標準解讀

《GB/T 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法》是一項國家標準，旨在為通過透射電子顯微鏡（TEM）圖像分析方法測定多相體系內(nèi)納米顆粒的尺寸提供指導(dǎo)。該標準適用于各種類型的納米材料，包括但不限于金屬、陶瓷和聚合物等，在不同介質(zhì)如液體或固體基質(zhì)中的應(yīng)用。

根據(jù)此標準，首先需要準備樣品，并確保其適合于TEM觀察。這通常涉及到將待測樣品制備成足夠薄的切片或者分散在支持膜上，以便電子束能夠穿透并形成清晰的圖像。接著使用透射電子顯微鏡獲取高質(zhì)量的圖像。對于圖像采集而言，重要的是選擇合適的放大倍數(shù)以保證可以準確區(qū)分單個納米顆粒及其邊界。

在獲得TEM圖像后，接下來是關(guān)鍵的數(shù)據(jù)處理步驟。利用專門軟件對所拍攝到的納米顆粒進行識別與勾勒，然后計算每個顆粒的最大直徑作為其粒徑值。此外，還需要統(tǒng)計分析所有測量得到的粒徑數(shù)據(jù)，比如計算平均粒徑、標準偏差等參數(shù)來描述樣本的整體特征。

該標準還強調(diào)了實驗過程中需要注意的一些事項，例如避免樣品污染、保持良好的儀器校準狀態(tài)以及采用適當?shù)膶Ρ榷日{(diào)節(jié)技術(shù)等，這些都是為了提高測試結(jié)果的準確性與可靠性。同時，也提到了如何報告最終結(jié)果，包括詳細記錄實驗條件、使用的具體方法及任何可能影響結(jié)果的因素。


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....

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  • 2022-12-30 頒布
  • 2023-07-01 實施
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GB/T 42208-2022納米技術(shù)多相體系中納米顆粒粒徑測量透射電鏡圖像法-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS1718001

CCSN.33.

中華人民共和國國家標準

GB/T42208—2022

納米技術(shù)多相體系中納米顆粒粒徑測量

透射電鏡圖像法

Nanotechnologies—Measurementofnanoparticlesizeinmultiphasesystem—

Imagemethodoftransmissionelectronmicrosopy

2022-12-30發(fā)布2023-07-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T42208—2022

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

原理

4………………………2

概述

4.1…………………2

透射電子顯微鏡的成像原理

4.2………………………2

圖像處理

4.3……………2

樣品

5………………………2

樣品要求

5.1……………2

樣品制備方法

5.2………………………2

試驗步驟

6…………………3

總體要求

6.1……………3

裝樣

6.2…………………3

儀器準備

6.3……………3

圖像的獲取

6.4…………………………4

粒徑測量

7…………………4

概述

7.1…………………4

圖像分析

7.2……………4

結(jié)果表示

7.3……………5

測量不確定度

8……………5

測試報告

9…………………5

附錄資料性固態(tài)金屬多相體系實例

A()………………7

附錄資料性納米復(fù)合材料實例

B()……………………10

參考文獻

……………………13

Ⅰ

GB/T42208—2022

前言

本文件按照標準化工作導(dǎo)則第部分標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責任

。。

本文件由中國科學(xué)院提出

。

本文件由全國納米技術(shù)標準化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC279)。

本文件起草單位國家納米科學(xué)中心國標北京檢驗認證有限公司北京市科學(xué)技術(shù)研究院分析

:、()、

測試研究所北京市理化分析測試中心深圳市德方納米科技股份有限公司中國計量大學(xué)北京粉體

()、、、

技術(shù)協(xié)會

。

本文件主要起草人常懷秋付新齊笑迎李婷杜志偉白露韓小磊高原鄭強孫言張淑琴

:、、、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T42208—2022

引言

納米材料由于表面效應(yīng)量子尺寸效應(yīng)體積效應(yīng)和量子隧道效應(yīng)等使材料表現(xiàn)出傳統(tǒng)固體不具

、、,

有的化學(xué)電學(xué)磁學(xué)光學(xué)等特異性能同時受到尺寸的限制納米材料單獨使用的場合有限往往存

、、、。,,,

在于材料基體中形成多相體系來增加整個材料特性

,。

由于納米顆粒粒徑較小比表面積較大表面能較大極易團聚致使其在多相體系中很難表征和評

、、,,

價而透射電子顯微鏡是采用透過薄膜樣品的電子束成像來顯示樣品內(nèi)部形態(tài)與結(jié)構(gòu)的一種表征設(shè)

。

備它不僅可以觀察樣品微觀形態(tài)還可以對所觀察區(qū)域的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行表征因此透射電鏡配合圖

。,。

像分析技術(shù)可進行納米顆粒在多相體系中的粒徑測量

。

對多相體系中納米顆粒的粒徑測量在優(yōu)化材料結(jié)構(gòu)改善材料的性能方面有著極大的促進作

,,

用對推動納米材料的應(yīng)用和發(fā)展具有重要的意義

,。

Ⅳ

GB/T42208—2022

納米技術(shù)多相體系中納米顆粒粒徑測量

透射電鏡圖像法

1范圍

本文件描述了利用透射電子顯微鏡圖像處理和分析技術(shù)進行納米顆粒在多相體系中分散的粒徑測

量方法

。

本文件適用于固相多相體系中納米顆粒的粒徑測量和粒徑分布

。

本文件也適用于在樣品制備滿足透射電子顯微鏡觀察要求時的膠體和生物組織中納米顆粒粒徑

測量

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

粒度分析圖像分析法第部分靜態(tài)圖像分析法

GB/T21649.11:

納米科技術(shù)語第部分納米結(jié)構(gòu)材料

GB/T30544.44:

3術(shù)語和定義

界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T30544.4。

31

.

納米顆粒nanoparticles

粒度為范圍的固體顆粒

1nm~1

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