承壓設(shè)備無損檢測(cè)答案_0

1、最新資料推薦承壓設(shè)備無損檢測(cè)答案承壓設(shè)備無損檢測(cè)一、常規(guī)無損檢測(cè)方法：1 、射線檢測(cè)法(RT):利用射線通過物體時(shí)的吸收和散射的特性，通過測(cè)量材料(焊縫)因缺陷的存在使穿透射線強(qiáng)度的變化來檢測(cè)缺陷。(1) 特點(diǎn)：a 、檢測(cè)結(jié)果有直接記錄-底片b、可獲得缺陷的投影圖像，缺陷定性定量準(zhǔn)確 (2) 局限性：a、受被檢工件厚度，結(jié)構(gòu)，現(xiàn)場(chǎng)條件等因素影響b、體積型缺陷檢出率高而面積型缺陷檢出受多種因素影響c、 成本高、速度慢，對(duì)人體有害、 需采取防護(hù)措施2、UT：(1) 定義：把超聲波入射線被檢工件的一面，然后在同一面接收從缺陷處反射回來的缺陷回波，據(jù)回波的波幅和特性來判斷缺陷的大小和性質(zhì)。(2) 特點(diǎn)

2、：a 、面積型缺陷的檢出率高b 、適合厚度較大的工件 c 、成本低、速度快(3)局限性：a、無法得到缺陷的直觀圖像定性難定量精度不高b、檢測(cè)結(jié)果無直接的見證記錄c、對(duì)晶粒粗大的 材料不宜利用UT 3、MT (1) 原理:鐵磁性工件被磁化后由于工件中存在不連續(xù)性而使磁力線發(fā)生變,部分磁力線有可能逸出工件表面從空間穿過，形成漏磁場(chǎng)吸附磁粉（2）特點(diǎn)：a 、適宜鐵磁性的檢測(cè)，可檢測(cè)出表面積近表面的缺陷b、靈敏度高，可發(fā)現(xiàn)極細(xì)小的缺陷c、成本低、速度快（3）局限性：a 、適于鐵磁性的檢測(cè)，b、工件的形狀和尺寸對(duì)探傷產(chǎn)生影響4、滲透檢測(cè)：毛細(xì)作用（1）特點(diǎn)：a、 可檢測(cè)鋼鐵、陶瓷和塑料等工件的表面開口缺

3、陷b、 可對(duì)形狀復(fù)雜工件進(jìn)行表面檢測(cè)，以及可檢測(cè)出形狀復(fù)雜的缺陷c、不需水電、便于現(xiàn)場(chǎng)使用靈敏度試塊（不銹鋼的）（2）局限性：a 、不適宜多孔性工件b、對(duì)埋藏缺陷和閉合型缺陷無法檢出c 、程序多、速度慢、成本高、易燃低毒靈敏度v MT d、表面光潔度及操作人員的技術(shù)水平影響大二.JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)掌握的基本知識(shí)1.射線 技術(shù)等級(jí):A/AB/B 級(jí) a.底片黑度：1.5D4.0（A 級(jí)）2.0D4.0 （AB 級(jí)）2.3D4.0（B級(jí)）b. 像質(zhì)計(jì)（絲號(hào)）:根據(jù)工件公稱厚度/透照厚度c. 焦距d.底片有效長(zhǎng)度 e.搭接標(biāo)記，中心標(biāo)記 f.評(píng)定級(jí)別2.超聲:a.承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超

4、聲波檢測(cè)技術(shù)等級(jí)分為A/B/C級(jí) b.檢測(cè)面:c.試塊型號(hào):最新資料推薦d. 評(píng)定靈敏度e.探頭型號(hào)：頻率,K值/角度，晶片尺寸f.距離波- 幅曲線:RL-判廢線，SL-定量線，PL-評(píng)定線3 .磁粉a.提升力 電磁軛交流45N,直流177N,交叉118N b.磁化方法:磁軛法-縱向磁化 觸頭法-周向磁化 交叉磁軛法-復(fù)合磁化c.試片:A1型試片 A1-30/100 C型試片 C-15/50 d.磁懸液：配制濃度非熒光 10-25g/l. 熒光3-0.5g/l 4. 滲透a.試塊：鋁合金試塊（A型對(duì)比 試塊）（1）.在正常使用情況下，檢驗(yàn)滲透檢測(cè)劑能否滿足要求，以及 比較 兩種滲透檢測(cè)劑性能優(yōu)

5、劣.對(duì)用于非標(biāo)準(zhǔn)溫度下的滲透 檢測(cè)方法作出鑒定.b.鍍鉻試塊（B型試塊）（1）.檢驗(yàn)滲透檢測(cè)劑系 統(tǒng)靈敏度及操作工藝正確性.三、NDT質(zhì)量控制與管理1、 質(zhì) 量體系文件的內(nèi)容 a 、NDT的工作流程圖 b 、NDT 的質(zhì)量管理制度 c 、NDT的質(zhì)量控制的相關(guān)表卡 d 、 NDT的工藝規(guī)程 2、NDT工藝及檢測(cè)過程的管理（1）通用工藝規(guī)程和工藝卡的編制、審核、批準(zhǔn)主要內(nèi)容和適用范圍的說明引用標(biāo)準(zhǔn)（2）.通用工藝規(guī)程的內(nèi)容對(duì)檢測(cè)人員、器材及設(shè)備的要求對(duì)檢測(cè)過程的技術(shù)要求檢測(cè)結(jié)果的記錄、評(píng)疋、報(bào)告及歸檔工件的技術(shù)參數(shù)檢測(cè)技術(shù)的參數(shù)（3）.工藝卡的內(nèi)容工藝卡的使用說明檢測(cè)部位簡(jiǎn)圖編制及審核人員簽名四

6、.在特種設(shè)備檢驗(yàn)中如何選擇無損檢測(cè)方法(1)根據(jù)設(shè)備的材質(zhì)、公稱厚度選擇檢測(cè)方法(2)根據(jù)設(shè)備結(jié)構(gòu)，形狀選擇檢測(cè)方法(3)根據(jù)設(shè)備中的介質(zhì)，使用溫度判斷可能產(chǎn)生的缺陷種類，部位和方向選擇檢測(cè)方法(4)根據(jù)設(shè)備在制造時(shí)產(chǎn)生 的缺陷選擇檢測(cè)方法五.無損檢測(cè)過程中應(yīng)注意的事項(xiàng) 1 .UT與MT或UT與PT對(duì)同一部位進(jìn)行檢測(cè) MT/PT先,UT后.2.儲(chǔ)罐環(huán) 焊縫MT底部向上先做.習(xí)題 一.填空題1.滲透檢測(cè)所用B型試塊也叫鍍鉻試塊。2.超聲波檢測(cè)時(shí)制作的距離波-幅曲線中PL表示評(píng)定線。3磁粉檢測(cè)僅適用于鐵磁性材料檢測(cè)。4.滲透檢測(cè)原理毛細(xì)管作用。二.選擇題:,1 . JB/T4730.3-2005

7、標(biāo)準(zhǔn)中超聲波檢測(cè)承壓 設(shè)備對(duì)接焊接接頭技術(shù)等級(jí)分為：(b)A/AB/B 三級(jí)(b)A/B/C三級(jí)(c)1/2/3 三級(jí)(d)低級(jí)/中級(jí)/高級(jí)三級(jí)2 . JB/T4730.4-2005 標(biāo)準(zhǔn)中磁粉檢測(cè)采用電磁軛交流法對(duì)提 升力的要求是:(a ) (a)45N (b)177N (c)45N (d) 177NL3. JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)中射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)按A級(jí)要求，底片黑度應(yīng)滿足：(a)(a)1.5D4.0(b)2.0D4.0 (c)1.5vD4.0(d) 2.0v D4.04.通用工藝規(guī)程的內(nèi)容之是：(a)(a)主要內(nèi)容和適用范圍的說明(b)檢測(cè)部位簡(jiǎn)圖(c)NDT的工作流程圖(d)NDT的質(zhì)量管理制度最新資料推薦四.是非題:1.滲透檢測(cè)可檢測(cè)鋼鐵、 陶瓷和塑料等工件的表面開口缺陷。()2 .射線檢測(cè)可獲得缺陷的投影圖像，缺陷定性定量準(zhǔn) 確。()3 .磁粉檢測(cè)觸頭法是縱向磁化。()4.對(duì)晶粒粗大的材料不宜用超聲波檢測(cè)。() 五.問答題：1 、承壓設(shè)備常用的無損檢測(cè)方法？答：射線檢測(cè)、 超聲波檢測(cè)、 滲透檢測(cè)、 磁粉檢測(cè)。2 、NDT工藝卡必須包含那些內(nèi)容？答：包括以下幾方面內(nèi)容：A 、工件的技術(shù)參數(shù)；B、檢測(cè)技術(shù)的參數(shù)； C、 工藝卡 的使