JJG 853-2013 低本底α、β測量儀

中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程53本底、013測量儀53家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布 中國質(zhì)檢出版社出版發(fā)行北京市朝陽區(qū)和平里西街甲2號(100013)北京市西城區(qū)三里河北街16號(100045)010)64275323發(fā)行中心:(010)51780235讀者服務(wù)部:(010)68523946中國標(biāo)準(zhǔn)出版社秦皇島印刷廠印刷各地新華書店經(jīng)銷* 開本8806 印張1字?jǐn)?shù)22千字2013年12月第一版2013年12月第一次印刷* 書號155026 010)53本底、0.。陰部歸55啃七of 口單位53規(guī)程起草人國計量科學(xué)研究院)梁瑭成(中國計量科學(xué)研究院)何林鋒(上海市計量測試技術(shù)研究院)陳靖(中國計量科學(xué)研究院)53錄99。，。白酬地樣果仁式結(jié)格檢報位處錄/荒求求識制的己書確且L慨附加丹江擺擺出時宮附加圍用語術(shù)計述量儀探重串用外量檢檢檢檢檢53002一2010(國家計量檢定規(guī)程編寫規(guī)則、(通用計量術(shù)語及定義、1一2012(測量不確定度評定與表示共同構(gòu)成支撐本規(guī)程修訂工作的基礎(chǔ)性系列規(guī)范。與編輯性修改外，本規(guī)程主要技術(shù)變化如下測量儀的分級;一一取消要求受檢用戶提供一一取消穩(wěn)定性檢定7. 3. 2 , 7. 3. 3 , E 53本底、圍本規(guī)程適用于采用固體閃爍探測器和半導(dǎo)體探測器的低本底、日測量儀的首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢查，不適用于流氣正比計數(shù)器以及液體閃爍計數(shù)器等類型測量儀器的檢定。2 引用文件本規(guī)程引用下列文件035離輻射計量術(shù)語及定義 11682本底和/或697: 2008 水質(zhì)元鹽水中總of in 85892009環(huán)境中放射性活度測量土壤第6部分in : of 凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本規(guī)程;凡是不注日期的引用文件，其最新版本包括所有的修改單適用于本規(guī)程。3 術(shù)語和計量單位3. 1 術(shù)語3. 1. 1 儀器本底器正常工作狀態(tài)下，測量元放射性污染的空樣品盤時的示值。3. 1. 2 表面發(fā)射率射源在2球面度內(nèi)的發(fā)射率。3. 1. 3 標(biāo)準(zhǔn)平面源質(zhì)和活度在某一確定的時間內(nèi)都是已知的，并能用作參考的固態(tài)平面放射源。3. 1. 4 探測效率一定探測條件下，探測器測得的計數(shù)率與被測源發(fā)射率的比值。3. 1. 5 串道比儀器測量單一或目標(biāo)準(zhǔn)源時，在自道或道的計數(shù)與和1 源表面發(fā)射率每分鐘2球面度，符號(211。位面積平均本底計數(shù)率每平方厘米分鐘，符號 53 概述低本底、號處理單元和屏蔽單元等組成。測量時，探測器記錄人射的、自粒子，計數(shù)率與樣品中核素活度成正比。探測器單元由主探測器、反符合探測器等構(gòu)成，置于屏蔽單元內(nèi)。信號處理單元由計算機和測量主機構(gòu)成。屏蔽單元一般由鉛和鋼等材料制成。低本底、自測量儀主要應(yīng)用于水質(zhì)監(jiān)測、食品衛(wèi)生、環(huán)境放射性評價與輻射防護等領(lǐng)域。5 計量性能要求5. 1 儀器本底5. 1. 1 單位面積，5. 1. 2 單位面霉的5. 2 探測效6. 1. 1 儀器外觀不應(yīng)6. 1. 2 儀器應(yīng)標(biāo)明制造等信息，其標(biāo)識應(yīng)牢固、清晰。7 計量器具控制計量器具控制包括首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢查。7. 1 檢定條件7. 1. 1 計量標(biāo)準(zhǔn)7. 1 標(biāo)準(zhǔn)平面源標(biāo)準(zhǔn)平面源的技術(shù)指標(biāo)見表1。2 531標(biāo)準(zhǔn)平面源的技術(shù)指標(biāo)表面發(fā)射率擴展規(guī)格表面發(fā)射率不確定度核素2外徑;205 (5) 是=2)活性區(qū);185 2392102 日標(biāo)準(zhǔn)平面源目標(biāo)準(zhǔn)平面源的技核素90 (k=2) 7. 1. 2 7. 1. 2. 4 定檢定項檢定項目外觀和標(biāo)識儀器本底探測效率重復(fù)性串道比+一+一+一+使用中檢查+ + + + +一+一+一+注+為應(yīng)檢定的項目一為可不檢定的項目。定方法7. 3. 1 外觀和標(biāo)識目測被檢儀器外觀， 儀器本底被檢低本底、自測量儀開機預(yù)熱至少30元放射性核素污染的樣品盤放人53量室進行本底測量。測量時間一般不少于24h，或的累計計數(shù)不小于25，目的累計計數(shù)不小于100，按式(1)計算被檢儀器的本底。-、，T = B (1) 式中自本底計數(shù)率，一(或)本底總計數(shù);一(或自)本底累計測量時間， 探測效率將(或自)標(biāo)準(zhǔn)平面源置于樣品盤中心，使源表面盡量接近但不超過樣品盤的上沿，固定平面源。設(shè)置儀器的測量次數(shù)及單次測量時間，使得用于計算探測效率的累計總計數(shù)不小于40000，按式(2)計算被檢儀器的探測效率。lT ()X 100% ) ) (2) 式中一儀器(或自探測效率;)一一(或自)累計計數(shù);)一一測量(或自)源的累計時間，一(或)標(biāo)準(zhǔn)平面源在檢定時的表面發(fā)射率，(211。探測效率檢定結(jié)果應(yīng)給出擴展不確定度。復(fù)性重復(fù)性測量條件下，用被檢儀器測量(或自)標(biāo)準(zhǔn)平面源，設(shè)置單次測量時間使得單次測量計數(shù)約為4000左右，重復(fù)測量不少于10次，按式(3)計算相對實驗標(biāo)準(zhǔn)差。v=豐X 三()2 $=1咱l (3) 式中i= 1 , 2 , 3. , n ( 串道比根據(jù)探測效率測量數(shù)據(jù)，按式(4)計算射線對式(5)計算自射線對道的串道比。Na a L=) 4 53liR a 問=叫一一測量標(biāo)準(zhǔn)平面源時，道的計數(shù);凡一一測量標(biāo)準(zhǔn)平面源時，道的計數(shù);問一道的計數(shù)霄定結(jié)果的處理檢定合格的低果;檢定不合格低(5) 5 53錄測量儀檢定記錄儀器名稱型號/規(guī)格出廠編號生產(chǎn)廠家檢定日期證書編號檢定依據(jù)的技術(shù)文件檢定環(huán)境條件溫度z 相對濕度z% 環(huán)境h 1 標(biāo)準(zhǔn)平面源目標(biāo)準(zhǔn)平面源檢定項目檢定結(jié)果合格判定外觀和標(biāo)識合格口不合格口測量時間有效探測計數(shù)率總計數(shù)儀器積 底 合格口不合格口合格口不合格口 合格口不合格口重復(fù)性日合格口不合格口測量時間累計計數(shù)凈計數(shù)探測效探測，道合格口不合格口自源，自道合格口不合格口串道比%串道比源，自道合格口不合格口道合格口不合格口檢定結(jié)論合格口不合格口檢定員核驗員6 53錄定證書第三頁式樣序號一1 2 3 4 5 檢定結(jié)論一一一一一一一一一一一一上一一一旦旦一一一一一7 53定結(jié)果通知書第三頁式樣序號1 2 3 一一 檢定不合格項目 證書編號53錄此在測量中引人的不確定度稱為統(tǒng)計不確定度。由于存在此項不確定度，同樣條件下的測量結(jié)果只能在某一誤差范圍內(nèi)一致。由原子核衰變規(guī)律引起的測量誤差是一項隨機誤差，與采用何種測量儀器元關(guān)。這項隨機誤差對于評估測量結(jié)果的可靠性具有重要意義，以下介紹統(tǒng)計不確定度的計算方法。如果對放射性樣品發(fā)射的粒子數(shù)進行無限多次重復(fù)測量，那么測量結(jié)果將服從泊松分布，中，軸表示出現(xiàn)某一測量值的概率。Y n n+n+2x 學(xué)期望)的偏差限用標(biāo)準(zhǔn)偏差的倍數(shù)k表示。根據(jù)泊松分布規(guī)律，如果某一時間段的測量總計數(shù)為n，那么標(biāo)準(zhǔn)偏差為z=C. l) 測量結(jié)果的誤差限為土是吟，k()到n+ 一一1. 65 53準(zhǔn)偏差與測量總汁數(shù)=毛2) 氣為實際測量的次數(shù)總