JJG 201-2018指示類量具檢定儀

中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程指示類量具檢定儀2018-12-25發(fā)布指示類量具檢定儀檢定規(guī)程I 1范圍 2引用文件 3概述 4計量性能要求 4.1微分筒端面與固定套管的相對位置 4.2固定套管刻線面與微分筒棱邊上邊緣的距離 4.3測桿測量面的表面粗糙度 4.4測桿測量面的平面度 4.5測桿測量面與測桿旋轉(zhuǎn)軸線的垂直度 4.6圓柱軸線與測桿軸線的垂直度和位置度 4.7圖像識別的準確性 4.8重復(fù)性 4.9示值誤差 4.10回程誤差 5通用技術(shù)要求 5.2相互作用和基本功能 6計量器具控制 6.1檢定條件 6.2檢定項目和檢定設(shè)備 6.3檢定方法 6.4檢定結(jié)果的處理 6.5檢定周期 附錄A百分表檢定儀示值誤差及回程誤差的數(shù)據(jù)處理示例 附錄B千分表檢定儀示值誤差及回程誤差的數(shù)據(jù)處理示例 附錄C光柵型指示表檢定儀示值誤差的數(shù)據(jù)處理示例 附錄D檢定指示類量具檢定儀時所需工具的技術(shù)圖表及要求 附錄E指示類量具檢定儀示值誤差的光柵測微儀檢定方法 附錄F檢定證書和檢定結(jié)果通知書內(nèi)頁信息 ⅡJJG201《指示類量具檢定儀》編寫是以JJF1002—2010《國家計量檢定規(guī)程編寫規(guī)則》、JJF1059.1—2012《測量不確定度評定與表示》為基礎(chǔ)和依據(jù)，對JJG201—2008《指示類量具檢定儀》進行修訂的。與JJG201—2008《指示類量具檢定儀檢定規(guī)程》相比，除編輯性修改外主要技術(shù)變化如下： 引用文件中，刪除了JJF1001—1998《通用計量術(shù)語及定義》、JJF1059—1999《測量不確定度評定與表示》、JJF1094—2002《測量儀器特性評定》,增加了JB/T11235—2012《指示表檢定儀》等引用文件；——增加了指示類量具檢定儀的分類型式和全自動指示表檢定儀示意圖(見圖4);——增加了量程為100mm光柵型指示表檢定儀的技術(shù)要求、主要檢定設(shè)備和檢定——增加了對全自動指示類量具檢定儀的計量性能要求即“圖像識別的準確性”的規(guī)定(見4.7),通用技術(shù)要求即相互作用和基本功能中“圖像識別系統(tǒng)的照明應(yīng)亮度均勻，光學(xué)成像清晰，圖像完整”的規(guī)定和“全自動檢定儀的數(shù)據(jù)處理軟件程序應(yīng)具有同步顯示功能”等規(guī)定(見5.2.3、5.2.4、5.2.5和5.2.6);——刪除了對數(shù)控式百分表檢定儀的重復(fù)性要求(見4.8)。——修訂了數(shù)控型指示表檢定儀的0mm～50mm段的測量間隔(見6.3.11表3);——增加了指示類量具檢定儀示值誤差的光柵測微儀檢定方法(見附錄E);——修訂了“檢定證書和檢定結(jié)果通知書內(nèi)頁信息”(見附錄F)。JJG201—2008的歷次版本發(fā)布情況：1指示類量具檢定儀檢定規(guī)程本規(guī)程適用于分辨力不大于0.5μm、量程不大于100mm的全自動和半自動指示類量具檢定儀以及分度值(或分辨力)不大于10μm、量程不大于50mm的手動式指示類量具檢定儀的首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢查。2引用文件JJG34指示表(指針式、數(shù)顯式)凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本規(guī)程；凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本規(guī)程。指示類量具檢定儀(以下簡稱檢定儀)是以光柵尺或精密絲杠為測量標準，沿直線導(dǎo)軌移動輸出長度標準值，以圖像識別或目力直讀方式測量各種指示類量具(指針式或數(shù)顯式)示值誤差等參數(shù)的儀器。檢定儀按檢定方式分為立式(檢定指示表時測量軸線垂直，見圖1、見圖2)和臥式(檢定指示表時測量軸線水平，見圖3、圖4);按讀數(shù)方式分為直讀式(見圖1、圖2、圖3)和圖像識別式(見圖4);按驅(qū)動方式可分為手動、半自動和全自動三種；按儀器功能又可分為百分表檢定儀(見圖1)、千分表檢定儀(見圖2)和指示表檢定儀(見圖3、圖4)。圖2千分表檢定儀示意圖1—底座；2—測桿；3—被檢表；4—表座；5—微分筒；6—套管圖3數(shù)控型指示表檢定儀示意圖1—底座；2—被檢表；3—表座；4—測桿；5—測微頭座；6—連桿；7—步進電機；8—顯示、打印控制器圖4光柵型指示表檢定儀示意圖11—圖像和測量數(shù)據(jù)線；12—測桿移動手輪；13—支腳；14—底座；15—測微頭座；16—表座緊固旋鈕；17—表座；18—被檢表；19—立柱；20—杠桿表夾具234計量性能要求4.1微分筒端面與固定套管的相對位置微分筒零刻線與固定套管縱刻線對準時，微分筒端面與固定套管毫米刻線的距離，壓線不大于5個分度值，離線不大于10個分度值。4.2固定套管刻線面與微分筒棱邊上邊緣的距離固定套管刻線面與微分筒棱邊上邊緣的距離不大于0.4mm。4.3測桿測量面的表面粗糙度測桿測量面的表面粗糙度不大于Ra0.1μm。4.4測桿測量面的平面度測桿測量面的平面度不大于1μm,只允許中間凸，邊緣0.2mm內(nèi)允許塌邊。4.5測桿測量面與測桿旋轉(zhuǎn)軸線的垂直度測桿測量面與測桿旋轉(zhuǎn)軸線的垂直度不大于1'3”。4.6圓柱軸線與測桿軸線的垂直度和位置度立柱V形夾座夾持不同直徑圓柱時，在夾持長度50mm范圍內(nèi)，其圓柱軸線與測桿軸線的垂直度和位置度均為0.1mm。4.7圖像識別的準確性4.7.1以手動方式測量的指示表示值誤差為準，全自動檢定儀按各種測量方式測量同一指示表的示值誤差與之相比均應(yīng)不超過該表重復(fù)性要求的1.7倍(見JJG34)。4.7.2在儀器規(guī)定的工作條件下設(shè)置不同測量條件，用全自動檢定儀檢定指針式(或數(shù)顯式)指示表，指示表示值誤差的最大變化量應(yīng)不大于該表的重復(fù)性要求(見JJG34)。4.7.3全自動檢定儀檢定指針式指示表過程中，因改變測量零點而引起被檢指示表正反讀數(shù)變化量相對零點改變量的最大差值應(yīng)不大于被檢指示表回程誤差的要求(見JJG34)。4.7.4全自動檢定儀檢定指針式指示表過程中，因圖像識別系統(tǒng)設(shè)置指針旋轉(zhuǎn)中心與實際指針旋轉(zhuǎn)中心發(fā)生偏離引起的讀數(shù)偏差應(yīng)不超過被檢指示表的0.2個分度值。4.7.5全自動檢定儀檢定數(shù)顯式指示表時，圖像識別系統(tǒng)的讀數(shù)應(yīng)與數(shù)顯式指示表顯示值相同。4.8重復(fù)性光柵型檢定儀重復(fù)性不大于0.2μm。4.9示值誤差示值最大允許誤差要求見表1。表1示值誤差要求類別測量范圍任意范圍內(nèi)任意范圍內(nèi)任意范圍內(nèi)任意范圍內(nèi)任意范圍內(nèi)全范圍內(nèi)千分表檢定儀1124表1(續(xù))類別測量范圍任意范圍內(nèi)任意范圍內(nèi)任意范圍內(nèi)任意范圍內(nèi)任意范圍內(nèi)全范圍內(nèi)百分表檢定儀232 3 42346指示表檢定儀數(shù)控型123光柵型131346134694.10回程誤差4.10.1指示表檢定儀回程誤差不大于0.5μm。4.10.2千分表檢定儀回程誤差不大于0.5μm。4.10.3百分表檢定儀回程誤差不大于1μm。5通用技術(shù)要求5.1外觀5.1.1檢定儀的測量表面應(yīng)無銹蝕、碰傷、劃痕、毛刺等缺陷。噴漆表面應(yīng)無漆皮脫落及漆色不均現(xiàn)象。電鍍表面應(yīng)無水紋及脫落現(xiàn)象。5.1.2檢定儀的刻線應(yīng)清晰、完整。5.1.3檢定儀的數(shù)字顯示窗應(yīng)無氣泡、劃痕等缺陷，數(shù)字顯示應(yīng)完整、清晰。顯示、打印控制器上，按鍵、旋鈕表面的字母、符號應(yīng)完整、清晰。5.1.4儀器上應(yīng)標有制造廠名(或廠標)、型號和出廠編號。5.1.5后續(xù)檢定和使用中檢查的儀器，允許有不影響計量性能的上述缺陷。5.2相互作用和基本功能5.2.1檢定儀各活動部件運動應(yīng)平穩(wěn)、無阻滯，止動部件作用可靠。5.2.2檢定儀的顯示、打印系統(tǒng)功能正常。5.2.3圖像識別系統(tǒng)的照明應(yīng)亮度均勻，光學(xué)成像清晰、完整。5.2.4全自動檢定儀的數(shù)據(jù)處理軟件程序應(yīng)具有同步顯示功能(即同步顯示被檢表讀數(shù)和光柵顯示值),對檢測過程中出現(xiàn)的非正常情況應(yīng)能自動停止工作并報警。5.2.5全自動檢定儀檢定指針式指示表時，應(yīng)能正確識別指針式被測表的表盤刻線和指針，不得任意增刪或設(shè)置表盤刻線。5.2.6檢定儀的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)所設(shè)計數(shù)據(jù)算法和數(shù)據(jù)信息應(yīng)符合相應(yīng)有效版本的指示類量具計量技術(shù)規(guī)范和標準的相關(guān)規(guī)定。56計量器具控制計量器具控制包括：首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢查。6.1檢定條件6.1.1檢定手動和數(shù)控型檢定儀時，實驗室的溫度為(20±5)℃,溫度變化≤1℃/h。檢定前，應(yīng)將被檢檢定儀及量塊等檢定用設(shè)備同時置于儀器工作臺上，平衡溫度時間不少于3h。數(shù)控型檢定儀還應(yīng)通電預(yù)熱大于0.5h。6.1.2檢定光柵型檢定儀時，實驗室的溫度為(20±2)℃,溫度變化≤1℃/h。檢定前，應(yīng)將被檢檢定儀及量塊等檢定用設(shè)備同時置于儀器工作臺上，平衡溫度時間不少于5h。6.1.3檢定室內(nèi)的相對濕度≤70%。6.2檢定項目和檢定設(shè)備指示類量具檢定儀的檢定項目和主要檢定設(shè)備及其技術(shù)要求見表2。序號檢定項目主要檢定設(shè)備首次檢定后續(xù)檢定使用中檢查1外觀十十十2相互作用和基本功能十士十3微分筒端面與固定套管的相對位置十士 4固定套管刻線面與微分筒棱邊上邊緣的距離十士5測桿測量面的表面粗糙度表面粗糙度比較樣塊：Ra標稱值偏差為+12%～-17%十士6測桿測量面的平面度十十7測桿測量面與測桿旋轉(zhuǎn)軸線的垂直度自準直儀：分度值為1”十士8圓柱軸線與測桿軸線的垂直度和位置度塞尺：(0.02～1)mm,MPE,土0.005mm直角尺：2級；專用心軸：(詳見附錄D.1);十士9圖像識別的準確性量程大于1mm;數(shù)顯式千分表：分辨力不大于十十6序號檢定項目主要檢定設(shè)備首次檢定后續(xù)檢定使用中檢查重復(fù)性十十十示值誤差十十十回程誤差十十十注：表中“十”表示應(yīng)檢定，“—”表示可不檢定；“士”表示該項目未經(jīng)修理或軟件未升級的可不檢定。6.3檢定方法目力觀察。6.3.2相互作用和基本功能用指示表手動試驗，并目力觀察。6.3.3微分筒端面與固定套管的相對位置當(dāng)轉(zhuǎn)動手輪使微分筒棱邊與固定套管縱刻線的右側(cè)相切時，讀取此時微分筒對應(yīng)固定套管橫刻線的值，該值與微分筒零刻線差值的絕對值即為零刻線與固定套管縱刻線的偏移量，以其測得值作為微分筒邊緣與固定套管橫刻線間的相對位置。6.3.4固定套管刻線面與微分筒棱邊上邊緣的距離在固定套管刻線面與微分筒棱邊上邊緣之間用塞尺比較測量，微分筒旋轉(zhuǎn)1周，比較的塞尺片最大厚度不超過0.4mm。6.3.5測桿測量面的表面粗糙度用表面粗糙度樣塊比較測量工作臺面的表面粗糙度時，所用的表面粗糙度樣塊和被檢測量面的加工方法應(yīng)盡可能相同，表面粗糙度樣塊的材料、形狀、表面色澤等也盡可能與被檢測量面一致。判斷的準則是根據(jù)被檢測量面加工痕跡的深淺來決定表面粗糙度是否符合要求，當(dāng)被檢測量面的加工痕跡深淺不超過表面粗糙度樣塊工作面加工痕跡深度時，則認為測量面的表面粗糙度不超過表面粗糙度樣塊的標稱值。6.3.6測桿測量面的平面度用2級平晶以技術(shù)光波干涉法進行測量。測量時，將平面平晶放至砧面，調(diào)整平晶按照被檢工作面上最小的干涉帶條數(shù)或圈數(shù)，計算砧面的平面度。6.3.7測桿測量面與測桿旋轉(zhuǎn)軸線的垂直度將自準直儀和檢定儀放置在同一平臺上，調(diào)整自準直儀光軸與測桿測量面的相互位置，使自準直儀光軸對準測量面中心，當(dāng)測量面反射影像在自準直儀的視場中時，在整7個測量范圍內(nèi)轉(zhuǎn)動測桿，從視場中找出反射影像最小和最大位置，在自準直儀上讀數(shù)，兩讀數(shù)之差的一半為測量結(jié)果。6.3.8圓柱軸線與測桿軸線的垂直度和位置度6.3.8.1測桿直徑為6.5mm的檢定儀，用1號、2號心軸(見附錄D的表D.1)分別進行測量；測桿直徑為8mm的檢定儀，用3號、4號心軸(見附錄D的表D.1)分6.3.8.2測量垂直度時，專用心軸夾在立柱V形夾座上，在圓柱夾持長度50mm的上、下兩個位置上分別用直角尺和塞尺進行測量(見圖5)。1—圓柱；2—直角尺；3—檢定儀測桿6.3.8.3測量位置度時，用公法線千分尺按如圖6所示的測量位置進行測量，測量值1—圓柱；2—公法線千分尺測頭；3—檢定儀測桿6.3.9圖像識別的準確性6.3.9.1全自動檢定儀按各種測量方式測量同一指示表后，觀察各次被檢表的示值誤差，均與手動方式測量被檢表的示值誤差相比應(yīng)不超過該表重復(fù)性要求的1.7倍，若超6.3.9.2測量時，先將經(jīng)檢定合格的指針式指示表(量程為大于1mm、分度值為0.01mm)正確安裝在全自動檢定儀表座上，啟動檢定程序，調(diào)整檢定儀的攝像頭使被檢表表面清晰成像在計算機顯示屏上，移動指示表測頭，使其與檢定儀測桿測量面相接8觸并壓縮指示表對零，同時對檢定儀清零，然后在檢定儀使用說明書規(guī)定的允許范圍內(nèi)，保證圖像清晰的前提下分別設(shè)置極限測量速度和不同照明等不少于3種測量條件，并分別進行指針式指示表示值誤差測量，記錄各次被檢表的測量結(jié)果。在檢定中應(yīng)保持計算不同測量條件下被檢表示值誤差的最大變化量，其結(jié)果應(yīng)符合4.7要求。6.3.9.3將合格數(shù)顯千分表安裝在全自動檢定儀的表座上，啟動檢定程序，調(diào)整檢定儀的攝像頭使被檢表表面清晰成像在計算機顯示屏上，移動數(shù)顯千分表測頭，使其與檢定儀測桿測量面相接觸并壓縮數(shù)顯千分表測桿0.1mm～0.2mm,對數(shù)顯千分表和檢定儀分別清零，然后在檢定儀使用說明書規(guī)定的允許范圍內(nèi)，保證圖像清晰的前提下分別設(shè)置極限測量速度和不同照明等不少于3種測量條件，并分別進行數(shù)顯千分表的示值誤差測量，記錄各次被檢表的測量結(jié)果。在檢定中應(yīng)保持表盤不作任何變動。計算不同測量條件下被檢數(shù)顯表示值誤差的最大變化量，其結(jié)果應(yīng)符合4.7要求。6.3.9.4將經(jīng)檢定合格的指針式指示表(量程為大于1mm、分度值為0.01mm)正確安裝在全自動檢定儀表座上，然后在被測表表頭和檢定儀測桿測量面之間插入一片厚度值在0.02mm～0.04mm范圍的塞尺，調(diào)整被測表測頭與塞尺、檢定儀測桿測量面均接觸良好，壓縮被測表使其表盤對零，按檢定儀使用說明書要求設(shè)置檢定參數(shù)后，用檢定儀的指示表自動測量程序測量被測表的示值誤差，當(dāng)完成第1mm測量段測量后，利用檢定儀的間歇時間快速抽出塞尺，繼續(xù)完成剩余測量，計算抽出塞尺前被檢指示表所有受檢點的正反向讀數(shù)差值，所有受檢點的正反向讀數(shù)差值分別與塞尺實際厚度值相比較，其最大偏差值與最小偏差值的平均值應(yīng)符合4.7.3要求。重新將經(jīng)檢定合格的指針式指示表(量程為大于1mm、分度值為0.01mm)正確安裝在全自動檢定儀表座上，調(diào)整被測表測頭與檢定儀測桿測量面相接觸，在檢定儀使用說明書規(guī)定的允許范圍內(nèi)，整體轉(zhuǎn)動被測表或通過程序設(shè)置，以使通過顯示屏觀察，圖像識別系統(tǒng)確認的指針旋轉(zhuǎn)中心與實際指針旋轉(zhuǎn)中心發(fā)生近1mm的偏離(見圖7(b)),然后轉(zhuǎn)動被測表表盤對零，對檢定儀清零，按檢定儀使用說明書要求設(shè)置檢定參數(shù)，用檢定儀的自動測量程序測量被檢表示值誤差。對于讀取指針與刻線偏差的圖像識別系統(tǒng)，以人眼直讀方式從顯示屏上讀取被檢表各受檢點的讀數(shù)，將其與檢定儀讀取的對應(yīng)點讀數(shù)比較，最大變化量應(yīng)符合4.7.4對于對線瞄準的圖像識別系統(tǒng)，比較檢定儀在中心偏離和非偏離狀態(tài)下被檢表各受檢點的讀數(shù)變化，最大變化量應(yīng)符合4.7.4要求。9(a)非偏離狀態(tài)(b)偏離狀態(tài)圖7中心偏離和非偏離狀態(tài)圖6.3.9.5在6.3.9.3的任意一次完整測量過程中，觀察全自動檢定儀上圖像識別系統(tǒng)的讀數(shù)，應(yīng)與數(shù)顯式指示表顯示值一致。的數(shù)顯電感測微儀安裝在檢定儀的表座(或支架)孔內(nèi)，調(diào)整測微儀的測頭與檢定儀的測桿測量面相接觸，以手動操作方式從同一方向重復(fù)移動檢定儀測桿5次，使測微儀顯示同一值，記錄檢定儀5次顯示值，按公式(1)計算重6.3.11示值誤差6.3.11.1檢定儀的檢定用工具為：a)千分表檢定儀、光柵指示表檢定儀和電動指示表檢定儀的0.1μm擋均采用3等量塊、示值最大允許誤差不超過±0.1μm的指示儀(如分辨力為0.01μm的數(shù)顯電感測微儀)測量。b)百分表檢定儀以及電動指示表檢定儀的1μm擋均采用4等量塊、示值最大允許誤差不超過±1μm的指示儀(如分度值為1μm的扭簧表)測量。6.3.11.2檢定儀示值誤差測量的測量段和測量間隔(或測量點)規(guī)定見表3。類型測量范圍/mm受檢測量段測量間隔或測量點千分表檢定儀選取一個2mm段百分表檢定儀選取一個1mm段測量點為4.12mm、9.24mm、選取一個10mm段選取一個1mm段選取一個10mm段選取一個1mm段指示表檢定儀數(shù)控型0mm～10mm(1μm擋)選取一個1mm段(0.1μm擋)光柵型0～10或0～13選取一個1mm段選取一個10mm段選取一個1mm段選取一個10mm段選取一個1mm段6.3.11.3百分表檢定儀以及數(shù)控型指示表檢定儀的1μm擋示值誤差檢定方法為a)檢定前，將指示儀測頭安裝在檢定儀表座孔中，將測頭調(diào)到選擇的測量段的起始位置，然后按測量段由大至小的順序進行測量，對后一測量段的測量應(yīng)選擇前一測量段中誤差較大的一段進行。b)檢定時，在指示儀測頭與檢定儀測桿測量面之間夾持尺寸為1mm的量塊，調(diào)整指示儀對準“零位”。按測量間隔(見表3)依次置換量塊，旋轉(zhuǎn)檢定儀的手輪或微分筒至受檢點，在指示儀上讀出各測量點的誤差值。測量應(yīng)在所選測量段的正、反行程上進行。每一測量段正行程測量后，需再正行程至少移動10個分度，然后反向移動至反向測量點，進行反向測量。在檢定過程中，不應(yīng)作任何調(diào)整和改變測桿的移動方向。c)檢定儀的示值誤差是以各測量段正、反行程內(nèi)受檢點示值誤差中最大值與最小值之差來確定。按公式(2)計算各受檢點的示值誤差。o:——第i受檢點在該行程檢定中的示值誤差，μm;6.3.11.4千分表檢定儀、光柵型指示表檢定儀和數(shù)控型指示表檢定儀的0.1μm擋示a)檢定前，將三珠工作臺(見附錄D圖D.2)安裝在測桿上，使三珠工作臺三珠定位面與檢定儀測桿軸線保持垂直，同時將指示儀測頭安裝在支架孔中，調(diào)整支架，使測頭對準三珠工作臺中心。調(diào)整檢定儀對好所選擇測量段的起始位置(對于數(shù)控型指示表檢定儀和光柵型指示表檢定儀應(yīng)進行全程試行，確保測量首點和測量末點兩端各有不少于30個分度的行程余量),然后按測量段由大至小的順序進行測量，對后一測量段的測量應(yīng)選擇前一測量段中誤差較大的一段進行。b)檢定時，先把尺寸為1mm的量塊放在三珠工作臺上，調(diào)整指示儀測頭與量塊接觸并使其示值為零。然后按所選的測量間隔(見表3)置換量塊，旋轉(zhuǎn)檢定儀的手輪或微分筒至受檢點，在指示儀上讀出各點的誤差值。這種測量應(yīng)在所選測量段的正、反行程上進行。每一測量段正行程測量后，需再正行程移動10個分度，然后反向測量。在檢定過程中，應(yīng)不作任何調(diào)整和改變測桿的移動方向。c)檢定儀的示值誤差是以各測量段正、反行程內(nèi)受檢點示值誤差中最大值與最小值之差來確定。按公式(2)計算各受檢點的示值誤差。6.3.11.5立、臥兩用式指示表檢定儀應(yīng)在立式和臥式兩種測量方式下分別按上述方法數(shù)據(jù)處理詳見附錄A、附錄B和附錄C。也可用測量不確定度U(k=2)不大于檢定儀示值最大允許誤差1/3的其他方法取6.3.11數(shù)據(jù)中各測量段的受檢點在正、反行程上的兩讀數(shù)之差的絕對值為受檢點的回程誤差，取各受檢點回程誤差的最大值為檢定結(jié)果。6.4檢定結(jié)果的處理經(jīng)檢定符合本規(guī)程要求的發(fā)給檢定證書；不符合的發(fā)給檢定結(jié)果通知書，并注明不檢定周期可根據(jù)使用的具體情況確定，一般為1年。附錄A百分表檢定儀示值誤差及回程誤差的數(shù)據(jù)處理示例A.1(0～25)mm檢定記錄數(shù)據(jù)(見表A.1)處理檢定記錄數(shù)據(jù)00正向讀數(shù)/μm00一0.2一0.2全程示值誤差：3.4-(-0.2)=3.6(μm)任意10mm范圍內(nèi)示值誤差：2.8-(+0.7)=2.1(μm)回程誤差：2.0-1.0=1.0(μm)表A.2任意10mm檢定記錄數(shù)據(jù)受檢點/mm024680正向讀數(shù)/μm00任意2mm范圍內(nèi)示值誤差：1.7-0.8=0.9(μm)回程誤差：0.5-0.2=0.3(μm)A.31mm檢定記錄數(shù)據(jù)(見表A.3)處理表A.3任意1mm檢定記錄數(shù)據(jù)受檢點/mm0一0.35十0.04一0.01十0.05一0.130正向讀數(shù)/μm0一0.10一0.5一0.2十0.11mm范圍內(nèi)示值誤差：0.6-(-0.5)=1.1(μm)回程誤差：0.3-(-0.1)=0.4(μm)千分表檢定儀示值誤差及回程誤差的數(shù)據(jù)處理示例B.1(0～5)mm檢定記錄數(shù)據(jù)(見表B.1)處理受檢點/mm0123450正向讀數(shù)/μm00十0.2十1.0任意1mm范圍內(nèi)示值誤差：1.3-0.7=0.6(μm)任意2mm范圍內(nèi)示值誤差：1.3-0.5=0.8(μm)全程示值誤差：1.5-0=1.5(μm)回程誤差：1.3-1.0=0.3(μm)B.22mm檢定記錄數(shù)據(jù)(見表A.2)處理010正向讀數(shù)/μm0正向示值誤差/μm0一0.1000120正向讀數(shù)/μm0一0.2正向示值誤差/μm一0.612累計示值誤差/μm累計示值誤差/μm一0.3任意1mm范圍內(nèi)示值誤差：+0.4-(-0.5)=0.9(μ回程誤差：0.2-0=0.2(μm)光柵型指示表檢定儀示值誤差的數(shù)據(jù)處理示例C.1(0～50)mm檢定記錄數(shù)據(jù)(見表C.1)處理。受檢點/mm0正向讀數(shù)/μm任意10mm范圍內(nèi)示值誤差：-1.07-(-2.28)≈1.2(μm)任意30mm范圍內(nèi)示值誤差：-0.82-(-2.28)≈1.5(μm)全程范圍內(nèi)示值誤差：0-(-2.28)≈2.3(μm)回程誤差：0.06-(-0.36)≈0.4(μm)C.210mm檢定記錄數(shù)據(jù)(見表C.2)處理。表C.210mm檢定記錄數(shù)據(jù)987654321一0.21一0.03一0.09相對零位中心長度偏差十0.35十0.41十0.57十0.52一0.95任意2mm范圍內(nèi)示值誤差：-0.03-(-0.94)≈0.9(μm)回程誤差(-0.05)-(-0.48)≈0.4(μm)21一一0.19一一0.17一一0.311mm范圍內(nèi)示值誤差：0.06-(-0.44)≈0.5(μm)回程誤差：0.19-(-0.26)≈0.4(μm)附錄D檢定指示類量具檢定儀時所需工具的技術(shù)圖表及要求D.1檢驗用階梯心軸圖D.1檢驗用心軸序號1234D.1.3三珠工作臺指示類量具檢定儀示值誤差的光柵測微儀檢定方法E.1測量前，將保證測量結(jié)果測量不確定度U(k=2)不大于檢定儀示值最大允許誤差1/3的光柵測微儀安裝在支架孔中，調(diào)整支架，使光柵測微儀測頭對準檢定儀測桿測量面，然后轉(zhuǎn)動檢定儀測桿壓縮光柵測微儀測頭至最大行程位置，對檢定儀和光柵測微儀分別清零，按由小至大的順序進行檢定。E.2測量時，旋轉(zhuǎn)檢定儀的手輪或微分筒至所選的受檢點(見表3),在光柵測微儀的顯示器上讀出各點的示值。這種測量應(yīng)在所選測量段的正、反行程上進行。正行程測量后，需再正行程移動10個分度，然后反向測量。在檢定過程中，不應(yīng)作任何調(diào)整和改E.3檢定儀的示值誤差是以各測量段正、反行程內(nèi)受檢點示值誤差中最大值與最小值之差來確定。各受檢點的示值誤差用公式(E.1)計算。ò;——第i受檢點時檢定儀的指示值，μm;受檢點時光柵測微儀的指示值，μm。附錄F檢定證書和檢定結(jié)果通知書內(nèi)頁信息F.1檢定證書/檢定結(jié)果通知書內(nèi)頁包含以下信息F.1.1檢定證書/檢定結(jié)果通知書編號F.1.2檢定所用計量基準或計量標準信息F.1.2.1計量基準或計量標準名稱F.1.2.