T-CFA 0106024-2021 鑄造鋁硅系合金平均晶粒度測定方法

Determinationoftheaveragegrainsizeofcastaluminiumsiliconalloys中國鑄造協(xié)會發(fā)布1 II 1 1 1 2 3 4 5 6 9 8 本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作1鑄造鋁硅系合金平均晶粒度測定方法本文件適用于采用重力鑄造、壓鑄、低壓鑄造、擠壓鑄造、半連續(xù)鑄造等工藝生產(chǎn)的鋁硅系合GB/T6394金屬平均晶粒度[來源：GB/T30067，2.2.148及GB/TALA晶粒ALA(aslargeas)gra2鑄造鋁硅系合金castaluminiumsili截線長度（l）interceptlength測量線段通過晶粒時，與晶界相交的兩個交點之間GAMN放大M倍時，測量網(wǎng)格內(nèi)的晶粒數(shù)N內(nèi)N外NALNLPLNi放大M倍時，測量試驗線上的截線數(shù)Pi放大M倍時，測量試驗線與晶界相交的截點數(shù)l4取樣與試樣制備4.1測定晶粒度用試樣應(yīng)在交貨狀態(tài)鑄件或鑄錠（棒）上切取，取樣部位與數(shù)量按照產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或計數(shù)觀試樣的截面尺寸為：圓形Φ10mm~Φ12mm；正方形10mm×10mm。若采用比較法，試樣的截面尺寸還可為：圓形Φ80mm~Φ600mm。蝕使晶界顯示出來，必要時可進(jìn)行電解拋光。對于Φ80mm~Φ600mm的圓形樣品，推薦使用車床對檢測表面進(jìn)行機(jī)械加工，然后浸蝕使晶界顯示34.3為保證試樣切取和制備過程中晶粒結(jié)構(gòu)不發(fā)生改變，切取及制備試樣時，不應(yīng)使用改變晶粒結(jié)構(gòu)5.1.1比較法是通過與標(biāo)準(zhǔn)系列評級圖對比來評定晶粒度等級。當(dāng)晶粒形貌與標(biāo)準(zhǔn)評級圖的形貌類似5.1.2用數(shù)碼顯微鏡評定鑄造鋁硅系合金的晶粒度。觀測者應(yīng)正確判斷需要選擇使用的放大倍數(shù)、合5.1.3用數(shù)碼顯微鏡檢驗時，首先通觀整個檢測平面，晶粒度的評定應(yīng)在試樣截面上隨機(jī)選取三個或三個以上具有代表性的視場測量平均晶粒度，然后按照大多數(shù)視場對應(yīng)級別圖進(jìn)行評5.1.4若試樣中發(fā)現(xiàn)晶粒不均勻現(xiàn)象，經(jīng)全面觀察后，如屬偶然或個別現(xiàn)象，可不予計算。如屬較為積的90%，則只記錄此種晶粒的級別數(shù)，否則，應(yīng)用不同級別數(shù)來表示該試樣的晶粒度，其中第一個級別數(shù)代表占優(yōu)勢的晶粒的級別。如出現(xiàn)雙重晶粒度，按GB/T24177評定，出現(xiàn)個別粗大晶粒5.1.6鑄造鋁硅系合金晶粒度級別G分為七級5.2.1面積法是通過計算給定面積網(wǎng)格內(nèi)的晶粒數(shù)來測定晶粒度。5.2.2晶粒數(shù)N的計算是將面積為A（mm2）的圓形測量網(wǎng)格置于晶粒圖形上，選擇一個至少能截獲該面積范圍內(nèi)的晶粒數(shù)N為N=N內(nèi)＋0.5·N交－1(1)應(yīng)選擇合適的放大倍數(shù)，且隨機(jī)選擇多個視場，使N大于或等于5.2.4通過測量網(wǎng)格內(nèi)晶粒數(shù)N和觀察放5.3截點法45.3.2對于非均勻等軸晶粒應(yīng)使用截點法。對于非等軸晶粒，截點法既可用于分別測定三個相互垂直5.3.4對于每個視場的計數(shù)，按式(3)或式(4)計算單位長度（mm）上的截線數(shù)NL或截點數(shù)PL：EQ\*jc3\*hps21\o\al(\s\up2(-),l)EQ\*jc3\*hps21\o\al(\s\up2(-),l)5.4鑄造鋁硅系合金晶粒度分級說明個/cm2（NAO）-mm(l)12346567EQ\*jc3\*hps21\o\al(\s\up2(-),l)6.1.2晶粒度的各種數(shù)值表示均由初測量值NA和PL通過對數(shù)或倒數(shù)關(guān)系而算出。如取樣數(shù)量少，可取該組數(shù)值的中位數(shù)表示試樣的晶粒度。如取樣數(shù)量多，其測量值服從正態(tài)分布，可先求出NPL平均值后，再計算出相對誤差和平均晶粒度級別。6.1.4對于截點法和面積法，列出被測量視場的數(shù)量、放大倍數(shù)及視場面積、計數(shù)晶粒的數(shù)目或計數(shù)截線及截點數(shù)目，報告出平均測量值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對誤差和晶粒度級別6.1.5對非等軸晶組織，列出評定方法、檢驗面、檢測取向（如有測量）、每一個檢測面或取向上估算的晶粒度、測量面總平均值，計算或者評估的晶粒度5個試樣晶粒度測量的相對精度隨著抽取的視場數(shù)、晶粒7.3如果試樣制備不適當(dāng)，將會產(chǎn)生測量偏差。為了提高測量精度，應(yīng)真實地顯示出晶界。如果未清7.5使用比較法時，為了獲得最佳的精度，應(yīng)選取與晶粒特征及腐蝕方法一致的評級系列7.6晶粒度測量的相對誤差隨晶?；蚪鼐€的計數(shù)增多而變小。在計數(shù)相同時，截點法測量晶粒度的相6789[1]ASTMB85/B85m—2018,Stand