標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 5594.1-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 氣密性測(cè)試方法》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)之一,旨在規(guī)范電子元器件中使用的結(jié)構(gòu)陶瓷材料進(jìn)行氣密性檢測(cè)的具體操作流程和技術(shù)要求。該標(biāo)準(zhǔn)適用于評(píng)估陶瓷材料或由其制成的密封件在特定條件下防止氣體滲透的能力。

根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn),氣密性測(cè)試主要通過(guò)將待測(cè)樣品置于一定壓力差下的環(huán)境中來(lái)實(shí)施,觀察一段時(shí)間內(nèi)是否有氣體泄漏現(xiàn)象發(fā)生。具體來(lái)說(shuō),它包括了準(zhǔn)備階段、加壓過(guò)程以及泄漏檢測(cè)等步驟。其中,準(zhǔn)備階段涉及選擇合適的測(cè)試設(shè)備和確保被測(cè)樣品表面清潔無(wú)損;加壓過(guò)程中需按照規(guī)定設(shè)置內(nèi)部與外部之間的壓力差異,并保持穩(wěn)定狀態(tài)足夠長(zhǎng)的時(shí)間以便準(zhǔn)確測(cè)量;最后,在泄漏檢測(cè)環(huán)節(jié),則是利用精密儀器如氦質(zhì)譜儀等工具對(duì)可能存在的微小泄露路徑進(jìn)行定位與定量分析。


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  • 1985-11-27 頒布
  • 1986-12-01 實(shí)施
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GB/T 5594.1-1985電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法氣密性測(cè)試方法_第1頁(yè)
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GB/T 5594.1-1985電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法氣密性測(cè)試方法-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

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UDC621.315.612:621.382/.387:620.1中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB5594.1-85電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法氣密性測(cè)試方法TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodforgas-tightness1985-11-27發(fā)布1986-12-01實(shí)施標(biāo)國(guó)淮同家批準(zhǔn)

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)UDC621.315.612電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料621.307.387:620.1氣密性測(cè)試方法性能測(cè)試方法GB5594.1-85TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodforgas-tightness本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷室溫下氣密性的測(cè)試。1測(cè)試原理氮?dú)饨?jīng)陶瓷片滲透到氫質(zhì)譜檢漏儀的回旋室中,電離后形成離子流。根據(jù)此離子流值,,可確定漏氨速率和判斷陶瓷的氣密性。2測(cè)試設(shè)備2.1氨質(zhì)譜檢漏儀,靈敏度6.0×10Pa.1/s2.2通用馬弗爐,0~1000℃。3測(cè)試試樣3.1將陶瓷片兩面進(jìn)行研磨,研磨尺寸按GB5593—85《電子元器件結(jié)構(gòu)陶寬材料》規(guī)定,經(jīng)透液性檢驗(yàn)、燈光或十倍放大鏡觀索后無(wú)裂紋時(shí)方可使用。3.2清洗上述試樣,放人馬弗爐中加熱,以450℃/h的速度升溫到900℃,,并保溫30min3.3試樣冷至室溫后取出,放人干燥器中,待測(cè)。4測(cè)試方法《.1用鏢子將試樣從干燥器中取出,放在周定的夾具上,用真空泥將試樣和夾具密封。4.22接通電源,相繼開(kāi)動(dòng)機(jī)械泵和擴(kuò)散泵,待測(cè)試系統(tǒng)真空度至1.33×10"Pa時(shí)即可測(cè)試。4.3氮槍對(duì)準(zhǔn)密片進(jìn)行噴吹,噴吹15·后,記錄檢漏儀上檢流計(jì)讀數(shù),并查出對(duì)應(yīng)漏氫速率值。5結(jié)果評(píng)定漏氨速率用10"Pa·1/s數(shù)量級(jí)表示,報(bào)告數(shù)據(jù)準(zhǔn)確至小數(shù)點(diǎn)后一位,,平行試樣誤差小于0.5×10Pa·1/s,最后結(jié)果是三個(gè)試樣的平均值。若漏氫速率小于或等于10.0×10Pa·1/s時(shí),則陶瓷是氣密的,否則是不氣密的。附加說(shuō)明:本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由電子工業(yè)部

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