光纖鏈路的測試75課件講解

光纖鏈路的測試

對光纖鏈路的測試主要是衰減測試和光纜長度測試，衰減測試就是對光功率損耗的測試引起光纖鏈路損耗的原因主要有：1、材料原因。光纖純度不夠和材料密度的變化太大。2、光纜的彎曲程度。包括安裝彎曲和產(chǎn)品制造彎曲問題，光纜對彎曲非常敏感。3、光纜接合以及連接的耦合損耗。這主要由截面不匹配、間隙損耗、軸心不匹配和角度不匹配造成。4、不潔或連接質(zhì)量不良。低損耗光纜的大敵是不潔凈的連接，灰塵阻礙光傳輸，手指的油污影響光傳輸，不潔凈光纜連接器可擴(kuò)散至其它連接器。

光纖鏈路的測試

一、光功率計測衰減對已敷設(shè)的光纜，可用插損法來進(jìn)行衰減測試，即用一個功率計和一個光源來測量兩個功率的差值。

第一個是從光源注入到光纜的能量，第二個是從光纜段的另一端的射出的能量。測量時為確定光纖的注入功率，必須對光源和功率計進(jìn)行校準(zhǔn)校準(zhǔn)后的結(jié)果可為所有被測光纜的光功率損耗測試提供一個基點，兩個功率的差值就是每個光纖鏈路的損耗。

一、光功率計測衰減1、光纖衰減測試準(zhǔn)備工作（1）確定要測試的光纜；（2）確定要測試光纖的類型；（3）確定光功率計和光源與要測試的光纜類型匹配；（4）校準(zhǔn)光功率計；（5）確定光功率計和光源處于同一波長2、測試設(shè)備光功率計，光源，參照適配器（耦合器），測試用光纜跳線等

3、光功率計校準(zhǔn)4、光纖鏈路的測試測試按下圖所示進(jìn)行連接一、光功率計測衰減測試連接前應(yīng)對光連接的插頭、插座進(jìn)行清潔處理，防止由于接頭不干凈帶來附加損耗，造成測試結(jié)果不準(zhǔn)確。

向主機(jī)輸入測量損耗標(biāo)準(zhǔn)值。

操作測試儀，在所選擇的波長上分別進(jìn)行兩個方向的光傳輸衰耗測試。

報告在不同波長下不同方向的鏈路衰減測試結(jié)果。一、光功率計測衰減光功率計只能測試光功率損耗，如果要確定損耗的位置和損耗的起因，就要采用光時域反射計（OTDR）。

OTDR測試是通過發(fā)射光脈沖到光纖內(nèi)，然后在OTDR端口接收返回的信息來進(jìn)行。

當(dāng)光脈沖在光纖內(nèi)傳輸時，會由于光纖本身的性質(zhì)、連接器、接合點、彎曲或其它類似的事件而產(chǎn)生散射、反射。其中一部分的散射和反射就會返回到OTDR中。二、OTDR測試返回的有用信息由OTDR的探測器來測量，它們就作為光纖內(nèi)不同位置上的時間或曲線片斷。

這樣OTDR將光纖鏈路的完好情況和故障狀態(tài)，以一定斜率直線（曲線）的形式清晰的顯示在幾英寸的液晶屏上。

根據(jù)事件表的數(shù)據(jù)，能迅速的查找確定故障點的位置和判斷障礙的性質(zhì)及類別，對分析光纖的主要特性參數(shù)能提供準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。二、OTDR測試

OTDR可測試的主要參數(shù)有：

（1）測纖長和事件點的位置；

（2）測光纖的衰減和衰減分布情況；

（3）測光纖的接頭損耗；

（4）光纖全回?fù)p的測量。

二、OTDR測試課后作業(yè)1、光纖連接器有（）、（）、（）和（）等多種。

2、光纖測試的主要參數(shù)是（）、（）和（）。

3、光纖的衰減主要是光纖本身的（）和（）造成的，衰減系數(shù)越大、光信號在光纖中的衰減就越嚴(yán)重。

4、光纖彎曲半徑越（）越好。

5、光纜是數(shù)據(jù)傳輸中最有效的一種傳輸介質(zhì)，它的優(yōu)點是（）。

A頻帶較寬B電磁絕緣性能好