標(biāo)準(zhǔn)解讀
《YS/T 1160-2016 工業(yè)硅粉定量相分析 二氧化硅含量的測(cè)定 X射線衍射K值法》是一項(xiàng)用于工業(yè)硅粉中二氧化硅含量測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)方法。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了使用X射線衍射技術(shù)結(jié)合K值法來定量分析樣品中的二氧化硅含量的具體步驟和技術(shù)要求。
在執(zhí)行這一標(biāo)準(zhǔn)時(shí),首先需要對(duì)樣品進(jìn)行預(yù)處理,包括但不限于研磨至合適粒度、均勻混合等操作,確保樣品狀態(tài)符合測(cè)試需求。隨后,利用X射線衍射儀對(duì)樣品進(jìn)行掃描,獲取其衍射圖譜。根據(jù)所得到的數(shù)據(jù),通過計(jì)算特定角度下的峰強(qiáng)度比(即K值),并與已知標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)或數(shù)據(jù)庫(kù)中的數(shù)據(jù)對(duì)比,可以得出樣品中各組分的比例信息,特別是關(guān)注對(duì)象——二氧化硅的相對(duì)含量。
此方法基于不同晶體結(jié)構(gòu)物質(zhì)對(duì)于X射線散射特性差異的基本原理,能夠有效區(qū)分并量化復(fù)雜基體材料中目標(biāo)化合物的存在量。適用于工業(yè)生產(chǎn)過程中質(zhì)量控制以及科學(xué)研究等領(lǐng)域內(nèi)對(duì)高純度或含有一定比例非晶態(tài)成分的硅基材料進(jìn)行精確表征。
整個(gè)過程需嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的條件設(shè)置儀器參數(shù),并注意實(shí)驗(yàn)環(huán)境的溫度濕度等因素可能對(duì)結(jié)果造成的影響。此外,還應(yīng)定期校準(zhǔn)設(shè)備以保證測(cè)量精度,同時(shí)采取適當(dāng)措施避免外部干擾源對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生不良影響。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2016-07-11 頒布
- 2017-01-01 實(shí)施



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YS/T 1160-2016工業(yè)硅粉定量相分析二氧化硅含量的測(cè)定X射線衍射K值法-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS29045
H12.
中華人民共和國(guó)有色金屬行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
YS/T1160—2016
工業(yè)硅粉定量相分析
二氧化硅含量的測(cè)定
X射線衍射K值法
Siliconpowder-quantitativephaseanalysis—
Determinationofsilicondioxidecontent—
ValueKmethodofX-raydiffraction
2016-07-11發(fā)布2017-01-01實(shí)施
中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部發(fā)布
YS/T1160—2016
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口
(SAC/TC243)。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位昆明冶金研究院廣州有色金屬研究院國(guó)家有色金屬及電子材料分析測(cè)試中心
:、、、
云南永昌硅業(yè)股份有限公司通標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司
、。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人李和平胡耀東袁威金自欽高珺楊林張晶王書明李揚(yáng)王鐘穎王建波
:、、、、、、、、、、。
Ⅰ
YS/T1160—2016
工業(yè)硅粉定量相分析
二氧化硅含量的測(cè)定
X射線衍射K值法
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了工業(yè)硅粉中二氧化硅含量的測(cè)定方法
。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于工業(yè)硅粉中二氧化硅含量的測(cè)定測(cè)定范圍為
,≥1%。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
數(shù)值修約規(guī)則與極限數(shù)值的表示和判定
GB/T8170
3方法原理
當(dāng)射線照射晶體物質(zhì)時(shí)將產(chǎn)生衍射每種晶體物質(zhì)都有其特定的衍射特征在一定的條件下
X,,。,
混合物質(zhì)中某物質(zhì)所產(chǎn)生的衍射強(qiáng)度與含量成正比測(cè)量衍射線強(qiáng)度當(dāng)被測(cè)物質(zhì)與已知含量的參考
。,
物質(zhì)的衍射線強(qiáng)度確定后可對(duì)被測(cè)物質(zhì)進(jìn)行定量分析
,。
4試劑與材料
41無(wú)水乙醇分析純
.,。
42參考物質(zhì)分析純
.α-Al2O3,。
43分析純
.SiO2,。
44毛玻璃毛面厚度面積不小于
.,0.1mm,8cm×8cm。
5儀器與設(shè)備
51射線衍射儀
.X。
52分析天平感量為
.,0.1mg。
53瑪瑙研缽
.。
54樣品框架
.。
6樣品制取
與試樣應(yīng)能通過
溫馨提示
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