標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備》與《GB/T 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備》相比,在內(nèi)容和結(jié)構(gòu)上進(jìn)行了多方面的調(diào)整。這些變化主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:
首先,標(biāo)準(zhǔn)名稱從“基本參數(shù)檢定方法”變更為“檢驗(yàn)方法”,這反映了新標(biāo)準(zhǔn)不僅關(guān)注設(shè)備的基本性能參數(shù)的檢測(cè),還增加了對(duì)整個(gè)試驗(yàn)過程控制能力的要求。
其次,新版標(biāo)準(zhǔn)增加了對(duì)濕熱試驗(yàn)設(shè)備的安全要求部分,包括電氣安全、機(jī)械安全等方面的規(guī)定,以確保使用過程中人員及設(shè)備的安全性。
第三,對(duì)于溫濕度控制精度的要求有所提高,并且明確規(guī)定了在不同溫度范圍內(nèi)的允許偏差值,使得測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠。
第四,新增了一些關(guān)于設(shè)備校準(zhǔn)的具體指導(dǎo)原則和技術(shù)要求,比如推薦采用更先進(jìn)的校準(zhǔn)方法來保證測(cè)量數(shù)據(jù)的有效性和一致性。
第五,對(duì)試驗(yàn)報(bào)告的內(nèi)容提出了更為詳盡的要求,除了原有的基本信息外,還需包含更多關(guān)于測(cè)試條件設(shè)定、實(shí)際運(yùn)行情況等方面的記錄,以便于后續(xù)分析與比對(duì)。
第六,針對(duì)不同類型或規(guī)格的濕熱試驗(yàn)箱,新版標(biāo)準(zhǔn)給出了更加具體的操作指南和建議,有助于用戶根據(jù)自身需求選擇合適的設(shè)備并正確使用。
第七,在附錄部分增加了多個(gè)示例表格和圖表,用以輔助說明某些關(guān)鍵概念或操作步驟,使讀者更容易理解和執(zhí)行相關(guān)條款。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 5170.5-2016
- 2008-06-16 頒布
- 2009-03-01 實(shí)施





下載本文檔
GB/T 5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
犐犆犛19.040
犓04
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
犌犅/犜5170.5—2008
代替GB/T5170.5—1996
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法
濕熱試驗(yàn)設(shè)備
犐狀狊狆犲犮狋犻狅狀犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉犲狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犲狇狌犻狆犿犲狀狋狊
犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—
犇犪犿狆犺犲犪狋狋犲狊狋犻狀犵犲狇狌犻狆犿犲狀狋狊
20080616發(fā)布20090301實(shí)施
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
書
犌犅/犜5170.5—2008
目次
前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ
1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
3術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
4檢驗(yàn)項(xiàng)目!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
5檢驗(yàn)用主要儀器及要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
6檢驗(yàn)負(fù)載!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
7檢驗(yàn)條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
8檢驗(yàn)方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
9數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8
10檢驗(yàn)周期!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!9
附錄A(規(guī)范性附錄)檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!10
附錄B(規(guī)范性附錄)干濕表法測(cè)量相對(duì)濕度!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!11
書
犌犅/犜5170.5—2008
前言
GB/T5170目前包含以下幾部分:
———GB/T5170.1—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則
———GB/T5170.2—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.5—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.8—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.9—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.10—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.11—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.13—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用
機(jī)械振動(dòng)臺(tái)
———GB/T5170.14—1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用
電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)
———GB/T5170.15—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用
液壓振動(dòng)臺(tái)
———GB/T5170.16—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用
離心機(jī)
———GB/T5170.17—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱
綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.18—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)
試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.19—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)(正弦)綜
合試驗(yàn)設(shè)備
———GB/T5170.20—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備
本部分是GB/T5170的第5部分。
本部分代替GB/T5170.5—1996。與GB/T5170.5—1996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:
———標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子
產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備”;
———所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”;
———增加了“術(shù)語和定義”一章;
———增加了“相對(duì)濕度波動(dòng)度”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
———增加了“相對(duì)濕度均勻度”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
———增加了“每5min溫度平均變化速率”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
———增加了“溫度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
———增加了“相對(duì)濕度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
———增加了“溫度過沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
———增加了“相對(duì)濕度過沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
———增加了“溫度過沖恢復(fù)時(shí)間”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
———增加了“相對(duì)濕度過沖恢復(fù)時(shí)間”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
Ⅰ
犌犅/犜5170.5—2008
———增加了“噪聲”檢驗(yàn)項(xiàng)目;
———在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中,給出了溫度測(cè)量系統(tǒng)和濕度測(cè)量系統(tǒng)其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展
不確定度(犽=2)的要求;
———增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章;
———測(cè)量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);
———增加了附錄A“檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”;
———增加了附錄B“干濕表法測(cè)量相對(duì)濕度”。
附錄A和附錄B為規(guī)范性附錄。
本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC8)提出并歸口。
本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。
本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國(guó)良。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T5170.5—1985,GB/T5170.6—1985,GB5170.7—1985,GB/T5170.5—1996。
Ⅱ
犌犅/犜5170.5—2008
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法
濕熱試驗(yàn)設(shè)備
1范圍
GB/T5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條
件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。
本部分適用于對(duì)GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕
熱試驗(yàn)》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法》
和GB/T2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)J:長(zhǎng)霉》所用試驗(yàn)設(shè)備的首次
檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。
本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文
件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成
協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本
部分。
GB/T2423.3電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
(GB/T2423.3—2006,IEC60068278:2001,IDT
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