JJG 895-1995 國(guó)家檢定校準(zhǔn) 規(guī)范

中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程JJG895—1995光纖折射率分布和幾何參數(shù)測(cè)量?jī)x(折射近場(chǎng)法)CharacterizationSystemsfortheRefractionIndexProfileandGeometricParametersofOpticalFiber1995-05-30發(fā)布1995-11-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布JJG895—1995光纖折射率分布和幾何參數(shù)測(cè)量?jī)x(折射近場(chǎng)法)檢定規(guī)程VerificationRegulationoftheCharac-terizationSystemsfortheRefractionIndexProfileandGeometric???????????????JJG895—1995???????????????ParametersofOpticalFiber本檢定規(guī)程經(jīng)國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局于1995年05月30日批準(zhǔn),并自1995年11月01日起施行。歸口單位:中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院起草單位:中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院本規(guī)范技術(shù)條文由起草單位負(fù)責(zé)解釋JJG895—1995本規(guī)程主要起草人:方占軍(中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院)參加起草人:李天初(中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院)方毓文王民明(中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院)(中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院)JJG895—1995目錄一二三四概述…………………(1)檢定項(xiàng)目和檢定條件………………(2)檢定方法和技術(shù)要求………………(3)檢定結(jié)果處理和檢定周期…………(4)JJG895—1995光纖折射率分布和幾何參數(shù)測(cè)量?jī)x(折射近場(chǎng)法)檢定規(guī)程本規(guī)程適用于新制造的、使用中的和修理后的光纖折射率分布和幾何參數(shù)測(cè)量?jī)x(折射近場(chǎng)法)的檢定。一概述光纖折射率分布和幾何參數(shù)測(cè)量?jī)x(折射近場(chǎng)法)是用來(lái)測(cè)量單模、多模光纖的折射率分布、折射率差值和幾何尺寸等參數(shù)的專用儀器。測(cè)量?jī)x(折射近場(chǎng)法)的原理框圖見(jiàn)圖1。圖1He-Ne激光器發(fā)射出單橫模激光,經(jīng)光學(xué)聚焦、反射系統(tǒng)會(huì)聚成掃描激光光斑?？刂齐娐夫?qū)動(dòng)微位移臺(tái)一維或二維掃描,即掃描激光光斑沿一維或二維方向掃描光纖被測(cè)端面。折射近場(chǎng)法不測(cè)量光纖的導(dǎo)模,而測(cè)量光纖的折射模。理論推導(dǎo)證明(參考圖2)如下:Δnr()=-K1Pθ+K2()0/(K1=n2πI01)/(K2=P0n12πI0)光纖相對(duì)匹配液的折射率Δnr()與折射光功率P(θ0)成正比。光纖折射率分布和幾何參數(shù)測(cè)量?jī)x(折射近場(chǎng)法)的基本測(cè)試功能包括:用折射近場(chǎng)法測(cè)量單模和多模光纖的折射率分布曲線,然后用單?；蚨嗄９饫w的折射率分布曲線計(jì)算出折射率差值、包層直徑、芯徑等幾何參數(shù)。1JJG895—1995圖2二檢定項(xiàng)目和檢定條件光纖折射率分布和幾何參數(shù)測(cè)量?jī)x(折射近場(chǎng)法)的檢定項(xiàng)目和主要檢定用的工具1列于表1。表1檢定類別修理后的主要檢定用的工具序號(hào)檢定的項(xiàng)目外觀新制造的使用中的—12+-+-折射率分布及幾何參數(shù)測(cè)量幾何參數(shù)和++折射率標(biāo)準(zhǔn)光纖注:“+”表示該項(xiàng)必須檢定,“-”表示該項(xiàng)可以不檢定。檢定條件2光纖折射率分布和幾何參數(shù)測(cè)量?jī)x(折射近場(chǎng)法)需放置于具有良好隔震措施的2.1平臺(tái)上。室溫控制在(20±3)℃,濕度≤80%。2.22.3光纖折射率分布和幾何參數(shù)測(cè)量?jī)x(折射近場(chǎng)法)正常工作前應(yīng)預(yù)熱30min以上。2JJG895—1995三檢定方法和技術(shù)要求外觀3要求3.1儀器外表無(wú)明顯碰、劃、刻痕跡。3.1.13.1.23.1.33.1.4儀器中光學(xué)表面潔凈無(wú)灰塵。儀器應(yīng)有制造廠名(或廠標(biāo))和出廠編號(hào)。運(yùn)動(dòng)部件工作靈活無(wú)阻礙。檢定方法:目視觀察。3.2折射率分布及幾何參數(shù)4要求:4.1光纖包層直徑測(cè)量重復(fù)性2σ≤1μm;光纖包層直徑測(cè)量不確定度U≤1.5μm;光纖折射率測(cè)量重復(fù)性2σ≤0.001;光纖折射率測(cè)量不確定度U≤0.0015。檢定方法4.2光纖折射率分布和幾何參數(shù)測(cè)量?jī)x(折射近場(chǎng)法)采用折射近場(chǎng)法測(cè)量光纖的4.2.1折射率分布和幾何參數(shù)。對(duì)配置的幾何參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)光纖進(jìn)行檢查,注意保護(hù)好標(biāo)明檢定結(jié)果的端面,所給4.2.2檢定結(jié)果與標(biāo)明的端面一一對(duì)應(yīng)。端面粘有污跡后可以用酒精清洗干凈。目視檢查氦氖激光器工作正常,聚焦良好。4.2.34.2.4準(zhǔn)備潔凈折射率匹配液室一個(gè),將幾何參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)光纖(短光纖,長(zhǎng)度約10cm)沿倒置方向插入光纖夾桿中,如圖3所示。測(cè)量光纖包層直徑10次,記錄下10次測(cè)量結(jié)果d1,d2,…,d10,幾何尺寸4.2.5平均值D和測(cè)量重復(fù)性2σ用公式()和()計(jì)算求出:11′(D=d1+d2+…+d10)/10(1)2σ=2{[(d1-D)2+(d2-D)2+…+(d10-D)2]/9}1/2(1′)4.2.6準(zhǔn)備折射率標(biāo)準(zhǔn)光纖,這種光纖的折射率分布曲線如圖4所示。用折射率標(biāo)準(zhǔn)光纖重新切割,準(zhǔn)備潔凈匹配液室一個(gè),重復(fù)測(cè)量階梯Ⅲ(或其他選定階梯)的折射率值10次,記錄下10次的測(cè)量結(jié)果n1,n2,…,n10,折射率測(cè)量平均值n和折射率測(cè)量重復(fù)性2σ按公式()和()計(jì)算求得:22′n=(n1+n2++n10…)/()2103JJG895—1995圖3圖42σ=2{[(n1-n)+(n2-n)2+…+(n10-n)22]/9}1/2(2′)四檢定結(jié)果處理和檢定周期凡經(jīng)檢定符合本規(guī)程要求的光纖折射率分布和幾何參數(shù)測(cè)量?jī)x(折射近場(chǎng)法)應(yīng)填5發(fā)檢定證書(shū)