與可靠性試驗(yàn)有關(guān)的幾個(gè)問題

與可靠性試驗(yàn)有關(guān)的幾個(gè)問題第1頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第7章可靠性試驗(yàn)第2頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第7章

可靠性試驗(yàn)

p.149

7.1

可靠性試驗(yàn)的分類及內(nèi)涵p.149

7.1.1

可靠性試驗(yàn)的分類

p.149

7.1.2

可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)和失效分析試驗(yàn)

150

7.1.3

老煉試驗(yàn)和篩選試驗(yàn)p.

150

7.1.4

模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)

p.150

7.1.5

例行試驗(yàn)、質(zhì)量一致性檢驗(yàn)和可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)

p.150

7.1.6

可靠性鑒定試驗(yàn)、可靠性定級(jí)試驗(yàn)和可靠性維持試驗(yàn)

p.151

7.2

環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械試驗(yàn)和電磁試驗(yàn)的主要內(nèi)容與目的[9]

151

7.2.1

環(huán)境試驗(yàn)

p.151

7.2.2

機(jī)械試驗(yàn)

p.154

7.2.3

靜電放電敏感度試驗(yàn)

p.156第3頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第4頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第5頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第6頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第7頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第8頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第9頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第10頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第11頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第12頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第13頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第14頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第15頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第16頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第17頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第18頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第19頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第20頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第21頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第22頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第23頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第24頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第25頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第26頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第27頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月可靠性試驗(yàn)?zāi)康目煽啃栽囼?yàn)條件實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)可靠性試驗(yàn)方式工程試驗(yàn)、統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)一、可靠性篩選試驗(yàn)1、定義為選擇具有一定特性的產(chǎn)品，或剔除早期失效，而對(duì)100%元件進(jìn)行的一種或幾種試驗(yàn)稱為可靠性篩選試驗(yàn)。應(yīng)該做到：基本的可靠性試驗(yàn);第28頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月2、可靠性篩選特點(diǎn)3、可靠性篩選效果指標(biāo)可靠性篩選效率可靠性篩選淘汰率4、可靠性篩選分類（1）按篩選性質(zhì)分類有檢查篩選、密封性篩選、環(huán)境應(yīng)力篩選、壽命篩選。（2）按生產(chǎn)過程分類有生產(chǎn)線工藝篩選、成品篩選、裝配調(diào)試篩選第29頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月5、可靠性篩選項(xiàng)目確定運(yùn)用可靠性試驗(yàn)與可靠性篩選摸底試驗(yàn)積累經(jīng)驗(yàn)，確定各種元器件失效形式和篩選項(xiàng)目之間的關(guān)系，從而可以根據(jù)不同產(chǎn)品不同的失效形式（失效部件、失效機(jī)理）選擇不同的篩選手段（方式、項(xiàng)目）達(dá)到篩選的目的。6、可靠性篩選應(yīng)力選擇與篩選時(shí)向確定通過可靠性摸底試驗(yàn)，建立應(yīng)力和失效率的關(guān)系曲線。第30頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月可靠產(chǎn)品統(tǒng)計(jì)得到的正?？煽慨a(chǎn)品平均失效應(yīng)力遠(yuǎn)大于不可靠產(chǎn)品平均使用應(yīng)力，而篩選應(yīng)力應(yīng)適當(dāng)在兩者之間。在確定了應(yīng)力之后，還應(yīng)確定篩選時(shí)間，其原則是：盡可能多地剔除早期失效元件。即P（ξ>Ts）=α式中：ξ——具有早期失效的元件的壽命；Ts——擬選定的篩選時(shí)間；α——概率值取0.001或0.0001等小數(shù)。特殊要求的元件α可以更小。第31頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月二、可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)三、加速壽命試驗(yàn)四、可靠性測(cè)定試驗(yàn)五、可靠性鑒定試驗(yàn)六、可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)第32頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月3.典型的IC測(cè)試和可靠性檢查過程

下面簡(jiǎn)單介紹一下典型的測(cè)試和檢查過程。需要說明的是，這里的描述非常通用，每個(gè)具體產(chǎn)品都應(yīng)該與特定的芯片制造商討論，作出測(cè)試進(jìn)程的詳細(xì)描述，明確通過何種級(jí)別篩選過的器件可以被接收。

(1)圓片測(cè)試(wafersort)

圓片測(cè)試是對(duì)圓片上的每個(gè)管芯作簡(jiǎn)單的電學(xué)測(cè)試，不合格的管芯用墨水做上記號(hào)，以便在管芯被劃開之后可以挑出并拋棄。

(2)管芯目檢

(dievisual)

圓片測(cè)試后，余下電學(xué)上合格的管芯通過目檢檢查金屬上是否有劃痕，管芯邊緣是否有碎片或裂紋，壓焊塊上是否有鈍化物等。任何通不過這種檢查的管芯也將被拋棄。第33頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月

(3)密封前目檢

(pre-sealvisual)

一旦管芯被裝配到管殼內(nèi)并將焊絲壓焊好后，在包封前要對(duì)連接后的情況進(jìn)行目檢。這主要是檢查焊絲壓焊、管芯粘貼是否有問題，芯片是否有損傷，管腔或管腳上是否有異物等。

(4)管芯粘貼測(cè)試

(dieattach)

包封前要抽出一批樣品測(cè)試管芯粘貼的強(qiáng)度。它是用工具在管芯上施加一個(gè)剪切力，使管芯從管腔中脫開。這是一種毀壞性試驗(yàn)，用來測(cè)量管芯粘貼的完整性。第34頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月

芯片失效通常是由于臂芯下面有空隙或管芯與管腔底部粘貼質(zhì)量不好而造成的。管芯粘貼不好會(huì)使從管芯到管腔的熱阻增加，管芯散熱不好而導(dǎo)致芯片溫度偏高。最壞情況下，管芯與管腔間的粘貼變松，導(dǎo)致壓焊絲被拉斷。

(5)壓焊強(qiáng)度測(cè)試

(leadbondstrength)

包封前抽出一批樣品，用工具加力使焊絲脫落。這是一種破壞性的試驗(yàn)，用來測(cè)量焊絲壓焊的壓焊強(qiáng)度。第35頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月

(6)穩(wěn)定性烘焙

(stabilizationbake)

在不加電的情況下，將電路放置在150℃的烤箱中進(jìn)行烘焙，使得芯片表面游離的離子重新分布。以達(dá)到穩(wěn)定性能的目的。

(7)溫度循環(huán)測(cè)試

(temperaturecycle)

在不加電的情況下，交替地加熱和冷卻電路。這種熱沖擊將使處于臨界故障的封裝破裂，存在管芯粘貼故障的管芯從管腔脫落等。

(8)持續(xù)加速度測(cè)試

(constantacceleration)

將密封前的電路放在離心力相當(dāng)于30000倍的重力下測(cè)試，這項(xiàng)測(cè)試主要是檢測(cè)焊絲壓焊、封裝和管芯粘貼的完整性。第36頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月

(9)滲漏測(cè)試

(leaktest)

這項(xiàng)測(cè)試是在不加電條件下，針對(duì)陶瓷昔腔封裝的電路進(jìn)行的。電路放置在高壓氦氣環(huán)境中，氦氣通過管殼的針孔或裂縫滲人管腔內(nèi)，然后再將電路放到真空室中，通過一個(gè)分光計(jì)測(cè)量從管腔中漏出的氮?dú)獗嚷省＿@項(xiàng)測(cè)試的目的是檢查封裝的完整性，消除電路可能在高濕度環(huán)境下的失效。

(10)老化前電測(cè)試

(pre-burn-inelectricaltest)

在25℃下對(duì)電路進(jìn)行完整的功能測(cè)試。第37頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月

(11)高低溫電測(cè)試(highandlowtemperatureelectricaltest)

這是在指定的高溫和低溫下對(duì)電路進(jìn)行完整的功能測(cè)試。如果不再進(jìn)行老化，這將是最后的電測(cè)試。

(12)高溫老化

(burn-in)

在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)，在125℃下對(duì)電路進(jìn)行電沖擊測(cè)試。這個(gè)過程可以加速失效率，使得處于臨界狀態(tài)的電路在老化期間失效。第38頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月

(13)老化后電測(cè)試

(post-burn-inelectricaltest)

這是一項(xiàng)在25℃下對(duì)老化后的電路進(jìn)行完整的功能測(cè)試。該項(xiàng)測(cè)試可以剔除在老化過程中失效和參數(shù)值不符合接收規(guī)范的電路。

(14)外觀目檢

(externalvisual)

這項(xiàng)是最后的目檢。目的是保證封裝后引腳和標(biāo)記沒有缺陷。第39頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月4.二次篩選中電子元器件的可靠性保障廖光朝中國(guó)航天科工集團(tuán)元器件可靠性中心О六一基地分中心,遵義563003《電子測(cè)試》2007年第6期頁數(shù):共4頁頁碼范圍:68-70頁,77頁第40頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月摘要:二次篩選是電子元器件在裝機(jī)使用前可靠性的重要保障過程,從環(huán)境、操作、靜電防護(hù)、失效分析與破壞性物理分析等方面做好電子元器件的可靠性保障工作,可以避免電子元器件的更多失效和在裝機(jī)使用后因有隱患而造成失效問題。本文對(duì)這些問題進(jìn)行了深入思考和探索,提出了一些可靠性相關(guān)保障措施。第41頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第42頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月1.環(huán)境對(duì)電子元器件可靠性的影響第43頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第44頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月2.靜電防護(hù)第45頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第46頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第47頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第48頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第49頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第50頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第51頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月3.破壞性物理分析（DPA）和失效分析（FA）在電子元器件可靠性保障中的作用第52頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第53頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第54頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第55頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第56頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第57頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月4.其他人為因素造成的影響第58頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第59頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月5.小結(jié)第60頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第61頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第62頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第63頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第64頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月5.電子元器件的可靠性篩選第65頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2023年2月第66頁，課件共76頁，創(chuàng)作于2