晶體光學課后習題答案

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第一章

1、為什么一軸晶光率體所有橢圓切面上都有No？二軸晶光率體任意切面上是否都有Nm？在哪些切面上才有Nm？（P15）

答：一軸晶光率體是以Ne軸為旋轉軸的旋轉橢球體，所有斜交光軸的切面都與圓切面相交，因此，所有斜交光軸的橢圓切面的長、短半徑中必有一個是主軸No。否。（1）垂直光軸OA切面（2）垂直銳角等分線Bxa切面（3）垂直鈍角等分線Bxo切面（4）垂直光軸面NgNp的斜交切面

2、怎樣定義一軸晶光率體的光性符號？(P14)怎樣定義二軸晶光率體的光性符號？(P20)

答：一軸晶光率體只要比較出Ne′、No的相對大小即可確定出礦物的光性符號。由于一軸正晶Ne＞Ne′＞No，一軸負晶Ne＜Ne′＜No，即只要確定出No＜Ne′，則礦物光性符號為正，No＞Ne′則礦物光性符號為負。二軸晶光率體必需確定Bxa方向是Ng軸還是Np軸：若Bxa=Ng（Bxo=Np），則光性符號為正；若Bxa=Np（Bxo=Ng），則光性符號為負。3、什么叫光軸角（2V），寫出光軸角公式。(P19)答：兩光軸相交的銳角稱為光軸角。光軸角公式：tan2α=Ng2（Nm+Np）（Nm-Np）/Np2（Ng+Nm）（Ng-Nm）此式分子中的Ng2大于分母中的Np2，但分子中的（Nm+Np）小于分母中的（Ng+Nm），可以近似認為Ng2（Nm+Np）∕Np2（Ng+Nm）=1，這樣可簡化為：tan2α=（Nm-Np）/（Ng-Nm）。

4、畫出一軸晶正光性光率體和一軸晶負光性光率體垂直O(jiān)A、平行OA、斜交OA切面的形態(tài)，指出各切面的雙折射率。（詳見P15）

5、畫出二軸晶光率體垂直O(jiān)A、垂直Bxa、垂直Bxo、平行OAP切面的形態(tài)，指出各切面的雙折射率，并在二軸負晶平行OAP切面上標出全部光率體要素。（見P22）

6、一軸晶正光性光率體放倒了是否能成為負光性光率體？反之，一軸負光性光率體豎直了是否能成為正光性光率體？為什么？

不能。一軸晶光率體的光軸與結晶軸c軸方向一致，正、負光率體的倒放的同時改變了其光軸方向，所以錯誤。

7、當Ne趨近于No時，光率體有什么變化？

答：最大雙折率越來越小，趨近于均質體的光率體，即趨近于圓球體。

8、當Nm趨近于Np或Nm趨近于Ng時，光率體有什么變化？當Nm=Np或Nm=Ng時，分別是幾軸晶、什么光性符號？

答：當Nm趨近于Np或Nm趨近于Ng時，光率體趨近于二軸橢球體。當Nm=Np時是一軸晶，正光性。當Nm=Ng時是一軸晶，負光性。

9、指出中級晶族、斜方晶系、單斜晶系、三斜晶系礦物的光性方位。(P24)

答：中級晶族（一軸晶）礦物的光率體形態(tài)是旋轉橢球體，其旋轉軸是晶體的對稱軸；

斜方晶系礦物的光性方位是光率體的三個主軸（Ng、Nm、Np）與三個結晶軸（a、b、c）分別一致；單斜晶系礦物的光性方位是光率體三個主軸中有一個主軸與b軸一致（或平行），其余兩主軸在ac平面內分別與a、c軸斜交；

三斜晶系礦物的光性方位是光率體的三個主軸與結晶軸均斜交，斜交的方向和角度則因礦物種屬不同而異。

11、什么是折射率色散、雙折射率色散、光率體色散？(P26)

答：透明礦物的折射率隨入射光波的不同而發(fā)生改變的現(xiàn)象稱為折射率色散;

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非均質體礦物斜交OA切面的雙折射率一般隨入射光波波長的改變而改變的現(xiàn)象稱為雙折射率色散；由于非均質體的折射率色散強度隨方向不同而不同，則隨著入射光波長的改變，其光率體的大小、形態(tài)發(fā)生改變的現(xiàn)象稱為光率體色散。

12、二軸晶正光性光率體，當2V增大到90°時，光性符號有什么變化？(P20)答:若兩光軸所夾的角恰好等于90°，則光率體的光性符號不分正負，也稱為中性光率體。13、二軸晶光率體，當2V減少到0°時，光率體有何變化？答：此時Nm=Np，光率體變?yōu)橐惠S晶光率體。

15.（1）單斜（2）負（4）長軸Ng，短軸Nm（6）1.701-1.691

17.一軸晶，正光性。三組切面均有一一致值且其他兩值均大于這一一致值。

其次章

1、透射偏光顯微鏡與生物顯微鏡和反射偏光顯微鏡的主要區(qū)別是什么(P31)？

（1）它與普通生物顯微鏡的區(qū)別：它有兩個偏光鏡，一個位于物臺的下面，稱下偏光鏡，又稱起偏鏡；另一個位于物鏡上方，稱上偏光鏡，又稱分析鏡或檢偏鏡。

（2）它與反射偏光鏡的區(qū)別：它是在透射光下觀測，而反射偏光鏡是在反射光下觀測。2、將巖石薄片放置在物臺上進行晶體光學鑒定時，為什么要蓋玻片朝上？(P38)

薄片的蓋玻片必需朝上，否則移動薄片時會損傷蓋玻片，且使用高倍物鏡時不能準焦。3、試述偏光顯微鏡校正中心的步驟。(P39)

（1）準焦后，在薄片中選一質點a位于視域中心（即目鏡十字絲交點處）。

（2）固定薄片，旋轉物臺，若物鏡中軸與鏡筒中軸、物臺旋轉軸不重合，則質點a圍繞某一中心做圓周運動，其圓心o點為物臺旋轉軸出露點。

（3）旋轉物臺180度，使質點a由十字絲交點移至a‘處.

（4）同時調整物臺上的兩個中心校正螺絲,使質點由a‘處移至aa‘線段的中點(即偏心圓的圓心o點)處.（5）移動薄片,使質點a移至十字絲交點.旋轉物臺檢查,假使質點a不動,則中心已校好;若仍有偏心,則重復上述步驟,直至完全校正好為止.（6）假使中心偏差很大,轉動物臺,質點a由十字絲交點轉出視域之外,此時來回轉動物臺,根據質點a運動的圓弧軌跡判斷偏心圓圓心o點所在方向.同時調整物臺的兩個中心校正螺絲,使視域內所有質點向偏心圓圓心相反方向移動.并不時旋轉物臺判斷偏心圓圓心是否進入視域.若偏心圓圓心已在視域內,再按前述步驟校正.

4、怎樣利用黑云母確定下偏光振動方向?怎樣確定上偏光振動方向?(P39)

下:使用中倍物鏡準焦后,在礦片中找一個長條形具有相互平行解理紋的黑云母置于視域中心.轉動物臺,使黑云母的顏色變得最深。此時，黑云母解理紋方向代表下偏光振動方向（由于光波沿黑云母解理紋方向振動時，吸收最強，顏色最黑）。上：檢查上、下偏光鏡是否垂直來確定上偏光振動方向！做法為使用中倍物鏡，去掉薄片，調理照明使視域最亮，推入上偏光鏡，假使視域完全黑暗，證明上、下偏光振動方向垂直。

5、在偏光顯微鏡校正中心時，扭動物鏡或物臺校正螺絲時，為什么只能讓質點由a’移至偏心圓圓心o點，而不是移至十字絲交點？

由于中心只有一個偏心圓半徑的偏差，移至中點后，每旋轉180?度。就可能與原中心重合

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第三章

1、單偏光鏡下觀測晶體的哪些光學性質？

與礦物對透射光波有關的光學性質，如顏色、多色性、吸收性等。

與礦物折射率有關的光學性質，如突起、糙面、邊緣、貝克線、色散效應等。

2、為什么鏡下能看到晶體的輪廓？為什么有的礦物（如橄欖石）邊緣明顯，有的礦物（如石英）輪廓看不明白？（P47）

(1)礦物的邊緣圈閉了礦物的范圍，使礦物切面的輪廓在顯微鏡下顯示出來。

(2)薄片中礦物邊緣的明顯程度取決于礦物折射率與樹膠折射率的差值。差值越大，邊緣越粗黑，形態(tài)越明顯；差值越小，邊緣越淡細，輪廓模糊不清。3、什么叫貝克線？貝克線的移動規(guī)律是什么？（P48）

在偏光顯微鏡下觀測礦物切面光線較集中的一方沿礦物邊緣形成一條亮帶，這條亮帶叫貝克線。移動規(guī)律：下降物臺貝克線向折射率大的介質一方移動。

4、偏光顯微鏡下能否看見礦物的單體形態(tài)，偏光顯微鏡下如何研究礦物的單體形態(tài)？(P52)

不能，礦物的單體形態(tài)是將觀測到的切面形態(tài)在空間上聯(lián)系起來所得到的立體圖形。對于常見礦物，只要具備礦物學知識，觀測少數(shù)幾個的切片形態(tài)，就可得出單形的形態(tài)；對于未知礦物，要觀測多個方向的切片形態(tài)，用豐富的幾何想象力，才能構造出單體形態(tài)，并在立體鏡下觀測驗證。5、在巖石薄片中如何確定礦物是自形晶、半自形晶、他形晶？(P52)

自形：礦物的邊界全為晶面，表現(xiàn)為切面邊界平直，所有切面形態(tài)均為多邊形他形：礦物無完整晶面，所有切面形態(tài)均為不規(guī)則的曲線多邊形。半自形：介于自形與他形之間。

6、巖石薄片中各種礦物顆?；疽恢?，為什么在偏光鏡下給人一種突起高低不同的感覺？(P55)突起是光線通過礦片后產生的一種光學效應，是對礦物邊緣和糙面的一種綜合視覺，并不代表礦物表面的實際高低。

7、如何規(guī)定（定義）突起的正負？正突起是否向上突起？負突起是否向下凹陷？在薄片上怎樣確定正突起和負突起？(P55)

（1）N礦＞N膠，為正突起，N礦＜N膠，為負突起。即負突起礦物折射率小于1.54，正突起礦物折射率大于1.54.（2）正突起并不是都向上的突起，負突起并不是都向下凹陷的，―正負‖是指礦物折射率―大于‖還是―小于‖樹膠的折射率，并不是指突起向上還是向下。

（3）下降載物臺，貝克線如向樹膠移動，礦物為負突起；貝克線如向礦物移動，礦物為正突起8、突起一般劃為幾級？各個等級的折射率范圍和鏡下鑒定特征是什么？(P55)突起級別折射率糙面及邊緣特征實例

負高突起1.78糙面顯著，邊緣很寬很黑，下降物臺，貝克線移向礦物榍石、石榴石

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9、什么叫洛多奇尼科夫色散效應？如何解釋洛多奇尼科夫色散效應？該色散效應有何應用意義？(P49)當兩種介質折射率相差很小時，貝克線發(fā)生變化，在折射率較低的礦物一邊出現(xiàn)橙黃色細線，在折射率較高的礦物一邊出現(xiàn)淺藍色細線（觀測時注意適當縮小光圈）這種現(xiàn)象稱洛多奇尼科夫色散效應解釋：洛多奇尼科夫色散效應產生的條件是兩相鄰的物質折射率相差很小在可見光范圍內相等，但對黃光的折射率仍有差異，如圖3-5A（課本P50）所示物質1和物質2的折射率在可見光范圍內相等但對于黃光N1略大于N2因此物質1的色散曲線較陡；對于藍光N1更大于N2所以藍光折向折射率大的物質1對于橙（紅）N1＜＜＜N2橙光折向物質2，這樣貝克線色散成彩色帶，靠近折射率大的一方為藍色帶，折射率小的一方為橙色帶

意義：洛多奇尼科夫色散效應常用于區(qū)分淺色造巖礦物石英，微斜長石，酸性斜長石，這給鑒定花崗巖帶來很大便利

10、什么是閃突起？什么樣的礦物具有閃突起？具有閃突起的晶體是否無論在任何切面都能見到閃突起？什么樣的切面閃突起最明顯？(P56\\57)

閃突起是旋轉物臺時，礦物（一般是無色礦物）切面的突起時高時低，發(fā)生閃動變化。

只有那些最大雙折率較大，而且最大最小折射率分別屬于兩個不同等級的折射率范圍的礦物才有可能有閃突起。（2）不是垂直光軸切面無閃突起，平行OA或平行OAP的切面閃突起最明顯。11、什么叫糙面？糙面明顯程度與哪些因素有關？如何表征糙面？(P53)

糙面是偏光顯微鏡下所見礦物粗糙的表面，使光線通過礦片后產生的一種光學效應，是人對礦片表面粗糙程度的一種視覺，并不代表礦片真實的物理粗糙程度。

糙面明顯程度主要取決于礦物折射率與樹膠折射率的差值，差值越大，糙面越顯著。礦物表面光亮度對糙面也有影響;視域的亮度對糙面觀測也有影響，有色礦物會使糙面顯著程度提高。

糙面的顯著程度一般用很顯著、顯著、不顯著或很粗糙、粗糙、光滑來表征

12、合成金紅石No=2.616，Ne=2.903，問平行OA切面能否見到閃突起？為什么？

不能，金紅石的雙折率雖然很大，但是其最大最小折射率屬于同一突起等級的折射率范圍，故沒有明顯的等級區(qū)別，故不會出線閃突起

13、鐵黑云母Np=1.630，Ng=1.690，Np=黃紅色，Ng=暗紅棕色，問平行OAP切面能否看到閃突起？為什么？(P57)

不能，它的最大雙折率很大，最大最小折射率又屬于不同突起等級，但黑云母顏色、吸收性變化大，掩蓋了閃突起現(xiàn)象，使閃突起現(xiàn)象乃以察覺出來。14、解理紋的可見度與哪些因素有關？(P57)

（1）礦物的解理性質（2）礦物的切面方向（3）N礦與N膠的差值

15、輝石和斜長石都有兩組完全解理，在薄片中為什么輝石的解理紋簡單看到，而斜長石的解理紋卻難見到？(P58)

（1）輝石的α臨大于斜長石的α臨。（2）輝石的折射率與樹膠的折射率差值較大，解理紋較粗黑而顯目；而斜長石的折射率與樹膠的折射率接近，解理紋細淡而不易被覺察出來16、角閃石的兩組解理夾角為56°和124°，為什么有的切面上兩個方向解理紋，有的切面只有一個方向解理紋，而有的切面見不到解理紋？測量解理夾角應在什么切面上進行？

解理紋的可見度與礦物的切面方向有關，切面方向不同，解理紋的明了程度、寬度、組數(shù)都有可能不同。當其切面法線與解理紋的交角即α大于解理紋可見臨界角時，就看不到解理紋。必需選擇同時垂直兩組解理面的切面進行測量。17、在一片含黑云母的的礦片中，見到大部分黑云母顆粒不具有解理紋，能說這種黑云母不具解理嗎？為什么？

不能，礦片的切面都是任意的，黑云母的解理紋可見臨界角不大，礦片中大部分黑云母的切片法線與解理面的夾角α都大于臨界角度，即使有解理紋在偏光鏡下也不多見，所以不能說這種黑云母不具解

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理。

18、什么叫礦物的顏色？礦物的顏色與哪些因素有關？(P61)礦物的顏色是礦物在單偏光鏡下的色澤

取決于礦物的化學成分，晶體的結構特點，晶體缺陷、雜質及超顯微包裹等

19、什么叫多色性？為什么礦物具有多色性？多色性明顯程度與哪些因素有關？(P62)多色性是非均質體礦物顏色色調發(fā)生改變呈多種色調的現(xiàn)象。

非均質體礦物光性上表現(xiàn)為各向異性，對光波的選擇性吸收隨方向的不同而改變，因此，在顯微鏡下旋轉物臺時，非均質體礦物的顏色色調和濃度一般狀況下都會發(fā)生改變。

因素：與礦物本性有關；與切片方向有關，平行光軸或光軸面的切面的多色性最明顯垂直光軸的切面不具多色性；此外與薄片厚度、視域亮度等因素也有關系。20、什么叫吸收性和吸收性公式？？(P-63)

吸收性是礦物顏色深淺發(fā)生改變的現(xiàn)象說明礦物吸收性的形如No＜（或＞）Ne（一軸晶）和Ng＜（或＞）Nm＜（或＞）Np（二軸晶）的公式。

21、多色性明顯和吸收性強是否有必然的聯(lián)系，舉例說明。(不詳)

沒有必然聯(lián)系，有的礦物多色性很明顯，吸收性也很強，如普通角閃石；有的礦物多色性明顯，但吸收性不強，紫蘇輝石；有的礦物多色性不是很明顯，但吸收性很強，如黑云母。22、一軸晶，二軸晶的多色性和吸收性如何表征？(P63)

一軸晶：多色性No=某某色Ne=某某色吸收性No＜（或＞）Ne

二軸晶：多色性Ng=某某色Nm=某某色Np=某某色吸收性Ng＜Nm＜Np或Ng＞Nm＞Np

23、有色一軸晶礦物垂直O(jiān)A切面，平行OA切面，斜交OA切面的多色性吸收性有何區(qū)別？(P63)當垂直O(jiān)A切面時，觀測到No方向的顏色，無多色性。

當平行OA切面時，Ne與PP平行，在Ne方向上振動的光波振幅最大，光強度最強，礦片上顯示的是吸收Ne方向振動的光波之后的顏色。同理當No//PP時，Ne方向的振幅為零，礦片顯示的是吸收No方向振動的光波之后的顏色；

當斜交OA切面則時礦片顯示上述兩種顏色之間的過渡顏色。

24、有色二軸晶礦物垂直O(jiān)A切面、平行OAP切面、垂直Bxa切面多色性和吸收性有何特征？(P64)在垂直O(jiān)A的切面上，觀測到的是Nm的顏色，無多色性。

在平行OAP切面上，多色性強：當Ng//PP時，顯示Ng方向的顏色；當Np//PP時，顯示Np方向的顏色，當Np、Ng與PP斜交時顯示Np、Ng兩種顏色之間的過渡色。在垂直Bxa切面上，多色性取決于Ng、Nm與PP夾角。

25、一方解石切面，在單偏光鏡下旋轉物臺，有時明白的看見兩組解理紋有時候解理紋消失，為什么會出現(xiàn)這種現(xiàn)象？

非均質體礦物對光波的吸收性隨方向的不同而改變，因此旋轉物臺時礦片的暗視域也變亮了，明暗對比不明顯，解理紋變淡，不易觀測。

27、某輝石Ng–Nm=0.003，Nm-Np=0.010，Np//b，Ng=淺綠色，Nm=紅棕色，Np=紅黃色。試求（1）晶系與光性符號；（2）光軸面的結晶學方位和最大雙折率；（3）垂直Bxa切面的結晶學方位及其多色性；（4）要看到紅黃色應找何切面？該切面能看到幾個方向的解理紋？

斜方晶系，Ng–Nm

1、當入射光波為偏光，假使其振動方向與光率體橢圓切面半徑斜交，光波進入晶體后是如何傳播的？假使其振動方向與光率體橢圓切面半徑之一平行，光波進入晶體后又是如何傳播的？

斜交時，偏光入射礦片后會發(fā)生雙折射，分解成振動方向分別平行礦片光率體橢圓兩半經方向的兩束偏光，兩束偏光的振幅隨光率體橢圓半徑與PP的交角不同而不同。平行時，只有振動方向平行該半徑方向的偏光才能透出礦片。2、什么叫消光？什么叫消光位？(P66)消光：礦物在正交偏光鏡間浮現(xiàn)黑暗的現(xiàn)象

消光位：非均質除垂直光軸以外的切片，在正交偏光鏡間處于消光時的位置。3、什么叫全消光？那些類型的切面可以成全消光？(P66)全消光：轉動物臺360°,礦片的消光現(xiàn)象不改變。均質體任意切面和非均質體垂直O(jiān)A的切面。

4、用黑云母確定下偏光振動方向時，當黑云母顏色最深時，但難以看清解理紋是否平行十字橫絲時，如何用正交偏光鏡確定PP?（不詳）

黑云母顏色最深時其吸收性最強，故在正交偏光鏡下，轉動下偏光鏡，當黑云母處于全消光時，再通過比較干擾色降低或升高來判斷PP（AA）方向平行十字橫絲。5、什么叫干擾色？簡述干擾色的成因。(P70)

干擾色：正交偏光下用白光觀測時，非均質體礦片浮現(xiàn)的各種顏色。

透出下偏光鏡的偏光，進入光率體橢圓半徑與PP、AA斜交的非均質體礦物切面時，發(fā)生雙折射，分解形成振動放向分別平行N1、N2方向的偏光。由于N1>N2，即透出礦片后，兩平面偏光必然產生光程差R，由于它們符合相干光的條件，必然發(fā)生干擾作用。白光主要是由七種不同波長的色光組成，某一個光程差，它可能等于或接近等于一部分色光半波長的偶數(shù)倍，使這部分色光抵消或減弱；同時該光程差又可能等于或接近等于另一部分色光半波長的奇數(shù)倍，使這部分色光振幅加倍或部分加強，這些未被抵消的色光混合而形成的彩色就是干擾色。6、寫出I—III級干擾色色序名稱。(P71)

第一級序：暗灰—灰白—淺黃—亮黃—橙—紫紅其次級序：藍—藍綠—綠—黃—橙—紫紅第三級序：藍綠—綠—黃—橙—紅

7、簡述I、II、III級干擾是的特點。(P72)

第I級：色調灰暗，有獨特的灰色、灰白色，缺少藍色、綠色。

第II級：色調嬌艷、較純，各色帶之間的界限較明了，藍色帶寬，使后面與綠色帶的過渡帶變?yōu)樗{綠色。

第III級：色調淺淡，各色帶之間的界限不明了，綠色帶寬，影響到前面的藍色帶，是藍色帶變?yōu)樗{綠色，并使后面的黃色變?yōu)辄S綠色。

8、寫出云母試板、石膏試板的光程差、干擾色及光率體橢圓半徑的方位和名稱。云母試板、石膏試板是否一定由白云母、透石膏制成？

用水晶平行OA切面制作λ/4和1λ試板，應分別磨制多厚？

云母試板光程差147mm，干擾色一級亮灰，光率體橢圓半徑中長半徑為Ng，短半徑為Np。石膏試板光程差550mm，干擾色一級紫紅，光率體橢圓半徑中長半徑為Ng，短半徑為Np。其試板不一定由其礦物制成，用水晶時，λ/4需磨制0.016mm，1λ需磨制0.061mm。9、什么叫補色法？什么叫消色？消色和消光有什么區(qū)別？(P75)

補色法則：在正交偏光鏡間，兩個非均質體任意方向的切片（除垂直光軸以外的），在45°位置重疊時，兩礦片光率體橢圓半徑同名半徑平行,總光程差等于原來兩礦片光程差之和，表現(xiàn)為干擾色升高。異

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名半徑平行時,總光程差等于原來兩礦片光程差之差，其干擾色降低（比原來高的干擾色降低，比原來低的干擾色不一定降低）。

消色：當光率體橢圓異名半徑平行時，總光程差R=0時，礦片黑暗，這種現(xiàn)象稱為消色。

區(qū)別：消色和消光雖然都是表現(xiàn)為黑暗，但它們的成因不同。消光是由于礦片光率體橢圓半徑與PP一致，沒有光透出上偏光鏡而使礦片浮現(xiàn)黑暗；而消色是由于兩礦片產生的干擾色正好抵消而使礦片浮現(xiàn)黑暗。

10、云母試板置物臺上，石膏試板插入試板孔中，旋轉物臺一周，干擾色如何變化？為什么？并輔以示意圖說明之。

旋轉一周顏色由I淺黃?—II藍綠—I淺黃—III藍綠—I淺黃，連續(xù)交替變化變化。這是由于插入石膏試板干擾色的加強或減弱的起因。

11、干擾色于哪些因素有關？什么樣的干擾色具有鑒定意義？應在那種切面上測定這種干擾色？干擾色高低取決于光程差，礦片的性質，礦片的切面方向，礦片的厚度。在切面方向上平行光軸或光軸面上最大，垂直光軸沒有光程差，其余介于兩者之間。

某一種礦物的最高干擾色才有鑒定意義，應在切面方向平行光軸或光軸面的切面上測定。12、I級白和高級白的特點是什么？如何鑒定？

高級白不像一級灰白那樣純凈，而總是不同程度地帶有珍珠表面或貝殼表面那樣的暈彩。

鑒定：干擾色為高級白的礦片，參與石膏試板后，光率體橢圓同名半徑，干擾色升高一級仍為高級白；異名半徑平行干擾色降低一級仍為高級白。干擾色為一級白的礦片，參與石膏試板后，光率體橢圓同名半徑，干擾色升高一級為二級藍綠；異名半徑平行干擾色降低一級為一級淺黃13、簡述非均質體礦片上光率體橢圓半徑方位和名稱的測定步驟。(P78)

①將選好的礦片移至視域中心，轉物臺使礦片消光。此時礦片光率體橢圓半徑方向與目鏡十字絲方向一致

②轉物臺45°，使礦片干擾色最亮。此時礦片光率體橢圓半徑方向與十字絲成45°交角，即與將插入的試板光率體橢圓半徑方向一致

③插入試板，確定干擾色是升高還是降低。若干擾色降低，說明礦片與試板光率體橢圓異名半徑平行：平行試板邊長方向的礦片光率體橢圓半徑為長半徑，另一方向為短半徑

④插入試板后，若干擾色升高，說明礦片與試板光率體橢圓同名半徑平行：平行試板邊長方向的礦片光率體橢圓半徑為短半徑，另一方向為長半徑

14、簡述楔形邊法測定礦物最高干擾色級序的步驟。(P79)

①選擇切面。一軸晶應為平行OA切面，二軸晶應為平行OAP切面，若為有色礦物，此類切面多色行最明顯?？偟脑瓌t是：首先要選擇邊緣色圈較多者，其次要選擇切面主體表面干擾色較高者。若礦物的族名、光性方位已知，自行程度，則切面形態(tài)、解理紋方向也可作為選切面的依據②將選定的切面移至視域中心，從消光位轉物臺45°，觀測切面主體干擾色調

③選擇切面邊緣干擾色色圈帶較寬的區(qū)域，查明其中紅色條帶的數(shù)量，若為n條，則其干擾色級別為（n+1）級。當干擾色帶較窄時，可用高倍物鏡進行觀測④干擾色的級數(shù)加上切面主體干擾色即為切面干擾色級序

⑤為了確保測定確鑿，重復①至④步驟，多測幾個切面，從中選取最高的干擾色作為礦物的最高干擾色15、簡述用云母試板、石膏試板測定礦物最高干擾色級序的步驟。二者分別適用于什么樣的切面？(P80)①選擇切面。切面的種類及其特征如楔形邊法中所述②將選好的切面移至視域中心，先后在+45°位和—45°位分別參與石膏試板和云母試板，觀測礦物干擾色的升降變化，對照表，確定礦片的干涉色級序。若兩種試板判別結果一致，礦片干擾色測定結果正確。

③重復①、②步，多觀測幾個切面，選取其中最高的干擾色作為礦物的最高干擾色

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云母試板多用于干擾色為II級黃以上的礦片觀測石膏試板多用于干擾色為II級黃以下的礦片觀測

16、橄欖石的最高干擾色可達III底部，為什么在巖石薄片中見到大量橄欖石顆粒為I級紅、橙、黃，甚至I級灰？

由于巖石薄片其切面是任意切的，其中斜交切面出現(xiàn)最多，而橄欖石產生最高干擾色可達III底部的切面只有平行光軸的切面，其一般切面干擾色較低，因此也就不會出現(xiàn)那么多高級干擾色。19、消光類型分哪幾種？各種消光類型的特點是什么？(P83)消光類型分為：平行消光、對稱消光和斜消光

平行消光：礦片在消光位時，礦物的解理紋、雙晶紋、晶面紋等與目鏡十字絲之一平行。

對稱消光：礦片在消光位時，切面上的兩組解理紋，或兩組雙晶紋，或兩個方向的晶面紋的夾角等分線與十字絲方向一致

斜消光：礦片在消光位時，礦物的解理紋、雙晶紋、晶面紋等與目鏡十字絲斜交20、消光角公式有哪三要素？消光角應在什么樣的切面上測定？舉例說明。(P86)消光角公式三要素：光率體橢圓半徑名稱、結晶方向名稱、二者之間的夾角（α）數(shù)值

測定條件：①切面可以在顯微鏡下定位，其光率體橢圓半徑名稱和結晶方向名稱都可以確定②消光角大小與成分有明顯的關系，即具有鑒定意義。

例如，單斜晶系角閃石平行（010）的切面在偏光顯微鏡下能確鑿定位，其消光角隨礦物種屬不同而不同，角閃石垂直c軸的切面雖然在偏光顯微鏡下能確鑿定位，但其消光角大小不隨種屬而變，不僅所有單斜晶系角閃石，而且所有角閃石都為Nm∧（110）=28°，該切面的消光角不必確切測定。角閃石還有一類切面，如平行（210）的切面，雖然其消光角大小也隨種屬不同而變，但切面無法在偏光顯微鏡下定位，其消光角也沒有必要鑒定。因此對斜交光的一般切面，無需測定其消光角。21、以普通角閃石為例，試述消光角的測定步驟。(P86)

①選擇符合要求的切面，將切面移至視域中心，在單偏光鏡下使已知結晶方向平行縱絲(或橫絲)記錄物臺讀數(shù)x1

②旋轉物臺使礦片消光，則切面光率體橢圓半徑與十字絲方向一致，記錄物臺讀數(shù)x2，算出α=|x1—x2|。并作素描圖，標出光率體橢圓半徑方及其與結晶方向的夾角α③旋轉物臺45°，礦片干擾色最亮。從試板孔中插入試板，根據干擾色升降確定光率體橢圓半徑名稱。④寫出消光角公式。

22、什么叫延性、正延性、負延性？延性對什么樣的礦物具有鑒定意義？(P87)

延性：礦物晶體沿著某一個或兩個光率體橢圓半徑方向延長的習性就稱為礦物的延性

正延性：長條狀礦物切面，其延性方向與光率體橢圓長半徑Ng或Ng′平行或其夾角小于45°時。負延性：長條狀礦物切面，其延性方向與光率體橢圓短半徑Np或Np′平行或其夾角小于45°時。23、一軸晶柱狀結晶習性的礦物，延性符號和光性符號是否一致？一軸晶板狀結晶習性的礦物，其延性符號和光性符號是否一致？為什么？(P87)

當晶體沿c軸方向延長時，正光性符號者延性符號為正，負光性符號者延性符號為負，延性符號與光性符號一致；當晶體垂直c軸成板狀、片狀時，其延性符號與光性符號相反。24、二軸晶礦物Nm與晶體延長方向一致，其延性符號有何特征？(P87)當延長方向與Nm一致時，有的切面為正延性，有的切面為負延性。

25、答案：桶狀晶形的藍寶石平行OA切面是負延性，板狀晶形的藍寶石平行OA切面是正延性。26、已知普通角閃石屬單斜晶系，Nm//b，試論述（001）、（100）、（010）切面分別是什么消光類型？要測定最高干擾色、消光角應選擇什么切面？（001）面對稱消光。（100）面平行消光。（010）面斜消光。測定最高干擾色（001）面，消光角（010）面。

27、已知礦片厚度為0.03mm，假使已知某礦物最大雙折率為0.027，其最高干擾色是II級黃假使測某

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礦物最高干擾色為II級橙，其最大雙折率是0.030。

28、答案:設某礦物Np(平行b)=1.636,Nm(平行c)=1.650，Ng（平行a）=1.669,則其（100）、（010）、（001）面的干擾色級序分別為I級橙、II級藍、II級紫紅。

29、按雙晶單體數(shù)目和雙晶面之間的關系，雙晶有哪些類型？(P89)簡單雙晶、復式雙晶（聚片雙晶、輪式雙晶、格子雙晶）

簡單雙晶；②聚片雙晶；③卡鈉復合雙晶；④格子雙晶；⑤卡斯巴雙晶

第五章

1、簡述錐偏光鏡中聚光鏡、勃氏鏡、高倍鏡的作用。（P93\\94）

參與聚光鏡的作用在于石透過下偏光鏡的平行偏光束變成錐形偏光束，并使錐形的頂點正好在薄片的底面，以倒錐形光束進入礦片；

觀測干擾圖時，換用高倍物鏡的作用在于能接納角大范圍的傾斜入射光波以觀測到范圍較大、波形較完整的干擾圖；

參與勃氏鏡的目的，是為了將干擾圖實像成像到目鏡一倍焦距之內，以在不去掉目鏡的狀況下看到一個放大的干擾圖虛像。

2、一軸晶垂直O(jiān)A切面干擾圖圖像特征及其應用。(p94\\97)

圖像特點：①由黑十字和同心圓干擾色圈組成，黑十字交點位于十字絲中心。

②干擾色圈以黑十字交點為中心，成同心環(huán)狀。干擾色圈的多少，取決于礦物雙折率的大小及礦片厚度。

③轉動物臺360°,干擾圖不發(fā)生變化。

應用：①確定軸性和切面方向，根據圖像特點,可確定為一軸晶垂直光軸的切②測定光性符號Ne=Ng正光性Ne=Np負光性

3、一軸晶平行OA切面干擾圖圖像特征及其應用。(p99\\100)

特征：平行光軸切面的干擾圖：當光軸方向與上下偏光鏡振動方向之一平行時，為一粗大的模糊的黑

十字，轉動載物臺，粗大黑十字從中心分裂，并訊速沿光軸方向退出視域。干擾圖位閃圖應用：確定切面方位，確定光性符號

4、一軸晶任意切面（斜交OA切面）干擾圖圖像特征及其應用。(P100\\101)

特征：圖像相當于垂直光軸的一部分，可分為近于垂直O(jiān)A切面，近于平行OA切面，與OA交角較小的切面。

第一類，干擾圖中OA的出露點與十字絲交點不重合，但仍在視域內，其干擾圖是一個不對稱的垂直O(jiān)A切面干擾圖。旋轉物臺時，黑十字交點繞十字絲交點做圓周運動，干擾色圈隨之轉動；其次類，干擾圖仍為閃圖，但閃圖速度較慢；

第三類，OA出露點不在視域內，視域內見不到黑十字交點，最多只能見到一個閃帶，旋轉物臺，黑十字交點之外的四段黑帶輪番在視域內上下、左右平行移動，干擾圈隨之轉動?應用：第一類，可用于確定礦物的軸性和光性符號，但不能確鑿定向切面方位；

其次類，不能確定軸性，若軸性已知，仍能利用此圖確定礦物的光性符號，但不能在此切面上測定礦物最大折射率和最高干擾色；

第三類，不能確鑿判定切面方位，但仍可用于判定礦物的軸性和光性符號。5、二軸晶垂直O(jiān)A切面干擾圖圖像特征及其應用。(P107\\108)

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特征：①圖像特點相當于垂直銳角等分線(⊥Bxa)切面的干擾圖的一半。

②當光軸面與上下偏光鏡振動方向之一平行時，干擾圖由一條直的黑帶和卵形干擾色圈組成。③轉動載物臺，黑帶發(fā)生彎曲，這是與一軸晶垂直光軸切面干擾圖的區(qū)別之一。應用：①確定軸性和切面方向。根據圖像特點,可確定為二軸晶垂直一個光軸的切面.②測定光性符號。

⑶估計光軸角的大小。當光軸面與上下偏光鏡振動方向成45°夾角時，黑帶的彎曲程度與光軸角大小成反比，光軸角愈大，黑帶的彎曲程度愈小。

6、二軸晶垂直Bxa切面干擾圖圖像特征及其應用。(P102\\104)

特征：①當光軸面與上下偏光鏡振動方向之一平行時，干擾圖由黑十字和―∞‖干擾色圈組成，干擾色圈的多少，取決于礦物雙折率的大小及礦片厚度。

②轉動載物臺，黑十字從中心分裂形成兩個彎曲的黑帶，當光軸面與上下偏光鏡振動方向成45°夾角時，兩個彎曲的黑帶頂點之間距離最遠。③轉動載物臺90°時，彎曲黑帶又合成黑十字，但其粗細黑帶已更換了位置。應用：①確定軸性和切面方向。

根據圖像特點,可確定為二軸晶垂直銳角等分線(⊥Bxa)的切面.②測定光性符號。Bxa=Ng正光性Bxa=Np負光性

7、二軸晶垂直O(jiān)A切面干擾圖與一軸晶斜交OA切面干擾圖異同點是什么？(P102)

一軸晶斜交OA切面干擾圖與二軸晶垂直O(jiān)A切面干擾圖雖然有些位置相像，但后者是不同的黑帶在視域內輪換平行移動，而且黑帶要退出視域；而后者是同一黑帶在視域內伸直、彎曲、旋轉變化，不退出視域。

8、晶體光學鑒定中有哪些方法可測定和估計光軸角大??？(P105)馬拉德法、托比法

9、二軸晶垂直Bxa切面干擾圖與一軸晶垂直O(jiān)A切面干擾圖異同點是什么？(自己總結)

①有些位置上干擾圖均是由黑十字和干擾色圈組成，黑十字交點位于十字絲中心；且干擾圈多少均取決于礦物雙折率的大小及礦片厚度。但后者干擾色圈以黑十字交點為中心，成同心環(huán)狀。干擾色圈的多少，前者干擾圖由黑十字和―∞‖干擾色圈組成。②后者轉動物臺360°,干擾圖不發(fā)生變化；前者轉動載物臺，黑十字從中心分裂形成兩個彎曲的黑帶，當光軸面與上下偏光鏡振動方向成45°夾角時，兩個彎曲的黑帶頂點之間距離最遠。③轉動載物臺90°時，彎曲黑帶又合成黑十字，但其粗細黑帶已更換了位置10、如何利用二軸晶垂直O(jiān)A切面干擾圖45°位圖像特征確定光率體要素的分布?畫圖說明。(P108\\109)45°位時，黑帶彎曲度最大，黑帶的頂點即OA的出露點，它與十字絲交點重合；過OA的45°線即光軸面的跡線，與之垂直的方向為Nm方向；由于黑帶是凸像Bxa出露方向的，則在OAP跡線上，黑帶凹方為Bxa投影方向，黑帶凸方為Bxa投影方向。然后插入試板，根據干擾色升降判斷Bxa方向是Ng還是Np，即可確定礦物光性符號。（圖見Ｐ108）11、如何利用二軸晶垂直Bxa切面干擾圖45°位圖像特征確定光率體要素的分布?畫圖說明(P104\\105供參考，圖略)

兩條黑帶的頂點為OA出露點，黑帶突向Bxo出露點（十字絲交點），Bxo垂直圖面，兩個OA出露點的連線為光軸面跡線，垂直光軸面跡線方向為

Ｎｍ方向，然后參與試板，根據視域中部（即Bxo出露點附近）干擾色的升降，判斷Ｎｍ是光率體橢圓的長半徑還是短半徑，隨之礦物光性符號即可確定，假使Bxa出露點附近的Nm是光率體橢圓的長半徑，則垂直Nm方向（OAP跡線方向）為短半徑Np，由于垂直NmNp面的主軸為Ng，所以Bxa=Ng，礦物光性符號為正。假使Bxa出露點附近的Nm是光率體橢圓的短半徑，則垂直Nm方向為長半徑Ng，由于垂直NmNg面得主軸為Np。所以Bxo=Np，礦物光性符號為負12、錐偏光鏡下如何區(qū)分均質體任意切面與非均質體的垂直O(jiān)A切面。

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均質體為全消光，非均質體為黑十字，錐偏光鏡是建立在正交偏光鏡上。13、二軸晶礦物除了垂直O(jiān)A切面、垂直Bxa切面、垂直Bxo切面含有Nm外，哪些切面還含有Nm？這些切面的干擾圖特征是什么？（p112）

平行Nm且切面法線與Bxa交角不大的切面、平行Nm且切面法線與OA交角不大的切面、平行Nm切面法線與OA交角較大的切面。

特點：當黑帶與十字絲之一一致時，垂直黑帶的另一十字絲方向即為Nm方向。旋轉物臺，黑帶彎曲，黑帶退出視域或不退出視域。

第六章

1、正交偏光鏡下可觀測到透明造巖礦物和寶石的那些光學性質？最高干擾色、最大雙折射率消光類型及消光角延性雙晶2、錐偏光鏡下可觀測到透明礦物哪些光學性質？干擾圖軸性光性符號光軸角

3、垂直O(jiān)A切面、一軸晶平行OA切面和二軸晶平行OAP切面上能測定哪些光學性質？(P120)（1）垂直O(jiān)A切面：一軸晶上可測定No的大小、No方向的顏色，確定礦物的軸性和光學符號二軸晶上能測定Nm大小和Nm方向的顏色，確定礦物的軸性和光學符號，估計2V大小

（2）一軸晶上平行OA切面:測定No、Ne的大小，觀測No、Ne方向的顏色，測定礦物多色性公式、吸收性共性及光性符號，測定最高干擾色、最大雙折射率，對某些礦物還可以觀測閃突起

(3)二軸晶平行OAP切面：測定Ng、Np的大小和Np、Np方向的顏色，觀測二軸晶的閃突起程度，測定礦物的最高干擾色、最大雙折射率和光性符號。對某些礦物，在此面上可以測定消光角

4、偏光顯微鏡下如何確定一軸晶垂直O(jiān)A切面、平行OA切面和二軸晶垂直O(jiān)A切面、平行OAP切面？(P121)

一軸晶：垂直O(jiān)A切面在單偏光鏡下無多色性和吸收性；在正交偏光鏡下全消光；在錐偏光鏡下干擾圖像由黑十字和同心圓干擾色圈組成，黑十字交點位于十字絲中心，轉動物臺360°,干擾圖不發(fā)生變化。平行OA切面在單偏光鏡下多色性、吸收性最明顯；在正交偏光鏡下顯示最高干擾色；

二軸晶：垂直O(jiān)A切面在單偏光鏡下無多色性和吸收性；在正交偏光鏡下全消光；在錐偏光鏡下的干擾圖像，當光軸面與上下偏光鏡振動方向之一平行時，干擾圖由一條直的黑帶和卵形干擾色圈組成。轉動載物臺，黑帶發(fā)生彎曲。

平行OAP切面在但偏光鏡下多色性吸、吸收性最明顯；在正交偏光鏡下顯示最高干擾色；在錐偏光鏡下干擾圖像與一軸晶垂直O(jiān)A干擾圖像類似。

5、定向切面有哪些類型？一軸晶垂直O(jiān)A切面、平行OA切面和二軸晶垂直O(jiān)A切面、平行OAP切面出現(xiàn)的概率各有多大(P120)？

定向切面種類：一軸晶垂直O(jiān)A切面、一軸晶平行OA切面

二軸晶垂直Bxa切面、垂直Bxo切面、二軸晶直O(jiān)A切面、二軸晶平行OAP切面、二軸晶平行一個光率體主軸的切面、垂直解理面的切面、垂直c軸切面、平行解理面的切面

出現(xiàn)概率：一軸晶垂直O(jiān)A切面出現(xiàn)概率為1.5％切面允許偏差10o，一軸晶平行OA切面出現(xiàn)概率17.5%

二軸晶平行一個光率體主軸的切面出現(xiàn)概率為1.5%二軸晶平行OAP切面出現(xiàn)的概率為1.5%6、以黑電氣石為例，試述一軸晶多色性公式和吸收性公式的測定步驟？(P82)

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（1）選擇切面。選擇平行OA切面，該切面光率體橢圓半徑分別為No、Ne.平行OA切面有以下特征：單色光鏡下多色性變化最明顯正交偏光鏡下干擾色最高錐偏光鏡下干擾圖為閃圖

（2）將選好的切面置于視域中心，測定切面光率體橢圓半徑的方位和名稱：正光性礦物，長半徑為Ne，短半徑為No；負光性下礦物長半徑為No短半徑為Ne

（3）將Ne//PP(正交偏光鏡下消光)，單偏光鏡下觀測礦片顏色，記錄Ne=xx色

（4）使No//PP(即從Ne//PP的位置上轉物臺90?，正交偏光鏡下消光)，單偏光鏡下觀測礦片顏色,記錄No=XX色

（5）對比No、Ne顏色深淺程度，寫出多色性吸收公式

7、以普通角閃石為例，簡述二軸晶多色性公式和吸收性公式的測定步驟？(P82)

（1）選擇垂直O(jiān)A