承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)

承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)第一頁(yè)，共412頁(yè)。NB/T47013.3標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展1、JB4730-94第三篇超聲檢測(cè)包括鋼板、鍛件、復(fù)合鋼板、無(wú)縫鋼管、高壓螺栓件、奧氏體鋼鍛件、鋼焊縫、不銹鋼堆焊層、鋁焊縫、超聲測(cè)厚等；2、JB/T4730.3-2005去除了超聲測(cè)厚，增加了小徑管對(duì)接焊縫、奧氏體不銹鋼焊縫、T型焊接接頭、在用設(shè)備、測(cè)高、動(dòng)態(tài)波型等，基本覆蓋了承壓設(shè)備部件的超聲檢測(cè)；3、NB/T47013-2015恢復(fù)了超聲測(cè)厚并增加了不銹鋼堆焊層的超聲測(cè)厚，擴(kuò)大了適用范圍，更多地采用了歐標(biāo)，體現(xiàn)了與國(guó)際接軌的發(fā)展方向。第二頁(yè)，共412頁(yè)。一、NB/T47013-2015的主要技術(shù)變化1、增加了第3章“術(shù)語(yǔ)和定義”，包括把原JB/T4730.1中的

有關(guān)超聲檢測(cè)的術(shù)語(yǔ)和定義；2、用GB/T27664.1《無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第1部分

：儀器》替代JB/T10061《A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條

件》，對(duì)超聲檢測(cè)設(shè)備提出了更科學(xué)的要求；3、增加了超聲檢測(cè)儀和探頭的具體性能指標(biāo)要求；4、增加了超聲檢測(cè)儀和探頭的校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查的要求；5、增加了“安全要求”，對(duì)人員在超聲檢測(cè)中的安全提出了要求；6、增加了工藝文件的要求，并列出了制訂工藝規(guī)程的相關(guān)因素；第三頁(yè)，共412頁(yè)。7、重新對(duì)本部分所用試塊類型進(jìn)行了劃分，主要按國(guó)內(nèi)相關(guān)通用的規(guī)定進(jìn)行劃分，而不是在本部分自行劃定標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊的類型；8、調(diào)整了“承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)”內(nèi)容的順序，按板材、復(fù)合板、碳鋼和低合金鋼鍛件、鋼螺栓坯件、奧氏體鋼鍛件、無(wú)縫鋼管等進(jìn)行編寫；9、合并了碳素鋼和低合金鋼鋼板、鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材、鎳及鎳合金板材、奧氏體不銹鋼及雙相不銹鋼鋼板等超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)。重新設(shè)計(jì)了對(duì)比試塊。檢測(cè)靈敏度主要以對(duì)比試塊平底孔距離波幅曲線來(lái)確定。修改了質(zhì)量等級(jí)要求，各個(gè)級(jí)別的合格指標(biāo)均有所嚴(yán)格，JB/T4730.3—2005的板材檢測(cè)質(zhì)量等級(jí)要求偏低，已難以控制板材質(zhì)量要求，且和ISO、歐盟EN等標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)質(zhì)量要求的具體指標(biāo)有較大差距，故參考?xì)W盟EN等標(biāo)準(zhǔn)對(duì)質(zhì)量分級(jí)進(jìn)行了修訂；10、整合了2005版中“承壓設(shè)備對(duì)接接頭超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)”和“承壓設(shè)備管子、壓力管道環(huán)向?qū)咏宇^超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)”兩章內(nèi)容。按焊接接頭類型、工件厚度及檢測(cè)面曲率大小等內(nèi)容進(jìn)行分類；第四頁(yè)，共412頁(yè)。11、對(duì)承壓設(shè)備焊接接頭工件厚度的適用范圍從8mm～400mm擴(kuò)大到了6～500mm；12、重新設(shè)計(jì)了CSK-IIA和CSK-IVA試塊上人工反射體的位置和數(shù)量。這樣既保證檢測(cè)區(qū)域覆蓋，又適用于直探頭檢測(cè)焊接接頭基準(zhǔn)靈敏度的調(diào)節(jié)。新CSK-IIA試塊適用工件厚度范圍為6mm～200mm，該試塊主要參考?xì)W盟(EN)和日本(JIS)標(biāo)準(zhǔn)，人工反射體直徑仍為φ2mm；新CSK-IVA試塊適用工件厚度大于200mm～500mm。CSK-IVA試塊主要在參考美國(guó)ASME規(guī)范的基礎(chǔ)上進(jìn)行了改進(jìn)，人工反射體直徑統(tǒng)一為φ6mm；13、細(xì)化了不同類型焊接接頭超聲檢測(cè)要求。涉及內(nèi)容包括平板對(duì)接接頭、T型焊接接頭、插入式接管角接接頭、L型焊接接頭、安放式接管與筒體（或封頭）角接接頭、十字焊接接頭、嵌入式接管與筒體（或封頭）對(duì)接接頭等；第五頁(yè)，共412頁(yè)。14、重新設(shè)計(jì)了GS試塊。增加了圓弧反射面等。主要有利于弧面探頭的時(shí)基線調(diào)整；15、對(duì)焊接接頭質(zhì)量等級(jí)中對(duì)Ⅰ區(qū)非裂紋類缺陷的長(zhǎng)度給出了限制；16、調(diào)整了涉及焊接接頭超聲檢測(cè)的整體編制結(jié)構(gòu)，把接管與筒體(封頭)角接接頭超聲檢測(cè)方法、T型焊接接頭超聲檢測(cè)方法、堆焊層超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)等放入了附錄；17、根據(jù)實(shí)際檢驗(yàn)檢測(cè)需要，增加了“承壓設(shè)備厚度超聲測(cè)量方法”，包括不銹鋼堆焊層厚度的測(cè)量方法；18、對(duì)在用承壓設(shè)備進(jìn)行超聲檢測(cè)時(shí)，增加了根據(jù)使用過(guò)程中可能造成主體材料、零部件或焊接接頭的失效模式，或者風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估（RBI）的分析結(jié)果等選擇超聲檢測(cè)技術(shù)、檢測(cè)部位和檢測(cè)比例。第六頁(yè)，共412頁(yè)。二、標(biāo)準(zhǔn)修改及內(nèi)容解析1范圍修改概述：增加了條文1.3承壓設(shè)備厚度的超聲測(cè)量方法，原來(lái)

JB4730-94有超聲測(cè)厚內(nèi)容，但JB/T4730.3-2005沒(méi)有列入。1.1NB/T47013（JB/T4730）的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備采用A型脈沖反射式超聲檢測(cè)儀檢測(cè)工件缺陷的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)要求。1.2本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料或零部件和焊接接頭的超聲檢測(cè)，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測(cè)。1.3本部分規(guī)定了承壓設(shè)備厚度的超聲測(cè)量方法。1.4與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測(cè)，也可參照本部分使用。第七頁(yè)，共412頁(yè)。2規(guī)范性引用文件下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T11259 無(wú)損檢測(cè)超聲波檢測(cè)用鋼參考試塊的制作與檢驗(yàn)方法GB/T12604.1無(wú)損檢測(cè)

術(shù)語(yǔ)超聲檢測(cè)GB/T27664.1無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第1部分：儀器GB/T27664.2無(wú)損檢測(cè)

超聲檢測(cè)設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第2部分：探頭JB/T8428無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)用試塊JB/T9214無(wú)損檢測(cè)A型脈沖反射式超聲檢測(cè)系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法JB/T10062超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法NB/T47013.1承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)

第1部分：通用要求三、標(biāo)準(zhǔn)修改及內(nèi)容解析第八頁(yè)，共412頁(yè)。解釋：GB/T11259-2008替代JB/T7913-1995；GB/T12604.1-2005替代GB/T12604.1-1990；（最新版本）GB/T27664.1-2011替代JB/T10061-1999；GB/T27664.2-2011替代JB/T10062-1999；JB/T9214-2010替代JB/T9214-1999；（除儀器和探頭組合頻率的測(cè)試方法外）JB/T8428-2006替代JB/T10063-1999。第九頁(yè)，共412頁(yè)。3術(shù)語(yǔ)和定義修改概述：重新定義了基準(zhǔn)靈敏度和掃查靈敏度，增加了“工件厚度”。GB/T12604.1和NB/T47013.1界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本部分。3.1底波降低量BG/BF

鍛件檢測(cè)時(shí)，在靠近缺陷處的完好區(qū)域內(nèi)第一次底面回波波幅BG與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底面回波波幅BF的比值，用dB值來(lái)表示。3.2密集區(qū)缺陷鍛件檢測(cè)時(shí)，在顯示屏掃描線上相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)，或是在50×50mm的檢測(cè)面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)，其反射波幅均大于等于某一特定當(dāng)量平底孔的缺陷。第十頁(yè)，共412頁(yè)。3.3基準(zhǔn)靈敏度將對(duì)比試塊人工反射體回波高度或被檢工件底面回波高度調(diào)整到某一基準(zhǔn)時(shí)的靈敏度。3.4掃查靈敏度

在基準(zhǔn)靈敏度基礎(chǔ)上，根據(jù)表面狀況、檢測(cè)缺陷要求及探頭類型等適當(dāng)提高dB數(shù)（增益）進(jìn)行實(shí)際檢測(cè)的靈敏度。

3.5缺陷自身高度缺陷在工件厚度方向上的尺寸。3.6回波動(dòng)態(tài)波形回波動(dòng)態(tài)波形是探頭移動(dòng)距離與相應(yīng)缺陷反射體回波波幅變化的包絡(luò)線。第十一頁(yè)，共412頁(yè)。3.7工件厚度ta）對(duì)于平板對(duì)接接頭，焊縫兩側(cè)母材厚度相等時(shí)，工件厚度t為母材厚度；焊縫兩側(cè)母材厚度不等時(shí)，工件厚度t為薄側(cè)母材公稱厚度；b）對(duì)于插入式接管角接接頭，工件厚度t為筒體或封頭公稱厚度；安放式接管與筒體（或封頭）角接接頭，工件厚度t為接管公稱厚度；c）對(duì)于T型焊接接頭，工件厚度t為腹板公稱厚度。解釋：根據(jù)實(shí)際需要明確了幾種工件的厚度，把工件厚度作為確定對(duì)比試塊類型、檢測(cè)靈敏度大小及質(zhì)量分級(jí)的參數(shù)固定下來(lái)。第十二頁(yè)，共412頁(yè)。4一般要求4.1人員修改概述：增加了4.1.2條文。4.1.1超聲檢測(cè)人員的一般要求應(yīng)符合NB/T47013.1的有關(guān)規(guī)定。4.1.2超聲檢測(cè)人員應(yīng)具有一定的金屬材料、設(shè)備制造安裝、焊接及熱處理等方面的基本知識(shí)，應(yīng)熟悉被檢工件的材質(zhì)、幾何尺寸及透聲性等，對(duì)檢測(cè)中出現(xiàn)的問(wèn)題能作出分析、判斷和處理。解釋：

對(duì)超聲檢測(cè)人員提出了更高的要求，即不僅會(huì)操作儀器，還要具備一定的基礎(chǔ)知識(shí)，并對(duì)檢測(cè)出現(xiàn)的問(wèn)題作出判定，這一點(diǎn)對(duì)超聲檢測(cè)來(lái)說(shuō)尤為重要。

第十三頁(yè)，共412頁(yè)。4.2設(shè)備和器材修改概述：對(duì)設(shè)備、探頭、試塊和耦合劑等都提出了新的要求。4.2.1設(shè)備和器材產(chǎn)品質(zhì)量合格證超聲檢測(cè)儀產(chǎn)品質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給出預(yù)熱時(shí)間、低電壓報(bào)警或低電壓自動(dòng)關(guān)機(jī)電壓、發(fā)射脈沖重復(fù)頻率、有效輸出阻抗、發(fā)射脈沖電壓、發(fā)射脈沖上升時(shí)間、發(fā)射脈沖寬度（采用方波脈沖作為發(fā)射脈沖的）和接收器頻帶等主要性能參數(shù)；探頭產(chǎn)品質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給出中心頻率、帶寬、電阻抗或靜電容、相對(duì)脈沖回波靈敏度、脈沖寬度以及聲束性能（包括探頭入射點(diǎn)、折射角（K值）、主聲束偏離、偏向角及偏移、聲束擴(kuò)散角等）等主要參數(shù)。解釋：2005版只要求超聲檢測(cè)設(shè)備具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的證明文件?，F(xiàn)列出了至少要包括的項(xiàng)目，并有相應(yīng)指標(biāo)的要求。第十四頁(yè)，共412頁(yè)。4.2.2檢測(cè)儀器、探頭和系統(tǒng)性能4.2.2.1檢測(cè)儀器采用A型脈沖反射式超聲檢測(cè)儀，其工作頻率按-3dB測(cè)量應(yīng)至少包括0.5MHz～10MHz頻率范圍，超聲儀器各性能指標(biāo)和測(cè)試條件按照附錄A（規(guī)范性附錄）中的要求，測(cè)試方法按GB/T27664.1的規(guī)定。解釋：工作頻率范圍為0.5～10MHz，應(yīng)按-3dB法測(cè)量得出；其他性能指標(biāo)見(jiàn)附錄A。第十五頁(yè)，共412頁(yè)。4.2.2.2探頭圓形晶片直徑一般不應(yīng)大于40mm，方形晶片任一邊長(zhǎng)一般不應(yīng)大于40mm，其性能指標(biāo)應(yīng)符合附錄B（規(guī)范性附錄）的要求，測(cè)試方法按GB/T27664.2的規(guī)定。4.2.2.3儀器和探頭的組合性能4.2.2.3.1儀器和探頭的組合性能包括水平線性、垂直線性、組合頻率、靈敏度余量、盲區(qū)（僅限直探頭）和遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力。4.2.2.3.2以下情況時(shí)應(yīng)測(cè)定儀器和探頭的組合性能：a)新購(gòu)置的超聲儀器和（或）探頭；b)儀器和探頭在維修或更換主要部件后；c)檢測(cè)人員有懷疑時(shí)。解釋：晶片尺寸上限，從25mm放寬到40mm。探頭性能指標(biāo)見(jiàn)附錄B，比2005版標(biāo)準(zhǔn)的要求具體且全面。第十六頁(yè)，共412頁(yè)。4.2.2.3.3水平線性偏差不大于1%，垂直線性偏差不大于5%。4.2.2.3.4儀器和探頭的組合頻率與探頭標(biāo)稱頻率之間偏差不得大于±10%。4.2.2.3.5儀器-直探頭組合性能要求a)靈敏度余量應(yīng)不小于32dB；b)在基準(zhǔn)靈敏度下，對(duì)于標(biāo)稱頻率為5MHz的探頭，盲區(qū)不大于10mm；對(duì)于標(biāo)稱頻率為2.5MHz的探頭，盲區(qū)不大于15mm；c)直探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力不小于20dB。解釋：靈敏度余量為新增加要求；直探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力從30dB改為20dB。第十七頁(yè)，共412頁(yè)。4.2.2.3.6儀器-斜探頭組合性能要求a)靈敏度余量應(yīng)不小于42dB；b)斜探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力不小于12dB。4.2.2.3.7在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB4.2.2.3.8儀器和探頭組合頻率的測(cè)試方法按JB/T10062的規(guī)定，其它組合性能的測(cè)試方法按JB/T9214的規(guī)定。解釋：靈敏度余量為新增加要求；斜探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力從6dB改為12dB。第十八頁(yè)，共412頁(yè)。4.2.3試塊修改概述：對(duì)標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊重新進(jìn)行定義，與2005版有較大的不同。4.2.3.1標(biāo)準(zhǔn)試塊4.2.3.1.1

標(biāo)準(zhǔn)試塊是指具有規(guī)定的化學(xué)成分、表面粗糙度、熱處理及幾何形狀的材料塊，用于評(píng)定和校準(zhǔn)超聲檢測(cè)設(shè)備，即用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)的試塊。本部分采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為20號(hào)優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼制的CSK-IA、DZ-1和DB-PZ20-2。4.2.3.1.2CSK-IA試塊的具體形狀、尺寸見(jiàn)本部分。DZ-1和DB-PZ20-2的具體形狀和尺寸見(jiàn)JB/T9214。4.2.3.1.3

標(biāo)準(zhǔn)試塊制造商應(yīng)滿足JB/T8428的要求，試塊制造商應(yīng)提供產(chǎn)品質(zhì)量合格證，并確保在相同測(cè)試條件下比較其所制造的每一標(biāo)準(zhǔn)試塊與國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品或類似具備量值傳遞基準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)試塊上的同種反射體（面）時(shí)，其最大反射波幅差應(yīng)小于等于2dB。第十九頁(yè)，共412頁(yè)。JB/T9214-2010標(biāo)準(zhǔn)試塊：DZ-1和DB-PZ20-2用途：

DB-PZ20-2測(cè)定直探頭垂直線性和直探頭靈敏度余量DZ-1和DB-PZ20-2組合，測(cè)定直探頭盲區(qū)第二十頁(yè)，共412頁(yè)。第二十一頁(yè)，共412頁(yè)。4.2.3.2對(duì)比試塊4.2.3.2.1

對(duì)比試塊是指與被檢件或材料化學(xué)成分相似，含有意義明確參考反射體（反射體應(yīng)采用機(jī)加工方式制作）的試塊，用以調(diào)節(jié)超聲檢測(cè)設(shè)備的幅度和聲程，以將所檢出的缺陷信號(hào)與已知反射體所產(chǎn)生的信號(hào)相比較，即用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。4.2.3.2.2

對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到不同工件厚度對(duì)接焊接接頭的檢測(cè)，試塊厚度的選擇應(yīng)由較大工件厚度確定。解釋：對(duì)于不等厚工件，靈敏度按薄的選擇，試塊厚度按厚的選擇。第二十二頁(yè)，共412頁(yè)。4.2.3.2.3對(duì)比試塊應(yīng)采用與被檢材料聲學(xué)性能相同或相似的材料制成，當(dāng)采用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于或等于φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。4.2.3.2.4不同被檢工件超聲檢測(cè)用對(duì)比試塊人工反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合相關(guān)章節(jié)的規(guī)定。4.2.3.2.5對(duì)比試塊的尺寸精度在本部分有明確要求時(shí)應(yīng)提供相應(yīng)的證明文件，無(wú)明確要求時(shí)參照GB/T8428的規(guī)定。第二十三頁(yè)，共412頁(yè)。4.2.4耦合劑4.2.4.1耦合劑透聲性應(yīng)較好且不損傷檢測(cè)表面，如機(jī)油、化學(xué)漿糊、甘油和水等。4.2.4.2耦合劑污染物含量的控制4.2.4.2.1鎳基合金上使用的耦合劑含硫量不應(yīng)大于250mg/L。4.2.4.2.2奧氏體不銹鋼或鈦材上使用的耦合劑鹵素（氯和氟）的總含量不應(yīng)大于250mg/L。解釋：對(duì)使用在奧氏體不銹鋼、鎳基合金和鈦材上的耦合劑規(guī)定了污染物含量要求，避免因耦合劑污染物的殘留對(duì)工件造成腐蝕，也是與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)接軌。第二十四頁(yè)，共412頁(yè)。4.2.5超聲檢測(cè)設(shè)備和器材的校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查的要求4.2.5.1校準(zhǔn)、核查和運(yùn)行核查應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號(hào)。4.2.5.2校準(zhǔn)或核查4.2.5.2.1每年至少對(duì)超聲儀器和探頭組合性能中的水平線性、垂直線性、組合頻率、盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量、分辨力和儀器的衰減器精度，進(jìn)行一次校準(zhǔn)并記錄，測(cè)試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定。4.2.5.2.2每年至少對(duì)標(biāo)準(zhǔn)試塊與對(duì)比試塊的表面腐蝕與機(jī)械損傷，進(jìn)行一次核查。4.2.5.3運(yùn)行核查4.2.5.3.1模擬超聲檢測(cè)儀每隔3個(gè)月或數(shù)字超聲檢測(cè)儀每隔6月至少對(duì)儀器和探頭組合性能中的水平線性和垂直線性，進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記錄，測(cè)試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定。

第二十五頁(yè)，共412頁(yè)。4.2.5.3.2每3個(gè)月至少對(duì)盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量和分辨力進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記錄，測(cè)試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定。4.2.5.4檢查4.2.5.4.1每次檢測(cè)前應(yīng)對(duì)檢查儀器設(shè)備器材外觀、線纜連接和開(kāi)機(jī)信號(hào)顯示等情況是否正常。4.2.5.4.2使用斜探頭時(shí)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定入射點(diǎn)（前沿距離）和折射角（K值）。4.2.5.5校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查時(shí)的注意事項(xiàng)校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查時(shí)，應(yīng)將影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開(kāi)關(guān)等）均置于“關(guān)”的位置或處于最低水平上。解釋：為了提高超聲檢測(cè)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、結(jié)論可靠，加強(qiáng)了對(duì)儀器、探頭和試塊的校準(zhǔn)或核查。第二十六頁(yè)，共412頁(yè)。4.3工藝文件4.3.1工藝文件包括工藝規(guī)程和操作指導(dǎo)書(shū)。4.3.2工藝規(guī)程除滿足NB/T47013.1的要求外，還應(yīng)規(guī)定表1和相關(guān)章節(jié)所列相關(guān)因素的具體范圍或要求。相關(guān)因素的變化超出規(guī)定時(shí)，應(yīng)重新編制或修訂進(jìn)行工藝規(guī)程。4.3.3應(yīng)根據(jù)工藝規(guī)程的內(nèi)容以及被檢工件的檢測(cè)要求編制操作指導(dǎo)書(shū)。其內(nèi)容除滿足NB/T47013.1的要求外，至少還應(yīng)包括：a）檢測(cè)技術(shù)要求：檢測(cè)技術(shù)（直探頭檢測(cè)、斜探頭檢測(cè)、直接接觸法、液浸法等）和檢測(cè)波形等；b）檢測(cè)對(duì)象：承壓設(shè)備類別，檢測(cè)對(duì)象的名稱、規(guī)格、材質(zhì)和熱處理狀態(tài)、檢測(cè)部位等；c）檢測(cè)設(shè)備器材：儀器型號(hào)、探頭規(guī)格、耦合劑、試塊種類，儀器和探頭性能檢測(cè)的項(xiàng)目、時(shí)機(jī)和性能指標(biāo)等；第二十七頁(yè)，共412頁(yè)。d）檢測(cè)工藝相關(guān)技術(shù)參數(shù)：掃查方向及掃查范圍、缺陷定量方法、檢測(cè)記錄和評(píng)定要求、檢測(cè)示意圖等。4.3.4

操作指導(dǎo)書(shū)在首次應(yīng)用前應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證，驗(yàn)證方式可在相關(guān)對(duì)比試塊上進(jìn)行，驗(yàn)證內(nèi)容包括檢測(cè)范圍內(nèi)靈敏度、信噪比等是否滿足檢測(cè)要求。第二十八頁(yè)，共412頁(yè)。解釋：本條為新增條款；工藝文件有工藝規(guī)程和操作指導(dǎo)書(shū)。參照ASME規(guī)范，列出了規(guī)程應(yīng)包括的相關(guān)因素；參照ASME規(guī)范應(yīng)對(duì)規(guī)程進(jìn)行演示的要求，本條規(guī)定了規(guī)程首次應(yīng)用前應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證。但這種驗(yàn)證采取一種簡(jiǎn)化的方法，即可在相關(guān)的對(duì)比試塊上進(jìn)行。驗(yàn)證內(nèi)容包括檢測(cè)范圍內(nèi)靈敏度、信噪比等是否滿足檢測(cè)要求。第二十九頁(yè)，共412頁(yè)。4.4安全要求檢測(cè)場(chǎng)所、環(huán)境及安全防護(hù)應(yīng)符合NB/T47013.1的規(guī)定。解釋：本條為新增條款，按標(biāo)準(zhǔn)的統(tǒng)一要求增加。現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)應(yīng)以安全第一。較差的條件，如交叉作業(yè)、高空作業(yè)、空間受限及存在可燃?xì)怏w和有毒有害物質(zhì)等等，容易使檢測(cè)人員受到傷害，所以必須采取可靠的防范措施。第三十頁(yè)，共412頁(yè)。4.5檢測(cè)實(shí)施4.5.1檢測(cè)準(zhǔn)備4.5.1.1在承壓設(shè)備的制造、安裝及在用檢驗(yàn)中，超聲檢測(cè)時(shí)機(jī)及檢測(cè)比例的選擇等應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定。4.5.1.2所確定的檢測(cè)面應(yīng)保證工件被檢部分能得到充分檢測(cè)。4.5.1.3焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格。檢測(cè)面（探頭經(jīng)過(guò)的區(qū)域）上所有影響檢測(cè)的油漆、銹蝕、飛濺和污物等均應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不應(yīng)影響檢測(cè)結(jié)果的有效性。第三十一頁(yè)，共412頁(yè)。4.5.2掃查覆蓋為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋應(yīng)大于探頭直徑或?qū)挾鹊?5%或優(yōu)先滿足相應(yīng)章節(jié)的檢測(cè)覆蓋要求。4.5.3探頭的移動(dòng)速度探頭的掃查速度一般不應(yīng)超過(guò)150mm/s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，掃查速度應(yīng)通過(guò)對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)行確定。4.5.4掃查靈敏度掃查靈敏度的設(shè)置應(yīng)符合相關(guān)章節(jié)的規(guī)定。第三十二頁(yè)，共412頁(yè)。4.5.6靈敏度補(bǔ)償a）耦合補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由對(duì)比試塊與被檢工件表面粗糙度不同引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償；b）衰減補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由對(duì)比試塊與被檢工件材質(zhì)衰減不同引起的靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償；c）曲面補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，對(duì)檢測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)對(duì)由工件和對(duì)比試塊曲率半徑不同引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。第三十三頁(yè)，共412頁(yè)。4.5.6儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核4.5.6.1發(fā)生以下情況時(shí)應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：a）探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)發(fā)生改變時(shí)；b）懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)；c）連續(xù)工作4h以上時(shí)；d）工作結(jié)束時(shí)。4.6.6.2掃描量程的復(fù)核如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線該點(diǎn)讀數(shù)的10%或全掃描量程的5%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。第三十四頁(yè)，共412頁(yè)。4.6.6.3掃查靈敏度的復(fù)核復(fù)核時(shí)，在檢測(cè)范圍內(nèi)如發(fā)現(xiàn)掃查靈敏度或距離—波幅曲線上任一深度人工反射體回波幅度下降2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。解釋：與原版基本一致；按ASME規(guī)范，補(bǔ)充了“全掃描量程的5%”的要求。要求更嚴(yán)。第三十五頁(yè)，共412頁(yè)。5承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)5.1范圍本章規(guī)定了承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)。5.2承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測(cè)工藝文件原材料或零部件的超聲檢測(cè)工藝文件應(yīng)滿足4.3的要求之外，還應(yīng)包括表2所列的相關(guān)因素。序號(hào)相關(guān)因素的內(nèi)容1產(chǎn)品形式（板材、管材、鍛件等）2檢測(cè)時(shí)機(jī)（如熱處理前或后）3檢測(cè)范圍4質(zhì)量驗(yàn)收等級(jí)表2原材料或零部件超聲檢測(cè)工藝規(guī)程涉及的相關(guān)因素第三十六頁(yè)，共412頁(yè)。板材檢測(cè)概述加工方式：由板坯軋制而成。主要缺陷：分層、折疊、白點(diǎn)、裂紋等，分層和折疊大都平行于表面，白點(diǎn)和裂紋具有不同的方向。檢測(cè)方法：直探頭（檢測(cè)分層、折疊）斜探頭（檢測(cè)白點(diǎn)、裂紋）主要國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：1、JISG0801壓力容器用鋼板超聲檢測(cè)；2、BSEN10160厚度大于等于6mm鋼板的超聲檢測(cè)；3、ASME規(guī)范第三十七頁(yè)，共412頁(yè)。5.3承壓設(shè)備用板材超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)5.3.1范圍5.3.1.1本條適用于板厚≥6mm～250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)。5.3.1.2鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材、鎳及鎳合金板材和銅及銅合金板材的超聲檢測(cè)方法參照本條執(zhí)行，質(zhì)量分級(jí)按本條。5.3.1.3奧氏體不銹鋼和奧氏體-鐵素體雙相不銹鋼板材超聲檢測(cè)方法可參照本條執(zhí)行，質(zhì)量分級(jí)按本條。解釋：增加了鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材和銅及銅合金板材的超聲檢測(cè)。第三十八頁(yè)，共412頁(yè)。5.3.2檢測(cè)原則5.3.2.1板材一般采用直探頭進(jìn)行檢測(cè)。5.3.2.2在檢測(cè)過(guò)程中對(duì)缺陷有疑問(wèn)或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用斜探頭進(jìn)行檢測(cè)。5.3.2.3可選板材的任一軋制表面進(jìn)行檢測(cè)。若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或技術(shù)條件有要求時(shí)，也可選板材的上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測(cè)。解釋：基本內(nèi)容與2015版相同，增加了5.3.2.1條款，強(qiáng)調(diào)了以直探頭為主進(jìn)行檢測(cè)，在檢測(cè)過(guò)程中對(duì)缺陷有疑問(wèn)或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用斜探頭進(jìn)行檢測(cè)。在板材的上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測(cè)一般較少使用，要求很高。第三十九頁(yè)，共412頁(yè)。5.3.3探頭選用5.3.3.1直探頭5.3.3.1.1直探頭選用應(yīng)按表3的規(guī)定進(jìn)行。5.3.3.1.2當(dāng)采用液浸法檢測(cè)板厚小于等于20mm的板材時(shí)，也可選用單晶直探頭進(jìn)行檢測(cè)。5.3.3.1.3雙晶直探頭性能應(yīng)符合附錄C（規(guī)范性附錄）的要求。第四十頁(yè)，共412頁(yè)。解釋：增加了條款5.3.3.1.2，采用液浸法時(shí)，由于盲區(qū)在液體中，所以可以使用單晶直探頭；與2005版相比，降低了對(duì)探頭頻率和尺寸的要求，有更大的選擇范圍，但應(yīng)注意頻率和晶片尺寸對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響；板厚20mm～60mm時(shí)也可使用雙晶探頭，但這對(duì)雙晶探頭的要求更高。第四十一頁(yè)，共412頁(yè)。5.3.3.2斜探頭斜探頭的選用應(yīng)按附錄D（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。5.3.4對(duì)比試塊5.3.4.1用雙晶直探頭檢測(cè)厚度不大于20mm的板材時(shí)，可以采用如圖1所示的階梯平底試塊。5.3.4.2檢測(cè)厚度大于20mm的板材時(shí)，對(duì)比試塊形狀和尺寸應(yīng)符合表4和圖2的規(guī)定。對(duì)比試塊人工反射體為φ5mm平底孔，反射體個(gè)數(shù)至少3個(gè)。第四十二頁(yè)，共412頁(yè)。第四十三頁(yè)，共412頁(yè)。第四十四頁(yè)，共412頁(yè)。解釋：本次修訂對(duì)兩種試塊都進(jìn)行了較大的改動(dòng)。階梯平底試塊是為了適應(yīng)新的厚度，最大厚度至60mm。φ5mm平底孔對(duì)比試塊修改的原因是：從JB1150-73到JB/T4730.3-2005，鋼板檢測(cè)用對(duì)比試塊均為單一平底孔試塊，即只用一個(gè)φ5mm平底孔進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)，這是一種比較粗略的檢測(cè)方法，檢測(cè)時(shí)各個(gè)深度的靈敏度是不一致的，見(jiàn)如下舉例：第四十五頁(yè)，共412頁(yè)。例如，當(dāng)板厚為150mm時(shí)，是將CBII-4試塊φ5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準(zhǔn)靈敏度，這時(shí)的DAC曲線如圖所示。第四十六頁(yè)，共412頁(yè)。由圖可見(jiàn)，檢測(cè)用的曲線為一條水平線，一般稱為參考線（ARL），它與φ5平底孔的DAC曲線相交于90mm聲程處。所以，在小于90mm的范圍內(nèi)，靈敏度要高于φ5平底孔，在90mm處，靈敏度等于φ5平底孔，而在大于90mm范圍內(nèi)，靈敏度要比φ5平底孔低。所以，對(duì)鋼板檢測(cè)時(shí)，不同聲程處的靈敏度是不一樣?，F(xiàn)修改為用至少3個(gè)平底孔制作DAC曲線，提高了檢測(cè)結(jié)果的合理性和一致性。φ5mm平底孔對(duì)比試塊共6塊，除1#試塊外，其余可以“以厚代薄”，可根據(jù)本單位的實(shí)際情況購(gòu)買或制作。第四十七頁(yè)，共412頁(yè)。5.3.5靈敏度的確定5.3.5.1板厚小于等于20mm時(shí)，用圖1所示階梯平底試塊調(diào)節(jié)，也可用被檢板材無(wú)缺陷完好部位調(diào)節(jié)，此時(shí)用與工件等厚部位試塊或被檢板材的第一次底波調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。5.3.5.2板厚大于20mm時(shí)，按所用探頭和儀器在φ5mm平底孔試塊上繪制距離-波幅曲線，并以此曲線作為基準(zhǔn)靈敏度。5.3.5.3如能確定板材底面回波與不同深度φ5平底孔反射波之間的關(guān)系，則可采用板材無(wú)缺陷完好部位第一次底波來(lái)調(diào)節(jié)基準(zhǔn)靈敏度。5.3.5.4掃查靈敏度一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。第四十八頁(yè)，共412頁(yè)。解釋：板厚小于等于20mm時(shí)，可以使用階梯平底試塊調(diào)節(jié)靈敏度，也可以用與工件等厚部位試塊或被檢板材的第一次底波調(diào)節(jié)靈敏度。板厚大于20mm時(shí)，在φ5mm平底孔試塊上繪制距離-波幅曲線調(diào)節(jié)靈敏度，應(yīng)注意用雙晶探頭也是如此。5.3.5.3為新增條款。對(duì)板厚大于20mm時(shí)，特別是板厚大于等于探頭3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，如用底波調(diào)節(jié)靈敏度，應(yīng)保證整個(gè)板厚范圍內(nèi)的靈敏度和試塊調(diào)節(jié)的基本一致。檢測(cè)距離大于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，底波和φ5mm平底孔反射波間有較好的對(duì)應(yīng)關(guān)系。但此對(duì)應(yīng)關(guān)系僅適用于3倍近場(chǎng)區(qū)之外的區(qū)域，并不適用整個(gè)板厚區(qū)域，因此檢測(cè)時(shí)可用計(jì)算法或AVG法，有缺陷時(shí)，不同的區(qū)域應(yīng)分別評(píng)定。第四十九頁(yè)，共412頁(yè)。問(wèn)題：（1）板厚小于等于20mm時(shí)，雙晶探頭可以用階梯平底試塊調(diào)節(jié)靈敏度，但也可以用與工件等厚部位試塊或被檢板材的第一次底波調(diào)節(jié)靈敏度，那為什么還需要階梯平底試塊？（2）用階梯平底試塊調(diào)節(jié)靈敏度時(shí)，如沒(méi)有相應(yīng)的厚度（如20mm），如何調(diào)節(jié)？（3）φ5mm平底孔的間距應(yīng)為多少？第五十頁(yè)，共412頁(yè)。5.3.6檢測(cè)5.3.6.1耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。5.3.6.2靈敏度補(bǔ)償檢測(cè)時(shí)應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行耦合補(bǔ)償和衰減補(bǔ)償。5.3.6.3掃查方式a）在板材周邊或剖口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查區(qū)域?qū)挾纫?jiàn)表5；b）在板材中部區(qū)域，探頭沿垂直于板材壓延方向，間距不大于50mm的平行線進(jìn)行掃查，或探頭沿垂直和平行板材壓延方向且間距不大于100mm格子線進(jìn)行掃查。掃查示意圖見(jiàn)圖3；c）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查；d）雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。第五十一頁(yè)，共412頁(yè)。第五十二頁(yè)，共412頁(yè)。解釋：增加了條款“5.3.6.2靈敏度補(bǔ)償”；板材中部的掃查，把2005版間距不大于100mm平行線改為間距不大于50mm平行線或間距不大于100mm格子線；板材周邊或剖口預(yù)定線兩側(cè)范圍的掃查，按EN10160修改，掃查寬度與板厚有關(guān)。2005版規(guī)定“在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（當(dāng)板厚超過(guò)100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查”。第五十三頁(yè)，共412頁(yè)。問(wèn)題：（1）為什么在板材周邊或剖口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查？（2）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查。其他形式的掃查有哪些？（3）雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。具體如何實(shí)施？第五十四頁(yè)，共412頁(yè)。5.3.6.4斜探頭檢測(cè)按附錄D（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。5.3.7缺陷的判定和定量5.3.7.1在檢測(cè)基準(zhǔn)靈敏度條件下，發(fā)現(xiàn)下列兩種情況之一即作為缺陷：a）缺陷第一次反射波（F1）波幅高于距離-波幅曲線，或用雙晶探頭檢測(cè)板厚小于20mm板材時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波幅大于或等于顯示屏滿刻度的50%；b）底面第一次反射波（B1）波幅低于顯示屏滿刻度的50%，即B1＜50%。第五十五頁(yè)，共412頁(yè)。解釋：對(duì)缺陷的判定有部分修改，主要有3點(diǎn)：（1）單晶直探頭或

雙晶直探頭（T>20-60mm），﹥100%DAC；（2）雙晶直探頭（T=6～20mm），≥50%滿屏高度；（3）底波降低量，

B1＜50%滿屏高度。應(yīng)特別注意底波降低的原因以及應(yīng)在什么靈敏度下判定？第五十六頁(yè)，共412頁(yè)。5.3.7.2缺陷的定量5.3.7.2.1雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)缺陷的定量a）使用雙晶直探頭對(duì)缺陷進(jìn)行定量時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直；b）板材厚度小于等于20mm時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下顯示屏滿刻度的50%，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)；c）板材厚度大于20mm～60mm時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷波下降到距離-波幅曲線，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)；第五十七頁(yè)，共412頁(yè)。d）確定5.3.7.1b）中缺陷的邊界范圍時(shí)，移動(dòng)探頭使底面第一次反射波上升高到基準(zhǔn)靈敏度條件下顯示屏滿刻度的50%或上升到距離-波幅曲線，此時(shí)探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)；e）缺陷邊界范圍確定后，用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷，其長(zhǎng)邊作為缺陷的長(zhǎng)度，矩形面積則為缺陷的指示面積。5.3.7.2.2單晶直探頭檢測(cè)時(shí)缺陷的定量使用單晶直探頭除按5.3.7.2.1c)、d)、e)的方法對(duì)缺陷進(jìn)行定量外，還應(yīng)記錄缺陷的反射波幅或當(dāng)量平底孔直徑。解釋：采用EN10160規(guī)定的方法，用平行于板材壓延方向的矩形框來(lái)評(píng)定缺陷，直觀且重復(fù)性好。單直探頭需要記錄反射波幅，主要用于評(píng)級(jí)。第五十八頁(yè)，共412頁(yè)。5.3.8缺陷尺寸的評(píng)定方法5.3.8.1缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定規(guī)則用平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷，其長(zhǎng)邊作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。5.3.8.2單個(gè)缺陷指示面積的評(píng)定規(guī)則a）一個(gè)缺陷按其指示的矩形面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積；b）多個(gè)缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度時(shí)，按單個(gè)缺陷處理，缺陷指示面積為各缺陷面積之和。第五十九頁(yè)，共412頁(yè)。解釋：（1）第六十頁(yè)，共412頁(yè)。（2）多個(gè)缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度時(shí)，按單個(gè)缺陷處理，缺陷指示面積為各缺陷面積之和。舉例：1）缺陷20×10，間隔18，缺陷30×20，間隔42，缺陷45×202）缺陷20×10，間隔18，缺陷30×20，間隔28，缺陷40×25第六十一頁(yè)，共412頁(yè)。5.3.9板材質(zhì)量分級(jí)5.3.9.1板材質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表6和表7。在具體進(jìn)行質(zhì)量分級(jí)要求時(shí)，表6和表7應(yīng)獨(dú)立使用。5.3.9.2在檢測(cè)過(guò)程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)板材中有白點(diǎn)、裂紋等缺陷存在時(shí)，應(yīng)評(píng)為V級(jí)。5.3.9.3在板材中部檢測(cè)區(qū)域，按最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一1m×1m檢測(cè)面積內(nèi)缺陷最大允許個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級(jí)。如整張板材中部檢測(cè)面積小于1m×1m，缺陷最大允許個(gè)數(shù)可按比例折算。5.3.9.4在板材邊緣檢測(cè)區(qū)域，按最大允許單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度、最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一1m檢測(cè)長(zhǎng)度內(nèi)最大允許缺陷個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級(jí)。如整張板材邊緣檢測(cè)長(zhǎng)度小于1m，缺陷最大允許個(gè)數(shù)可按比例折算。第六十二頁(yè)，共412頁(yè)。第六十三頁(yè)，共412頁(yè)。第六十四頁(yè)，共412頁(yè)。解釋：驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)基本與EN10160相同；中部區(qū)域評(píng)定單個(gè)缺陷指示面積和1×1mm內(nèi)缺陷個(gè)數(shù)；邊緣和坡口區(qū)域評(píng)定單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度、單個(gè)缺陷指示面積和1m長(zhǎng)度內(nèi)缺陷個(gè)數(shù)；注意以下幾點(diǎn)：（1）雙晶探頭僅用缺陷面積分級(jí)（為什么？）（2）單直探頭Ⅰ、Ⅱ級(jí)用缺陷波幅分級(jí)，φ5+8dB大致相當(dāng)于φ8，φ5+14dB大致

相當(dāng)于φ11。Ⅲ、Ⅳ級(jí)用缺陷面積分

級(jí)（為什么？）（3）底波降低用缺陷面積分級(jí)。第六十五頁(yè)，共412頁(yè)。問(wèn)題：板材檢測(cè)，單直探頭檢測(cè)發(fā)現(xiàn)單個(gè)缺陷當(dāng)量直徑φ5+6dB，測(cè)定缺陷面積S>1000mm2,如何評(píng)級(jí)？請(qǐng)考慮：1、是否有這種可能？2、如果有，如何評(píng)級(jí)？第六十六頁(yè)，共412頁(yè)。答：嚴(yán)格來(lái)說(shuō)，單直探頭檢測(cè)時(shí)，如缺陷面積小于聲場(chǎng)截面，用當(dāng)量直徑評(píng)定，如缺陷面積大于聲場(chǎng)截面時(shí)，就用缺陷面積評(píng)定。φ5+8dB=φ8，折算成面積約50mm2；φ5+14dB=φ11，折算成面積約100mm2，與雙晶探頭是對(duì)應(yīng)的。所以，如果缺陷面積大于100mm2，就用面積評(píng)定。第六十七頁(yè)，共412頁(yè)。附

錄C（規(guī)范性附錄）雙晶直探頭性能要求C.1距離—波幅特性曲線采用圖1所示試塊，在各個(gè)厚度上測(cè)定其回波高度（單位為dB），并作出如圖C.1所示的特性曲線，該特性曲線應(yīng)滿足下述條件：a）在雙晶直探頭使用范圍的極限厚度上的回波高度，與最大回波高度差應(yīng)在0dB～-6dB范圍內(nèi)；b）在厚度3mm上的回波高度，與最大回波高度差也應(yīng)在0dB～-6dB范圍內(nèi)。第六十八頁(yè)，共412頁(yè)。t0：階梯試塊回波最大時(shí)的厚度t：雙晶探頭使用范圍的極限厚度圖C.1雙晶直探頭距離—波幅特性曲線第六十九頁(yè)，共412頁(yè)。C.2表面回波高度用直接接觸法的表面回波高度，應(yīng)比圖C.1中t0處最大回波高度低40dB以上。C.3檢出靈敏度移動(dòng)探頭對(duì)準(zhǔn)圖C.2試塊φ5.6mm平底孔，其回波高度與最大回波高度差應(yīng)在-10dB±2dB范圍內(nèi)。C.4有效波束寬度將探頭對(duì)準(zhǔn)圖C.2試塊φ5.6mm平底孔，并與聲波分割面平行地移動(dòng)，按6dB法測(cè)定波束寬度，對(duì)于承壓設(shè)備用的鋼板檢測(cè)，其有效值應(yīng)大于15mm。第七十頁(yè)，共412頁(yè)。圖C.2測(cè)定儀器和探頭組合性能試塊第七十一頁(yè)，共412頁(yè)。解釋：對(duì)雙晶探頭，一般認(rèn)為焦點(diǎn)波幅上下-6dB為有效檢測(cè)區(qū)域；表面回波高度為探頭發(fā)射聲波在探頭與工件界面反射被探頭接受的回波，它直接決定探頭盲區(qū)的大??；檢出靈敏度，保證檢測(cè)所需要的靈敏度，與頻率、晶片大小等有關(guān)；有效波束寬度，探頭波束要有一定的寬度，取決于聚焦程度和晶片大小。第七十二頁(yè)，共412頁(yè)。雙晶探頭表面回波第七十三頁(yè)，共412頁(yè)。附錄D（規(guī)范性附錄）承壓設(shè)備用板材斜探頭檢測(cè)D.1范圍本附錄規(guī)定了用斜探頭檢測(cè)板材中非夾層性缺陷的超聲檢測(cè)方法，并將其作為直探頭檢測(cè)的補(bǔ)充。D.2探頭D.2.1原則上選用折射角為45°（K1）的斜探頭，晶片有效直徑一般應(yīng)在13mm～25mm之間。也可選用其他晶片尺寸和折射角（K值）的探頭。D.2.2探頭標(biāo)稱頻率為2MHz～5MHz。第七十四頁(yè)，共412頁(yè)。D.3對(duì)比試塊D.3.1對(duì)比試塊應(yīng)與被檢板材聲學(xué)特性相同或相似，厚度差不超過(guò)10%。D.3.2對(duì)比試塊上的人工反射體為V形槽，角度為60°，槽深為板厚的3%，槽的長(zhǎng)度至少為25mm。D.3.3對(duì)比試塊的尺寸、V形槽位置應(yīng)符合圖D.1的規(guī)定。第七十五頁(yè)，共412頁(yè)。D.4距離-波幅曲線的確定D.4.1厚度小于或等于50mm的板材D.4.1.1把探頭置于試塊有槽的一面，使聲束對(duì)準(zhǔn)槽的寬邊，找出第一個(gè)全跨距反射的最大波幅，調(diào)整儀器，使該反射波的最大波幅為滿刻度的80%，在顯示屏上記錄下該信號(hào)的位置。D.4.1.2不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，移動(dòng)探頭，得到第二個(gè)全跨距信號(hào)，并找出信號(hào)最大反射波幅，在顯示屏上記錄下該信號(hào)的位置。D.4.1.3在顯示屏上將D.4.1.1和D.4.1.2所確定的點(diǎn)連成一直線，此線即為距離-波幅曲線。第七十六頁(yè)，共412頁(yè)。D.4.2厚度大于50mm～250mm的板材D.4.2.1將探頭聲束對(duì)準(zhǔn)試塊背面的槽，并找出第一個(gè)1/2跨距反射的最大波幅。調(diào)節(jié)儀器，使反射波幅為滿刻度的80%，在顯示屏上記下這個(gè)信號(hào)的位置。D.4.2.2不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，移動(dòng)探頭，以全跨距對(duì)準(zhǔn)切槽并獲得最大反射波幅，在顯示屏上記下這個(gè)幅值點(diǎn)。D.4.2.3在顯示屏上將D.4.2.1和D.4.2.2所確定的點(diǎn)連成一直線，此線即為距離-波幅曲線。第七十七頁(yè)，共412頁(yè)。問(wèn)題：斜探頭檢測(cè)，距離-波幅曲線確定后，檢測(cè)和評(píng)定時(shí)所觀察的區(qū)域范圍是從零點(diǎn)到最后一個(gè)V形槽反射回波之間的區(qū)域，還是二個(gè)V形槽反射回波之間的區(qū)域？第七十八頁(yè)，共412頁(yè)。答：標(biāo)準(zhǔn)沒(méi)有明確說(shuō)明，但通常的做法是從零點(diǎn)到最后一個(gè)V形槽反射回波之間的區(qū)域?yàn)樵u(píng)定區(qū)，第一個(gè)V型槽之前用水平線連接，這樣做最嚴(yán)格。第七十九頁(yè)，共412頁(yè)。D.5掃查方式D.5.1在板材的軋制面上以垂直和平行于板材主要壓延方向的格子線進(jìn)行掃查，格子線中心距為200mm。D.5.2當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷信號(hào)時(shí)，移動(dòng)探頭使之能在顯示屏上得到最大反射波幅。D.5.3對(duì)于波幅等于或超過(guò)距離-波幅曲線的缺陷顯示，應(yīng)記錄其位置，并移動(dòng)探頭使波幅降到滿刻度的25%來(lái)測(cè)量其長(zhǎng)度。對(duì)于波幅低于距離-波幅曲線的缺陷，當(dāng)指示長(zhǎng)度較長(zhǎng)時(shí)，也可記錄備案。D.5.4在每一個(gè)記錄缺陷位置上，應(yīng)以記錄缺陷中心起，在200mm×200mm的區(qū)域作100%檢測(cè)。第八十頁(yè)，共412頁(yè)。D.6驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)等于或超過(guò)距離-波幅曲線的任何缺陷信號(hào)均應(yīng)認(rèn)為是不合格的。但是以縱波方法作輔助檢測(cè)時(shí)，若發(fā)現(xiàn)缺陷性質(zhì)是分層類的，則應(yīng)按5.3的規(guī)定處理。解釋：與2005版相比，刪除了厚度大于50mm～150mm板材距離-波幅曲線確定的方法。問(wèn)題：如何確定對(duì)比試塊的長(zhǎng)度？第八十一頁(yè)，共412頁(yè)。5.4承壓設(shè)備用復(fù)合板超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)修改概述：修改內(nèi)容不多，主要是探頭、掃查方式等。5.4.1范圍5.4.1.1本條適用于基材厚度大于或等于6mm的承壓設(shè)備用不銹鋼-鋼、鈦-鋼、鋁-鋼、鎳-鋼及銅-鋼復(fù)合板的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。5.4.1.2本條主要用于復(fù)合板基材與覆材界面結(jié)合狀態(tài)的超聲檢測(cè)。5.4.2檢測(cè)原則一般可從基材側(cè)檢測(cè)，也可選擇從覆材側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。第八十二頁(yè)，共412頁(yè)。5.4.3探頭選用采用2MHz～5MHz的單晶直探頭或雙晶直探頭，探頭晶片有效直徑應(yīng)在為10mm～25mm范圍內(nèi)。解釋：2005版標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定探頭的選用與鋼板相同。復(fù)合板超聲檢測(cè)主要檢測(cè)未結(jié)合類缺陷，而板材檢測(cè)針對(duì)整個(gè)厚度范圍的檢測(cè)，所以探頭性能要求是不一樣的，特別是也按附錄A來(lái)要求選擇雙晶直探頭太嚴(yán)格了，必要性也不大。第八十三頁(yè)，共412頁(yè)。5.4.4靈敏度的確定5.4.4.1將探頭置于復(fù)合板完全結(jié)合部位，調(diào)節(jié)第一次底面回波高度為顯示屏滿刻度的80%。以此作為基準(zhǔn)靈敏度。5.4.4.2掃查靈敏度一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。5.4.5檢測(cè)5.4.5.1耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。第八十四頁(yè)，共412頁(yè)。5.4.5.2掃查方式a）在復(fù)合板周邊或剖口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查區(qū)域?qū)挾纫?jiàn)表5；b）在復(fù)合板中部區(qū)域，探頭沿垂直于基材壓延方向，間距不大于50mm的平行線進(jìn)行掃查，或探頭沿垂直和平行基材壓延方向且間距不大于100mm格子線進(jìn)行掃查。掃查示意圖見(jiàn)圖3；c）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查；d）雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。解釋：掃查方式與鋼板統(tǒng)一，2005版兩者略有差異。第八十五頁(yè)，共412頁(yè)。5.4.6未結(jié)合區(qū)的測(cè)定第一次底面回波高度低于顯示屏滿刻度的5%，且明顯有未結(jié)合缺陷回波存在時(shí)（回波高度≥5%），該部位則為未結(jié)合缺陷區(qū)。移動(dòng)探頭，使第一次底面回波升高到顯示屏滿刻度的40%，以此時(shí)探頭中心即作為未結(jié)合缺陷區(qū)邊界點(diǎn)。5.4.7未結(jié)合的評(píng)定方法5.4.7.1未結(jié)合指示長(zhǎng)度的評(píng)定規(guī)則未結(jié)合邊界范圍確定后，用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍該未結(jié)合，長(zhǎng)邊作為其指示長(zhǎng)度，矩形面積則為未結(jié)合區(qū)面積。若單個(gè)未結(jié)合的指示長(zhǎng)度小于25mm時(shí)，可不作記錄。第八十六頁(yè)，共412頁(yè)。5.4.7.2單個(gè)未結(jié)合面積的評(píng)定規(guī)則a）一個(gè)未結(jié)合按其指示的矩形面積作為其該單個(gè)未結(jié)合面積；b）多個(gè)未結(jié)合其相鄰間距小于20mm時(shí)，按單個(gè)未結(jié)合處理，其面積為各個(gè)未結(jié)合面積之和。5.4.7.3未結(jié)合率的評(píng)定任一1m×1m檢測(cè)面積內(nèi)，按未結(jié)合區(qū)面積所占百分比來(lái)確定。5.4.8質(zhì)量分級(jí)5.4.8.1復(fù)合板質(zhì)量分級(jí)按表8的規(guī)定。5.4.8.2在復(fù)合板周邊或剖口預(yù)定線兩側(cè)作100%掃查的區(qū)域內(nèi)，未結(jié)合的指示長(zhǎng)度大于或等于25mm時(shí)，定級(jí)為IV級(jí)。第八十七頁(yè)，共412頁(yè)。問(wèn)題：（1）對(duì)復(fù)合板檢測(cè)應(yīng)如何選用探頭？假定基板厚90mm，

復(fù)板厚3mm。（2）從基板側(cè)檢測(cè)的結(jié)果和從復(fù)板側(cè)檢測(cè)的結(jié)果兩者

會(huì)一致嗎？第八十八頁(yè)，共412頁(yè)。（3）復(fù)合板檢測(cè)：按5.4.7.1，“若單個(gè)

未結(jié)合的指示長(zhǎng)度小于25mm時(shí)，可不

作記錄”，但在5.5.7.2的表8規(guī)定，

“質(zhì)量等級(jí)I級(jí)的單個(gè)未結(jié)合指示長(zhǎng)度

為0”。如檢測(cè)發(fā)現(xiàn)單個(gè)未結(jié)合的指

示長(zhǎng)度小于25mm，如24mm，不作記錄，

是否評(píng)為I級(jí)？答：是的，這里的0不是真的0，而是指單個(gè)未結(jié)合的指示長(zhǎng)度小于25mm。第八十九頁(yè)，共412頁(yè)。鍛件檢測(cè)概述加工方式：鍛件是將鑄錠或鍛坯在鍛錘或模具的壓力下變形制成一定形狀和尺寸的零件毛坯。鍛壓過(guò)程包括加熱、形變和冷卻。鍛造方式大致分為鐓粗、拔長(zhǎng)和滾壓。主要缺陷：縮孔、縮松、夾雜物、折疊、白點(diǎn)、裂紋等，由于經(jīng)過(guò)鍛壓，許多缺陷接近于平行表面，但也有傾斜的，白點(diǎn)和裂紋具有不同的方向。檢測(cè)方法：直探頭（至少互相垂直兩個(gè)方向）斜探頭（環(huán)形和筒形鍛件）主要國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：1、BSEN10228-3-1998鋼鍛件無(wú)損檢驗(yàn).鐵素體或馬氏體鋼鍛件超聲檢驗(yàn)；2、JISG3214-1991壓力容器用鋼鍛件；3、ASME規(guī)范SA-388大型鍛件超聲檢測(cè)第九十頁(yè)，共412頁(yè)。5.5承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)修改概述：主要修改了對(duì)比試塊、探頭的要求、需作斜探頭檢測(cè)的環(huán)形和筒形鍛件的內(nèi)外半徑之比和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)等，檢測(cè)方法未做修改。5.5.1范圍5.5.1.1本條適用于承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)。5.5.1.2本條不適用于內(nèi)外半徑之比小于65%的環(huán)形和筒形鍛件的周向斜探頭檢測(cè)。解釋：對(duì)于環(huán)形和筒形鍛件的周向斜探頭檢測(cè)，2005版規(guī)定內(nèi)外半徑之比大于等于80%，現(xiàn)擴(kuò)大至內(nèi)外半徑之比大于等于65%。主要原因：一是實(shí)際需要，二是能夠檢測(cè)。第九十一頁(yè)，共412頁(yè)。5.5.2檢測(cè)原則5.5.2.1檢測(cè)一般應(yīng)安排在熱處理后，孔、臺(tái)等結(jié)構(gòu)機(jī)加工前進(jìn)行，檢測(cè)面的表面粗糙度≤6.3μm。5.5.2.2鍛件一般應(yīng)使用直探頭進(jìn)行檢測(cè)，對(duì)筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)增加斜探頭檢測(cè)。5.5.2.3檢測(cè)厚度小于等于45mm時(shí)，應(yīng)采用雙晶直探頭進(jìn)行。檢測(cè)厚度大于45mm時(shí)，一般采用單晶直探頭進(jìn)行。5.5.2.4鍛件厚度超過(guò)400mm時(shí)，應(yīng)從相對(duì)兩端面進(jìn)行檢測(cè)。解釋：本條文為新增加，但內(nèi)容在2005版標(biāo)準(zhǔn)也有規(guī)定，系重新改寫。檢測(cè)厚度指直探頭檢測(cè)方向的厚度，2005版標(biāo)準(zhǔn)是檢測(cè)距離，容易引起誤解。第九十二頁(yè)，共412頁(yè)。5.5.3探頭選用5.5.3.1直探頭5.5.3.1.1探頭標(biāo)稱頻率應(yīng)在1MHz～5MHz范圍內(nèi)。5.5.3.1.2雙晶直探頭晶片面積不小于150mm2；單晶直探頭晶片有效直徑應(yīng)在為10mm～40mm范圍內(nèi)。5.5.3.2斜探頭5.5.3.2.1探頭與被檢工件應(yīng)保持良好的接觸，遇有以下情況時(shí)，應(yīng)采用曲面試塊調(diào)節(jié)檢測(cè)范圍和基準(zhǔn)靈敏度：a)在凸表面上縱向(軸向)掃查時(shí)，探頭楔塊寬度大于檢測(cè)面曲率半徑的1/5；b)在凸表面上橫向(周向)掃查時(shí)，探頭楔塊長(zhǎng)度大于檢測(cè)面曲率半徑的1/5。5.5.3.2.2探頭標(biāo)稱頻率主要為2MHz～5MHz，探頭晶片面積為80mm2～625mm2。第九十三頁(yè)，共412頁(yè)。5.5.4對(duì)比試塊5.5.4.1對(duì)比試塊應(yīng)符合4.7.2的規(guī)定。5.5.4.2對(duì)比試塊可由以下材料之一制成：a）被檢材料的多余部分（尺寸足夠時(shí)）；b）與被檢材料同鋼種、同熱處理狀態(tài)的材料；c）與被檢材料具有相同或相似聲學(xué)特性的材料。5.5.4.3單晶直探頭對(duì)比試塊單晶直探頭檢測(cè)采用CS-2試塊調(diào)節(jié)基準(zhǔn)靈敏度，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖4和表9的規(guī)定。如確有需要也可采用其他對(duì)比試塊。第九十四頁(yè)，共412頁(yè)。圖4CS-2對(duì)比試塊第九十五頁(yè)，共412頁(yè)。第九十六頁(yè)，共412頁(yè)。解釋：用CS-2試塊替代了2005版的CSⅠ試塊，按JB/T8428標(biāo)準(zhǔn)修改。CSⅠ試塊只有4塊，即深度分別為50、100、150、200mm的φ2mm平底孔試塊，顯然它是滿足不了檢測(cè)要求的?，F(xiàn)增加到33塊，最大深度到500mm，包括φ2、φ3和φ4平底孔，能滿足檢測(cè)要求。原有的4塊φ2mm平底孔試塊，包含在33塊試塊中，可繼續(xù)使用。各單位可根據(jù)產(chǎn)品的情況購(gòu)買或制作。第九十七頁(yè)，共412頁(yè)。5.5.4.4雙晶直探頭對(duì)比試塊a）工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用CS-3對(duì)比試塊；b）CS-3試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖5和表10的

規(guī)定。解釋：CS-3試塊即為2005版的CSⅡ試塊，CS-3試塊沒(méi)有包括φ6mm平底孔，因?yàn)樵诖_定靈敏度和質(zhì)量分級(jí)中都沒(méi)有用到。第九十八頁(yè)，共412頁(yè)。第九十九頁(yè)，共412頁(yè)。5.5.4.5工件檢測(cè)面曲率半徑小于等于250mm時(shí)，應(yīng)采用曲面對(duì)比試塊（試塊曲率半徑為工件曲率半徑的0.7～1.1倍）調(diào)節(jié)基準(zhǔn)靈敏度，或采用CS-4對(duì)比試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸按圖6所示。5.5.4.6對(duì)比試塊CS-2、CS-3、CS-4制造要求等見(jiàn)JB/T8428和GB/T11259的規(guī)定。第一百頁(yè)，共412頁(yè)。5.5.5靈敏度的確定5.5.5.1單晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定使用CS-2或CS-4試塊，依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的φ2mm平底孔（至少3個(gè)），制作單晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，且檢測(cè)面與底面平行時(shí)，也可以采用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度。5.5.5.2雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定使用CS-3試塊，依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的φ2mm平底孔（至少3個(gè)）。制作雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。5.5.5.3掃查靈敏度一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。解釋：增加了掃查靈敏度，要求再一次提高。第一百零一頁(yè)，共412頁(yè)。5.5.6檢測(cè)5.5.6.1耦合方式耦合方式一般可采用直接接觸法。5.5.6.2靈敏度補(bǔ)償檢測(cè)時(shí)應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行耦合補(bǔ)償、衰減補(bǔ)償和曲面補(bǔ)償。5.5.6.3工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定a)在工件無(wú)缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測(cè)面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度（B1）或第n次底面回波幅度（Bn）為滿刻度的50%，記錄此時(shí)儀器增益或衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)儀器增益或衰減器，使第二次底面回波幅度或第m次底面回波幅度（2或m）為滿刻度的50%，兩次增益或衰減器讀數(shù)之差即為(B1-B2)或（Bn-Bm）的dB差值（不考慮底面反射損失）。第一百零二頁(yè)，共412頁(yè)。b)工件厚度小于3倍探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度（t<3N）時(shí)，衰減系數(shù)（滿足n﹥3N，m﹥n）按公式（1）計(jì)算： （1）式中：α

——衰減系數(shù)，dB/m（單程）；（Bn-Bm）——兩次底波增益或衰減器的讀數(shù)之差，dB；t

——工件檢測(cè)厚度，m；N

——單晶直探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，m；m、n——底波反射次數(shù)。第一百零三頁(yè)，共412頁(yè)。c)工件厚度大于等于3倍探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度（N≥3）時(shí)，衰減系數(shù)式（2）計(jì)算 （2）式中：（B1-B2）——兩次底波增益或衰減器的讀數(shù)之差，dB；其余符號(hào)意義同b）。d）工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。解釋：2005版要求m=2n，現(xiàn)修改為m﹥n。第一百零四頁(yè)，共412頁(yè)。5.5.6.4掃查方式5.5.6.4.1直探頭檢測(cè)a)移動(dòng)探頭從兩個(gè)相互垂直的方向在檢測(cè)面上作100%掃查。主要檢測(cè)方向如圖7所示。b)雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。c)根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查，如一定間隔的平行線或格子線掃查。解釋：增加了掃查方式c），但要求降低，較少使用。第一百零五頁(yè)，共412頁(yè)。注：↑為應(yīng)檢測(cè)方向；※為參考檢測(cè)方向圖7檢測(cè)方向(垂直檢測(cè)法)第一百零六頁(yè)，共412頁(yè)。注：↑為應(yīng)檢測(cè)方向；※為參考檢測(cè)方向圖7檢測(cè)方向(垂直檢測(cè)法)第一百零七頁(yè)，共412頁(yè)。5.5.6.4.2斜探頭檢測(cè)斜探頭檢測(cè)應(yīng)按附錄E（規(guī)范性附錄）的要求進(jìn)行。5.5.7缺陷當(dāng)量的確定5.5.7.1當(dāng)被檢缺陷的深度大于或等于所用探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可采用AVG曲線或計(jì)算法確定缺陷的當(dāng)量。對(duì)于3倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用距離-波幅曲線來(lái)確定缺陷的當(dāng)量。也可采用其他等效方法來(lái)確定。5.5.7.2當(dāng)采用計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量時(shí)，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò)4dB/m，應(yīng)進(jìn)行修正。5.5.7.3當(dāng)采用距離-波幅曲線來(lái)確定缺陷當(dāng)量時(shí)，若對(duì)比試塊與工件差值超過(guò)4dB/m，應(yīng)進(jìn)行修正。第一百零八頁(yè)，共412頁(yè)。5.5.8質(zhì)量分級(jí)等級(jí)評(píng)定5.5.8.1缺陷的質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表11。5.5.8.2當(dāng)檢測(cè)人員判定反射信號(hào)為白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級(jí)為V級(jí)。第一百零九頁(yè)，共412頁(yè)。解釋：評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)有修改，總體偏嚴(yán)，個(gè)別略松，便于記憶。取消2005版“缺陷記錄”的條文，對(duì)于超標(biāo)缺陷應(yīng)該記錄，未超標(biāo)缺陷不作強(qiáng)行規(guī)定。增加密集區(qū)缺陷當(dāng)量直徑的質(zhì)量分級(jí)。2005版標(biāo)準(zhǔn)只有密集區(qū)缺陷占檢測(cè)面積百分比的質(zhì)量分級(jí)，這對(duì)密集區(qū)缺陷控制偏松，不利于控制密集缺陷。密集區(qū)缺陷面積以大于等于φ2當(dāng)量平底孔直徑的密集區(qū)缺陷所指示的面積計(jì)算，提高了要求。第一百一十頁(yè)，共412頁(yè)。問(wèn)題：（1）鍛件厚度超過(guò)400mm時(shí)，應(yīng)從相對(duì)兩

端面進(jìn)行檢測(cè)，請(qǐng)問(wèn)檢測(cè)深度應(yīng)如何

確定？（2）圖7中，帶※號(hào)的參考檢測(cè)方向是否

可以不檢？（3）采用CS-4對(duì)比試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不

同而引起的聲能損失，請(qǐng)問(wèn)如何測(cè)定？第一百一十一頁(yè)，共412頁(yè)。附錄E（規(guī)范性附錄）承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲斜探頭檢測(cè)E.1范圍本附錄適用于承壓設(shè)備用環(huán)形和筒形鍛件的超聲斜探頭軸向檢測(cè)，也適用于內(nèi)外徑之比大于或等于65%的環(huán)形和筒形鍛件的超聲斜探頭周向檢測(cè)。E.2探頭E.2.1探頭標(biāo)稱頻率主要為2MHz～5MHz。E.2.2探頭晶片面積為80mm2～625mm2。E.2.3原則上應(yīng)采用折射角為45°（K1）的探頭，但根據(jù)工件幾何形狀和內(nèi)外徑比例的不同，也可采用其他的折射角（值）探頭。第一百一十二頁(yè)，共412頁(yè)。E.3對(duì)比試塊為了調(diào)整靈敏度，可利用被檢工件壁厚或長(zhǎng)度上的加工余量部分制作對(duì)比試塊。在鍛件的內(nèi)外表面，分別沿軸向和周向加工平行的V形槽作為標(biāo)準(zhǔn)溝槽。V形槽長(zhǎng)度為25mm，深度為鍛件壁厚的1%，角度為60°。也可采用其他等效的反射體（如邊角反射等）。E.4檢測(cè)方法E.4.1掃查方式掃查方式見(jiàn)圖E.1。第一百一十三頁(yè)，共412頁(yè)。圖E.1鍛件斜探頭檢測(cè)掃查方式第一百一十四頁(yè)，共412頁(yè)。E.4.2距離-波幅曲線的確定從鍛件外圓面將探頭對(duì)準(zhǔn)內(nèi)圓面的標(biāo)準(zhǔn)溝槽，調(diào)整增益，使最大反射高度為滿刻度的80%，將該值標(biāo)在面板上，以其為掃查靈敏度；不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，再移動(dòng)探頭測(cè)定外圓面的標(biāo)準(zhǔn)溝槽，并將最大的反射高度也標(biāo)在面板上。將上述兩點(diǎn)用直線連接并延長(zhǎng)，繪出距離-波幅曲線，并使之包括全部檢測(cè)范圍。內(nèi)圓面檢測(cè)時(shí)掃查靈敏度也按上述方法確定，但探頭斜楔應(yīng)與內(nèi)圓曲率一致。第一百一十五頁(yè)，共412頁(yè)。第一百一十六頁(yè)，共412頁(yè)。E.5記錄E.5.1缺陷在儀器熒光屏顯示的有效區(qū)為連接距離-波幅曲線兩點(diǎn)間的區(qū)域。E.5.2記錄波幅在距離-波幅曲線高度50%以上的缺陷反射波和缺陷位置。缺陷指示長(zhǎng)度按-6dB法測(cè)定。當(dāng)相鄰兩個(gè)缺陷間距小于或等于25mm時(shí)，按單個(gè)缺陷處理。第一百一十七頁(yè)，共412頁(yè)。第一百一十八頁(yè)，共412頁(yè)。E.6質(zhì)量分級(jí)E.6.1波幅高于距離-波幅曲線的缺陷質(zhì)量等級(jí)定為III級(jí)。E.6.2波幅在距離-波幅曲線的50%～100%的缺陷按表E.1分級(jí)。表E.1缺陷質(zhì)量分級(jí)質(zhì)量等級(jí)單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度I≤1/3壁厚，且≤100mmII≤2/3壁厚，且≤150mmIII大于II級(jí)者第一百一十九頁(yè)，共412頁(yè)。問(wèn)題：斜探頭檢測(cè)，按E.4.2以鍛件內(nèi)外圓面的標(biāo)準(zhǔn)溝槽的徑向回波確定距離-波幅曲線，“將上述兩點(diǎn)用直線連接并延長(zhǎng)，繪出距離-波幅曲線，并使之包括全部檢測(cè)范圍”。按E.5.1“缺陷在儀器熒光屏顯示的有效區(qū)為連接距離-波幅曲線兩點(diǎn)間的區(qū)域”。那么檢測(cè)和評(píng)定時(shí)所觀察的區(qū)域范圍是從零點(diǎn)到最后一個(gè)V形槽反射回波之間的區(qū)域，還是二個(gè)V形槽反射回波之間的區(qū)域？第一百二十頁(yè)，共412頁(yè)。答：標(biāo)準(zhǔn)沒(méi)明確，確實(shí)是一個(gè)矛盾，嚴(yán)格來(lái)說(shuō)應(yīng)按E.5.1。個(gè)人建議，與鋼板一樣，從零點(diǎn)到最后一個(gè)V形槽反射回波之間的區(qū)域?yàn)樵u(píng)定區(qū)，第一個(gè)V型槽之前用水平線連接，因?yàn)檫@樣做最嚴(yán)格，有些國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)就是這樣規(guī)定的。第一百二十一頁(yè)，共412頁(yè)。5.6承壓設(shè)備用鋼螺栓坯件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)修改概況：增加了徑向檢測(cè)對(duì)比試塊。5.6.1范圍5.6.1.1本條適用于直徑大于等于M36的承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼螺栓坯件進(jìn)行超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)。5.6.1.2奧氏體鋼螺栓坯件的超聲檢測(cè)參照本條執(zhí)行，質(zhì)量分級(jí)按本條。解釋：2005版為不適用。修改主要是基于奧氏體不銹鋼螺栓坯件晶粒不像焊縫金屬那樣粗大，且尺寸一般也不大。5.6.2檢測(cè)原則檢測(cè)一般應(yīng)安排在熱處理后進(jìn)行，檢測(cè)面的表面粗糙度≤6.3μm。5.6.3探頭選用采用2MHz～5MHz的單晶直探頭或雙晶直探頭。第一百二十二頁(yè)，共412頁(yè)。5.6.4對(duì)比試塊5.6.4.1單晶直探頭軸向檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的尺寸和形狀應(yīng)符合5.5.4.3的規(guī)定。5.6.4.2雙晶直探頭軸向檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的尺寸和形狀應(yīng)符合5.5.4.4的規(guī)定。5.6.4.3徑向檢測(cè)時(shí)，應(yīng)盡可能選擇晶片尺寸較小的探頭。當(dāng)螺栓坯件曲率半徑小于100mm時(shí)，應(yīng)采用圖8和表12所示曲面對(duì)比試塊形狀和尺寸。解釋：

2005版標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試塊與鍛件相同，實(shí)用性較差?，F(xiàn)參考有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，增加了檢測(cè)螺栓坯件曲率半徑小于100mm時(shí)的對(duì)比試塊，更具可操作性。第一百二十三頁(yè)，共412頁(yè)。第一百二十四頁(yè)，共412頁(yè)。5.6.5靈敏度的確定5.6.5.1單晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定軸向檢測(cè)時(shí)，使用CS-2試塊，根據(jù)檢測(cè)范圍依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的φ2mm平底孔（至少3個(gè)），制作單晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度；徑向檢測(cè)時(shí)，使用CS-2試塊或圖8所示試塊，根據(jù)檢測(cè)范圍或曲率半徑依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的φ2mm平底孔，制作單晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。第一百二十五頁(yè)，共412頁(yè)。5.6.5.2雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定軸向檢測(cè)時(shí)，使用CS-3試塊，根據(jù)檢測(cè)范圍依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的φ2mm平底孔（至少3個(gè)）。制作雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。徑向檢測(cè)時(shí)，使用CS-3試塊或圖8所示試塊，根據(jù)檢測(cè)范圍或曲率半徑依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的φ2mm平底孔。制作雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。5.6.5.3掃查靈敏度一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。第一百二十六頁(yè)，共412頁(yè)。5.6.6檢測(cè)5.6.6.1耦合方式耦合方式一般可采用直接接觸法。5.6.6.2靈敏度補(bǔ)償檢測(cè)時(shí)應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行耦合補(bǔ)償、衰減補(bǔ)償和曲面補(bǔ)償。5.6.6.3掃查方式5.6.6.3.1徑向檢測(cè)應(yīng)按螺旋線或沿圓周進(jìn)行掃查，行程應(yīng)有重疊，掃查面應(yīng)包括整個(gè)圓柱表面。5.6.6.3.2軸向檢測(cè)一般應(yīng)從螺栓坯件的兩端面進(jìn)行掃查，盡可能避免邊緣效應(yīng)對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。第一百二十七頁(yè)，共412頁(yè)。5.6.7缺陷當(dāng)量的確定一般采用距離-波幅曲線確定缺陷當(dāng)量。5.6.8質(zhì)量分級(jí)5.6.8.1單個(gè)缺陷的質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表13。5.6.8.2由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表14。5.6.8.3按表13和表14評(píng)定缺陷等級(jí)時(shí)，應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。5.6.8.4當(dāng)缺陷被檢測(cè)人員判定為白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷時(shí)，螺栓坯件的質(zhì)量等級(jí)為V級(jí)。第一百二十八頁(yè)，共412頁(yè)。解釋：?jiǎn)蝹€(gè)缺陷質(zhì)量分級(jí)基本沒(méi)變化，除了φ5改成φ4+6dB，這是由于沒(méi)有φ5mm的平底孔試塊。由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級(jí)有修改，與鍛件相同。第一百二十九頁(yè)，共412頁(yè)。5.7承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)修改概況：基本沒(méi)變，有些小的修改，主要是細(xì)化了有關(guān)規(guī)定。5.7.1范圍5.7.1.1本條適用于承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件及奧氏體-鐵素體雙相不銹鋼鍛件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)。5.7.1.2承壓設(shè)備用鎳合金鍛件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)參照本條執(zhí)行。5.7.2檢測(cè)原則5.7.2.1鍛件原則上應(yīng)在熱處理后，加工成適合檢測(cè)外形時(shí)，并在精加工前進(jìn)行超聲檢測(cè)。5.7.2.2檢測(cè)面粗糙度≤6.3μm，檢測(cè)面應(yīng)無(wú)氧化皮、漆皮、污物等。5.7.2.3一般應(yīng)進(jìn)行直探頭縱波檢測(cè)。對(duì)筒形鍛件和環(huán)形鍛件還應(yīng)進(jìn)行斜探頭檢測(cè)。第一百三十頁(yè)，共412頁(yè)。5.7.3探頭5.7.3.1探頭的標(biāo)稱頻率為1MHz～2.