耦合器（980-1550WDM）用光纖通用技術(shù)規(guī)范

DB32/TXXXX-XXXX耦合器（980/1550WDM）用光纖通用技術(shù)規(guī)范范圍本文件規(guī)定了耦合器（980/1550WDM）用光纖的通用技術(shù)要求，描述了對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)方法。本文件適用于980/1550WDM-80μm、980/1550WDM-125μm耦合器用光纖（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“光纖”）。規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T14733.12電信術(shù)語(yǔ)光纖通信GB/T15972.20光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第20部分：尺寸參數(shù)的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序—光纖幾何參數(shù)GB/T15972.21光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第21部分：尺寸參數(shù)的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序—涂覆層幾何參數(shù)GB/T15972.22光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第22部分：尺寸參數(shù)的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序—長(zhǎng)度GB/T15972.30光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第30部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序—光纖篩選試驗(yàn)GB/T15972.31光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第31部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序—抗張強(qiáng)度GB/T15972.32光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第32部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序—涂覆層可剝性GB/T15972.33光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第33部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序—應(yīng)力腐蝕敏感性參數(shù)GB/T15972.34光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第34部分：機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序—光纖翹曲GB/T15972.40光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第40部分：傳輸特性和光學(xué)特性的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序—衰減GB/T15972.44光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第44部分：傳輸特性和光學(xué)特性的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序—截止波長(zhǎng)GB/T15972.45光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第45部分：傳輸特性和光學(xué)特性的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序—模場(chǎng)直徑GB/T15972.47光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第47部分：傳輸特性和光學(xué)特性的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序—宏彎損耗GB/T15972.50光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第50部分：環(huán)境性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序—恒定濕熱GB/T15972.52光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第52部分：環(huán)境性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序—溫度循環(huán)ITU-TG.650.1單模光纖光纜的線性和確定性特性的參數(shù)定義和試驗(yàn)方法（Definitionsandtestmethodsforlinear,deterministicattributesofsingle-modefibreandcable）ITU-TG.650.2單模光纖光纜的統(tǒng)計(jì)和非線性特性的參數(shù)定義和試驗(yàn)方法（Definitionsandtestmethodsforstatisticalandnon-linearrelatedattributesofsingle-modefibreandcable）術(shù)語(yǔ)和定義GB/T14733.12、GB/T15972、ITU-TG.650.1和ITU-TG.650.2界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。外觀與結(jié)構(gòu)外觀光纖表面圓整、光滑、涂覆層固化良好。結(jié)構(gòu)光纖由纖芯、包層及涂覆層組成。技術(shù)要求幾何尺寸光纖的尺寸參數(shù)應(yīng)符合表1的規(guī)定。表1幾何尺寸要求項(xiàng)目技術(shù)指標(biāo)980/1550WDM-80μm980/1550WDM-125μm包層直徑80μm±1μm125μm±1μm包層不圓度≤1%≤2%芯/包層同心度誤差≤0.3μm≤0.3μm涂覆層直徑165μm±10μm245μm±15μm涂覆層/包層同心度誤差≤6μm≤6μm翹直度光纖翹直度應(yīng)不小于4m。模場(chǎng)直徑模場(chǎng)直徑應(yīng)符合表2的規(guī)定。表2模場(chǎng)直徑要求項(xiàng)目技術(shù)指標(biāo)980/1550WDM-80μm980/1550WDM-125μm980nm模場(chǎng)直徑4.0μm±0.3μm5.0μm±0.3μm1550nm模場(chǎng)直徑6.3μm±0.3μm7.5μm±0.5μm截止波長(zhǎng)光纖的截止波長(zhǎng)應(yīng)符合表3的規(guī)定。表3截止波長(zhǎng)要求項(xiàng)目技術(shù)指標(biāo)980/1550WDM-80μm980/1550WDM-125μm截止波長(zhǎng)（2m光纖）930nm±40nm930nm±30nm機(jī)械性能光纖機(jī)械性能應(yīng)符合表4的規(guī)定。表4機(jī)械性能要求項(xiàng)目技術(shù)指標(biāo)980/1550WDM-80μm980/1550WDM-125μm光纖篩選應(yīng)變1%或2%1%或2%光纖抗張強(qiáng)度（50%斷裂概率時(shí)）≥3.8GPa≥3.8GPa應(yīng)力腐蝕敏感性參數(shù)≥20≥20涂覆層可剝性平均值0.8N～2.0N1.0N～5.0N峰值0.8N～8.9N1.0N～8.9N衰減光纖的衰減特性應(yīng)符合表5的規(guī)定。表5衰減特性項(xiàng)目技術(shù)指標(biāo)980/1550WDM-80μm980/1550WDM-125μm980nm衰減系數(shù)≤3dB/km≤3dB/km1550nm衰減系數(shù)≤1dB/km≤1dB/km宏彎損耗光纖在1550nm波長(zhǎng)處，彎曲半徑R為10mm條件下松繞5圈，由此引起的附加衰減應(yīng)不大于0.05dB/km。環(huán)境特性溫度特性在-60℃～+85℃的溫度范圍內(nèi)，在1550nm波長(zhǎng)處相對(duì)于+20℃附加衰減均應(yīng)不大于0.05dB/km。恒定濕熱在溫度+85℃，相對(duì)濕度為85%的條件下，放置720h，在1550nm波長(zhǎng)處相對(duì)于+20℃附加衰減均應(yīng)不大于0.05dB/km。制造長(zhǎng)度制造長(zhǎng)度應(yīng)不小于1000m。如有特殊要求，可采用其它制造長(zhǎng)度。試驗(yàn)方法外觀光纖表面圓整、光滑、涂覆層固化良好，采用目測(cè)判定。幾何尺寸光纖包層直徑、包層不圓度、芯包同心度誤差按照GB/T15972.20中近場(chǎng)光分布法進(jìn)行測(cè)量。涂覆層直徑、涂覆層/包層同心度誤差按照GB/T15972.21中側(cè)視法進(jìn)行測(cè)量。翹直度應(yīng)按GB/T15972.34的規(guī)定進(jìn)行。模場(chǎng)直徑應(yīng)按GB/T15972.45的規(guī)定進(jìn)行。截止波長(zhǎng)應(yīng)按GB/T15972.44的規(guī)定進(jìn)行。機(jī)械性能篩選試驗(yàn)應(yīng)按GB/T15972.30的規(guī)定進(jìn)行?？箯垙?qiáng)度光纖在50%斷裂概率時(shí)抗張強(qiáng)度的測(cè)量應(yīng)按GB/T15972.31的規(guī)定進(jìn)行，測(cè)量0.5m光纖抗拉強(qiáng)度。應(yīng)力腐蝕敏感性參數(shù)應(yīng)按GB/T15972.33的規(guī)定進(jìn)行。涂覆層可剝性應(yīng)按GB/T15972.32的規(guī)定進(jìn)行。衰減應(yīng)按GB/T15972