與或非門電路實(shí)驗(yàn)報告.doc

本科學(xué)生設(shè)計性實(shí)驗(yàn)報告學(xué)號 124100158 姓名 顏洪毅 學(xué)院 信息學(xué)院 專業(yè)、班級 計算機(jī)科學(xué)與技術(shù) 實(shí)驗(yàn)課程名稱 數(shù)字邏輯與數(shù)字系統(tǒng) 教師及職稱 王 坤 開課學(xué)期 2013 至 2014 學(xué)年第 一 學(xué)期 填報時間 2013 年 9 月 26 日云南師范大學(xué)教務(wù)處編印一、實(shí)驗(yàn)設(shè)計方案實(shí)驗(yàn)序號 實(shí)驗(yàn)一實(shí)驗(yàn)名稱與或非門電路實(shí)驗(yàn)時間2013.09.26實(shí)驗(yàn)室同析3棟217小組成員1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、驗(yàn)證常用TTL門電路的邏輯功能；2、熟練掌握常用儀器儀表的使用。+5V接開關(guān)V接LED FABCD2實(shí)驗(yàn)原理、實(shí)驗(yàn)流程或裝置示意圖（1）、與非門+5V接開關(guān)V接LED FAB（2）、 或非門+5V接開關(guān)V接LED FABCD（3）、與或非門+5V接開關(guān)V接LED FAB（4）、異或門+5V接開關(guān)V接LED FA（5）、非門3實(shí)驗(yàn)設(shè)備及材料（1）、數(shù)字電路實(shí)驗(yàn)臺 1臺 （2）、集成電路芯片74LS00（二輸入四與非門） 1片74LS02（二輸入四或非門） 1片74LS51（雙2-3輸入與或非門） 1片74LS86（二輸入四異或門） 1片74LS04（六非門） 1片4實(shí)驗(yàn)方法步驟及注意事項(xiàng)（1）、與非門邏輯功能測試用74LS00二輸入四與非門進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。（2）、或非門邏輯功能測試用74LS02二輸入四或非門進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。（3）、與或非門邏輯功能測試用74LS51雙2-3輸入與或非門進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。（4）、異或門邏輯功能測試用74LS86二輸入四異或門進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。（5）、非門邏輯功能測試用74LS04六非門進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。5實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理方法將所得數(shù)據(jù)列表處理，對比實(shí)驗(yàn)結(jié)果。6參考文獻(xiàn)無教師對實(shí)驗(yàn)設(shè)計方案的意見簽名： 年 月 日二、實(shí)驗(yàn)報告1實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象與結(jié)果表1 與非門邏輯功能測試表輸 入輸 出 FAB電壓（V）邏輯狀態(tài)（ 燈亮為“1”，燈滅為“0” ）0051014.91104.91110.170表2 或非門邏輯功能測試表輸 入輸 出 FAB電壓(V)邏輯狀態(tài)（ 燈亮為“1”，燈滅為“0” ）00 4.9 101 0.1 110 0.1 111 0.11 表3 與或非門邏輯功能測試表輸 入輸 出 FABCD電壓(V)邏輯狀態(tài)（ 燈亮為“1”，燈滅為“0” ）00000.7000011.3000111.1001111.0011114.51表4 異或門功能測試表輸 入輸 出 FAB電壓(V)邏輯狀態(tài)（ 燈亮為“1”，燈滅為“0” ）00 0.1 001 0.1 010 0.1 011 0.10 表5 非門邏輯功能測試表輸 入輸 出 F A電壓(V)邏輯狀態(tài)（ 燈亮為“1”，燈滅為“0” ） 0 4.9 0 1 2.4 02對實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象、實(shí)驗(yàn)結(jié)果的分析及其結(jié)論實(shí)驗(yàn)結(jié)果符合與非門、或非門、與或非門、異或門及非門邏輯功能特點(diǎn)三實(shí)驗(yàn)總結(jié)1本次實(shí)驗(yàn)成敗及其原因分析本次實(shí)驗(yàn)很成功！1、 實(shí)驗(yàn)儀器和器材均正常工作且無損傷；2、