承壓設備無損檢測第3部分0001

1、承壓設備無損檢測 第 3 部分：超聲檢測前言 661 范圍 672 規(guī)范性引用文件 673 一般要求 674 承壓設備用原材料、 零部件的超聲檢測和質量分級 695 承壓設備對接焊接接頭超聲檢測和質量分級 856 承壓設備管子、 壓力管道環(huán)向對接焊接接頭超聲檢測和質量分級1037 在用承壓設備超聲檢測1088 超聲檢測報告110JB/T 4730.3 2005JB/T 4730.1 4730.6-2005 承壓設備無損檢測分為以下六個部分：第 1部分：通用要求；第 2 部分：射線檢測； 第 3部分：超聲檢測；第 4 部分：磁粉檢測；第 5 部分：滲透檢測；第 6部分：渦流檢測。本部分為 JB/

2、T 4730.1 4730.6-2005 的第 3 部分：超聲檢測。本部分主要根據國內多年的研究成果和應用經驗，參考 ASME鍋爐壓力容器規(guī)范第篇和JIS 標準規(guī)范以及行業(yè)反饋意見進行修訂。本部分與 JB 4730-1994 相比主要變化如下：1. 對壁厚小于 3 倍近場區(qū)工件材質衰減系數公式進行修正；增加了奧氏體不銹鋼和雙相不銹鋼鋼板、鋁及鋁合金板材、 鈦及鈦合金板材超聲檢測內容；統一了爆炸和軋制復合鋼板超聲檢測內容。2. 將鋼制承壓設備對接焊接接頭超聲檢測范圍擴大到6mm 400mm，對對接焊接接頭超聲檢測試塊進行了局部調整；增加了鋼制承壓設備對接焊接接頭超聲檢測等級分類的內容；增加了 T

3、 型焊接接頭以及奧氏體不銹鋼承壓設備對接焊 接接頭的超聲檢測內容。3. 增加了壁厚大于或等于 4mm，外徑為 32mm 159mm或壁厚為 4mm 6mm，外徑大于或等于 159mm的鋼制承壓設備管子、 壓力管道環(huán)向對接接頭超聲檢測內容；增加了壁厚大于或等于5mm，外徑為 80mm 159mm或壁厚為 5mm8 mm，外徑大于或等于 159mm的鋁及鋁合金環(huán)向對接焊接接頭超聲檢測內容。4. 增加了在用承壓設備超聲檢測內容。承壓設備無損檢測 第 3 部分：超聲檢測1 范圍JB/T 4730 的本部分規(guī)定了承壓設備采用 A型脈沖反射式超聲波探傷儀檢測工件缺陷的超聲檢測方法和質量分級要求。本部分適用

4、于金屬材料制承壓設備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測，也適用于金屬材料制在用承壓設備的超聲 檢測。與承壓設備有關的支承件和結構件的超聲檢測，也可參照本部分使用。2 規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過 JB /T 4730 的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改 單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最 新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。JB/T 4730.1 承壓設備無損檢測 第 1 部分：通用要求JB/T 7913 1995 超聲波檢測用鋼制對比試塊的制作與校驗方法

5、JB/T 9214 1999 A 型脈沖反射式超聲波探傷系統工作性能 測試方法JB/T 10061 1999 A 型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術條件JB/T 10062 1999 超聲探傷用探頭性能測試方法JB/T 10063 1999 超聲探傷用 1 號標準試塊技術條件3 一般要求3.1 超聲檢測人員 超聲檢測人員的一般要求應符合 JB/T 4730.1 的有關規(guī)定 .3.2 檢測設備65JB/T 4730.3 20053.2.1 超聲檢測設備均應具有產品質量合格證或合格的證明文件。3.2.2 探傷儀、探頭和系統性能3.2.2.1 探傷儀采用 A 型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工作頻率范圍為

6、0.5MHz 10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內呈線性顯示。探傷儀應具有 80dB以上的連續(xù)可調衰減器，步進級每檔不大于2dB，其精度為任意相鄰 12dB 誤差在 1dB以內，最大累計誤差不超過 1dB。水平線性誤差不大于 1%，垂直線性誤差不大于 5%。其余指標應符合 JB/T 10061 的規(guī)定。3.2.2.2 探頭23.2.2.2.1 晶片面積一般不應大于 500mm2，且任一邊長原則上不大于25mm。3.2.2.2.2 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應大于2，主聲束垂直方向不應有明顯的雙峰。3.2.2.3 超聲探傷儀和探頭的系統性能3.2.2.3.1 在達到所探工件的最大檢

7、測聲程時，其有效靈敏度余量應不小于10dB。3.2.2.3.2 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于10%。3.2.2.3.3 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準靈敏度下) ：對于頻率為 5MHz的探頭，寬度不大于 10mm；對于頻率為2.5MHz 的探頭，寬度不大于 15mm。3.2.2.3.4 直探頭的遠場分辨力應不小于 30dB，斜探頭的遠場分辨力應不小于 6dB。3.2.2.3.5 儀器和探頭的系統性能應按 JB/T 9214 和 JB/T 10062 的規(guī)定進行測試。3.3 超聲檢測一般方法3.3.1 檢測準備3.3.1.1 承壓設備制造、安裝和在用檢驗中，超聲檢測的檢測時機

8、及抽檢率的選擇等應按相關法規(guī)、標準及有關技術文件的規(guī)定。3.3.1.2 所確定檢測面應保證工件被檢部分均能得到充分檢查。3.3.1.3 焊縫的表面質量應經外觀檢測合格。所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物等都應予以清除，其表面粗糙度應符 合檢測要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測結果的正確性和完整性，否則應做適當的處理。3.3.2 掃查覆蓋率 為確保檢測時超聲聲束能掃查到工件的整個被檢區(qū)域， 探頭的每次掃查覆蓋率應大于探頭直徑的15%。3.3.3 探頭的移動速度 探頭的掃查速度不應超過 150mm/s。當采用自動報警裝置掃查時，不受此限。3.3.4 掃查靈敏度掃查靈敏度通常不得低于基準靈敏度。3.

9、3.5 耦合劑 應采用透聲性好，且不損傷檢測表面的耦合劑，如機油、漿糊、甘油和水等。3.3.6 靈敏度補償a) 耦合補償。在檢測和缺陷定量時，應對由表面粗糙度引起的耦合損失進行補償。b) 衰減補償。在檢測和缺陷定量時，應對材質衰減引起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進行補償。c) 曲面補償。對探測面是曲面的工件，應采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過對比試驗進行曲率補償。3.4 系統校準和復核3.4.1 一般要求系統校準應在標準試塊上進行，校準中應使探頭主聲束垂直對準反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號66JB/T 4730.3 20053.4.2 儀器校準每隔 3 個月至少對儀器的水

10、平線性和垂直線性進行一次測定，測定方法按 JB/T 10061 的規(guī)定。3.4.3 新購探頭測定 新購探頭應有探頭性能參數說明書，新探頭使用前應進行前沿距離、K 值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數的測定。測定應按 JB/T 10062 的有關規(guī)定進行，并滿足其要求。3.4.4 檢測前儀器和探頭系統測定3.4.4.1 使用儀器斜探頭系統， 檢測前應測定前沿距離、 K 值和主聲束偏離， 調節(jié)或復核掃描量程和掃查靈敏度。3.4.4.2 使用儀器直探頭系統，檢測前應測定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調節(jié)或復核掃描量程和掃查靈敏度。3.4.5 檢測過程中儀器和探頭系統的復核 遇有下述情況應對

11、系統進行復核：a) 校準后的探頭、耦合劑和儀器調節(jié)旋鈕發(fā)生改變時；b) 檢測人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時；c) 連續(xù)工作 4h 以上時；d) 工作結束時。3.4.6 檢測結束前儀器和探頭系統的復核a) 每次檢測結束前，應對掃描量程進行復核。如果任意一點在掃描線上的偏移超過掃描線讀數的10%，則掃描量程應重新調整，并對上一次復核以來所有的檢測部位進行復檢。b) 每次檢測結束前，應對掃查靈敏度進行復核。一般對距離波幅曲線的校核不應少于 3 點。如曲線上任何一點幅度 下降 2dB，則應對上一次復核以來所有的檢測部位進行復檢；如幅度上升 2dB，則應對所有的記錄信號進行重新評定。3.4.7 校

12、準、復核的有關注意事項 校準、復核和對儀器進行線性檢測時，任何影響儀器線性的控制器(如抑制或濾波開關等)都應放在“關”的位置或處于最低水平上。3.5 試塊3.5.1 標準試塊3.5.1.1 標準試塊是指本部分規(guī)定的用于儀器探頭系統性能校準和檢測校準的試塊，本部分采用的標準試塊有：a) 鋼板用標準試塊： CB、 CB；b) 鍛件用標準試塊： CS、 CS、 CS；c) 焊接接頭用標準試塊： CSK-A 、CSK-A、CSK-A、CSK- A。3.5.1.2 標準試塊應采用與被檢工件聲學性能相同或近似的材料制成，該材料用直探頭檢測時，不得有大于或等于 2mm 平底孔當量直徑的缺陷。3.5.1.3

13、標準試塊尺寸精度應符合本部分的要求，并應經計量部門檢定合格。3.5.1.4 標準試塊的其他制造要求應符合JB/T 10063 和 JB/T 7913 的規(guī)定。3.5.2 對比試塊3.5.2.1 對比試塊是指用于檢測校準的試塊。3.5.2.2 對比試塊的外形尺寸應能代表被檢工件的特征，試塊厚度應與被檢工件的厚度相對應。如果涉及到兩種或兩種以 上不同厚度部件焊接接頭的檢測，試塊的厚度應由其最大厚度來確定。3.5.2.3 對比試塊反射體的形狀、尺寸和數量應符合本部分的規(guī)定。67JB/T 4730.3 20054 承壓設備用原材料、零部件的超聲檢測和質量分級4.1 承壓設備用鋼板超聲檢測和質量分級4.

14、1.1 范圍 本條適用于板厚為 6mm 250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設備用板材的超聲檢測和質量分級。 奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板材的超聲檢測也可參照本章執(zhí)行。4.1.2 探頭選用4.1.2.1 探頭的選用應按表 1 的規(guī)定進行。表 1 承壓設備用板材超聲檢測探頭選用板厚， mm采用探頭公稱頻率， MHz探頭晶片尺寸620雙晶直探頭5晶片面積不小于 150mm22040單晶直探頭514 20 mm40250單晶直探頭2.520 25 mm4.1.2.2 雙晶直探頭性能應符合附錄A（規(guī)范性附錄）的要求。4.1.3 標準試塊4.1.3.1 用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm的

15、鋼板時，采用如圖 1 所示的 CB標準試塊。4.1.3.2 用單直探頭檢測厚度大于20mm的鋼板時， CB標準試塊應符合圖 2 和表 2 的規(guī)定。 試塊厚度應與 被檢鋼板厚度相近。如經合同雙方協商同意，也可采用雙晶直探頭進行檢測。圖 1 CB 標準試塊68試塊編號被檢鋼板厚度檢測面到平底孔的距離 s試塊厚度 TCB-120 401520CB-240 603040CB-360 1005065CB-4100 16090110CB-5160 200140170CB-6200 250190220表 2 CB 標準試塊JB/T 4730.3 2005圖 2 CB 標準試塊mm4.1.4 基準靈敏度4.1

16、.4.1 板厚不大于 20mm時，用 CB試塊將工件等厚部位第一次底波高度調整到滿刻度的50%，再提高 10dB 作為基準靈敏度。4.1.4.2 板厚大于 20mm時，應將 CB試塊 5 平底孔第一次反射波高調整到滿刻度的50%作為基準靈敏度。4.1.4.3 板厚不小于探頭的 3 倍近場區(qū)時，也可取鋼板無缺陷完好部位的第一次底波來校準靈敏度，其結果應與 4.1.4.2 的要求相一致。4.1.5 檢測方法4.1.5.1 檢測面 可選鋼板的任一軋制表面進行檢測。若檢測人員認為需要或設計上有要求時，也可選鋼板的上、下兩軋制表面分別進行檢測。4.1.5.2 耦合方式69JB/T 4730.3 2005

17、耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。4.1.5.3 掃查方式a）探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于100mm 的平行線進行掃查。在鋼板剖口預定線兩側各50mm（當板厚超過100mm時，以板厚的一半為準）內應作100%掃查，掃查示意圖見圖 3。b）根據合同、技術協議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查。圖 3 探頭掃查示意圖4.1.6 缺陷的測定與記錄4.1.6.1 在檢測過程中，發(fā)現下列三種情況之一即作為缺陷：a）缺陷第一次反射波（ F1）波高大于或等于滿刻度的 50%，即 F1 50%。b）當底面第一次反射波（ B1 ）波高未達到滿刻度，此時，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波

18、（ B1）波高之比大于或等于 50%，即 B1100%，而 F1/B 150%。c）底面第一次反射波（ B1）波高低于滿刻度的 50%，即 B1 50%。4.1.6.2 缺陷的邊界范圍或指示長度的測定方法a） 檢出缺陷后，應在它的周圍繼續(xù)進行檢測，以確定缺陷的范圍。b） 用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時，探頭的移動方向應與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基 準靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比為50%。此時，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點即為缺陷的邊界點。 兩種方法測得的結果以較嚴重者為準。c）用單直探頭確定缺陷的

19、邊界范圍或指示長度時， 移動探頭使缺陷第一次反射波波高下降到基準靈敏度條件下熒光屏 滿刻度的 25%或使缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比為50%。此時，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心即為缺陷的邊界點。兩種方法測得的結果以較嚴重者為準。d）確定 4.1.6.1 c ）中缺陷的邊界范圍或指示長度時，移動探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面第一次反射波升高到 熒光屏滿刻度的 50%。此時探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點即為缺陷的邊界點。e）當板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時，基準靈敏度應以相應的第二次反射波來校準。4.1.7 缺陷的評定方

20、法4.1.7.1 缺陷指示長度的評定規(guī)則若單個缺陷的指示長度小于40mm時，可不作記錄單個缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度。4.1.7.2 單個缺陷指示面積的評定規(guī)則a） 一個缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個指示面積。b） 多個缺陷其相鄰間距小于 100mm或間距小于相鄰較小缺陷的指示長度（取其較大值）時，以各缺陷面積之和作為單 個缺陷指示面積。c）指示面積不計的單個缺陷見表 3 。70JB/T 4730.3 2005表 3 鋼板質量分級單個缺陷單個缺陷在任一 1m 1m檢測面積內存在的以下單個缺陷等級指示長度指示面積缺陷面積百分比指示面積不計mmcm2%cm28025391005

21、051512010010251501001025超過級者4.1.7.3 缺陷面積百分比的評定規(guī)則在任一 1m 1m檢測面積內，按缺陷面積所占的百分比來確定。如鋼板面積小于1m 1m，可按比例折算。4.1.8 鋼板質量分級4.1.8.1 鋼板質量分級見表 3。4.1.8.2 在坡口預定線兩側各 50mm（板厚大于 100mm時，以板厚的一半為準）內，缺陷的指示長度大于或等于50mm時，應評為級。4.1.8.3 在檢測過程中，檢測人員如確認鋼板中有白點、裂紋等危害性缺陷存在時，應評為級。4.1.9 橫波檢測4.1.9.1 在檢測過程中對缺陷有疑問或合同雙方技術協議中有規(guī)定時，可采用橫波檢測。4.1

22、.9.2 鋼板橫波檢測見附錄 B（規(guī)范性附錄）進行。4.2 承壓設備用鋼鍛件超聲檢測和質量分級4.2.1 范圍 本條適用于承壓設備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測和質量分級。 本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲檢測，也不適用于內外半徑之比小于80%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測。4.2.2 探頭雙晶直探頭的公稱頻率應選用5MHz。探頭晶片面積不小于 150mm2；單晶直探頭的公稱頻率應選用2 5MHz，探頭晶片一般為 14 25mm。4.2.3 試塊應符合 3.5 的規(guī)定。4.2.3.1 單直探頭標準試塊采用 CS試塊，其形狀和尺寸應符合圖4 和表 4 的規(guī)定。如確有需要也可采用其他對比試

23、塊。71JB/T 4730.3 2005圖 4 CS 標準試塊試塊序號CS-1CS-2CS-3CS-4L50100150200D50608080表 4 CS 標準試塊尺寸mm4.2.3.2 雙晶直探頭試塊a) 工件檢測距離小于 45mm時，應采用 CS標準試塊。b) CS 試塊的形狀和尺寸應符合圖5 和表 5 的規(guī)定。試塊序號孔徑檢測距離L123456789圖 5 CS 標準試塊 表 5 CS 標準試塊尺寸mm72JB/T 4730.3 20056 所示。4.2.4 檢測時機Ra 6.3 m。檢測原則上應安排在熱處理后，孔、臺等結構機加工前進行，檢測面的表面粗糙度4.2.5 檢測方法4.2.5

24、.1 一般原則 鍛件應進行縱波檢測，對筒形和環(huán)形鍛件還應增加橫波檢測。4.2.5.2 縱波檢測7 所示。其他形狀的鍛a ) 原則上應從兩個相互垂直的方向進行檢測，盡可能地檢測到鍛件的全體積。主要檢測方向如圖 件也可參照執(zhí)行。b) 鍛件厚度超過 400mm時，應從相對兩端面進行 100%的掃查。73JB/T 4730.3 2005注：為應檢測方向； 為參考檢測方向圖 7 檢測方向 （ 垂直檢測法 ）4.2.5.3 橫波檢測 鋼鍛件橫波檢測應按附錄 C（規(guī)范性附錄）的要求進行。4.2.6 靈敏度的確定4.2.6.1 單直探頭基準靈敏度的確定 當被檢部位的厚度大于或等于探頭的 3 倍近場區(qū)長度，且探

25、測面與底面平行時， 原則上可采用底波計算法確定基準靈敏 度。對由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的3 倍近場區(qū)時，可直接采用 CS標準試塊確定基準靈敏度。74JB/T 4730.3 20054.2.6.2 雙晶直探頭基準靈敏度的確定使用 CS 試塊，依次測試一組不同檢測距離的 3 平底孔（至少三個） 。調節(jié)衰減器，作出雙晶直探頭的距離波幅曲 線，并以此作為基準靈敏度。4.2.6.3 掃查靈敏度一般不得低于最大檢測距離處的 2mm平底孔當量直徑。4.2.7 工件材質衰減系數的測定4.2.7.1 在工件無缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測面與底面平行且有代表性的部位，調節(jié)儀器使第一次底面回波幅度

26、（B1 或Bn）為滿刻度的 50%，記錄此時衰減器的讀數，再調節(jié)衰減器，使第二次底面回波幅度（B2 或 Bm）為滿刻度的 50%，兩次衰減器讀數之差即為（ B1、 B2）或（ Bn、 Bm）的 dB 差值（不考慮底面反射損失） 。4.2.7.2 衰減系數的計算公式（ T3N/T，m =2n） =（ Bn- Bm）-6/2 （m - n ）T（ 1）式中： 衰減系數， dB/m（單程）；（ Bn - B m）兩次衰減器的讀數之差，dB；T工件檢測厚度， mm；N單直探頭近場區(qū)長度， mm；m、 n底波反射次數。4.2.7.3 衰減系數（ T 3N）按式 （2） 計算=（B1-B2）-6 /2T（

27、 2）式中:（ B1 - B2）兩次衰減器的讀數之差，dB；其余符號意義同式（ 1）的。4.2.7.4 工件上三處衰減系數的平均值即作為該工件的衰減系數。4.2.8 缺陷當量的確定4.2.8.1 被檢缺陷的深度大于或等于探頭的 3 倍近場區(qū)時，采用 AVG曲線及計算法確定缺陷當量。對于3 倍近場區(qū)內的缺陷，可采用單直探頭或雙晶直探頭的距離波幅曲線來確定缺陷當量。也可采用其他等效方法來確定。4.2.8.2 計算缺陷當量時，若材質衰減系數超過4dB/m，應考慮修正。4.2.9 缺陷記錄4.2.9.1 記錄當量直徑超過 4mm的單個缺陷的波幅和位置。4.2.9.2 密集區(qū)缺陷： 記錄密集區(qū)缺陷中最大

28、當量缺陷的位置和缺陷分布。 餅形鍛件應記錄大于或等于 4mm當量直徑的缺 陷密集區(qū)， 其他鍛件應記錄大于或等于 3mm當量直徑的缺陷密集區(qū)。 缺陷密集區(qū)面積以 50mm 50mm的方塊作為最小量度單 位，其邊界可由 6dB 法決定。4.2.9.3 底波降低量應按表 6 的要求記錄。表 6 由缺陷引起底波降低量的質量分級 dB等級底波降低量BG/BF88141420202626注：本表僅適用于聲程大于近場區(qū)長度的缺陷。75JB/T 4730.3 20054.2.9.4衰減系數：若合同雙方有規(guī)定時，應記錄衰減系數。4.2.10質量分級等級評定4.2.10.1單個缺陷的質量分級見表 7 。4.2.1

29、0.2缺陷引起底波降低量的質量分級見表 6表 7 單個缺陷的質量分級 mm等級缺陷當量直徑44+( 0dB 8dB) 4+( 8dB 12dB)4+( 12dB 16dB) 4 +16dB4.2.10.3 缺陷密集區(qū)質量分級見表 8表 8 密集區(qū)缺陷的質量分級等級密集區(qū)缺陷占檢測總面積的百分比， %00 55 1010 20204.2.10.4表 6 、表 7 和表 8 的等級應作為獨立的等級分別使用。4.2.10.5 當缺陷被檢測人員判定為危害性缺陷時，鍛件的質量等級為級。4.3 承壓設備用鋁及鋁合金和鈦及鈦合金板材超聲檢測和質量分級4.3.1 范圍本條適用于厚度大于或等于6mm的承壓設備用

30、鋁及鋁合金、 鈦及鈦合金板材的超聲檢測和質量分級。4.3.2 探頭選用4.3.2.1 探頭的選用應按表 1 的規(guī)定進行。4.3.2.2 雙晶直探頭性能要求應符合附錄A（規(guī)范性附錄）的要求。4.3.3 檢測方法4.3.3.1 檢測面 可選板材的任一軋制表面進行檢測。若檢測人員認為需要或設計上有要求時，也可選板材的上、下兩軋制表面分別進行檢測。4.3.3.2 掃查方式a）探頭沿垂直于板材壓延方向， 間距不大于 40mm的平行線進行掃查。 在板材剖口預定線兩側各 50mm內應作 100%掃查， 掃查示意如圖 3。b）根據合同、技術協議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查。4.3.3.3 基準靈敏度

31、的確定 將探頭置于待檢板材完好部位，調節(jié)第一次底波高度為熒光屏滿刻度的80%，以此作為基準靈敏度。4.3.4 耦合方式 耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。4.3.5 缺陷記錄4.3.5.1 在檢測過程中，發(fā)現下列情況之一者即作為缺陷處理：a ） 缺陷第一次反射波（ F1）波高大于或等于滿刻度的40%，即 F 1 40%。b） 缺陷第一次反射波（ F1 ）波高低于滿刻度的 40%，同時，缺陷第一次反射波（ F1）波高與底面第一次反射波（ B1）波 高之比大于或等于 100%，即 F 1/ B1 100%。c）當底面第一次反射波（ B1 ）波高低于滿刻度的 5%，即 B15%。76JB/T 473

32、0.3 20054.3.5.2 缺陷邊界范圍或指示長度的測定方法a ) 檢出缺陷后，應在它的周圍繼續(xù)進行檢測，以確定缺陷的延伸。b ) 用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時，探頭的移動方向應與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基 準靈敏度條件下熒光屏滿刻度的20%或使缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比為100%。此時，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點即為缺陷的邊界點。 兩種方法測得的結果以較嚴重者為準。c ) 用單直探頭確定缺陷邊界或指示長度時，移動探頭，使缺陷第一次反射波波高下降到檢測靈敏度條件下熒光屏滿刻 度的 20%或使缺陷第一次反射波波高與底面第一次

33、反射波波高之比為 100%。此時，探頭中心移動距離即為缺陷的指 示長度，探頭中心即為缺陷的邊界點；兩種方法測得的結果以較嚴重者為準。d ) 確定底波降低缺陷的邊界或指示長度時，移動探頭(單直探頭或雙直探頭) ，使底面第一次反射波升高到熒光屏滿 刻度的 40%。此時，探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點即為缺陷的邊界點。4.3.6 缺陷的評定方法4.3.6.1 缺陷指示長度的評定a) 一個缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度，若單個缺陷的指示長度小于25mm時，可不作記錄。b) 兩個缺陷相鄰間距小于 25mm時，其指示長度為兩單個缺陷的指示長度再加上間距之和。4.3.6.2 單個

34、缺陷指示面積的評定a ) 一個缺陷按其指示的最大面積作為該缺陷的單個指示面積。b) 多個缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長度(取其較大值)時，以各缺陷面積之和作為單個缺陷指示面積。c) 指示面積不計的單個缺陷見表9 。表 9 板材質量分級等級單個缺陷指示長度，mm單個缺陷指示面積， cm2以下單個缺陷指示面積不計，2 cm256450209755054.6.8 質量分級4.6.8.1 單個缺陷的質量分級見表 12。4.6.8.2 由缺陷引起底波降低量的質量分級見表 13表 13 由缺陷引起底波降低量的質量分級 dB等級底波降低量BG/BF881414 20202626注：本表僅適用于聲程大

35、于近場區(qū)長度的缺陷。4.6.8.3 按表 12 和表 13 評定缺陷等級時，應作為獨立的等級分別使用。4.6.8.4 當缺陷被檢測人員判定為危害性缺陷時，螺栓坯件的質量等級為級。4.7 承壓設備用奧氏體鋼鍛件超聲檢測和質量分級4.7.1 范圍 本條適用于承壓設備用奧氏體鋼鍛件的超聲檢測和質量分級。4.7.2 探頭4.7.2.1 探頭的工作頻率為 0.5 MHz 2MHz。4.7.2.2 直探頭的晶片直徑為 14mm 30mm。4.7.2.3 斜探頭的 K值一般為 0.5 2。4.7.2.4 為了準確測定缺陷，必要時也可采用其他探頭。4.7.3 試塊4.7.3.1 對比試塊應符合 3.5 的規(guī)定

36、。4.7.3.2 對比試塊的晶粒大小和聲學特性應與被測鍛件大致相近。4.7.3.3 應制備幾套不同晶粒度的奧氏體鋼鍛件對比試塊， 以便能將缺陷區(qū)衰減同試塊作合理的比較。4.7.3.4 對比試塊的形狀和尺寸按圖 11 和表 14 所示。81表 14 奧氏體鋼鍛件試塊尺寸 mm361013LDLDLDLD20502050205020504050505050505050605080501006010060805012060150801508016080200802008020080250100250100300100300100400150500150600200JB/T 4730.3 20054.

37、7.3.5 在條件允許時，可在鍛件有代表性的部位加工一個或幾個適當大小的對比孔或槽，代替試塊作為校正和檢測的基 準。4.7.4 檢測時機和工件要求4.7.4.1 鍛件原則上應在最終熱處理后、粗加工前進行超聲檢測。檢測表面粗糙度Ra6.3 m。檢測面應無氧化皮、漆皮、污物等。4.7.4.2 鍛件應加工成簡單的形狀，以利于掃查和聲束的覆蓋。4.7.5 檢測方法 一般應進行直探頭縱波檢測。對筒形鍛件和環(huán)形鍛件必要時還應進行斜探頭檢測，但掃查部位和驗收標準應由合同雙方商定。斜探頭檢測4.7.5.182JB/T 4730.3 2005奧氏體鋼鍛件斜探頭檢測應按附錄E（規(guī)范性附錄）的要求進行。4.7.5.

38、2 直探頭縱波檢測 直探頭縱波檢測應符合 4.2.5.2 的規(guī)定。4.7.6 靈敏度的校正4.7.6.1 當被檢鍛件厚度小于或等于600mm時，應根據定貨鍛件厚度和要求的質量等級，在適當厚度和當量的平底孔試塊上校正，并根據實測值做出距離波幅曲線（定量線） ；當被檢鍛件厚度大于600mm時，在鍛件無缺陷部位將底波調至滿刻度的 80%，以此作為基準靈敏度。4.7.6.2 掃查靈敏度應至少比距離波幅曲線（定量線）或基準靈敏度提高6dB。4.7.7 缺陷記錄4.7.7.1 由于缺陷的存在，而使底波降為滿刻度25%以下的部位。4.7.7.2 波幅幅度大于基準線高度 50%的缺陷信號。4.7.8 質量分級

39、4.7.8.1 單直探頭檢測的質量分級見表15。4.7.8.2 斜探頭檢測的質量分級見表16。4.7.8.3 表 15 和表 16 的級別應作為獨立的等級使用。表 15 單直探頭檢測的質量分級 mm工件公稱厚度80 80 200200300300 600600工件質量等級缺陷當量直徑 或因 缺陷引起底波降低后 的幅度3366101013135% 5%表 16 斜探頭檢測的質量分級 mm等級缺陷大小V 形槽深為工件壁厚的 3%，最大為 3V 形槽深為工件壁厚的 5%，最大為 65 承壓設備對接焊接接頭超聲檢測和質量分級5.1 鋼制承壓設備對接焊接接頭超聲檢測和質量分級5.1.1 適用范圍本條規(guī)定

40、了鋼制承壓設備對接焊接接頭的超聲檢測和質量分級。本條適用于母材厚度為 8mm400mm全熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測。母材厚度為 6mm 8mm全熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測應按照附錄 G（規(guī)范性附錄 ） 的規(guī)定進行。承壓設備有關的支承件和結構件以及螺旋焊接接頭的超聲檢測也可按本條 的規(guī)定進行。鈦制承壓設備對接焊接接頭超聲檢測參照附錄M（資料性附錄）的規(guī)定進行，奧氏體不銹鋼承壓設備對接焊接接頭超聲波檢測參照附錄 N（資料性附錄）的規(guī)定進行。如確有需要，壁厚為 4mm 6mm的環(huán)向對接焊接接頭的超聲檢測可參照6.1 進行。本條不適用于鑄鋼對接焊接接頭、外徑小于159mm的鋼管環(huán)向對接焊接接頭、內徑小于或等于200mm的管座角焊縫的超聲檢測，也不適用于外徑小于 250mm或內外徑之比小于 80%的縱向對接焊接接頭超聲檢測。5.1.2 超聲檢測技術等級5.1.2.1 超聲檢測技術等級選擇超聲檢測技術等級分為 A、 B、C三個檢測級別。超聲檢測技術等級選擇應符合制造、安裝、在用等有關規(guī)范、標準及設 計圖樣規(guī)定。5.1.2.2 不同檢測技術等級的要求5.1.2.2.1 A 級僅適用于母材厚度為 8mm 46mm的對接焊接接頭。 可用一種 K值探頭采用直射波法和一次反射波法在對接焊83JB/T 4730.3 2005接接頭的單面單側進行檢測。一般不要求進行橫向缺陷的檢測。