標準解讀

《JJF 1100-2016 平面等厚干涉儀校準規(guī)范》相較于《JJF 1100-2003 平面等厚干涉儀校準規(guī)范》，在內(nèi)容上進行了多方面的更新與調(diào)整，主要體現(xiàn)在以下幾個方面：

  1. 術(shù)語和定義：新版標準對部分術(shù)語進行了修訂或新增，以確保表述更加準確、科學。比如，對于某些專業(yè)詞匯給出了更為明確的定義，便于使用者理解和應(yīng)用。

  2. 校準條件：針對環(huán)境條件如溫度、濕度以及振動等因素對測量結(jié)果的影響，《JJF 1100-2016》提出了更嚴格的要求，并且增加了關(guān)于如何控制這些因素的具體指導(dǎo)建議，旨在提高校準過程中的穩(wěn)定性和準確性。

  3. 校準項目及方法：新版本細化了平面等厚干涉儀的主要技術(shù)參數(shù)及其對應(yīng)的校準方法，包括但不限于波長范圍、分辨率、重復(fù)性等關(guān)鍵指標。同時，也引入了一些新的測試程序和技術(shù)手段來評估設(shè)備性能。

  4. 數(shù)據(jù)處理與不確定度評定：《JJF 1100-2016》加強了對實驗數(shù)據(jù)處理流程的規(guī)定，特別是對于不確定度分析給予了更多關(guān)注。它不僅提供了計算示例，還強調(diào)了在整個校準過程中考慮所有可能影響因素的重要性。

  5. 報告格式：為了增強校準報告的一致性和可讀性，該版本更新了報告模板，明確了必須包含的信息項，如儀器基本信息、校準依據(jù)、環(huán)境條件記錄、測量結(jié)果及評價等內(nèi)容。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2016-11-30 頒布
  • 2017-05-30 實施
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文檔簡介

中華人民共和國國家計量技術(shù)規(guī)范

JJF1100—2016

平面等厚干涉儀校準規(guī)范

CalibrationSpecificationforFlatEqualThicknessInterferometers

2016-11-30發(fā)布2017-05-30實施

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中華人民共和國

國家計量技術(shù)規(guī)范

平面等厚干涉儀校準規(guī)范

JJF1100—2016

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

*

中國質(zhì)檢出版社出版發(fā)行

北京市朝陽區(qū)和平里西街甲號

2(100029)

北京市西城區(qū)三里河北街號

16(100045)

網(wǎng)址

:

服務(wù)熱線

:400-168-0010

年月第一版

20175

*

書號

:155026·J-3437

版權(quán)專有侵權(quán)必究

JJF1100—2016

平面等厚干涉儀校準規(guī)范??

???????????????

?JJF1100—2016?

CalibrationSecificationfor??

?????????????

p?

代?替JJF1100—2003?

??

FlatEqualThicknessInterferometers

歸口單位全國幾何量工程參量計量技術(shù)委員會

:

主要起草單位中國測試技術(shù)研究院

:

中國計量科學研究院

參加起草單位中國科學院光電技術(shù)研究所

:

中測測試科技有限公司

本規(guī)范委托全國幾何量工程參量計量技術(shù)委員會負責解釋

JJF1100—2016

本規(guī)范主要起草人

:

冉慶中國測試技術(shù)研究院

()

張恒中國計量科學研究院

()

趙小萍中國測試技術(shù)研究院

()

康巖輝中國計量科學研究院

()

參加起草人

:

吳時彬中國科學院光電技術(shù)研究所

()

徐德宇中國測試技術(shù)研究院

()

卿光亞中測測試科技有限公司

()

JJF1100—2016

目錄

引言

………………………(Ⅱ)

范圍

1……………………(1)

引用文件

2………………(1)

概述

3……………………(1)

計量特性

4………………(3)

干涉條紋間距測量的重復(fù)性

4.1………(3)

測微目鏡的示值誤差

4.2………………(3)

物鏡系統(tǒng)引起的干涉條紋彎曲量

4.3…………………(3)

儀器的示值誤差

4.4……………………(3)

校準條件

5………………(3)

環(huán)境條件

5.1……………(3)

校準項目和測量標準及其他設(shè)備

5.2…………………(3)

校準方法

6………………(4)

干涉條紋間距測量的重復(fù)性

6.1………(4)

測微目鏡的示值誤差

6.2………………(4)

物鏡系統(tǒng)引起的干涉條紋彎曲量

6.3…………………(4)

儀器的示值誤差

6.4……………………(5)

校準結(jié)果的表達

7………………………(5)

復(fù)校時間間隔

8…………(5)

附錄平面等厚干涉條紋測量方法的圖解與簡介

A…………………(6)

附錄平面等厚干涉儀示值誤差校準不確定度評定示例

B…………(7)

附錄校準證書內(nèi)頁信息及格式

C……………………(10)

Ⅰ

JJF1100—2016

引言

國家計量校準規(guī)范編寫規(guī)則通用計量術(shù)語及

JJF1071—2010《》、JJF1001—2011《

定義和測量不確定度評定與表示共同構(gòu)成支撐本校準規(guī)范修訂

》JJF1059.1—2012《》

工作的基礎(chǔ)性系列規(guī)范

。

與平面等厚干涉儀校準規(guī)范相比本規(guī)范除編輯性修改外主

JJF1100—2003《》,,

要技術(shù)變化如下

:

本規(guī)范取消了按儀器示值誤差對平面等厚干涉儀分級

———;

本規(guī)范取消了不帶標準平面平晶平面等厚干涉儀的示值誤差可以不測量這

———“”

條規(guī)定

;

本規(guī)范增加了附錄平面等厚干涉條紋測量方法的圖解與簡介

———A:;

本規(guī)范中平面等厚干涉儀示值誤差的測量推薦由二塊?一等標準平面

———150mm

平晶按其兩測量截面一一對應(yīng)測量方法得到并保留原規(guī)范用三塊二等平面平晶互檢

,

方法

;

本規(guī)范取消復(fù)校時間間隔中建議一般不超過年條款校準時間間隔由用

———“1”,

戶根據(jù)自身企業(yè)情況確定

。

本規(guī)范的歷次版本發(fā)布情況

:

平面等厚干涉儀校準規(guī)范

———JJF1100—2003《》;

平面等厚干涉儀

———JJG336—1983《》。

Ⅱ

JJF1100—2016

平面等厚干涉儀校準規(guī)范

1范圍

本規(guī)范適用于平面等厚干涉儀的校準

。

2引用文件

本規(guī)范引用下列文件

:

平晶

JJG28—2000

平面平晶

JB/T7401—1994

凡是注日

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