

項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等

內(nèi)容。

本部分適用于對(duì)ＧＢ／Ｔ２４２３．２１《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ｍ：低氣壓試驗(yàn)方法》、

ＧＢ／Ｔ２４２３．２５《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ｚ／ＡＭ：低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和

ＧＢ／Ｔ２４２３．２６《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ｚ／ＢＭ：高溫／低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)

設(shè)備的首次檢驗(yàn)／驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。

本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)ＧＢ／Ｔ５１７０的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＧＢ／Ｔ２４２３．２１電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程