課程shpb試驗(yàn)步驟1壓桿輸入和輸出桿大桿37鋁桿測量泡沫材料小桿14鋼桿

壓桿(輸入桿和輸出桿)：大桿(37，鋁桿)測量材料；小桿(14，鋼桿)測量金屬材料；錐形：60mm~2000mm，越長則加載脈沖越長(的兩倍)，可增大測量應(yīng)變，彈速越高則測量槍膛：發(fā)射，注意裝卸前應(yīng)先卸下輸氣銅管，用扳手進(jìn)行。輸氣銅管彎盒內(nèi)，外應(yīng)變片：入射桿上為兩片串聯(lián)(消除彎曲效應(yīng))LP1~4任意通道，透射桿上控制器用控制輸出氣壓，用充氣按鈕輸氣，用放氣按鈕中途停止充氣，試驗(yàn)結(jié)束后，應(yīng)反Shaper并采用預(yù)留間隙法，參見文獻(xiàn)。應(yīng)變值(Rg1=240Rg2=244左右)。⑴調(diào)節(jié)各參數(shù)：①通道：需信號的通道及數(shù)據(jù)記錄長度；②時(shí)基：速度，應(yīng)變片通道用500ns(0.5s，2MHz)以上；③預(yù)置延遲：記錄信號的起始點(diǎn)，輸入一負(fù)值并調(diào)節(jié)直至(AC)300mV左右)。靜標(biāo)多次，取波頭的平均值，分別為Uci。注意數(shù)據(jù)處理程序所輸入U(xiǎn)ci'UciU標(biāo)定量程/U測量量 v'50(mm)/ v，對于錐形變截面壓桿v0.4v

v(1Rci/Rgi

ii式中C0為壓桿的波速：鋼桿的C0=5060~5100m；鋁桿的C0=5000m。每種氣壓下標(biāo)定3~5次，Kd2.2Kd108700(鋼桿應(yīng)力為墊片粘接并用套筒固定，注意涂抹凡士林，并使接觸Shaper墊片一端面與輸入桿接觸良好，另一端1V2V)、上沿電平調(diào)整，觸發(fā)調(diào)整(對于混凝土可采用透射波觸發(fā))。全面檢查，按F1并充氣破壞)2~3個(gè)理想數(shù)據(jù)。可利用線彈性加載及各波到最大值所花時(shí)間大致相等的特點(diǎn)輔助決定波頭Shaper加長升時(shí)，緩解不均勻性的影響，但會降低應(yīng)變率。理想的解決辦法是試件直接貼片測應(yīng)變，用PVDF壓電計(jì)SHPB直接測(ShaperShaper)，SHPB的應(yīng)力+試件應(yīng)變片的應(yīng)變，PVDF直接測，PVDF應(yīng)力SHPB2002 11 20Uc1Uc2動標(biāo)量程動標(biāo)量程氣壓v原始動標(biāo)電壓U2按靜標(biāo)量程折算U1按靜標(biāo)量程折算U2氣壓v原始動標(biāo)電壓U2按靜標(biāo)量程折算U1按靜標(biāo)量程折算U2氣壓v原始動標(biāo)電壓U2按靜標(biāo)量程折算U1按靜標(biāo)量程折算U2Kd2.205(Kd2.195(2002年11月2220022002年11月22Uc1Uc2應(yīng)變片1、2、3靜標(biāo)量程靈敏度系數(shù)應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓Uc3Uc4Uc5應(yīng)變片1電阻應(yīng)變片2電阻應(yīng)變片3電阻每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變應(yīng)變片2應(yīng)變片3應(yīng)變片2試件尺直徑厚度應(yīng)變片應(yīng)變片應(yīng)變片備試件貼兩個(gè)8mm片，四個(gè)通道記錄：8K/通入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率應(yīng)變片應(yīng)變片應(yīng)變片處理文參分析圖20022002年11月24Uc1Uc2應(yīng)變片1、2、3靜標(biāo)量程靈敏度系數(shù)應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓Uc3Uc4Uc5應(yīng)變片1電阻應(yīng)變片2電阻應(yīng)變片3電阻每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變應(yīng)變片2應(yīng)變片32應(yīng)變片2試件尺直徑厚度應(yīng)變片應(yīng)變片應(yīng)變片備試件貼三個(gè)3mm片，四個(gè)通道記錄：6K/通入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率應(yīng)變片應(yīng)變片應(yīng)變片處理文參分析圖20022002年11月25Uc1Uc2應(yīng)變片1、2、3靜標(biāo)量程靈敏度系數(shù)應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓Uc3Uc4Uc5應(yīng)變片1電阻應(yīng)變片2電阻應(yīng)變片3電阻每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變應(yīng)變片2應(yīng)變片32應(yīng)變片2試件尺直徑厚度應(yīng)變片應(yīng)變片應(yīng)變片備試件貼三個(gè)5mm片，四個(gè)通道記錄：6K/通入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率應(yīng)變片應(yīng)變片應(yīng)變片處理文參分析圖20022002年11月25Uc1Uc2應(yīng)變片1、2、3靜標(biāo)量程靈敏度系數(shù)應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓Uc3Uc4Uc5應(yīng)變片1電阻應(yīng)變片2電阻應(yīng)變片3電阻每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變未應(yīng)變片2應(yīng)變片32應(yīng)變片2試件尺直徑厚度應(yīng)變片壞應(yīng)變片應(yīng)變片備試件貼三個(gè)3mm片，四個(gè)通道記錄：6K/通入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率應(yīng)變片壞應(yīng)變片應(yīng)變片處理文參分析圖20022002年11月27Uc1Uc2應(yīng)變片1、2、3靜標(biāo)量程靈敏度系數(shù)應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓壞Uc3Uc4Uc5應(yīng)變片1電阻應(yīng)變片2電阻應(yīng)變片3電阻每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變應(yīng)變片2應(yīng)變片32應(yīng)變片2試件尺直徑厚度應(yīng)變片應(yīng)變片應(yīng)變片備試件貼三個(gè)8mm片，四個(gè)通道記錄：6K/通入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率應(yīng)變片應(yīng)變片應(yīng)變片處理文參分析圖20022002年11月27Uc1Uc2應(yīng)變片1、2、3靜標(biāo)量程靈敏度系數(shù)應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓Uc3Uc4Uc5應(yīng)變片1電阻應(yīng)變片2電阻應(yīng)變片3電阻每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變應(yīng)變片應(yīng)變片3應(yīng)變片試件尺直徑厚度應(yīng)變片應(yīng)變片應(yīng)變片備試件貼三個(gè)5mm片，四個(gè)通道記錄：6K/通入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率應(yīng)變片應(yīng)變片應(yīng)變片處理文參分析圖20022002年11月28Uc1Uc2應(yīng)變片1、2、3靜標(biāo)量程靈敏度系數(shù)應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓Uc3Uc4Uc5應(yīng)變片1電阻應(yīng)變片2電阻應(yīng)變片3電阻每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變應(yīng)變片2應(yīng)變片32應(yīng)變片2試件尺直徑厚度應(yīng)變片應(yīng)變片應(yīng)變片備試件貼三個(gè)5m片，四個(gè)通道記錄：6K/通入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率應(yīng)變片應(yīng)變片應(yīng)變片處理文參分析圖20022002年12 Uc1Uc2應(yīng)變片1、2靜標(biāo)量程靈敏度系數(shù)應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓Uc3Uc4應(yīng)變片1電阻應(yīng)變片2電阻每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變應(yīng)變片應(yīng)變片試件尺直徑厚度應(yīng)變片應(yīng)變片應(yīng)變片備入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率應(yīng)變片應(yīng)變片處理文參分析圖20022002年12 Uc1Uc2應(yīng)變片1、2靜標(biāo)量程靈敏度系數(shù)應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓Uc3Uc4應(yīng)變片1電阻應(yīng)變片2電阻每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變應(yīng)變片應(yīng)變片試件尺直徑厚度應(yīng)變片超應(yīng)變片超完備試件貼5mm片兩片，6K/通道，以0.4MPa打擊了四次，記錄數(shù)據(jù)為后兩注：最后又以0.3MPa打了一次，量程同wxts121.dat，彈速50/4.475=11.2m/s，記錄文件入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率應(yīng)變片應(yīng)變片處理文參分析圖20022002年12 Uc1Uc2應(yīng)變片1、2靜標(biāo)量程靈敏度系數(shù)應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓Uc3Uc4應(yīng)變片1電阻應(yīng)變片2電阻每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變應(yīng)變片應(yīng)變片試件尺直徑厚度應(yīng)變片應(yīng)變片備注：最后又以1.2MPa打了一次，量程同wxts132.dat，彈速50/2.038=24.5m/s，記錄文件入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率應(yīng)變片應(yīng)變片處理文參分析圖20022002年12 Uc1Uc2應(yīng)變片1、2靜標(biāo)量程靈敏度系數(shù)應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓Uc3Uc4應(yīng)變片1電阻應(yīng)變片2電阻每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變應(yīng)變片應(yīng)變片試件尺直徑厚度應(yīng)變片應(yīng)變片備注：第二次以0.8MPa打了一次，但量程未改(忘入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力83.0/超量平均應(yīng)變率10.7/超量應(yīng)變片應(yīng)變片處理文參分析圖20022002年12 Uc1Uc2應(yīng)變片1、2靜標(biāo)量程靈敏度系數(shù)應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓Uc3Uc4應(yīng)變片1電阻應(yīng)變片2電阻每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變應(yīng)變片應(yīng)變片試件尺直徑厚度應(yīng)變片應(yīng)變片備注：第二次以0.4Ma50/3.706=13.5，文件wxts151.dat入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率應(yīng)變片應(yīng)變片處理文參分析圖20022002年12 上午Uc1Uc2應(yīng)變片1、2靜標(biāo)量程靈敏度系數(shù)應(yīng)變片靜標(biāo)電壓應(yīng)變片靜標(biāo)電壓Uc3Uc4應(yīng)變片1電阻應(yīng)變片2電阻每一mV對應(yīng)應(yīng)變每一mV對應(yīng)應(yīng)變應(yīng)變片應(yīng)變片試件尺直徑厚度應(yīng)變片應(yīng)變片備入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率應(yīng)變片應(yīng)變片處理文參分析圖20022002年12 Uc1Uc2試件尺直徑厚度完備入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率處理文參分析圖試件尺直徑厚度完備入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率處理文參分析圖20022002年12 Uc1Uc2試件尺直徑厚度備入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率處理文參分析圖試件尺直徑厚度備入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率處理文參分析圖20022002年12 Uc1Uc2試件尺直徑厚度掉備入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率處理文參分析圖試件尺直徑厚度備入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率處理文參分析圖20022002年12 Uc1Uc2試件尺直徑厚度備入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率處理文參分析圖試件尺直徑厚度備入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率處理文參分析圖20022002年12 Uc1Uc2試件尺直徑厚度備入射波波頭入射波波尾反射波波頭反射波波尾透射波波頭透射波波尾破壞應(yīng)力平均應(yīng)變率處理文參分析圖試件尺直徑厚度留備