表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物膜 編制說明_第1頁
表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物膜 編制說明_第2頁
表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物膜 編制說明_第3頁
表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物膜 編制說明_第4頁
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1《表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物膜》22019年8月，ISO/TS25138:2019（Surfacechemicaoxidefilmsbyglow-dischargeoptical-emissionspectrometry）修訂為使我國GD-OES法分析技術(shù)保持與國際接軌，國家標(biāo)準(zhǔn)與ISO標(biāo)準(zhǔn)同步，全國微束分析技術(shù)委員會表面分析分技術(shù)委員會于2023年提出將ISO/TS本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（SAC/TC38）提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位上海市計量測試研究院、上海科技大學(xué)和中科院化學(xué)研究），2023年引進(jìn)了輝光放電質(zhì)譜儀，2024年更新了X射線多功能電子能譜儀。在金屬豐富的實(shí)踐經(jīng)驗。2016年，上海市計量測試技術(shù)研究院等同采用ISO/TS25138:2010制定了GB/T32996-2016《表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜法分析并具有豐富的標(biāo)準(zhǔn)制修訂經(jīng)驗。中國科學(xué)院化學(xué)研究所是我國化學(xué)學(xué)科研發(fā)的3學(xué)分析與標(biāo)準(zhǔn)化方面都具有豐富的經(jīng)驗。此次共同承擔(dān)《表面化學(xué)分析輝光放本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/TS25138:2019《Surfacechemicalanalysis4本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T32996-2016相比，除了結(jié)構(gòu)調(diào)整ISO/TS25138:2019（Surfacechembyglow-dischargeoptical-emISO/TS25138:2019是當(dāng)前國際最先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)是等同采用ISO/TS5請注意本標(biāo)準(zhǔn)的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專準(zhǔn)GB/T

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