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文檔簡介
Chapter3Single-CrystalGrowth&WaferPreparation硅單晶的生長與硅片加工3.1 PhaseDiagram
—Phase-change,SolidSolubility&Segregation
相圖—相變、固溶度與分凝 3.1.1PhaseDiagram基本性質(zhì)Leverrule(F2.1)相律(F2.2)三相點無限互溶(F2.3)3.1.3 PhenomenonofSegregation
EquilibriumSegregationCoefficient k=CS/CL,(&k=CS1/CS2,or***
)3.2 高純多晶硅的制備
地球上最多的元素是Si, 化合物是石英砂(SiO2),
與焦碳混合,在電爐中還原(1600~1800°C)可以獲得95~99%的工業(yè)粗硅(冶金級硅)。MGS(MetallurgicalGradeSilicon) SiO2+2C=Si+2CO↑1、硅粉的酸洗 HCl、王水、(HF+H2SO4)、蒸餾水 3、冷凝器, 4、回流管, 5、出料口精餾
還原(氫還原) SiHCl3+H2—1100~1200C→Si+3SiCl4+2H2
還原過程中的各種不完全反應(yīng)尾氣化合物將影響純度 硅烷熱分解 SiH4—900C→Si+2H2三氯氫硅法較經(jīng)濟(jì) 效率高;9N硅烷法成本高,純度高
3.3單晶硅的生長3.3.1(直拉法單晶生長,Cz-Si) 1、原理:在適當(dāng)?shù)臏囟忍荻?、氣壓下,熔融的硅在高度完美的籽晶(Seed)的旋轉(zhuǎn)牽引下可控地生長。
2、Cz-Si生長工藝:
工藝控制: 縮頸(Necking);零位錯生長 溫度場的分布;(缺陷、雜質(zhì)、二次熱缺陷) 旋轉(zhuǎn)速率;(溫度場的均勻、雜質(zhì)均勻) 提升速率;(直徑、缺陷、應(yīng)力) 彎月面的控制;(生長測控的特征面) 氣場的控制;(缺陷、雜質(zhì))
3、雜質(zhì)分布的控制:
1) 雜質(zhì)的摻入,(高摻雜Si)
:0.001~100cm
2) Segregation: 生長附面層與有效分凝系數(shù)
附面層:熔融體附面,雜質(zhì)附面
3) O、C的控制來源:?
檢測:FTIR改善:MCz
同時也改善橫向均勻性通常:O:~1018cm-3 C:<1017cm-3用途: a)絕大多數(shù)分離器件 b)集成電路襯底
3.3.2Float-zone(懸浮區(qū)熔法—Fz-Si) 1、目的:獲得低O、C含量的Si 2、方法F2.21
4、NTDSi (NeutronTransmutationDoping,中子嬗變摻雜) 1)摻雜:3.4其它化合物半導(dǎo)體材料的晶體生長 3.4.1. GaAs的LEC(液封直拉法) (LiquidEncapsulatedCzochralskiGrowth)原因:在高溫下,Ga、As的蒸氣壓有很大的不同(Ga:~0.001atm;As:~10atm) 即:在晶體外保持10atm的As氣壓才能不使GaAs晶體中的As分離→逸出。
事實上,在~500°C熱處理時,GaAs晶體近表面(~m)的As已經(jīng)會有嚴(yán)重的逸出。
B2O3籽晶優(yōu)點:生長快、成本 低;缺點:位錯密度高 (熱應(yīng)力大)也適合于InP、GaP等材料的生長
3.4.2 BridgmanGrowth HB法(HorizontalBridgman) 優(yōu)點:
裝置“簡單”;容易控制;缺陷密度較小; 缺點:
形成“D”型晶體,使用率低; 不易得到高阻材料; 與石英舟的接觸面大;
VGF6in~10McmDislocation:2~5103cm-33.6晶片的加工3.6.1. 器件對材料的要求
3.6.2.WaferProcessing (Slicing,Etching,andPolishing) 1、去頭、去尾、測試和分段 (外觀、縱向均勻性) 2、滾磨(ROUNDING)
3、定向、磨參考面(Orientation) 4、Slicing(切片) 內(nèi)圓切割I(lǐng)nnerDiameter(IDSaw)晶棒(ingot)粘著偏向(off-orientation)切片厚度?m損傷層厚度~m線切割(WireSaw) 5、倒角(Edge-rounded) 6、Etching&Polishing(腐蝕與拋光)CMP(化學(xué)機(jī)械拋光) 雙面拋光(DSP) 7、IdentificationMarking,Cleaning,Gettering,andShiping3.7晶片的雜質(zhì)吸除(吸雜)工藝雜質(zhì)吸除Getter
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