《材料結(jié)構(gòu)的表征》課件

《材料結(jié)構(gòu)的表征》PPT課件歡迎來到《材料結(jié)構(gòu)的表征》PPT課件！本課程將介紹材料結(jié)構(gòu)的不同表征方法，包括X射線衍射、電子顯微鏡技術(shù)、原子力顯微鏡技術(shù)等。1.X射線衍射1原理X射線通過物質(zhì)后發(fā)生衍射，通過分析衍射圖案來確定物質(zhì)結(jié)構(gòu)。2應(yīng)用X射線衍射廣泛應(yīng)用于晶體學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域，可用于分析晶體結(jié)構(gòu)和晶格參數(shù)。3示例通過X射線衍射技術(shù)可以確定金屬合金中不同相的含量和相間距離。2.電子顯微鏡技術(shù)1掃描電子顯微鏡（SEM）利用射出的電子束與樣品表面的相互作用，獲取高分辨率的表面形貌信息。2透射電子顯微鏡（TEM）通過射入樣品的電子束與樣品內(nèi)部的相互作用，獲取材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息。3環(huán)境電子顯微鏡（ESEM）在濕潤、低真空等環(huán)境下觀察樣品的顯微結(jié)構(gòu)。3.原子力顯微鏡技術(shù)掃描隧道顯微鏡（STM）利用針尖與樣品之間的隧道效應(yīng)，實現(xiàn)原子級別的表面成像。原子力顯微鏡（AFM）通過感知樣品表面的原子力變化，實現(xiàn)高分辨率的微觀成像。磁力顯微鏡利用樣品表面的磁場分布，觀察磁性材料的磁場圖像。4.紅外光譜原理通過測量物質(zhì)對不同波長的紅外輻射的吸收、發(fā)射或散射，來確定物質(zhì)的成分和結(jié)構(gòu)。應(yīng)用紅外光譜廣泛應(yīng)用于化學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域，可用于鑒定化合物和分析有機物的功能基團。示例通過紅外光譜可以鑒定食品中的添加劑，如防腐劑、甜味劑等。5.核磁共振原理核磁共振通過測量物質(zhì)中原子核的能級躍遷和自旋相互作用，得到原子核的譜線信息。應(yīng)用核磁共振廣泛應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域，可用于研究分子結(jié)構(gòu)、反應(yīng)動力學(xué)等。示例通過核磁共振技術(shù)可以確定有機化合物的結(jié)構(gòu)和官能團。6.熱分析技術(shù)1差示掃描量熱法（DSC）通過測量樣品與參比物在加熱過程中的溫度差異，分析材料的熱性能。2熱重分析（TGA）通過測量樣品在升溫過程中的質(zhì)量變化，分析材料的熱穩(wěn)定性和成分。3差示熱重分析（DTA）通過測量樣品與參比物在加熱/冷卻過程中的溫度差異，分析材料的熱反應(yīng)。7.電子能譜X射線光電子能譜（XPS）通過測量樣品被強光激發(fā)后發(fā)射的光電子能量，分析材料的電子結(jié)構(gòu)。逃逸深度譜（EPD）通過測量光電子的逃逸深度，研究材料表面的化學(xué)成