X射線衍射法探究碳纖維復(fù)合材料界面應(yīng)力分布

北京理工大學(xué)珠海學(xué)院2020屆本科生畢業(yè)論文X射線衍射法探究碳纖維復(fù)合材料界面應(yīng)力分布X射線衍射法探究碳纖維復(fù)合材料界面應(yīng)力分布摘要?dú)堄鄳?yīng)力會(huì)使碳纖維復(fù)合材料的穩(wěn)定性降低，而且會(huì)提高碳纖維復(fù)合材料后續(xù)工序難度。因此，研究界面應(yīng)力分布有利于減小由碳纖維復(fù)合材料局部應(yīng)力過大發(fā)生事故的概率，分析碳纖維復(fù)合材料應(yīng)力分布有助于預(yù)防其失效。所以研究碳纖維復(fù)合材料界面意義十分明顯。本文據(jù)此提出利用X射線衍射法來進(jìn)行探究。本文理論部分先簡明扼要地講述了X射線自發(fā)現(xiàn)以來一百多年的發(fā)展歷程，然后闡述了X射線衍射法測定應(yīng)力的物理原理，其中利用了布拉格方程及廣義胡克定律，同時(shí)也講述了實(shí)驗(yàn)測定方法。實(shí)驗(yàn)部分先對試樣進(jìn)行相關(guān)力學(xué)參數(shù)，然后進(jìn)行X射線衍射實(shí)驗(yàn)，最后得出對于結(jié)晶度較低的碳纖維復(fù)合材料而言，X射線衍射法的測定效果并不理想的結(jié)論，并提出試樣結(jié)晶度與X射線衍射結(jié)晶峰二者關(guān)系的進(jìn)一步探究性實(shí)驗(yàn)。關(guān)鍵詞：碳纖維復(fù)合材料；界面應(yīng)力；X射線衍射StudyonInterfaceStressDistributionofCarbonFiberCompositebyX-rayDiffractionAbstractTheresidualstresswillreducethestabilityofthecarbonfibercompositeandincreasethedifficultyofthesubsequentprocess.Therefore,thestudyofinterfacestressdistributionisconducivetoreducetheprobabilityofaccidentscausedbyexcessivelocalstressofcarbonfibercomposite,andtheanalysisofstressdistributionofcarbonfibercompositeishelpfultopreventitsfailure.Soitissignificanttostudytheinterfaceofcarbonfibercomposite.Inthispaper,X-raydiffractionmethodisproposed.Inthetheoreticalpartofthispaper,thedevelopmentcourseofX-rayinmorethan100yearssinceitsdiscoveryisbrieflydescribed,andthanthephysicalprincipleofmeasuringstressbyX-raydiffractionmethodisdescribed,inwhichBraggequationandgeneralizedHooke’slawareused,aswellasexperimentalmeasurementmethod.Intheexperimentalpart,themechanicalparametersofthesamplewerefirstlytested,thentheX-raydiffractionexperimentwascarriedout.Finally,theconclusionthatthemeasurementeffectofX-raydiffractionisnotidealforcarbonfibercompositewithlowcrystallinitywasdrawn,andthefurtherexploratoryexperimentoftherelationshipbetweenthecrystallinityofthesampleandcrystalpeakofX-raydiffractionwasputforward.Keywords:Carbonfibercomposite;Interfacestress;X-raydiffraction目錄TOC\o"1-3"\h\u5206373111引言 引言X射線衍射技術(shù)是目前研究晶體結(jié)構(gòu)非常有力的方法，它能夠反映物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)信息。同時(shí)其又因?yàn)槟軣o損地測定材料的殘余應(yīng)力，所以被利用于探究材料性能。對于新一代材料家族而言，碳纖維復(fù)合材料扮演了重要角色，故碳纖維復(fù)合材料的殘余應(yīng)力測定也隨之顯得十分必要。因此，利用X射線衍射技術(shù)來測定碳纖維復(fù)合材料的殘余應(yīng)力便成為一有趣課題。1.1X射線衍射技術(shù)的發(fā)展1895年倫琴發(fā)現(xiàn)一種此前未知的射線，因此命名為X射線；1912年，勞厄發(fā)現(xiàn)這種射線在晶體中的衍射現(xiàn)象；這一年，小布拉格提出了布拉格方程來解釋X射線在晶體中產(chǎn)生衍射現(xiàn)象的原因；次年，其父親老布拉格發(fā)現(xiàn)特征X射線[1]。由此，X射線衍射測定晶體結(jié)構(gòu)的技術(shù)打開了一扇大門，這扇門通向了曾經(jīng)被認(rèn)為神秘莫測的原子分子微觀結(jié)構(gòu)的世界，使科學(xué)從宏觀到微觀，提高到一個(gè)新的水平，進(jìn)入到一個(gè)新的領(lǐng)域。100多年以來，X射線衍射技術(shù)得到長足的發(fā)展。二十世紀(jì)二十年代到四十年代期間，對于單晶體衍射，陸續(xù)發(fā)展出了轉(zhuǎn)晶相機(jī)、魏森堡相機(jī)以及旋進(jìn)相機(jī)，這三者當(dāng)中魏森堡相機(jī)的利用最為廣泛。值得一提的是，在此期間小布拉格于1929年首次實(shí)現(xiàn)了電子密度分布二維投影的傅立葉分析。對于粉末衍射，其實(shí)驗(yàn)裝置的基本部件與單晶體衍射是相似的，不過構(gòu)造不同，因?yàn)樾枰岣叻直媛?，所以發(fā)展出聚焦照相機(jī)。西曼-包林聚焦相機(jī)便由此誕生。后來，紀(jì)尼葉等將晶體單色器與西曼-包林聚焦相機(jī)結(jié)合起來，通過提高X射線單色性來提高分辨率。另外值得一提的是，著名的聯(lián)系衍射線寬度和晶粒尺寸的謝樂公式也是于此期間提出的。到了40年代后期至70年代后期，以往X射線探測器使用底片的照相機(jī)的情況被改變，取而代之的是計(jì)數(shù)器的使用。最早使用的計(jì)數(shù)器是蓋革計(jì)數(shù)器，緊跟著的是正比計(jì)數(shù)器及閃爍計(jì)數(shù)器。并且電子學(xué)的發(fā)展也使儀器的工作運(yùn)行逐步走向自動(dòng)化。同樣，對于單晶體衍射，發(fā)展出了歐拉幾何四圓衍射儀以及κ軸四圓衍射儀。它們的核心是四圓測角器，單晶位于測角器的中心，其可繞三個(gè)軸轉(zhuǎn)動(dòng)，且可使入射線與任何一個(gè)晶面族的法線共面。對于粉末衍射，由Lindemann和Friedman設(shè)計(jì)出匹配計(jì)數(shù)器使用的準(zhǔn)聚焦粉末衍射儀。同時(shí)，由于電子學(xué)的日益進(jìn)步及計(jì)數(shù)器的使用，衍射測量準(zhǔn)確性的提高十分顯著，也使得定量分析有較快的發(fā)展。1948年直到70年代末，先后出現(xiàn)了內(nèi)標(biāo)法、外標(biāo)法、參考強(qiáng)度比法、絕熱法和無標(biāo)法等。八十年代以后，計(jì)算機(jī)的廣泛應(yīng)用又使X射線衍射技術(shù)得到極大發(fā)展。衍射儀配上計(jì)算機(jī)如有神助，使衍射儀的自動(dòng)化程度大大提高，而且，數(shù)據(jù)處理也實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化。同時(shí)可以方便快捷地用較嚴(yán)格和復(fù)雜的數(shù)學(xué)和方法處理衍射數(shù)據(jù)（如平滑、尋峰、扣除背底等）。計(jì)算機(jī)時(shí)代還可以建立數(shù)據(jù)庫與做數(shù)據(jù)檢索，使物相鑒定更加快捷方便。本世紀(jì)初至今，又發(fā)展了同步輻射光源的X射線衍射以實(shí)現(xiàn)高分辨X射線衍射、共振衍射及高速攝譜技術(shù)等等。另外，計(jì)數(shù)器也得到較大發(fā)展，不同以往的點(diǎn)探測器，而發(fā)展出陣列探測器等等[2]。1.2X射線衍射技術(shù)在力學(xué)領(lǐng)域的發(fā)展最早在1929年由前蘇聯(lián)學(xué)者Akcehob提出，應(yīng)力信息可通過X射線衍射法測量應(yīng)變得出。到了1961年，德國學(xué)者M(jìn)acherauch提出sin2φ法以后，該方法逐漸成為這個(gè)領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)方法。然而，盡管該方法在金屬材料中已有很成熟的發(fā)展，但由于復(fù)合材料自身性質(zhì)的特殊緣故，將X射線衍射法應(yīng)用于碳纖維復(fù)合材料的殘余應(yīng)力檢測，會(huì)出現(xiàn)新的測試問題。早在1963年，在日本學(xué)術(shù)振興會(huì)議（JSPS）上就規(guī)定了使用X射線衍射法測定碳材料尤其是石墨化材料的晶格常數(shù)和顆粒尺寸的標(biāo)準(zhǔn)流程。2004年，日本學(xué)者Iwashita等詳細(xì)說明了新修訂的測試流程，并分別給出了若干個(gè)晶面對應(yīng)的衍射角度。Nishino等使用X射線衍射方法研究了單向碳纖維復(fù)合材料（CFRP）材料中碳纖維應(yīng)力的傳遞現(xiàn)象。為了找到確切的衍射角度，測試前他們首先測量了CFRP材料的X射線衍射峰，并選擇不受非晶環(huán)（2θ≈18°）影響的具有更高衍射角（2θ=53.5°）的（004）面作為測量面。而在大多數(shù)聚合物復(fù)合材料中，由于在較高衍射角度范圍不能產(chǎn)生令人滿意的衍射峰，導(dǎo)致X射線衍射方法測量殘余應(yīng)力不能得到廣泛推廣。其中一種解決辦法是在復(fù)合材料制備固化前摻雜金屬顆粒，比如Al,Ag等，通過使用X射線衍射法測量這些金屬顆粒的殘余應(yīng)力和應(yīng)變，間接得到復(fù)合材料中的殘余應(yīng)力和應(yīng)變信息。這種方法是Predecki和Barrett在1978年首次提出的2X射線衍射技術(shù)的物理原理2.1布拉格方程如圖2.1，單色X射線（紅色箭頭線）以夾角θ入射到晶面（黑色水平線）上,晶面間距為d,故兩者光程差為BD+BF，根據(jù)簡單的幾何知識可得其為2dsinθ,又由波的干涉理論可知當(dāng)光程差為波長（此處波長設(shè)為λ）的整數(shù)倍時(shí)，發(fā)生干涉相長亦即nλ=2dsinθ圖2.1布拉格方程的推導(dǎo)2.2X射線衍射測定應(yīng)力的物理原理按照彈性力學(xué)理論，在宏觀各向同性多晶體材料的Ο點(diǎn)（見圖2.2）由?和Ψ確定的OP方向上的應(yīng)變可以用如下公式表述：ε1+ν1+υE(τ式中：ε?ψ{?kl}為材料的O點(diǎn)上由ν為泊松比；E為楊氏模量；σ11，στ12為O點(diǎn)以S1為法線的平面上τ13為O點(diǎn)以S1為法線的平面上τ23為O點(diǎn)以S2為法線的平面上記應(yīng)力分量σ?為S?方向上正應(yīng)力，τ?σ?=(στ?=(τ故簡化（2）式為ε?ψ圖2.2因?yàn)閄射線穿透深度及樣品形貌僅考慮平面應(yīng)力狀態(tài)，故τ13ε?ψ（6）式表明試樣O點(diǎn)?方向的正應(yīng)力σ?與晶格應(yīng)變ε?ψ{?kl}σ?下面來通過布拉格方程求應(yīng)變，對（1）式兩邊微分(單色X射線波長λ不變并改記θ為θ?ψ0=2化簡并整理（8）式得到：Δd故（9）式左邊即可認(rèn)為是晶格應(yīng)變ε?ψσ?式中K稱為應(yīng)力常數(shù)，其表達(dá)式為：Κ=其中斜率?2θ2.3X射線衍射測定應(yīng)力的實(shí)驗(yàn)方法依據(jù)2.2，使用X射線衍射裝置在指定的?角方向和若干ψ角之下分別測定衍射角2θ?ψ即可求得M，再根據(jù)樣品應(yīng)力常數(shù)K即可求得應(yīng)力?；诂F(xiàn)有X射線衍射裝置種類繁多，其應(yīng)力測定實(shí)驗(yàn)方法也十分多樣，常見的有同傾固定ψ0法、同傾固定ψ法、側(cè)傾法、雙線陣探測器測傾法、側(cè)傾固定ψ法、粗晶材料擺動(dòng)法等等。在此僅介紹同傾固定圖2.3應(yīng)力儀的基本結(jié)構(gòu)圖2.3按照應(yīng)力儀的基本結(jié)構(gòu)標(biāo)明了試樣表面法線、入射角ψ、衍射角2θ、衍射晶面方位角、衍射晶面法線、ηO為測試點(diǎn)；OZ為O點(diǎn)試樣表面法線；X為X射線管；D為探測器；ψ2θψ為衍射晶面所處的方位角；ON為衍射晶面的法線，即入射線與衍射線的角平分線；η=(180°?2θ)/2OX為應(yīng)力方向；1為應(yīng)力方向平面(ψ平面)；2為衍射峰；圖2.4X射線衍射儀的有關(guān)坐標(biāo)系及角度關(guān)系圖2.4根據(jù)衍射儀的結(jié)構(gòu)和原理，給出了實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系和試樣坐標(biāo)系兩者的角度關(guān)系。L1S1X為射線管；D為探測器；SP為試樣；θ為布拉格角；2θωR為ω?R為?χR為χ同傾法即應(yīng)力方向平面（ψ0平面）與掃描平面（2固定ψ0法即探測器工作時(shí)入射角ψ同傾固定ψ0法如圖2.3和圖2.4所示，是同傾法和固定ψ圖2.3描述的是探測器掃描的同傾固定ψ0ψ=η=2.4X射線衍射技術(shù)的數(shù)據(jù)處理方法2.4.1衍射峰半高寬依據(jù)布拉格方程，只有在嚴(yán)格的2θ角上才會(huì)出現(xiàn)衍射強(qiáng)度的極值，然而實(shí)際的衍射峰會(huì)出現(xiàn)一定程度的“寬化”。所以運(yùn)用半高寬（FWHM）這一參數(shù)來較好地揭示這一現(xiàn)象。FWHM即扣除去背底后的衍射峰在其最大強(qiáng)度一半處所占據(jù)的寬度，以度（°）為單位。在不考慮晶粒本身的問題時(shí)，單純從X射線的角度分析，影響FWHM的大小的是幾何因素。它指的是入射光束的發(fā)散程度越大，接收狹縫越寬，則FWHM越大。就物理因素而言，首先是相干散射區(qū)的大小。當(dāng)相干散射區(qū)比較大的時(shí)候，在入射線和反射線偏離布拉格角θ一個(gè)微小的Δθ的條件下，相干散射區(qū)內(nèi)各層晶面的反射矢量相加即可形成一個(gè)完整的位相而相消，所以衍射峰不會(huì)寬化；反之，如果相干散射區(qū)很小，在布拉格角θ左右一定區(qū)間里，因各層晶面反射矢量相加而無法相消而會(huì)產(chǎn)生一定的衍射振幅。這就是衍射峰寬化的本質(zhì)原因。其次微觀應(yīng)力也是一個(gè)原因，這些因素屬于材料微觀組織結(jié)構(gòu)的范疇，并顯著影響到材料的力學(xué)性能。2.4.2穿透深度修正由穿透引起的衍射峰移位可以計(jì)算出來。它首先需要對每次傾斜的信息深度（加權(quán)平均穿透深度）進(jìn)行計(jì)算。根據(jù)下面的公式修正衍射峰位置：2θcorr厚樣品的信息深度：Z=那么衍射峰的偏移（度）：Δ2式中：μ為線性衰減系數(shù)；θ為布拉格角；（ωZ為信息深度；R為衍射測角儀半徑。2.4.3衍射峰背底校正各種不相干散射疊加構(gòu)成衍射峰的背底，其分布函數(shù)為Ib式中：IbA(ψ,2θ)為吸收因子，系ψa,b為待定常數(shù)。在采集的原始衍射曲線上衍射峰的兩側(cè)背底各取若干數(shù)據(jù)點(diǎn)，按照上式采用最小二乘法求出常數(shù)a和b，便可確定背底曲線。校正背底的方法是將原始曲線逐點(diǎn)對應(yīng)地減去背底曲線，得到純凈的布拉格衍射曲線。物質(zhì)對入射X射線的吸收作用與其吸收系數(shù)μ以及射線束穿過物質(zhì)的路程有關(guān)，；而吸收路程又與入射角ψ0以及接收反射線的角度2θA(式中：ψ=式中2θ應(yīng)認(rèn)定為接收反射線的角度（掃描角度）。在同傾法的情況下，吸收因子使衍射峰位偏高，而且隨ψ而改變，因此應(yīng)當(dāng)進(jìn)行吸收因子校正。2.4.4定峰方法半高寬法：在衍射曲線（計(jì)數(shù)I-接收角度2θ）上，將扣除背底并進(jìn)行強(qiáng)度因子校正之后的凈衍射峰最大強(qiáng)度1/2處的峰寬中點(diǎn)所對應(yīng)橫坐標(biāo)（角度）作為峰位。見圖2.5。圖2.5半高寬法定峰說明：1、2、3、4依次為原始衍射曲線、背底、凈衍射峰、峰位；拋物線法：使用最小二乘法把扣除背底后的凈衍射峰相對峰值強(qiáng)度80%以上部分的點(diǎn)擬合成一條拋物線，以拋物線的頂點(diǎn)對應(yīng)的橫坐標(biāo)值作為峰位。見圖2.6。圖2.6拋物線法定峰重心法：截取凈衍射峰的峰值20%~80%之間的部分，將之視為一個(gè)以封閉幾何圖形為輪廓的厚度均勻的板型物體，求出這個(gè)物體的重心，將其所對應(yīng)的橫坐標(biāo)作為峰位。見圖2.7。圖2.7重心法定峰此外還有交相關(guān)法、函數(shù)擬合法等等[4]。3碳纖維復(fù)合材料界面應(yīng)力分布的X射線衍射實(shí)驗(yàn)探究3.1碳纖維復(fù)合材料界面的研究意義與傳統(tǒng)的材料相比，碳纖維復(fù)合材料由于其特有的力學(xué)性能如較高的比強(qiáng)度和硬度而被越來越廣泛地應(yīng)用，且因其能有效地調(diào)整飛行器力學(xué)結(jié)構(gòu)配置，所以在航空領(lǐng)域中有重要的應(yīng)用。碳纖維復(fù)合材料的使用，可以降低航空領(lǐng)域的配置成本、減輕結(jié)構(gòu)重量，并且由于其優(yōu)良性能，也極大地改善了航空飛行器的性能。特別地，碳纖維復(fù)合材料將有望在不遠(yuǎn)的將來在航空領(lǐng)域占比更大。碳纖維復(fù)合材料的微觀結(jié)構(gòu)將直接影響到最終其性能穩(wěn)定性。研究清楚碳纖維復(fù)合材料的變形模式、載荷傳遞機(jī)理對其許多功能性質(zhì)的影響，對于提高其質(zhì)量保證其與結(jié)構(gòu)構(gòu)件的可靠性，具有基礎(chǔ)性的意義。碳纖維復(fù)合材料內(nèi)部缺陷的無損檢測方法有：X射線檢測、聲發(fā)射檢測、超聲檢測、全息攝影和渦流等[5]。配合多種檢測方法加以合適的理論分析，可以對復(fù)合材料缺陷作出較為正確的評價(jià)。特別地，碳纖維復(fù)合材料微觀結(jié)構(gòu)中，界面的作用不容小覷。界面指的是從基體到增強(qiáng)體的過渡區(qū)域，而并非僅指兩者相接觸的一個(gè)無限薄的幾何面。因?yàn)閼?yīng)力可以更好地通過這個(gè)幾何面進(jìn)行傳遞，所以其是復(fù)合材料中兩相之間互相聯(lián)系的樞紐。復(fù)合材料中纖維與基體的界面結(jié)合來自于兩者之間的作用，其結(jié)合理論有十分之多，在此不再贅述。不管何種理論，除了內(nèi)部缺陷外，在碳纖維復(fù)合材料研究中，界面應(yīng)力的研究十分必要。同時(shí)，對界面應(yīng)力進(jìn)行研究也是對以上四種理論進(jìn)行探究驗(yàn)證的重要方式。所以本文便提出來使用X射線衍射法來探究碳纖維復(fù)合材料界面應(yīng)力。本文采用如圖3.1所示樣品來探究。圖3.1碳纖維復(fù)合材料樣品3.2相關(guān)力學(xué)參數(shù)的測定據(jù)（11）式可知欲得到應(yīng)力常數(shù)K，需知道樣品的楊氏模量E和泊松比ν。本實(shí)驗(yàn)采用電子拉伸機(jī)以2mm/min的速率進(jìn)行拉伸試驗(yàn)，得到如圖3.2所示試驗(yàn)結(jié)果。根據(jù)圖中數(shù)據(jù)可求得楊氏模量E為963.792MPa。至于泊松比，因?qū)嶒?yàn)室缺少橫向引伸儀無法通過拉伸試驗(yàn)測得，又因應(yīng)變儀損壞無法通過應(yīng)變片測得，故此采用常見碳纖維復(fù)合材料力學(xué)性能參數(shù)中的泊松比，即取ν=0.3。圖3.2拉伸試驗(yàn)結(jié)果3.3X射線衍射實(shí)驗(yàn)本實(shí)驗(yàn)先采用Cu靶Kα輻射，以掃描步距0.03°進(jìn)行從5°到50°的掃描，收集1501個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)得到如圖3.3原始數(shù)據(jù)結(jié)果。圖3.3X射線衍射衍射圖譜不作處理單從圖中可以看出，在25°附近出現(xiàn)一個(gè)寬化十分嚴(yán)重的“饅頭峰”。再用軟件jade6.0進(jìn)行處理。先作一次“平滑”，再除去背底（同時(shí)除去Kα2輻射即Kα雙線分離），然后在3σ原則下尋峰，并沒有發(fā)現(xiàn)結(jié)晶峰。故此認(rèn)為樣品結(jié)晶度（與碳纖維石墨化程度有關(guān)）不夠。黃玉東[6]至于殘余應(yīng)力方面，因?yàn)槠涫蔷Ц裨诓煌嵌鹊膽?yīng)力下有不同的應(yīng)變，并認(rèn)為宏觀應(yīng)變是其平均效應(yīng)（故如前文所提及樣品須為宏觀各向同性）。其測量要求晶格缺陷少，結(jié)晶好，表現(xiàn)在圖譜上是尖銳的結(jié)晶鋒，不同角度下有不同的2θ值，即峰會(huì)偏移。從計(jì)算的角度上看，圖3.3所示峰離標(biāo)準(zhǔn)峰型差太遠(yuǎn)，無從測量準(zhǔn)確的晶面間距值。進(jìn)而無從計(jì)算M，從而無法計(jì)算應(yīng)力。所以需要提高樣品的結(jié)晶度或者更換結(jié)晶度更高的樣品。至于所需樣品結(jié)晶度最佳值為多少，則可以展開探究性實(shí)驗(yàn)。因?yàn)檫@存在一對矛盾，結(jié)晶度越高即意味著石墨化程度越高，所以彈性模量越高，形變越小，越難進(jìn)行對比分析，但結(jié)晶度越高卻又意味著衍射峰越尖銳，越容易定峰，從而形成矛盾，因此合理的調(diào)控把握結(jié)晶度便成為技術(shù)上的難題。所以可單調(diào)遞增結(jié)晶度（即分別設(shè)為40%、50%、60%、70%、80%及90%）來探究兩者關(guān)系，期間需密切留意其可能出現(xiàn)拐點(diǎn)還是只是簡單的正相關(guān)關(guān)系。同時(shí)，另猜想即便對低結(jié)晶度樣品進(jìn)行應(yīng)力測試，也會(huì)得到一系列“饅頭峰”，其峰位、重心、面積、半高寬等在誤差范圍內(nèi)也會(huì)出現(xiàn)略微變化、偏移，經(jīng)仔細(xì)分析比較或許可發(fā)掘樣品應(yīng)力信息。3.4結(jié)論關(guān)于X射線衍射法探究碳纖維復(fù)合材料界面應(yīng)力分布，其對于碳纖維復(fù)合材料石墨化程度要求較高，建議采用例如日本東麗公司的T800以上或者M(jìn)系列等結(jié)晶度較高的碳纖維復(fù)合材料作為樣品來探究。至于低結(jié)晶度的如T300等樣品如何利用X射線衍射法來探究的確是一難題，根據(jù)Predecki等人所提觀點(diǎn)，建議在樣品制備時(shí)摻入金屬顆粒，因?yàn)榻饘兕w粒相較而言彈性模量小，應(yīng)變大，應(yīng)力信息的提