凌達(dá)光電品質(zhì)訓(xùn)練：制程能力分析

GIANTPLUSOPTOELECTRONICS制程能力分析凌達(dá)光電質(zhì)量訓(xùn)練GIANTPLUSOPTOELECTRONICS大綱名詞解釋制程能力分析步驟GIANTPLUSOPTOELECTRONICS變異一般與特殊原因一般原因:制程中某些微小而不可避免的原因,現(xiàn)象所此造成之分配與時間的關(guān)系是穩(wěn)定而可重復(fù),可預(yù)測的.特殊原因:制程中不常發(fā)生但造成制程變異的原因,此現(xiàn)象所造成之分配與時間的關(guān)系是不穩(wěn)定且無法預(yù)期的名詞解釋GIANTPLUSOPTOELECTRONICS制程能力當(dāng)我們的制程處于穩(wěn)定狀態(tài)時,即對制程進(jìn)行研究分出一般原因與特殊原因,消除特殊原因,只存在一般原因,此時的制程狀況處于穩(wěn)定狀態(tài)即是我們所謂的制程能力偵查制程是否處于穩(wěn)定狀態(tài),需要借助于管制圖,通過管制圖找出一般原因與特殊原因,確定制程狀況,方可進(jìn)行制程能力分析GIANTPLUSOPTOELECTRONICS制程準(zhǔn)確度Ca(Capabilityofaccuracy)生產(chǎn)中所獲得產(chǎn)品數(shù)據(jù)的實(shí)績平均值(X)與規(guī)格中心值(u)其間偏差的程度即稱之為(制程準(zhǔn)確度),即衡量制程平均值與規(guī)格中心值兩者間的一致性Ca=實(shí)際平均值-規(guī)格中心值規(guī)格公差/2*100%=(x-u)/T/2*100%注明:當(dāng)為單邊規(guī)格時無Ca值GIANTPLUSOPTOELECTRONICSCa值的評估Ca值越小,品質(zhì)越佳,為了便于區(qū)分制程實(shí)績值(X)的好壞一般將Ca值分成4個等級作為評估的標(biāo)準(zhǔn).A級:理想的狀態(tài)故維持現(xiàn)狀B級:盡可能調(diào)整﹑改進(jìn)為A級C級:應(yīng)立即檢討并予以改善D級:采取緊急措施,并全面檢討,必要時應(yīng)考慮停止生產(chǎn)Ca反應(yīng)工序?qū)嶋H平均值與規(guī)格中心值之間的差異GIANTPLUSOPTOELECTRONICSUCLLCL規(guī)格中心值制成平均值Ca=23%GIANTPLUSOPTOELECTRONICS制程精密度Cp(Capabilityofprecision)以規(guī)格公差(T)與自生產(chǎn)中所獲得產(chǎn)品數(shù)據(jù)的6個估計績標(biāo)準(zhǔn)差()其間相差程度,即在衡量規(guī)格公差范圍與制程變異寬度兩者之間相差的程度

Cp值=規(guī)格公差6個估計實(shí)績標(biāo)準(zhǔn)差=T/6

雙邊規(guī)格時GIANTPLUSOPTOELECTRONICSCp值=規(guī)格上限-平均值3個估計實(shí)績標(biāo)準(zhǔn)差=USL-X/3

Cp值=3個估計實(shí)績標(biāo)準(zhǔn)差=X-LSL/3

單邊規(guī)格時規(guī)格下限-平均值GIANTPLUSOPTOELECTRONICSCp值的評估Cp值越大,質(zhì)量越佳,為了便于區(qū)分制程實(shí)績估計標(biāo)準(zhǔn)差的好壞,一般將Cp值分成5個等級作為評估的標(biāo)準(zhǔn).A+級:產(chǎn)品變異如大一些也不要緊,考慮管理的簡單化或成本降低方法A級:理想的狀態(tài)故維持現(xiàn)狀B級:確實(shí)進(jìn)行制程管理,使其保持在管制狀態(tài),當(dāng)Cp

接近于1時,恐怕會產(chǎn)生不良品,盡可能改善為A級C級:生產(chǎn)不良品,產(chǎn)品須全數(shù)選別,并管理,改善制程D級:質(zhì)量無法在滿足的狀態(tài),須進(jìn)行質(zhì)量的改善,探求原因.須要采取緊急對策,并重新檢討規(guī)格GIANTPLUSOPTOELECTRONICSuLSLUSLCp說明尺寸分布的范圍大小﹐并不說明尺寸分布局中心位置的遠(yuǎn)近

GIANTPLUSOPTOELECTRONICS規(guī)格中心值,制成中心值制成中心值Cp=1制程能力指數(shù)Cpk將Ca與Cp兩值同時參考而對制程作一個客觀評價的指標(biāo)即Cpk,既考慮到變異的寬度,又考慮實(shí)績平均值與規(guī)格中心值兩者的比較.其計算公式有兩種Cpk=(1-K)T6

=(1-|Ca|

)CpK=|X-u|T/2=|Ca|(1)GIANTPLUSOPTOELECTRONICS當(dāng)Ca=0時Cpk=Cp(單邊規(guī)格時,Cpk即以Cp值計之)=Rd2(2)Cpk=Zmin3

Zmin=[Su-X與-(Sl-X)]的最小值d2之參考表GIANTPLUSOPTOELECTRONICS(1)(2)=

i=1n

(Xi-X)n-1(X為所有數(shù)據(jù)之平均值)=Rd2Zmin=[Su-X與-(Sl-X)]的最小值i=1n

(Xi-X)n-1

=

3

示例:在內(nèi)胎壓出工程其長度規(guī)格為750+/-10mm,而十一月份壓出工程長度之實(shí)際平均值為749mm,實(shí)際估計標(biāo)準(zhǔn)差為4mm,計算十一月份之Ca,Cp,Cpk為何?十一月份Ca值=(x-u)/T/2*100%=(749-750)/10*100%=-10%(A級)Cp=T/6=20/6*4=0.83(C級)Cpk=Cp*(1-|Ca|)=0.83*(1-|-10%|)=0.747(C級)GIANTPLUSOPTOELECTRONICS示例:GIANTPLUSOPTOELECTRONICSProcessCapability制程能力分析