標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 5594.3-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法 平均線膨脹系數(shù)測試方法》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)，旨在規(guī)定用于測定電子元器件中結(jié)構(gòu)陶瓷材料平均線膨脹系數(shù)的方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于評估在不同溫度范圍內(nèi)這些材料隨溫度變化而發(fā)生的體積或長度變化情況，對于確保電子元件在各種環(huán)境條件下穩(wěn)定工作具有重要意義。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)，測試過程主要包括樣品準(zhǔn)備、儀器校準(zhǔn)、實(shí)驗(yàn)條件設(shè)定以及數(shù)據(jù)處理等步驟。首先，需要按照要求制備合適尺寸與形狀的試樣，并保證其表面平整光滑無缺陷；然后，在特定型號的熱膨脹儀上進(jìn)行測量前，需對設(shè)備進(jìn)行全面檢查并完成必要的校正工作；接下來，依據(jù)所選溫度范圍調(diào)整加熱速率和冷卻方式，并記錄下整個過程中試樣的長度變化值；最后，利用公式計(jì)算出給定溫區(qū)內(nèi)的平均線膨脹系數(shù)，并以一定格式報(bào)告結(jié)果。


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  • 1985-11-27 頒布
  • 1986-12-01 實(shí)施
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文檔簡介

UDC621.315.612：621.382/.387：620.1中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB5594.3-85電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法平均線膨脹系數(shù)測試方法TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodformeancoefficientoflinearexpansion1985-11-27發(fā)布1986-12-01實(shí)施：標(biāo)淮國同家批準(zhǔn)

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性性能測試方法平均線膨脹系數(shù)測試方法GB5594.3-85中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號郵政編碼：100045電話：63787337、637874471986年7月第一版2005年12月電子版制作書號：1550661-24319版權(quán)專有(權(quán)必究舉報(bào)電話：(010)68533533

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法平均線膨脹系數(shù)測試方法1.387:620.1GB5594.3-85TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodformeancoefficientorlinearexpansicn本標(biāo)準(zhǔn)適用于測量室濕至800℃各個階設(shè)中電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷的平均線膨脹系數(shù)1定義在指定溫度范圍內(nèi)，陶瓷在單位溫度下相對伸長量的中均值四平均線膨脹系數(shù)。式中：平均線膨脹系數(shù)，C！室溫至所測溫度的伸長量，mr；室溫至所測溫度的溫度差，（；試樣在室溫下的長度，mm.2測試設(shè)備2.1線膨脹系數(shù)測試儀，具有±0.15×10°/C的精確度。2.22通用熱電偶，具有±1C的精確度，熱端應(yīng)放在試樣中部，冷端應(yīng)放在保溫瓶中.武樣制備3.11根據(jù)膨脹儀的類形、確定兩種試樣尺寸，見GB5593一85《電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料》。3.22試梓不應(yīng)有影響測試結(jié)果的缺障，如裂紋、境曲和氣孔等。4測試方法4.1用精度為0.05mm的卡尺酒量試樣長度L4.22試樣裝人（英套管中，應(yīng)保持直和穩(wěn)定，并和石英傳遞桿接觸良好、4.3接通電源、加熱并烏勾升溫。百徑3.5±0.1mm的試樣升溫速度不大子5C/min，m7±1mm的試樣升溫謀度不大）3（/min。4記錄各點(diǎn)溫度和伸長值L，直至瓣試到所需溫度為止。4.55測量結(jié)果按下列公

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