標(biāo)準(zhǔn)解讀

《JJG 788-1992 α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源》是一項(xiàng)國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程，主要針對(duì)用于校準(zhǔn)和檢驗(yàn)輻射測(cè)量?jī)x器的α、β粒子發(fā)射體的標(biāo)準(zhǔn)平面源。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了此類標(biāo)準(zhǔn)平面源的技術(shù)要求、檢定項(xiàng)目及方法等內(nèi)容。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)，首先明確了適用范圍，即適用于所有類型的α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源的質(zhì)量控制與驗(yàn)證過程。接著，在技術(shù)要求部分，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)平面源的放射性核素種類、活度值及其均勻性、穩(wěn)定性等提出了具體的要求。例如，對(duì)于不同用途的標(biāo)準(zhǔn)平面源，其表面活性物質(zhì)分布需達(dá)到一定的均勻度；同時(shí)，這些平面源在一定時(shí)間內(nèi)應(yīng)保持相對(duì)穩(wěn)定的放射性能。

此外，《JJG 788-1992》還規(guī)定了一系列詳細(xì)的檢定程序，包括但不限于外觀檢查、幾何尺寸測(cè)量、活度測(cè)定以及穩(wěn)定性測(cè)試等。其中，特別強(qiáng)調(diào)了使用適當(dāng)?shù)姆椒▉頊?zhǔn)確測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)平面源的活度，并要求定期進(jìn)行復(fù)核以確保數(shù)據(jù)的有效性和可靠性。


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....

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  • 被代替
  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替
  • 1992-06-29 頒布
  • 1992-12-01 實(shí)施
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JJG 788-1992α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源_第1頁
JJG 788-1992α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源_第2頁
JJG 788-1992α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源_第3頁
JJG 788-1992α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源_第4頁
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JJG 788-1992α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡(jiǎn)介

中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程

JJG788—1992

α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源

TheαStandardPlaneSource

、β

1992-06-29發(fā)布1992-12-01實(shí)施

國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

JJG788—1992

、標(biāo)準(zhǔn)平面源檢定規(guī)程??

αβ???????????????

??

?—?

VerificationRegulationofJJG7881992

?????????????

??

??

TheαStandardPlaneSource

、β

本檢定規(guī)程經(jīng)國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局于年月日批準(zhǔn)并自年

19920629,1992

月日起施行

1201。

歸口單位北京市技術(shù)監(jiān)督局

:

起草單位北京市計(jì)量科學(xué)研究所

:

中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院

本規(guī)程技術(shù)條文由起草單位負(fù)責(zé)解釋

JJG788—1992

本規(guī)程主要起草人

:

董洪良北京市計(jì)量科學(xué)研究所

()

李棻中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院

()

JJG788—1992

目錄

一概述

、…………………(1)

二技術(shù)要求

、……………(1)

三檢定條件

、……………(1)

四檢定項(xiàng)目和檢定方法

、………………(2)

五檢定結(jié)果處理和檢定周期

、…………(3)

附錄標(biāo)準(zhǔn)源一些核素的特性

1………(4)

附錄推薦的帶窗模板

2………………(5)

Ⅰ

JJG788—1992

α、β標(biāo)準(zhǔn)平面源檢定規(guī)程

本規(guī)程適用于新制造的和使用中的用于校準(zhǔn)表面污染儀的標(biāo)準(zhǔn)平面源

α、βα、β

最大能量大于的檢定

(β0.15MeV)。

一、概述

標(biāo)準(zhǔn)平面源分為兩類一種是所謂薄源由某種放射性核素沉積或結(jié)合在襯托

,“”,

材料的一個(gè)面上而構(gòu)成襯托材料具有導(dǎo)電性其厚度足以防止源的粒子輻射穿過襯

。,

托另一種是所謂厚源由放射性核素均勻分布在厚度至少等于飽和層厚度的材料

?！啊?

中構(gòu)成其活度是指飽和層內(nèi)含有的放射性活度一級(jí)和二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)平面源必須是薄源

,。。

平面源發(fā)射具有一定能量的粒子用于校準(zhǔn)流氣式正比計(jì)數(shù)器等相對(duì)測(cè)量裝置的效

,

率或表面污染儀的表面活度響應(yīng)

α、β。

二、技術(shù)要求

在源的非活性面應(yīng)標(biāo)有核素名稱和編號(hào)

1。

實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)使用的平面源分為一二級(jí)和工作標(biāo)準(zhǔn)級(jí)一二級(jí)源必須是薄源

2、。、,

且源表面導(dǎo)電良好活性區(qū)面積推薦為采用的核素見附錄而工

。100mm×150mm,1。

作標(biāo)準(zhǔn)級(jí)源的核素和活性區(qū)面積根據(jù)需要來定各級(jí)源的表面發(fā)射率活度的不確定度

。、

和均勻性必須滿足表中所列要求

1。

表1

要求

源的性能

一級(jí)二級(jí)工作標(biāo)準(zhǔn)級(jí)

表面發(fā)射率不確定度不超過不確定度不超過不確定度不超過

3%6%6%

活度不確定度不超過

10%

均勻性優(yōu)于

10%

源的非活性面應(yīng)無放射性污染符合中規(guī)定的要求

3(GB4076)。

三、檢定條件

表面發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)

4

一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)平面源的表面發(fā)射率須由粒子發(fā)射率國(guó)家基準(zhǔn)裝置國(guó)家副基

4.12πα、2πβ、

準(zhǔn)裝置或一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)裝置測(cè)定測(cè)定結(jié)果的總不確定度不超過置信因子為

,2.5%(3)。

二級(jí)和工作級(jí)標(biāo)準(zhǔn)平面源的表面發(fā)射率可由二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)裝置測(cè)量給出二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)裝

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