產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS） 表面結(jié)構(gòu) 區(qū)域法 第73部分：實物量具表面缺陷的術(shù)語和定義 征求意見稿

GB/T××××—××××5產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）表面結(jié)構(gòu)：區(qū)域法第73部分：實物標(biāo)準(zhǔn)表面缺陷的術(shù)語和定義本文件界定了ISO5436-1和ISO25178-70中規(guī)定的實物標(biāo)準(zhǔn)及校準(zhǔn)樣塊表面上可呈現(xiàn)出的幾何缺陷類別的定義，定義了對這些缺陷處理方法的術(shù)語。本文件適用于以下應(yīng)用場合：a）當(dāng)實物標(biāo)準(zhǔn)的用戶委托加工方加工實物標(biāo)準(zhǔn)，或顧客從供貨方購買實物標(biāo)準(zhǔn)時，本文件有助于實物標(biāo)準(zhǔn)的用戶或顧客描述其對實物標(biāo)準(zhǔn)表面計量的標(biāo)稱特性（即理想幾何特性）的規(guī)范。b）使實物標(biāo)準(zhǔn)的用戶能夠制定其實物標(biāo)準(zhǔn)出現(xiàn)表面缺陷處理方法的規(guī)則，以使測量不確定度最小注：在ISO/IEC17025:2017的7.2.1.1、7.2.1.3、7.3.1、7.8.5c)和7.8.5d)中需要此原則。c）使校準(zhǔn)實驗室與用戶關(guān)于送檢實物標(biāo)準(zhǔn)表面缺陷的處理方法達成一致。為其它GPS標(biāo)準(zhǔn)在選擇測量局部位置，或選擇或規(guī)避的測量3術(shù)語定義以下術(shù)語與定義適用于本文件。<實物標(biāo)準(zhǔn)>測量標(biāo)準(zhǔn)器的部分幾何要素（非理想表面），其幾何形狀和幾何尺寸與公稱要素（理想表面）上的幾何形狀偏差大于某些約定或規(guī)定的最大值，或者，在沒有任何此類約定或規(guī)定最大值的情況注1：本文件所述測量標(biāo)準(zhǔn)器和實物標(biāo)準(zhǔn)指的是符合標(biāo)準(zhǔn)ISO5436-1和ISO25178-70規(guī)定的測量標(biāo)準(zhǔn)。除非另有說明，否則在二維應(yīng)用中對表面測量標(biāo)準(zhǔn)器幾何輪廓的任何參考意見/引用都可理解為也適用于三維應(yīng)用中該標(biāo)準(zhǔn)器的三維表面，反注2：缺陷是用物理表面的一部分來識別的，而不是用這一部分的物理或幾何性質(zhì)來識別的。因此，整個試樣可能是缺注3：該定義承認(rèn)這樣一個事實，即任何具有非隨機表面結(jié)構(gòu)的表面測量標(biāo)準(zhǔn)都會因制造過程而產(chǎn)生細(xì)小的痕跡，這些痕跡使實際表面與理想表面或標(biāo)稱表面不同。由于這些不完美是不可避免的，即可預(yù)見的，因此除非它們大于所采用制造工藝能帶來的加工痕跡的正常值或典型值，否則不計為缺陷。對于某些對表面特征有嚴(yán)格要求的情況下，可能對制造公差有描述，規(guī)定哪些是可接受的，哪些是不可接受的；此時，低于這些公差限的不完美痕跡不計為缺陷。然而，在大多數(shù)情況下，不存在規(guī)定的公差，此時，將偏差計為缺陷的標(biāo)準(zhǔn)很簡單，即它的大小是否超過所采用制造方法能帶來的正常或標(biāo)準(zhǔn)痕跡。偏離理想表面的無法避免的例子包括：在任何尖角樣塊上拐角的圓弧過度，如臺階高度樣塊或華夫餅干樣塊；在玻璃平板或球體表面上GB/T××××—××××6的拋光痕跡；切削刀具在車削金屬表面上的刀痕；在硅片上蝕刻的凹槽中的裂縫，以及理想情況下平坦的樣板上存在的彎曲注4：注3所描述的細(xì)小痕跡是由制造過程帶來的不可避免的加工痕跡，因此不被視為缺陷。這些痕跡與ISO25178-70:2014中第5章所述“實物測量標(biāo)準(zhǔn)的實際整體表面特征應(yīng)具有規(guī)定的尺度限制，而尺度限定范圍之外的特征應(yīng)不影響測量?！庇|針式儀器測量時可以是無作用缺陷，但當(dāng)此測量標(biāo)準(zhǔn)器GB/T××××—××××7因反向母板上的內(nèi)凹缺陷（極少見外凸缺陷）造成的正向復(fù)制樣板上的外凸缺陷（極少見內(nèi)凹缺陷）。在相應(yīng)的輪廓或表面表示上無法辨識（識別）的外觀缺陷（注：格式塔缺陷一般由一組無作用缺陷組成，其中每個無作用缺陷獨立看起來是不可見的，且在表面上以一種圖案或結(jié)構(gòu)的方式排列，排列出來的圖案或結(jié)構(gòu)是可見的。當(dāng)組成此圖案的缺陷重新排列（如隨機排列）時，這個圖案可能變?yōu)椴豢梢?lt;缺陷>采用物理干預(yù)（清潔、返工）或軟件處理的方法將有缺陷的輪廓恢復(fù)為理想的或理論正確的形<缺陷>未能完成修復(fù)，但缺陷部位的表面形貌發(fā)生改變。<缺陷>在不去除、修復(fù)、或更改表面缺陷的前提下，從表面的缺陷部分得到測量數(shù)據(jù)，然后使用可能<缺陷>測量實物標(biāo)準(zhǔn)的表面時，不考慮被測部注1：如果沒有3.3.6中的定義，忽略缺陷這一術(shù)語存在三種可能的解釋：a)測量表面時故意避開明顯有缺陷的區(qū)域；b)測量表面，然后丟棄所有數(shù)據(jù)，或者只是丟棄與缺在本文件給出的術(shù)語定義中，a)對應(yīng)避開（3.3.2）缺陷；b)對應(yīng)去除（3.3.1）缺陷；c)是根據(jù)忽略（3.3.6）缺陷的注2：處理缺陷的上述六種方法是詳盡的，尚無其他方法。除了“測量”和“忽略”之間外，這六種方法是相互排斥的：缺陷可以既被忽略又被測量。但是，缺陷也GB/T××××—××××8A.1概述實物標(biāo)準(zhǔn)的測量面上污漬和異色（即顏色與測量區(qū)域的其它部分不同的區(qū)域）的出現(xiàn)經(jīng)常引起關(guān)注。有時，我們認(rèn)為污漬和異色是由含鐵金屬腐蝕所致，因此與表面輪廓的變形有關(guān)。但此假設(shè)不適用于任何由有判斷有污漬的區(qū)域顏色改變是否導(dǎo)致可測量的輪廓失真是重要的，需要關(guān)注以下三種情一些在放大鏡下看到的污漬在空間上與幾何缺第二類污漬為外觀缺陷。前兩類污漬都不會影響表面結(jié)構(gòu)的測量。第三類污漬既可能是有作用缺陷，也可能是無作用缺陷。如果它們是裸眼可見的無作用缺陷，則為外觀缺陷。唯一影響測量的是第三A.3污漬的處理如果試圖通過機械摩擦（例如，用軟布）來修復(fù)（3.3.3）污漬，那么缺陷極有可能被更改（3.3.4）。最3）原本屬于有作用缺陷的污漬，通過減小相應(yīng)被測量的G