JJG 902-1995光透沉降粒度測定儀

中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程

JJG902—1995

光透沉降粒度測定儀

ParticalSizeMeterby

Photosedimentation

1995-10-19發(fā)布1996-03-01實施

國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國

國家計量檢定規(guī)程

光透沉降粒度測定儀

JJG902—1995

國家技術(shù)監(jiān)督局頒布

*

中國質(zhì)檢出版社出版發(fā)行

北京市朝陽區(qū)和平里西街甲號

2(100013)

北京市西城區(qū)復(fù)外三里河北街號

16(100045)

網(wǎng)址

:

服務(wù)熱線

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年月第版

199611

*

書號

:155026·J-1518

版權(quán)專有侵權(quán)必究

JJG902—1995

光透沉降粒度測定儀

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Photosedimentation

本檢定規(guī)程經(jīng)國家技術(shù)監(jiān)督局于年月日批準(zhǔn)并自

19951019,1996

年月日起施行

0301。

歸口單位:上海市技術(shù)監(jiān)督局

起草單位:上海市測試技術(shù)研究所

本規(guī)程技術(shù)條文由起草單位負(fù)責(zé)解釋

JJG902—1995

本規(guī)程主要起草人:

顧雪梅上海市測試技術(shù)研究所

()

參加起草人:

金佑國中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所

()

JJG902—1995

目錄

一概述…………………

(1)

二技術(shù)要求……………

(1)

三檢定條件……………

(1)

四檢定項目和檢定方法………………

(2)

五檢定結(jié)果處理和檢定周期…………

(3)

附錄粒徑和粒徑分布的表征方法…………………

1(4)

附錄玻璃球粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)…………

2(5)

附錄檢定證書和檢定結(jié)果通知書背面格式………

3(6)

JJG902—1995

光透沉降粒度測定儀檢定規(guī)程

本規(guī)程適用于新制造使用中及修理后的光透沉降粒度測定儀以下簡稱儀器的

、()

檢定

。

一概述

儀器用于測定單一組成形貌接近圓球體的各種粉體材料的粒徑分布

、。

儀器根據(jù)斯托克斯沉降原理和比爾光透定律利用顆粒在液體

(Stokes)(Beer),

分散介質(zhì)中的重力沉降或離心沉降以及光透比濁法對球形粉體粒徑的重量體積分

,()

布進(jìn)行測定

。

儀器由電源主機(jī)計算系統(tǒng)等部分組成

、、。

二技術(shù)要求

外觀要求

1

新制造的儀器表面鍍涂層不得有明顯的剝落和擦傷

1.1、。

部件齊全刻度和顯示清楚所有緊固件應(yīng)安裝牢固各調(diào)節(jié)器應(yīng)運(yùn)轉(zhuǎn)正常

1.2,,,。

每臺儀器應(yīng)在明顯位置標(biāo)志儀器的名稱型號制造廠名制造日期及編號

1.3、、、。

儀器應(yīng)附有說明書和產(chǎn)品合格證書或前次檢定的檢定證書以及配套附件

1.4,,。

零點(diǎn)和滿刻度漂移

2

開機(jī)半小時后其漂移在內(nèi)應(yīng)小于相對誤差

,30min1%()。

重量中位徑D的測量準(zhǔn)確度

350

標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)次取樣的中位徑測量平均值與標(biāo)準(zhǔn)值的相對誤差不大于

310%。

重量累積分布的測量精密度

4

儀器在同一條件下對標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)一次取樣連續(xù)測量次其中DDD

,3,16,25,50,

DD定義見附錄的變異系數(shù)相對標(biāo)準(zhǔn)偏差不大于

75,84(1)()8%。

安全性能使用中的儀器免檢

5()

儀器絕緣電阻應(yīng)不小于

5.120MΩ。

儀器的電源相中線與機(jī)殼間能承受的正弦交流電壓判斷電流

5.2、1500V、50Hz,

歷時試驗無擊穿及飛弧現(xiàn)象

5mA1min