可探測的陶粒(show)

June2010

DetectableCeramicProppants可探測的陶粒支撐劑簡介可辨認(rèn)的陶粒支撐劑CARBOTag?2007在生產(chǎn)過程中將非放射性的標(biāo)記物質(zhì)添加入每個(gè)CARBO支撐劑顆粒。有20多種標(biāo)記物。當(dāng)支撐劑返出時(shí),通過常規(guī)分析可容易的辨認(rèn)出支撐劑是從哪段返出的?CARBONRT?2010非放射性示蹤,井下可探測：井筒哪里存在支撐劑?裂縫的最小縫高定性的裂縫寬度開發(fā)示蹤支撐劑的開發(fā)目的是為了滿足以下應(yīng)用的需求:支撐劑/礫石的自身固有部分容易辨別可以辨別一定數(shù)量的層或井對支撐劑的性能無傷害環(huán)保開發(fā)示蹤劑–如何制成的?在生產(chǎn)過程中添加天然生產(chǎn)的化學(xué)物質(zhì)可以添加到生產(chǎn)的任何產(chǎn)品中燒結(jié)成支撐劑，變成支撐劑的一種化學(xué)成分CARBONRTTM可辨認(rèn)的陶粒支撐劑CARBONRT2010非放射性示蹤,井下可探測：井筒哪里存在支撐劑?裂縫的最小縫高定性的裂縫寬度為何要測量裂縫的幾何尺寸?我們必須了解裂縫的幾何尺寸才能優(yōu)化壓裂設(shè)計(jì)為何要測量裂縫的幾何尺寸?為何要測量裂縫的位置?因?yàn)閮痈脑斓母采w率影響生產(chǎn)經(jīng)濟(jì)效益!$錯(cuò)失機(jī)遇?為何要測量裂縫的位置?現(xiàn)有裂縫測繪技術(shù)遠(yuǎn)區(qū)域微地震測繪傾斜測繪井筒附近溫度測井聲波測井微粒放射性示蹤劑非直接測量支撐劑位置傳統(tǒng)放射性示蹤劑在施工中添加液體或微粒示蹤劑在大量的施工中僅稀釋添加少量的放射性示蹤劑(通常

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加侖)顆粒是高放射性的用GR測井可以探測由于放射性的半衰期短，所以通常要在兩周內(nèi)測井

可探測的陶粒產(chǎn)品探測機(jī)理在陶粒中加入足夠數(shù)量的具有高中子俘獲截面的材料壓裂井的支撐劑存有這種材料，將改變補(bǔ)償中子測井(CNL)或脈沖中子測井(PNL)的響應(yīng)采用這種可探測的陶粒支撐劑在壓裂施工后，進(jìn)行CNLorPNL測井，并與壓裂前對比，辨認(rèn)支撐劑的存在。補(bǔ)償中子測井FromArnoldandSmith,SPWLATrans.,1981

采用連續(xù)中子源

用于裸眼和套管

工具含兩個(gè)熱中子探測器

記錄每個(gè)探測器的數(shù)率和數(shù)率比

探測器的數(shù)率比對孔隙度敏感，而對井眼變化不敏感規(guī)格生產(chǎn)過程

–

將可探測的材料均勻的添加入礦石中，從而在每個(gè)支撐劑顆粒中都存在這種可探測物質(zhì)。它可添加到任何一種CARBO的產(chǎn)品。

這種可探測的材料不會改變?nèi)魏沃蝿┑奈锢硇再|(zhì)（不改變MSDS材料安全數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)）。可探測的陶粒產(chǎn)品確認(rèn)進(jìn)行了大量的計(jì)算機(jī)模擬測井對支撐劑存在這種可探測物質(zhì)存在的響應(yīng)。進(jìn)行井下條件的現(xiàn)場跟蹤，通過測觀測測井的響應(yīng)（目前已完成一口跟蹤）。鑒定測井響應(yīng)的合理性。與標(biāo)準(zhǔn)放射性示蹤進(jìn)行跟蹤對比和確認(rèn)?，F(xiàn)場跟蹤將有助于確定是否可以用于裸眼、套管井以及壓裂前測井?可探測的陶粒產(chǎn)品德克薩斯現(xiàn)場試驗(yàn)Neardetectorcounts

BeforeAfterOHGRNeutronCountRatiosBeforeAfterFardetectorcounts

BeforeAfterPropperfs直接的競爭產(chǎn)品ZeroWash?ProTechnics(CoreLab)Discreteparticlesmanufactured,bombardedinanuclearreactor,transportedtowellsiteandblendedintofractreatmentHalf-life=60days(antimony銻)to84days(scandium鈧)PropTracSMHexionTracertagembeddedinprecuredresincoating.Tracer“activated”duringloggingbyafastneutronsourceSpectralgammarayrecordsresponseHalf-life=“minutes”Source:ProTechnicsAdvertisementSource:SPE109969與ZeroWash&PropTrac類似:類似的探測深度都需要壓裂后測井可探測的陶粒–中子測井ZW–GR(Spectralifmultipleisotopes)PT–專用低速測井工具300英尺需要

8-12小時(shí)測井時(shí)間?可探測的陶粒對比競爭產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn):環(huán)保/安全–非放射性的“綠色”更貼近公眾和法規(guī)的認(rèn)可所有的支撐劑都標(biāo)記-nosegregationpotential示蹤是永久的–無半衰期缺點(diǎn):目前只有一種標(biāo)記材料

需要壓裂前進(jìn)行中子測井作為基線可探測的陶