納米技術(shù) 納米物體化學(xué)成分檢測(cè) 石墨烯等離激元表面增強(qiáng)紅外光譜法 編制說(shuō)明

Nanotechnologies-Nano-objectIdentification-GrapheneEnhancedInfraredSpectr編制說(shuō)明術(shù)納米物體化學(xué)成分檢測(cè)石墨烯等離激元表面增強(qiáng)紅外光譜法》，計(jì)劃號(hào)科學(xué)的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，擁有我國(guó)納米科學(xué)領(lǐng)域最先進(jìn)的研究平臺(tái)和基地。于海關(guān)系統(tǒng)全局性、基礎(chǔ)性和關(guān)鍵性科學(xué)技術(shù)的復(fù)核、仲裁及重大或突發(fā)事件的應(yīng)急處理提供技術(shù)支供相關(guān)技術(shù)服務(wù)。作為中國(guó)合格評(píng)定認(rèn)可委員會(huì)（CNAS）供者（CNASPT0012），中國(guó)海關(guān)科學(xué)技術(shù)研究中心中心自2006年獲得資質(zhì)以理的高素質(zhì)能力驗(yàn)證工作隊(duì)伍。我們的認(rèn)可范圍涵蓋了動(dòng)中國(guó)檢驗(yàn)檢疫科學(xué)研究院是隸屬于國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局的綜合性科研機(jī)修訂，涵蓋農(nóng)業(yè)生產(chǎn)、食品安全、植物保護(hù)等多個(gè)關(guān)鍵研究中心和實(shí)驗(yàn)室，如國(guó)家農(nóng)業(yè)部農(nóng)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究中心和標(biāo)準(zhǔn)化工作經(jīng)驗(yàn)。此外，中國(guó)農(nóng)業(yè)大學(xué)還在中國(guó)合格（CNAS）和全國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC重要角色，負(fù)責(zé)了數(shù)十項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)支持和評(píng)估工作。其在標(biāo)驗(yàn)證過(guò)程中積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)，為推動(dòng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化體系建設(shè)2024年5月，國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)制修2024年5月，正式組建了標(biāo)準(zhǔn)起草工作組，形2024年6～8月，起草工作組檢索與參考相關(guān)領(lǐng)域國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)文件等資料，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容進(jìn)行討論，2024年9月，標(biāo)準(zhǔn)起草工作組對(duì)討論稿進(jìn)行修改，形成標(biāo)準(zhǔn)征求意見(jiàn)稿.maxi@師高級(jí)工程師wangyikai_2001@163高級(jí)工程師bjqtcq7850y@163.com理n譜測(cè)定。本文件適用于具有紅外活性的納米紅外光譜技術(shù)可以快速無(wú)損地探測(cè)分子基團(tuán)振動(dòng)的指紋信息進(jìn)而確定分子結(jié)構(gòu)。然而，納米尺度的物體與微米紅外光波長(zhǎng)存在顯著的尺寸失配（超過(guò)3個(gè)），動(dòng)近似為兩個(gè)相互作用的一加入待測(cè)維驅(qū)動(dòng)阻尼諧振子。在自由空間電磁消光度消光度動(dòng)分子振動(dòng)（如圖1所示），并與分子振動(dòng)模式相互耦合；由于共振相位不同，增強(qiáng)紅外光譜增強(qiáng)紅外光譜石墨烯等離激元波數(shù)消光度消光度未增強(qiáng)未增強(qiáng)波數(shù)以下，掃描次數(shù)宜大于128次；紅外光譜儀光闌尺寸宜大于100μm*離激元響應(yīng)且紅外吸光度大于0.005。利用遠(yuǎn)場(chǎng)激發(fā)石墨烯等離激元可以將石墨率為10%；單層石墨烯拉曼2D峰強(qiáng)度應(yīng)為G峰b）將增強(qiáng)襯底的源、漏、柵分別接入源表的相應(yīng)通道后，進(jìn)行電學(xué)測(cè)試，測(cè)試應(yīng)為直線（如圖5所示），表明源漏電極通過(guò)石墨烯導(dǎo)通；50-50-100-0.2Vds(V)圖5石墨烯等離激元增強(qiáng)襯底的電學(xué)輸出40204020襯底電學(xué)特性曲線CNP~80V-60-40-20020406080100120Vg（V）b）獲得待測(cè)樣品的石墨烯等離激元表面增強(qiáng)紅外吸收光譜；記錄凹陷峰頻率，b）記錄紅外光譜儀參數(shù)（包括儀器型號(hào)、采集頻率范圍、光闌面積、光譜分辨率、掃描次數(shù)c）記錄石墨烯等離激元表面增強(qiáng)襯底未附著痕量樣品時(shí)的石墨烯納米結(jié)構(gòu)形貌d）記錄石墨烯等離激元表面增強(qiáng)襯底附著痕量樣品前的吸光度和石墨烯等離激e）記錄待測(cè)樣品來(lái)源及其石墨烯等離激元表面增強(qiáng)襯底附著痕量樣品后的納米f）記錄石墨烯等離激元表面增強(qiáng)襯底附著痕量樣品后的紅外光譜吸光度和石墨案例1：使用石墨烯等離激元表面增強(qiáng)紅外光譜法測(cè)試聚甲基丙烯酸甲酯石墨烯等離激元表面增強(qiáng)紅外光譜法測(cè)試聚甲基丙烯酸甲酯送檢單位為德睦熙睿科技發(fā)展（天津）有限公司。在石送檢單位為北京天富來(lái)生物科技有限公司。在石墨