2024電力芯片電磁干擾與溫度綜合應(yīng)力試驗方法 第1部分:要求_第1頁
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供不同類型的電力芯片電磁干擾與溫度綜合應(yīng)力可靠性試驗方法,T/CECXXXXXXGB/T9178-1988集成電路術(shù)語GB/T4365-2003GB/T4937.23-202323GB/T17626.4-2018電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗GB/T17626.5-2019電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗GB/T17626.18-2016電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩波抗擾度試驗GB/T42968.1-20231GB/T43034.3-20233IEC62132-44(Integrated-Measurementofelectromagneticimmunity150kHzto1GHz-Part4:DirectRFpowerinjection電磁溫度綜合應(yīng)力試驗板ElectromagnetictemperaturecomprehensivestressexperimentalIC(Integratedcircuit)DUT(Deviceundertest)dB分貝(Decibel)6dB(典型值),并應(yīng)在試驗前進行確認(rèn)。CW150kHz~3GB/T42968.1-20037.4.1

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之前,應(yīng)檢查試驗使用的所有設(shè)備(DUT),以確保其具有足夠的電磁抗擾度。IEC62132-44.2、4.3DUT1.5,增益準(zhǔn)確度應(yīng)在±0.5dB,失真小于-20dBc(RF20dB);——瞬態(tài)電磁干擾發(fā)生器包含電快速瞬變脈沖群、浪涌、阻尼振蕩波的發(fā)生器,應(yīng)按照GB/T17626.4-2018、GB/T17626.5-2019、GB/T17626.18-20166.1DUTDUTDUT1注:試驗限值(例如電磁干擾和溫度的試驗限值)DUTF;d)DUTDUT168hDUT下4h4h2DUTT/CECXXXX-附錄IC附錄線路驅(qū)動器:驅(qū)動離開應(yīng)用板的信號(全局引腳)ISO9141LINb)ISO9141LINLVDSCANLVDSICCPU(CU(控制單元))并執(zhí)行算術(shù)和邏輯運算(ALU(算術(shù)/邏輯單元));ICEMCIC電路的一部分。與這些電路相關(guān)的所有引腳(例如分頻器、數(shù)字邏輯輸入引腳)IC附錄ICC.1附錄100Ω的其它電阻值。在試驗報告中應(yīng)說明所采用的電阻值和電容值。D.1D.2D.2附錄E.1,其中ICE.1E.2IOE.3DUT的功能。E.3E.4E.5n.p.——除非為

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