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qja結(jié)-空氣熱阻qja最早也是最常用的標(biāo)準(zhǔn)之一定義標(biāo)準(zhǔn)由文件JESD51-2給出Ta=環(huán)境空氣溫度,取點(diǎn)為JEDEC組織定義的特定空箱中特定點(diǎn)(Still-AirTest)芯片下印制板可為高傳導(dǎo)能力的四層板(2S2P)或低傳導(dǎo)能力的一層板之任一種(1S0P)qjma結(jié)-移動(dòng)空氣熱阻qjma空氣流速范圍為0-1000LFM定義標(biāo)準(zhǔn)由文件JESD51-6給出Ta=空氣溫度,取點(diǎn)為風(fēng)洞上流溫度印制板朝向?yàn)橹卮笥绊懸蛩豊qjc從結(jié)點(diǎn)到封裝外表面(殼)的熱阻,外表面殼取點(diǎn)盡量靠近Die安裝區(qū)域qjc
結(jié)殼熱阻DieSubstratePCBJunctionCase
qjx試圖采用簡(jiǎn)單的熱阻表示復(fù)雜的芯片傳熱現(xiàn)象芯片內(nèi)部的熱傳現(xiàn)象非常復(fù)雜,無(wú)法使用熱阻來(lái)完美表示;熱阻qjx無(wú)法用于準(zhǔn)確預(yù)測(cè)芯片的溫度,只能提供定性的熱性能對(duì)比;如需準(zhǔn)確預(yù)測(cè)特定工況下芯片的溫度,我們需要其它的方法qjx使用的局限性Convection/RadiationConvection/RadiationConductionConvectionConductionRadiationConductionJunctionXθjx芯片的詳細(xì)模型
建立所有芯片內(nèi)部所有影響傳熱的結(jié)構(gòu)Die硅或砷化鎵材料,表面有發(fā)熱集成電路通常為環(huán)氧樹脂,厚為1-2milDieAttach銅制,用于加強(qiáng)傳熱或其它目地DieFlag/DiePadEncapsulant通常為環(huán)氧樹脂材料金或鋁制,數(shù)目等同于外面管腳數(shù)BondWiresSolderBalls通常材料為錫鉛合金95Pb/5Sn或37Pb/63Sn.銅或鋁42合金制LeadframesSubstrate通常由BT\FR4制成(塑料芯片);或氧化鋁制成(陶瓷芯片)熱阻網(wǎng)絡(luò)模型-DELPHI模型DEvelopmentofLibrariesofPHysicalmodelsforanIntegrateddesignenvironmentDELPHI項(xiàng)目:從1993年到1996年,由歐盟資助,F(xiàn)lomerics公司負(fù)責(zé)協(xié)調(diào),AlcatelBell、AlcatelEspace、PhilipsCFT、ThomsonCSF、Flomerics、NMRC等公司合作,旨在開發(fā)芯片的簡(jiǎn)化熱模型的精確表示方法。
PROFIT項(xiàng)目:同樣由歐盟資助,由Philips公司負(fù)責(zé)協(xié)調(diào),F(xiàn)lomerics、Nokia、Infineon、Philips、ST、Micred、TIMA、等公司合作,旨在開發(fā)芯片熱模型的快速建立方法。項(xiàng)目產(chǎn)生了一系列成果,如芯片的熱阻網(wǎng)絡(luò)模型DELPHI標(biāo)準(zhǔn)、JEDEC組織認(rèn)證的唯一熱模型庫(kù)FLOPACK、芯片熱應(yīng)力分析工具Flo/stress等。PRedictionOFtemperaturegradientsInfluencingThequalityofelectronicproductsPROFIT項(xiàng)目DELPHI項(xiàng)目PBGA封裝模型的建立PBGA封裝特點(diǎn)?有機(jī)基片Organicsubstrate使用焊球(Solderballs)作為二級(jí)互聯(lián)主要應(yīng)用:ASIC’s,內(nèi)存,圖形顯示,芯片組,通訊等.PBGA封裝優(yōu)缺點(diǎn)?I/O密度高;基片材BT具有較好的電性能;加工工藝類似PCB板,成本低廉非氣密封裝,不適合于長(zhǎng)時(shí)工作的芯片或軍用芯片Die與基片(Substrate)間的CTE不匹配如功耗大于2W,則可能需要加強(qiáng)散熱手段主要類型的PBGA封裝Wire-BondedPBGA(Die-up)BTDielectricThermalViasSolderBalls(37Pb/63Sn)Epoxy-basedEncapsulantSiliconDieDieAttach&SolderMaskGoldBondWiresCuTracesPower&GroundPlanesBottomSpreaderDieFlagSignalVias最主流的PBGA封裝,相對(duì)成熟的加工技術(shù),可處理5W以上熱耗。主要類型的PBGA封裝Fine-PitchBGADieAttach&SolderMaskBondWiresSubstrateDie由die-upPBGA變化而來(lái)別名:FSBGA,ChipArrayTM焊球間隙較小可歸類為Near-CSP建模也較困難焊球間隙典型值為1mm,0.8mm,0.65mm,0.5mm,0.4mm經(jīng)常缺少明顯可見,比Die尺寸大的DiePad,因?yàn)镈ie大小與封裝大小相近基片(substrate)中每個(gè)信號(hào)過孔都必須單獨(dú)建出;在FLOPACK中,別名ChipArrayTM主要類型的PBGA封裝Flip-ChipPBGA1)因電氣性能良好,應(yīng)用越來(lái)越廣泛
2)因布線考慮,很難在Die下方布熱過孔,故信號(hào)過孔會(huì)對(duì)散熱有較大影響
3)基片(substrate)復(fù)雜,一般中間層為BT層,兩邊另附有其它層。DieFlip-ChipBumpsUnderfillCoreViasBuild-upMicroviasCoreBuild-up主要類型的PBGA封裝Flip-ChipPBGA的散熱加強(qiáng)手段MetalCapMetalLidLidAttach建模時(shí)需特別注意Cap/LidAttach的
厚度與材質(zhì),因?yàn)樵擃愋酒囊话?/p>
較大,主要熱阻的組成部分之一
Attach即使有較小的誤差,也會(huì)引起
結(jié)溫和熱阻值Theta-JC估計(jì)較大的
誤差。MetalCap與Lid可能由鋁與銅制主要應(yīng)用:高功耗處理器,軍事用芯片主要分為:1)Flip-Chip2)BondWireCBGA封裝模型的建立主要類型的CBGA封裝Flip-ChipCBGADieUnderfill(typicallyepoxybased)Ceramicsubstrate(TypicallyAlumina)SolderBalls(typically90Pb/10Sn)Traces(TungstenorMolybdenum)Flip-chiplayerBare-DieMetalCapAdhesiveCapedPlasticQuadFlatPack(thinversioncalledTQFP)常用于邏輯芯片,ASIC芯片,顯示芯片等封裝外管腳(Lead),表面貼裝PlasticEncapsulantExternalleadframe(gull-wingleads)PQFP封裝模型的建立PQFP封裝模型的建立截面結(jié)構(gòu)圖EpoxyovermoldCu/Alloy42leadframeAubondwireCu/Alloy42tiebarsCu/Alloy42dieflagPQFP封裝優(yōu)缺點(diǎn)?成熟的封裝類型,可采用傳統(tǒng)的加工方法;成本低廉;適用于中低功耗且中等數(shù)目I/O(50-300),熱阻高,不采用Heatslug等附加散熱手段的條件下功耗很難突破2W管腳間距難以做得過小(難于小于0.4mm),相對(duì)于BGA封裝I/O數(shù)目少.SmallOutlinePackageLowproknownasThinSmallOutlinePackage(TSOP)類似于PQFP,只是只有兩邊有管腳廣泛應(yīng)用于內(nèi)存芯片常見的類型- 常規(guī)- Lead-on-ChipSOP/TSOP封裝模型的建立SOP/TSOP封裝模型的建立部分芯片建模時(shí)可將各邊管腳統(tǒng)一建立;管腳數(shù)較小應(yīng)將各管腳單獨(dú)建出.fusedlead一定要單獨(dú)建出Tiebars一般可以忽略.BondWiresDieDieFlagLeadframe常規(guī)DieBondWiresEncapsulantInsulationLeadframeLead-on-ChipQFN封裝模型的建立ThermalViasinPCBThermalLandinPCBDieDieAttachPadExposedPadLeads(Internal)SolderPCBMold主要用于替換引腳數(shù)小于80的引線裝芯片(主要是TSOPandTSSOP)尺寸較小,同時(shí)相對(duì)于TSOP/TSSOP散熱性能好Theta-JA通常只有TSSOP芯片的一半左右主要傳熱路徑:DieDieAttachPadExposedPadPCB次要傳熱路徑:Lead(最好各個(gè)管腳單獨(dú)建出)PCB板下(ExposedPad下方)通常添加熱過孔以加強(qiáng)散熱Micro-BGATM封裝模型的建立為早期的一種CSP設(shè)計(jì)常用于閃存芯片Traces排布于聚酰亞胺的tape層Die與Tape之間有專用的Elastomer采用引腳Lead將電信號(hào)由die傳遞至traces焊球可較隨意排布Die可放在中心,也可以偏置主要傳熱路徑:Die-->elastomer-->solderballs-->boardLead傳導(dǎo)熱量較少,很多情況下可忽略Elastomer導(dǎo)熱能力差,為主要的散熱瓶頸焊球要求單獨(dú)建出Tape中Trace的傳導(dǎo)較少,但是不能忽略SolderBall也夠成相對(duì)較小的熱阻(相對(duì)于Elastomer)DieEncapsulantElastomerLeadsTape&TracesSolderBalls其它的CSP芯片F(xiàn)ine-PitchBGA(ChipArrayTM,FSBGA)類擬于PBGA,更焊球間距更小Fan-intraces所有的過孔都必須單獨(dú)建出MicroStarTM/FlexBGATM類擬于ChipArray,但基片材料為tape而非BT堆棧封裝(StackedPackages)模型的建立StackedTSOPmZ-BallStac
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