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職業(yè)技能競(jìng)賽一無(wú)損檢測(cè)工比賽理論題庫(kù)(附參考答案)
一、判斷題
序號(hào)題型題目答案
1判斷題振動(dòng)產(chǎn)生的必要條件是:物體一離開(kāi)平衡位置就會(huì)受到回復(fù)力的作用。-
物體(或質(zhì)點(diǎn))在受到跟位移大小成正比、而方向總是與運(yùn)動(dòng)方向相反的回復(fù)力作用下的振動(dòng)
2判斷題-
叫作諧振動(dòng)。
3判斷題振動(dòng)是產(chǎn)生機(jī)械波的根源,機(jī)械波是振動(dòng)狀態(tài)的傳播。+
4判斷題機(jī)械波在傳播過(guò)程中,各質(zhì)點(diǎn)隨波前行,并將能量傳遞給周圍的質(zhì)點(diǎn)。-
5判斷題波長(zhǎng)與波速成正比,與頻率成反比。+
6判斷題機(jī)械波的頻率和周期只與振源和傳播介質(zhì)有關(guān)。-
7判斷題波動(dòng)頻率是波動(dòng)過(guò)程中,任一給定點(diǎn)在1秒內(nèi)所通過(guò)的完整波的個(gè)數(shù),與該點(diǎn)振動(dòng)頻率數(shù)值相同。+
8判斷題板波分為對(duì)稱型和非對(duì)稱性波。-
對(duì)稱型蘭姆波的特點(diǎn)是薄板中心質(zhì)點(diǎn)作橫向振動(dòng),非對(duì)稱型蘭姆波的特點(diǎn)是薄板中心質(zhì)點(diǎn)作縱
9判斷題-
向振動(dòng)。
10判斷題波源振動(dòng)持續(xù)時(shí)間很短、間歇輻射的波稱為脈沖波。+
11判斷題脈沖越短,頻帶越窄。-
12判斷題對(duì)于鋼材,cL:cS:cR^l.8:1:0.9o+
13判斷題同一固體介質(zhì)中,縱波聲速大于橫波聲速,橫波聲速大于表面波聲速。+
14判斷題超聲波的傳播速度僅僅取決于聲波波型,與介質(zhì)無(wú)關(guān)。-
15判斷題某一聲強(qiáng)與標(biāo)準(zhǔn)聲強(qiáng)的比值的常用對(duì)數(shù)稱為分貝。-
16判斷題超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí),反射波和透射波的波型不變。+
17判斷題平面波垂直入射到界面上,入射聲壓等于反射聲壓和透射聲壓之和。-
18判斷題當(dāng)鋼中的氣隙(如裂紋)厚度一定時(shí),超聲波頻率增加,反射波高也隨著增加。+
當(dāng)薄層兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗相等,薄層厚度為其半波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí),超聲波全透射,幾乎無(wú)反射
19判斷題+
(r=0),好像不存在異質(zhì)薄層一樣,這種透聲層稱為半波透聲層。
直探頭保護(hù)膜設(shè)計(jì)時(shí)只需要注意使保護(hù)膜厚度等于入2/4的奇數(shù)倍即可(入2為保護(hù)膜中聲波波
20判斷題
長(zhǎng))。-
21判斷題超聲波垂直入射時(shí),在底面全反射的條件下聲壓往復(fù)透射率與聲強(qiáng)反射率在數(shù)值上相等。-
22判斷題超聲波垂直入射時(shí),界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗相差越小,聲壓往復(fù)透射率就越低。-
23判斷題以有機(jī)玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭,有機(jī)玻璃/水界面為凹曲面。-
24判斷題介質(zhì)中形成駐波時(shí),相鄰兩波節(jié)或波腹之間的距離是一個(gè)波長(zhǎng)。-
25判斷題波的疊加原理說(shuō)明,幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時(shí),都可以合成一個(gè)波繼續(xù)傳播。-
W反射時(shí),示波屏上同時(shí)出現(xiàn)兩個(gè)缺陷波,檢測(cè)時(shí)應(yīng)根據(jù)底波之前高度較低的缺陷波對(duì)缺陷進(jìn)行
26判斷題+
定位和定量。
27判斷題球面波入射到水/鋼界面時(shí),其折射波更加發(fā)散。+
實(shí)際檢測(cè)中,當(dāng)介質(zhì)晶粒較粗大時(shí),若采用較高的頻率,將會(huì)引起嚴(yán)重衰減,示波屏出現(xiàn)大量
28判斷題+
草波,信噪比明顯下降,超聲波穿透能力顯著降低。
29判斷題矩形波源輻射的縱波聲場(chǎng)與圓盤源不同,矩形波源有兩個(gè)不同的半擴(kuò)散角,其聲場(chǎng)為矩形。+
30判斷題超聲波頻率越高,近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度也就越大。+
31判斷題如超聲波頻率不變,晶片面積越大,超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度越短。-
32判斷題探傷采用低頻是為了改善聲束指向性,提高探傷靈敏度。-
33判斷題液浸聚焦是利用平面波入射到C1>C2的凹透鏡(從入射方向看)上其折射波聚焦的原理制成的。-
34判斷題實(shí)際檢測(cè)中,聚焦聲束最后會(huì)聚于一點(diǎn)(或線)。-
35判斷題當(dāng)檢測(cè)條件一定時(shí),平底孔回波聲壓與直徑成正比,與距離平方成反比。-
36判斷題200mm處①4長(zhǎng)橫孔的回波聲壓比100mm處①2長(zhǎng)橫孔的回波聲壓低。+
37判斷題檢測(cè)條件一定時(shí),大平底面距離增加一倍,回波降低6dB。+
38判斷題內(nèi)孔檢測(cè)空心圓柱體,其回波聲壓低于同距離大平底面回波聲壓。-
39判斷題軸類工件外圓徑向探傷時(shí),曲底面回波聲壓比同聲程理想大平面相同。+
40判斷題同聲程理想大平面與平底孔回波聲壓的比值隨頻率的提高而減小。+
41判斷題探傷儀中的發(fā)射電路亦稱為觸發(fā)電路。-
42判斷題調(diào)節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕,將會(huì)改變儀器的水平線性。-
43判斷題目前使用最廣泛的測(cè)厚儀是共振式測(cè)厚儀。-
44判斷題超聲波探傷中,發(fā)射超聲波是利用正壓電效應(yīng),接收超聲波是利用逆壓電效應(yīng)。-
與結(jié)鈦酸鉛相比,石英作為壓電材料有性能穩(wěn)定、機(jī)電耦合系數(shù)高、壓電轉(zhuǎn)換能量損失小等優(yōu)
45判斷題-
點(diǎn)。
46判斷題雙晶直探頭傾角越大,焦點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn),復(fù)蓋區(qū)愈大。-
47判斷題接觸式聚焦探頭的主要參數(shù)為頻率、晶片尺寸和焦距。+
48判斷題探頭中壓電晶片背面加阻尼塊是為了提高機(jī)械品質(zhì)因子9m,減少機(jī)械能損耗。-
49判斷題CSKTA標(biāo)準(zhǔn)試塊的高為200mln,長(zhǎng)為300mm,寬為30mli1。-
50判斷題標(biāo)準(zhǔn)試塊用于儀器探頭系統(tǒng)性能測(cè)試校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)。+
51判斷題要注意防止試塊變形,如避免火烤,平板試塊盡可能平放。-
52判斷題按一定用途設(shè)計(jì)制作的具有簡(jiǎn)單幾何形狀人工反射體或模擬缺陷的試樣稱為試塊。+
53判斷題測(cè)量垂直線性時(shí),抑制旋鈕旋至“0”。+
54判斷題測(cè)量斜探頭的入射點(diǎn)、K值時(shí),不能在近場(chǎng)區(qū)內(nèi)進(jìn)行。+
55判斷題測(cè)量靈敏度余量時(shí),儀器的增益旋鈕調(diào)至最大,抑制旋鈕調(diào)至“0”,發(fā)射強(qiáng)度至“強(qiáng)”。+
56判斷題對(duì)于小型零件的檢測(cè),應(yīng)選擇靈敏度余量高、信噪比高、功率大的儀器。-
57判斷題由于波的干涉,使超聲波檢測(cè)靈敏度約為入/2,因此提高頻率,有利于發(fā)現(xiàn)更小的缺陷。-
時(shí)基線調(diào)整的目的主要有二,一是使時(shí)基線顯示范圍足以包括需檢測(cè)的深度范圍;二是使時(shí)基
58判斷題+
線刻度與在材料中聲傳播的距離成一定比例。
59判斷題利用工件底波調(diào)整法調(diào)節(jié)靈敏度時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。-
60判斷題調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于發(fā)現(xiàn)工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷定量。檢測(cè)靈敏度越高越好。-
焊接缺陷根據(jù)其性質(zhì)、特征主要分為裂紋、孔穴、固體夾雜、未焊透及未熔合、形狀和尺寸不
61判斷題-
良這5大類。
鋼鍛件是低合金鋼在熱態(tài)下,通過(guò)壓力加工而形成,包括自由鍛、快速鍛、擠壓鍛等不同鍛造
62判斷題+
方式。
63判斷題當(dāng)被檢部件為粗晶材料或奧氏體不銹鋼鍛件時(shí),儀器工作頻率需要覆蓋1MHz?5MHz。-
64判斷題當(dāng)檢測(cè)奧氏體不銹鋼鍛件時(shí),儀器可選擇0.5MHz的頻率。+
65判斷題超聲探傷對(duì)比試塊應(yīng)當(dāng)使用不銹鋼或碳鋼作為材料。-
66判斷題標(biāo)準(zhǔn)試塊通常用于校驗(yàn)儀器性能參數(shù)、線性、校對(duì)檢驗(yàn)靈敏度和檢驗(yàn)系統(tǒng)的性能。-
鍛件超聲檢驗(yàn)的時(shí)機(jī)必須安排在調(diào)質(zhì)熱處理(細(xì)化晶粒的熱處理,不包括消除應(yīng)力的熱處理)
67判斷題-
之后進(jìn)行,否則不能保證檢驗(yàn)結(jié)果的可靠性。
68判斷題鍛件根據(jù)其外形分為空心鍛件和非空心鍛件。+
69判斷題厚度小于6mm板材一般采用板波或雙晶探頭掃查。+
70判斷題厚度612mm板材才有雙晶直探頭或單直探頭多次底波法檢查。+
71判斷題12mm~40mm板材采用單直探頭或雙晶直探頭檢查。-
72判斷題厚度大于40mm的板材除直探頭外還需要增加斜探頭檢查。+
73判斷題鋼板的直探頭超聲掃查一般采用2.25或2.5MHz標(biāo)稱頻率探頭,有些時(shí)候也可以使用5MHz探頭。+
74判斷題斜探頭掃查鋼板一般采用K1斜探頭。+
75判斷題無(wú)縫管主要是通過(guò)穿孔法和高速擠壓法生產(chǎn),其內(nèi)部主要缺陷包括裂紋、折皺、分層和夾雜等。+
76判斷題無(wú)縫鋼管超聲檢測(cè),掃查靈敏度應(yīng)在基準(zhǔn)靈敏度基礎(chǔ)上至少提高6dB。。+
在大直徑管材或厚壁管材上,由于厚度和曲率原因使內(nèi)外壁切槽的回?fù)芊认嗖钶^大,應(yīng)按照
77判斷題-
外壁回波信號(hào)制定判廢靈敏度。
(ASME規(guī)范)超聲檢驗(yàn)時(shí),當(dāng)對(duì)比試塊的厚度±25mm介于兩種被檢焊縫厚度之間時(shí),其可覆蓋
78判斷題+
的被檢焊縫厚度范圍為對(duì)比試塊厚度+25mm或-25mm內(nèi)的全部焊縫。
79判斷題(ASME規(guī)范)對(duì)于堆焊層,對(duì)比試塊應(yīng)采用與被檢工件相同的堆焊方法堆焊。+
(ASME規(guī)范)當(dāng)焊縫兩側(cè)材料是用不同的方法堆焊時(shí),則對(duì)比試塊上的堆焊層應(yīng)采用進(jìn)行檢驗(yàn)
80判斷題+
的焊縫那一側(cè)的方法堆焊。
(ASME規(guī)范)當(dāng)被檢工件曲面直徑大于500mm時(shí),可以使用與被檢工件基本相同的曲面對(duì)比試
81判斷題+
塊,或者用平面對(duì)比試塊加適當(dāng)補(bǔ)償。
82判斷題對(duì)于45°探頭,如果從非堆焊層側(cè)設(shè)置靈敏度,應(yīng)首先從非堆焊層側(cè)掃查檢測(cè)。-
(ASME規(guī)范)直射波靈敏度設(shè)置時(shí),將探頭放置于對(duì)比試塊上,利用T/4、2T/4、3T/4、5T/4
83判斷題-
四個(gè)孔設(shè)置。
84判斷題(ASME規(guī)范)結(jié)構(gòu)顯示不需要對(duì)其進(jìn)行尺寸測(cè)量,也不要求按驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分析評(píng)價(jià)。+
(ASME規(guī)范)管座角焊縫檢驗(yàn)筒體側(cè),內(nèi)、外壁用斜探頭進(jìn)行檢驗(yàn),探頭的選擇與筒體對(duì)接焊
85判斷題+
縫相同,一般用45°和60°橫波斜探頭。
(ASME規(guī)范)采用斜探頭檢驗(yàn)焊縫時(shí),相鄰掃查覆蓋應(yīng)不小于垂直于掃查方向的探頭有效尺寸
86判斷題-
(壓電晶片)的20%。
87判斷題(ASME規(guī)范)第V卷A分卷列出的無(wú)損檢測(cè)方法標(biāo)準(zhǔn)只作為參考,是非強(qiáng)制性的。-
88判斷題(ASME規(guī)范)對(duì)于45°探頭,如果從非堆焊層側(cè)設(shè)置靈敏度,應(yīng)首先從非堆焊層側(cè)掃查測(cè)量。-
89判斷題(ASME規(guī)范)對(duì)于壁厚較厚的奧氏體不銹鋼焊縫一般采用較高頻率的探頭。-
(ASME規(guī)范)為例提高耦合效果,檢驗(yàn)直徑較小的不銹鋼管道焊縫時(shí),探頭接觸面盡量加工成
90判斷題+
與工件輪廓相吻合的弧面或用帶弧面的楔塊。
(ASME規(guī)范)由于奧氏體不銹鋼焊縫的特殊性,一般采用帶焊縫的對(duì)比試塊,并在焊縫上加工
91判斷題+
相應(yīng)的EDM槽。
(ASME規(guī)范)斜射波檢驗(yàn)由于材料衰減或檢驗(yàn)技術(shù)限制而只能進(jìn)行一次波檢驗(yàn)時(shí),靈敏度設(shè)置
92判斷題-
時(shí)應(yīng)使底面切槽最高回波達(dá)80%±5%滿屏高,此時(shí)需要繪制DAC曲線。
(ASME規(guī)范)在制造、安裝階段,對(duì)于不銹鋼焊縫存在顯示波幅超過(guò)100%DAC,且長(zhǎng)度超過(guò)19mm
93判斷題+
的缺陷不得驗(yàn)收。
94判斷題(ASME規(guī)范)鐵素體鋼管道焊縫超聲檢驗(yàn)時(shí),試塊的槽深度為821KT,且一般不加工焊縫。+
95判斷題超聲波儀器具有多通道功能,能進(jìn)行A、B、C和D-型掃描圖像顯示。+
96判斷題自動(dòng)超聲檢驗(yàn)用的探頭要求接觸面要耐磨,不能對(duì)工件產(chǎn)生腐蝕。+
97判斷題(ASME規(guī)范)鐵素體鋼管道焊縫超聲檢驗(yàn)時(shí),直射波需要用橫孔設(shè)置靈敏度。+
(ASME規(guī)范)焊縫超聲波檢驗(yàn),除非產(chǎn)品材料晶粒結(jié)構(gòu)等因素要求使用其他頻率探頭,一般要
98判斷題+
求探頭標(biāo)稱頻率應(yīng)為5MHzo
(ASME規(guī)范)如果參考反射體依據(jù)的是焊縫的平均厚度或較小厚度,則校準(zhǔn)試塊的厚度可以用
99判斷題-
焊縫較小的厚度。
100判斷題(ASME規(guī)范)基準(zhǔn)試塊的尺寸和反射體位置應(yīng)適合于用斜射波進(jìn)行的校驗(yàn)。+
101判斷題(ASME規(guī)范)銀基合金上使用的耦合劑含硫量不應(yīng)大于250ppm。+
102判斷題(ASME規(guī)范)接觸法檢驗(yàn)時(shí),檢驗(yàn)試塊與檢驗(yàn)表面的溫差應(yīng)在25F(14°C)內(nèi)。+
(ASME規(guī)范)不銹鋼焊縫的超聲檢驗(yàn),采用直射波靈敏度設(shè)置,如果當(dāng)要求增加直探頭檢驗(yàn)時(shí),
103判斷題-
則不需要加工橫孔來(lái)進(jìn)行靈敏度設(shè)置。
(ASME規(guī)范)在堆焊面進(jìn)行超聲檢驗(yàn)時(shí),所用雙晶探頭波束間夾角應(yīng)使探頭的有效焦點(diǎn)處于堆
104判斷題-
焊層與母材的結(jié)合面。
105判斷題(ASME規(guī)范)當(dāng)從母材面進(jìn)行堆焊層檢驗(yàn)時(shí),母材厚度與試塊厚度差應(yīng)不超過(guò)10虬-
106判斷題(ASME規(guī)范)屏高線性和幅度控制線性的校驗(yàn)周期為不超過(guò)6個(gè)月或以后首次使用前。-
107判斷題(ASME規(guī)范)管焊縫斜射波檢驗(yàn)只能使用試塊的槽進(jìn)行校驗(yàn),不得使用橫孔反射體。-
(ASME規(guī)范)為改善耦合狀況,對(duì)規(guī)程中規(guī)定的探頭增加了曲率楔塊,因探頭頻率晶片尺寸未
108判斷題-
改變,規(guī)程不需要重新鑒定。
二、單選題
序號(hào)題型題目選項(xiàng)A選項(xiàng)B選項(xiàng)C選項(xiàng)D答案
任何復(fù)雜振動(dòng)
諧振動(dòng)就是質(zhì)點(diǎn)在諧振動(dòng)中,質(zhì)點(diǎn)在在諧振動(dòng)中,質(zhì)點(diǎn)
以下關(guān)于諧振動(dòng)的敘述,哪一條是都可視為多個(gè)
1單選題在作勻速圓周運(yùn)位移最大處受力最在平衡位置速度最A(yù)
錯(cuò)誤的?()諧振動(dòng)的合
動(dòng)。大,速度為零。大,受力為零。
成。
在液體和氣體中可以傳播的波型有
2單選題縱波橫波表面波板波A
0
聲壓往復(fù)透射界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗聲壓往復(fù)透射率越
聲壓往復(fù)透射率
下列有關(guān)聲壓往復(fù)透射率的說(shuō)法有率與從何種介相差越小,聲壓往復(fù)高,檢測(cè)靈敏度越
3單選題與界面兩側(cè)介質(zhì)B
誤的是()質(zhì)入射到界面透射率越高,反高,反之,檢測(cè)靈
的聲阻抗有關(guān)
有關(guān)之越低敏度越低。
以以小于14.5°
4.5°"27.27°的入射角入射以27.6°~57.7°入
的入射角入射水/水/鋼界面射角入射有機(jī)玻璃/
以下關(guān)于超聲縱波傾斜入射的描述
4單選題鋼界面時(shí),鋼中時(shí),折射縱波鋼界面時(shí),鋼中只有以上都不對(duì)A
中有誤的是()
沒(méi)有折射橫波,的聲壓往復(fù)透折射橫波,沒(méi)有折
只有折射縱射率不超過(guò)射縱波。
波。13%o
下列關(guān)于某點(diǎn)的聲壓與該點(diǎn)至波源
平面波的聲壓與球面波的聲壓柱面波的聲壓與距離平面波的聲壓不隨
5單選題的距離之間的關(guān)系敘述有誤的是A
距離成反比與距離成反比的平方根成反比距離變化
0
反射波的聚焦或超聲波徑向檢測(cè)空
球面波在球面球面波在柱面的反射
發(fā)散不僅與曲面心圓柱體,入射點(diǎn)
以下關(guān)于球面波在曲界面上的反射上的反射波可波可近似為兩個(gè)不同
6單選題的凹凸有關(guān),還處空心圓柱體的反C
說(shuō)法正確的是()視為從焦點(diǎn)發(fā)的柱面波的疊
與界面兩側(cè)介質(zhì)射聲壓總是高于同
出的球面波。加。
中的聲速有關(guān)。距離的平底面的反
活塞波聲場(chǎng),聲束軸線上最后一個(gè)聲壓
7單選題近場(chǎng)長(zhǎng)度未擴(kuò)散區(qū)主聲束超聲場(chǎng)A
極大值到聲源的距離稱為()
在探測(cè)條件相同的情況下,球孔直
8單選題徑一定時(shí),距離增加一倍,其反射6dB12dB24dB18dBB
波高下降()
以下敘述中哪一條不是聚焦探頭的探測(cè)粗晶材料時(shí)信
9單選題靈敏度高橫向分辨率高縱向分辨率高C
優(yōu)點(diǎn)()噪比高
單選題超聲波測(cè)厚儀分為()共振式脈沖反射式蘭姆波式以上都對(duì)
10D
壓電應(yīng)變常數(shù)和壓電機(jī)械品質(zhì)因子較
機(jī)電耦合系數(shù)K較居里溫度Tc較
下列關(guān)于超聲波探頭對(duì)晶片的一般電壓常數(shù)較大,以便大,以便獲得較高
11單選題大,以便獲得較高,聲阻抗ZD
要求的說(shuō)法中錯(cuò)誤的是()獲得較高的發(fā)射、接的分辨力和較小的
高的轉(zhuǎn)換效率。適當(dāng)。
收靈敏度。盲區(qū)。
下面對(duì)共振式測(cè)厚儀的敘述有誤的測(cè)試精度較不能直讀厚度,需用要求被檢工件上下
12單選題可測(cè)厚度下限高A
是()IWJ,可達(dá)0.1%公式計(jì)算表面平行
橫波斜探頭主
縱波直探頭主要寬帶探頭對(duì)應(yīng)的脈
要用于檢測(cè)與對(duì)于小缺陷、厚度不
用于檢測(cè)與檢測(cè)沖寬度較小,深度
13單選題對(duì)探頭選擇敘述有誤的是()檢測(cè)面垂直或大的工件,宜選擇較C
面平行或近似平分辨力變差,盲區(qū)
成一定角度的低的頻率
行的缺陷小
缺陷
超聲波檢驗(yàn)中,選用晶片尺寸大的減少材質(zhì)衰減損輻射聲能大且能量集
14單選題減少耦合損失以上都對(duì)C
探頭的優(yōu)點(diǎn)是()失中
采用大直徑、
在下列方法中,適合于粗晶材料探將接觸法探傷改
15單選題低頻、縱波、采用小直徑探頭探傷以上都是B
傷的是()為液浸法探傷
窄脈沖探頭探
探傷時(shí)采用較高的探測(cè)頻率,可有區(qū)分開(kāi)相鄰的
16單選題發(fā)現(xiàn)較小的缺陷改善聲束指向性以上全部D
利于()缺陷
超聲容易探測(cè)到的缺陷尺寸一般不小
17單選題波長(zhǎng)的一半一個(gè)波長(zhǎng)四分之一波長(zhǎng)若干個(gè)波長(zhǎng)A
于:()
當(dāng)采用一次反射法檢測(cè)時(shí),探頭移
18單選題0.75P1P1.25P1.5PC
動(dòng)區(qū)大于等于()
第三臨界角指
第一介質(zhì)中只橫波傾斜入射時(shí),只橫波傾斜入射時(shí),
橫波傾斜入射到
下列關(guān)于橫波傾斜入射有誤的是有反射橫波,存在第三臨界角,不各反射波、折射波
19單選題界面時(shí),會(huì)發(fā)生C
0沒(méi)有反射縱波存在第一、第二臨界的方向符合反射、
波型轉(zhuǎn)換
時(shí)入射角的臨角。折射定律。
界角
當(dāng)超聲縱波由有機(jī)玻璃以入射角
20單選題反射縱波反射橫波折射縱波和折射橫波以上都有D
15°射向鋼界面時(shí),可能存在()
由于波的繞
射,使超聲波由于波的衍射,使
波的衍射對(duì)檢測(cè)可以利用衍射波檢測(cè)
21單選題下列說(shuō)法有誤的是()產(chǎn)生晶粒繞射一些小缺陷回波顯A
有害無(wú)利。缺陷。
順利地在介質(zhì)著下降,以致造成
中傳播。
在同一界面上,聲強(qiáng)透射率T與聲
22單選題T=r2T=l-r2T=l+rT=l-rB
壓反射率r的關(guān)系是()
超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí),反
界面兩側(cè)介質(zhì)的界面兩側(cè)介質(zhì)界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻
23單選題射波與投射波聲能的分配比例取決以上全對(duì)C
聲速的衰減系數(shù)抗
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