(完整版)RF測試過程與方法

RF測試過程與方法學(xué)生：龔明晶圓級RF參數(shù)測試是用頻率6GHz的大鐵盒子ATE用MTK提供的ATE工具進(jìn)行自動測試，也可以用手動測試。手動測試過程如下（測試儀器為8960）GSM測試項目發(fā)射機(jī)功率時域發(fā)射功率圖相位誤差與頻率誤差輸出RF頻譜快速BERBERIQ調(diào)整發(fā)射機(jī)功率1、與手機(jī)建立呼叫2、按下MeasurementSelection鍵3、選擇TransmitPower測試項目4、按下TransmitPowerSetup（F1）鍵5、設(shè)置測試參數(shù)包括：MeasurementTimeout=5.0S說明：上圖顯示了一個典型的測試結(jié)果按下CallSetup鍵，查看SACCH報告窗口，將其中手機(jī)報告給基站的發(fā)射功率與實際測試到的發(fā)射功率相比較時域發(fā)射功率圖1、與手機(jī)建立呼叫8、輸入Offset值注意：Offset是相對與一個普通突發(fā)脈沖串第0比特的位移，如果想要得到第0比特之前的測試點的測試結(jié)果，可以輸入一個負(fù)值9、按下CloseMenu（F6）鍵圖中左下角有一個全局Pass/Fail的標(biāo)志F1相位誤差與頻率誤差1、與手機(jī)建立呼叫7、按下Graph（）鍵進(jìn)入峰值相位誤差圖率誤差的測試結(jié)果用紅色顯示，表示測試結(jié)果存在某部分未達(dá)到要求上圖是放大了的相位與頻率誤差圖，橫坐標(biāo)軸設(shè)置為從100比特到120比特，縱坐標(biāo)軸的參考點設(shè)置為5度，間隔為1度Marker的位置設(shè)置設(shè)置為112比特，Marker位置的相位頻率誤差信息顯示在圖的頂部。1、與手機(jī)建立呼叫6、設(shè)置測試參數(shù)7、按下ModulationSetup（）鍵，進(jìn)行ORFSduetoModulation的頻率Offset設(shè)置、按下SwitchingSetup（F2ORFSduetoSwitching的頻率Offset設(shè)置9、按下CloseMenu（F6）鍵10、按下ReturntoORFSControl（F6）鍵11、按下Change（F6）鍵12、按下ModulationNumeric1（）鍵注意上圖中的結(jié)果是以dB30kHzBWPower而計算出的。13、按下SwitchingNumeric（F4）鍵14Graph（Modulation（BarGraph方式顯示的ORFSduetoModulation上圖中的結(jié)果是以BarGraph方式表示的，每一個黃色的Bar表示在不同的頻率Offset上測試的結(jié)果，中心頻率用白色的垂直直線表示。圖中藍(lán)色的線表示相對限制范圍，綠色的線表示絕對限制范圍。15Switching（F2BarGraph方式顯示ORFSduetoSwitching上圖中的結(jié)果是以BarGraphBar表示在不同的頻率Offset上測試的結(jié)果，中心頻率用白色的垂直直線表示。16、按下ModulationandSwitching（F3）鍵可以同時顯示兩種圖形17、使用MeasurementSetup菜單，將LimitSource設(shè)置為Manual，這時可以按下Modulation（F4Switching（）對測試限制范圍進(jìn)行設(shè)置。如上圖所示，按下CellPower（F7）鍵，緩慢降低功率，可以從圖中看出CellPower對FastBitErrorRate的影響。如上圖所示，按下CellPower（F7）鍵，緩慢降低功率，可以從圖中看出CellPower對BitErrorRate的影響。注意：進(jìn)行此項測試時，手機(jī)必須設(shè)置為測試狀態(tài)且傳送的數(shù)據(jù)為全0”全1”1、與手機(jī)建立呼叫2、按下MeasurementSelection鍵3、選擇IQTuning測試項目4、按下右邊的More鍵，切換到CallParams（3of4）菜單5、按下ReceiverControl（F7）鍵，設(shè)置為Manual模式6、按下IQTuning（F1）鍵7、設(shè)置測試參數(shù)包括：Multi-MeasurementCount=50TriggerSource=Immediate8、開機(jī)并設(shè)置為發(fā)送一個全0”序列注意：如圖所示，當(dāng)手機(jī)發(fā)送一個全0”序列時，載波位移為+67.708kHz9、改變手機(jī)設(shè)置為發(fā)送一個全1”序列注