飛機(jī)故障診斷技術(shù)

1、1. 故障是指產(chǎn)品喪失了規(guī)定的功能，或產(chǎn)品的一個(gè)或幾個(gè)性能指標(biāo)超過(guò)了規(guī)定的范圍。它是產(chǎn)品的一 種不合格狀態(tài)。2. 故障按其對(duì)功能的影響分為兩類：功能故障和潛在故障。功能故障是指被考察的對(duì)象不能達(dá)到規(guī)定的性能指標(biāo)；潛在故障又稱作故障先兆，它是一種預(yù)示功能故障即將發(fā)生的可以鑒別的實(shí)際狀態(tài)或事件。3.4.5.6.7.8.故障按其后果分四類：安全性后果故障：采取預(yù)防維修的方式；使用性后果故障：對(duì)使用能力有直接的不利影響，通常是 在預(yù)防維修的費(fèi)用低于故障的間接經(jīng)濟(jì)損失和直接修理費(fèi)用之和時(shí)，才采用預(yù)防維修方式；非使用 性后果故障：對(duì)安全性及使用性均沒有直接的不利影響，只是使系統(tǒng)處于能工作但并非良好的狀態(tài)，

2、只有當(dāng)預(yù)防維修費(fèi)用低于故障后的直接維修費(fèi)用時(shí)才進(jìn)行預(yù)防維修，否則一般采用事后維修方式； 隱患性后果故障：通常須做預(yù)定維修工作。故障按其產(chǎn)生原因及故障特征分類可分為早期故障、偶然故障和損耗故障。偶然故障也稱隨機(jī)故障,它是產(chǎn)品由于偶然因素引起的故障。對(duì)于偶然故障，通常預(yù)定維修是無(wú)效的。耗損故障是由于產(chǎn)品 的老化、磨損、腐蝕、疲勞等原因引起的故障。這種故障出現(xiàn)在產(chǎn)品可用壽命期的后期，故障率隨 時(shí)間增長(zhǎng)，采用定期檢查和預(yù)先更換的方式是有效的。故障模式或故障類型是故障發(fā)生時(shí)的具體表現(xiàn)形式。故障模式是由測(cè)試來(lái)判斷的，測(cè)試結(jié)果顯示的 是故障特性。故障機(jī)理是故障的內(nèi)因，故障特征是故障的現(xiàn)象，而環(huán)境應(yīng)力條件是故

3、障的外因。 應(yīng)力-強(qiáng)度模型：當(dāng)施加在元件、材料上的應(yīng)力超過(guò)其耐受能力時(shí)，故障便發(fā)生。這是一種材料力 學(xué)模型。高可靠度狀態(tài)（圖1.2-2（a）:應(yīng)力和強(qiáng)度分布的標(biāo)準(zhǔn)差很小，且強(qiáng)度均值比應(yīng)力均值高得多，安 全余量Sm很大，所以可靠度很高。圖1.2-2 （b）所示為強(qiáng)度分布的標(biāo)準(zhǔn)差較大，應(yīng)力分布標(biāo)準(zhǔn)差較小的情況，采用高應(yīng)力篩選法，讓 質(zhì)量差的產(chǎn)品出現(xiàn)故障，以使母體強(qiáng)度分布截去低強(qiáng)度范圍的一段，使強(qiáng)度與應(yīng)力密度曲線下重疊 區(qū)域大大減小，余下的裝機(jī)件可靠度提高。圖1.2-2（ C）所示為強(qiáng)度分布標(biāo)準(zhǔn)差較小，但應(yīng)力分布標(biāo)準(zhǔn)差較大的情況，解決的辦法最好是減小 應(yīng)力分布的標(biāo)準(zhǔn)差，限制使用條件和環(huán)境影響或修改設(shè)

4、計(jì)。(fl)./圖1.2-2應(yīng)力、強(qiáng)度分布對(duì)可靠性的影響9反應(yīng)論模型：如果產(chǎn)品的故障是由于產(chǎn)品內(nèi)部某種物理、化學(xué)反應(yīng)的持續(xù)進(jìn)行， 直到它的某些參數(shù)變化超過(guò)了一定的臨界值，產(chǎn)品喪失規(guī)定功能或性能，這種故障就可以用反應(yīng)論模型來(lái)描述。串連式反應(yīng)過(guò)程：總反應(yīng)速度主要取決于反應(yīng)最慢的那個(gè)過(guò)程的速度。易錯(cuò)漏。邏輯或門ikMini異或門表決門K/N門表決門：僅當(dāng)n個(gè)輸入事件中有k個(gè)或k個(gè)以上發(fā)生時(shí)，輸出事件才發(fā)生。并聯(lián)式反應(yīng)過(guò)程：總反應(yīng)速度主要取決于反應(yīng)最快的過(guò)程的速度。10最弱環(huán)模型（串連模型）：認(rèn)為產(chǎn)品或機(jī)件的故障（或破壞）是從缺陷最大因而也是最薄弱的部位 產(chǎn)生11 .故障樹分析法簡(jiǎn)稱 FTA法（Fau

5、lt Tree Analysis）故障樹分析法是一種將系統(tǒng)故障形成的原因由總體至部分按樹狀逐級(jí)細(xì)化的分析方法。 故障樹分析法將最不希望發(fā)生的故障事件作為頂事件，利用事件和邏輯門符號(hào)逐級(jí)分析故障形成原因。 優(yōu)點(diǎn)：直觀、形象，靈活性強(qiáng)，通用性好；缺點(diǎn)：理論性強(qiáng)，邏輯嚴(yán)謹(jǐn)，建樹要求有經(jīng)驗(yàn)，建樹工作量 大，12.頂事件和中間事件（矩形） 底事件（圓形）開關(guān)事件（房形）省略事件（菱形）14.建樹步驟頂事件選取原則：1）必須有確切的定義，不能含混不清、模棱兩可。2）必須是能分解的，以便分析頂事件和底事件之間的關(guān)系。3）能被監(jiān)測(cè)或控制，以便對(duì)其進(jìn)行測(cè)量、定量分析，并采取措施防止其發(fā)生。4）最好有代表性。15

6、. （1）系統(tǒng)級(jí)邊界條件 頂事件及附加條件（2）部件級(jí)邊界條件 元部件狀態(tài)及概率，利用邊界條件簡(jiǎn)化： 與門下有必不發(fā)生事件， 與門下有必然發(fā)生事件 或門下有必然發(fā)生事件， 或門下有必不發(fā)生事件，系統(tǒng)初始狀態(tài)，不允許出現(xiàn)事件，不加考慮事件底事件是重要部件級(jí)邊界其上至或門，則或門下該分支可刪除;，則該事件可刪除；其上至與門，則與門下該分支可刪除則該事件可刪除16. n個(gè)不同的獨(dú)立底事件組成的故障樹，有17.與門結(jié)構(gòu)故障樹的結(jié)構(gòu)函數(shù)(X18或門結(jié)構(gòu)故障樹的結(jié)構(gòu)函數(shù)(X )2n個(gè)可能狀態(tài)，故可有nI Xii 1nU Xii 12n個(gè)狀態(tài)向量。min x1,max X1,X2,L , XnX2,L ,X

7、n19. k/n門結(jié)構(gòu)故障樹的結(jié)構(gòu)函數(shù)(X)mU| Xji 1 j Ki20.底事件的相干性 若對(duì)第i個(gè)底事件而言，至少存在一對(duì)狀態(tài)向量Y0i=(y1,y2,yi-1,0,yi+1,yn)記作(0i,Y)而言，恒有(1i,X)Y1i=(y1,y2,yi-1,1,yi+1,，yn)記作(1i,Y)和，滿足(1i,Y)(0i,Y)，而對(duì)其它一切狀態(tài)向量(0i, X) 成立，則稱第i個(gè)底事件與頂事件相干。(1i,X) (0i, X)，則稱第i個(gè)底事件與頂事件不相干。如果找不到狀態(tài)向量滿足 相干結(jié)構(gòu)函數(shù)：(X)滿足：? 故障樹中底事件與頂事件均相干；?(X)對(duì)各底事件的狀態(tài)變量xi(i=1,2,n)均

8、為非減函數(shù)21相干結(jié)構(gòu)函數(shù)的性質(zhì)若狀態(tài)向量 X=(0,0，0)，則(X)=0 ；若狀態(tài)向量X=(1,1,1)，則(X)=1 ；若狀態(tài)向量 X Y(即Xi yi,i=1,2,n),則結(jié)構(gòu)函數(shù)(X) (Y);若(X)是由n個(gè)獨(dú)立底事件組成的任意結(jié)構(gòu)故障的相干結(jié)構(gòu)函數(shù)，n I xii 1即任意結(jié)構(gòu)故障樹， 22若狀態(tài)向量X 分量對(duì)應(yīng)的狀態(tài)變量(1)(2)(3)(4) 則有n(X) U Xii 1其結(jié)構(gòu)函數(shù)的上限為或門結(jié)構(gòu)故障樹結(jié)構(gòu)函數(shù)，而下限是與門結(jié)構(gòu)故障樹結(jié)構(gòu)函數(shù)。能使結(jié)構(gòu)函數(shù) (X)=1，則稱此狀態(tài)向量為 害恫量。在割向量X中，取值為1的各 (或底事件)的集合，稱作割集。割集是導(dǎo)致頂事件發(fā)生的若

9、干底事件的集合。若狀態(tài)向量X是割向量(即 (x)=1),并對(duì)任意狀態(tài)向量 Z而言，只要ZX，恒有(Z)=1成立，則 稱X為最小路向量，最小路向量 X中取值為 集是使系統(tǒng)不發(fā)生故障的必要正常元件的集合24. 用最小割集表示結(jié)構(gòu)函數(shù)：0的各分量對(duì)應(yīng)的底事件的集合，稱為最小路集。最小路25.用最小路集表示結(jié)構(gòu)函數(shù):lU i 1lX j故采用之)26.掌握化相交和為不交和，求頂事件概率(此法最簡(jiǎn)單易于理解,mk1k2k3km 1km式中心為故障樹的最(X) UKi 匕匕12小割集，將上式化成單獨(dú)項(xiàng)(形如X1X2這種形式)的邏輯和，將式中的Xi用qi代替，Xi用1 qi代替。這樣便可得到頂事件發(fā)生的概率

10、為：mP Fj 127.底事件的發(fā)生對(duì)頂事件發(fā)生的影響，稱作底事件的重要度。i概率結(jié)構(gòu)重要度lp（i）:僅由單個(gè)底事件概率的變化而引起頂事件概率發(fā)生變化，則頂事件概率對(duì)底事件概率的變化率稱作該底事件的概率結(jié)構(gòu)重要度，簡(jiǎn)稱概率重要度，記作I p（i）。數(shù)學(xué)表達(dá)式為：|p（i）。上式可以看出概率重要度較大的底事件，其概率發(fā)生變化，則對(duì)頂事件概率qi變化的影響是比較大的。結(jié)構(gòu)重要度I （i）:第i個(gè)底事件的結(jié)構(gòu)重要度I （i）定義為該底事件處于關(guān)鍵狀態(tài)的系統(tǒng)狀態(tài)數(shù)與其處于正常狀態(tài)的系統(tǒng)狀態(tài)數(shù)之比。當(dāng)系統(tǒng)由n個(gè)獨(dú)立元件組成時(shí)，則可表示為： I （i） 歩絆n （i）為該底事件處于關(guān)鍵狀態(tài)的系統(tǒng)狀態(tài)數(shù)，

11、可由下式表示:n (i)2n 1(1i,X)X(Oi,X)所謂底事件的關(guān)鍵狀態(tài)是指該底事件狀態(tài)變量由 構(gòu)函數(shù)也由0變?yōu)? （系統(tǒng)由正常變故障）的狀態(tài)。 用以下原則求結(jié)構(gòu)重要度 ，在概率重要度的基礎(chǔ)上，令各底事件的概率均為 度與其底事件的概率重要度相同。0變?yōu)?時(shí)（該元件由正常變故障），故障樹的結(jié)1/2,則所求結(jié)構(gòu)重要關(guān)鍵重要度：IC（i）ln g(q)ln qigip （i），由此可見，底事件的關(guān)鍵重要度是指頂事件概率相對(duì)g變化量與引起此變化的底事件概率相對(duì)變化量之比的極限。28 .故障隔離手冊(cè)（FIM）和故障報(bào)告手冊(cè)使用同一的故障碼，該故障碼為8位數(shù)：左起前兩位為故障所在章號(hào)（系統(tǒng)），3、4

12、位為節(jié)號(hào)（子系統(tǒng)），5、6位為項(xiàng)目號(hào)，7、8位表示故障件位置。29. 無(wú)空勤人員提供故障碼時(shí)的故障隔離程序-故障必然歸入下面四種情況之一：? 有相應(yīng)的EICAS信息的故障；? 有機(jī)內(nèi)自檢程序（BITE ）的故障；? 有適用的維修控制顯示板（ MCD）信息的故障；? 以上信息全沒有的故障。若報(bào)告的問(wèn)題上述三種信息均有，則故障分析順序?yàn)閮?yōu)先考慮執(zhí)行有 機(jī)內(nèi)自檢程序，最后是考慮執(zhí)行有MCDP信息的排故程序。30. 查找故障的典型概率法（P 75）重點(diǎn)看，有計(jì)算。概率法應(yīng)用的條件： 故障是由某一元件故障引起；查找故障不會(huì)引入新故障。 概率法應(yīng)用的參數(shù)： 檢查次數(shù)（一次檢查、平均檢查次數(shù)EICAS信息的

13、排故程序，其次是檢查時(shí)間（一次檢查時(shí)間 t i、Nmi平均總檢查時(shí)間i (nTm檢查工作量（一次檢查工作量i、平均總檢查工作量1)tj)11 i(1 jj)檢查費(fèi)用（一次檢查費(fèi)用 C、平均總檢查費(fèi)用EmCj)1tj)1n 1(Cj)j 1j)i(tj) ij 1nj)i 1iCj)j 1nt nnCn適用范圍逐件檢查系統(tǒng)分組檢查系統(tǒng)31.制材的廝始資料 及利用情況宦機(jī)件檢直 次序的廉則得到的擾化霑數(shù)任.徵選擇疑*未Mb或大致相皿或未加任e|価到法片或T;沖巳知，甘為未知或;加檢打冬匕Yr”的謹(jǐn) 序;或G廷咒0,1Wr”的 罐增次存平均竝檢ft時(shí)間少 平均總檢査工作it少卩1為已血曲大致相冋或未

14、加考 慮按 場(chǎng)左晟鼻月r 外的遞械找 序平肖槍肯次fta少時(shí)間-槪率法Bz Li知簽別較大按A亠魯鼻魯亠魯?shù)倪f截平溝總檢杳時(shí)間用短32. 分組檢查的方法：兩分法、等概率法、最小時(shí)間法。 兩分法：要點(diǎn)-符合機(jī)件數(shù)大致相等的要求； 最少檢查次數(shù)與最大檢查次數(shù)：1)i若系統(tǒng)由n個(gè)機(jī)件組成，滿足 2m葉1 （m為正整數(shù)），則系統(tǒng)最少檢查次數(shù)為 m次,最大檢查次數(shù)為（n+1 ）次，平均檢查次數(shù)Sm-第m次可查出故障的機(jī)件零件號(hào)組成的集合,Sm1mj （m 1）jj Smj Sm 1同理。j-零件號(hào)為j的機(jī)件故障的條件概率。Sm2）若系統(tǒng)機(jī)件數(shù)恰好滿足 n = 2 m則只需且必須經(jīng)過(guò)m次檢查，才能查出故障

15、原因，平均檢查次數(shù)Nn= m等概率法：要點(diǎn)-先把系統(tǒng)按每組各機(jī)件故障條件概率之和i大致相等分成兩組，檢查故障條件概率之和i較大的那組，確定故障件所在部分。再將存在故障件的那一組按每組各機(jī)件故障條件概率之和i大致相等分成兩個(gè)分組，檢查故障條件概率之和i較大的一組，確定故障原因所在。如此繼續(xù)下去，直至查出故障原因?yàn)橹?。最小時(shí)間法：要點(diǎn)-每組各機(jī)件故障條件概率之和大致相等。ft找力-法Wf 料!耀優(yōu)優(yōu)1艸|A利打髯知謹(jǐn)木加rtttl的楓件敷人敎W不 建便必要檢査 少離C1MJ”打未JU詭*寺小組機(jī)件 的故 隔棗帰 M事之和人或梢等梅真無(wú)鳳慎錢天幅一如卡溝栓迪農(nóng)敵W 少kdi 上*&盒#rt槍|刊儀少

16、兇二111便平均椅衣持績(jī)時(shí)對(duì)各組計(jì)算檢查時(shí)間消耗率（i/ tj），選擇 較大的一組進(jìn)行檢查33. 信息量應(yīng)該是該信息出現(xiàn)概率的單調(diào)減函數(shù)(bit) ”信息量=log2 P , P信息量出現(xiàn)的概率，信息量的單位是“比特 -若有n個(gè)信息同時(shí)出現(xiàn)，它們對(duì)故障診斷提供的信息量要比單一信息提供的信息量大-當(dāng)n個(gè)信息相應(yīng)的事件互相獨(dú)立時(shí)，n個(gè)信息共同出現(xiàn)時(shí)的信息量等于各個(gè)信息的信息量之和，即信息量具有可加性A1, A2,An，系統(tǒng)隨機(jī)處于相應(yīng)狀態(tài)的概率分別為P(A1), P(A2),，P(An),np(A)log2 P(A)i 1H(A)35.復(fù)合系統(tǒng)的熵： 從而復(fù)合系統(tǒng)的熵為? A、B互相獨(dú)立:? A、

17、B統(tǒng)計(jì)相關(guān):A條件下B的熵值：34現(xiàn)代信息論中，“熵”是系統(tǒng)不確定程度的度量 若系統(tǒng)A有n個(gè)狀態(tài) 則系統(tǒng)的熵定義為設(shè)系統(tǒng)A有n個(gè)可能狀態(tài)A1,A 2,L ,An ,系統(tǒng)B有m個(gè)可能狀態(tài)B1,B2,L ,Bmn mH(AB)P(ABj)log2 P(AiBj)i 1 j 1H(A+B)=H(A)+H(B)H(AB)=H(A)+H(B/A)=H(B)+H(A/B)0 H (B/A) H (B)0 H (A/ B) H (A)Ja(B) H (A) H(A/B)36定義系統(tǒng)B為判斷A所處的狀態(tài)提供的平均信息量為 也被稱為系統(tǒng)B包含有關(guān)系統(tǒng)A的平均信息量。P(A/Bj)nJA（Bj）P （A/Bj）l

18、og2 6八、i 1P（A）37.目視檢查是飛機(jī)結(jié)構(gòu)完整性檢查的最基本、最常用的檢查方法，也是保證飛行安全的重要手段之一。當(dāng)蒙皮離開鉚釘頭并形成目視可見的明顯間隙，鉚釘周圍有黑圈，均表明鉚釘已松動(dòng)。鋁合金和鎂合金腐蝕初期成呈白色斑點(diǎn)，發(fā)展后出現(xiàn)灰白色腐蝕產(chǎn)物粉末。 不銹鋼的腐蝕往往是出現(xiàn)黑色的坑點(diǎn)。38氣密艙的密封檢查：流量法和壓力降法。流量法更適用于泄漏量較大而容積小的氣密艙。壓力降法 設(shè)備簡(jiǎn)單，測(cè)法簡(jiǎn)單可靠。氣密艙和結(jié)構(gòu)油箱泄露包括可控制泄露和不可控制泄露。影響密封艙結(jié)構(gòu)密封性的因素： 環(huán)狀縫隙影響因素；平面縫隙影響因素；加工與裝配質(zhì)量的影響。39. 渦流檢測(cè)的基本原理檢測(cè)線圈通交流電，在

19、線圈周圍產(chǎn)生交變的初級(jí)磁場(chǎng)，當(dāng)檢測(cè)線圈靠近被檢測(cè)的導(dǎo)電構(gòu)件時(shí)，在交變的初級(jí)磁場(chǎng)作用下，構(gòu)件中感生交變的電流渦流。渦流在構(gòu)件中及其周圍產(chǎn)生一個(gè)附加的交變次級(jí)磁場(chǎng)，次級(jí)磁場(chǎng)又在線圈內(nèi)產(chǎn)生感應(yīng)電流，它的方向與原電流方向相同。當(dāng)構(gòu)件中產(chǎn)生裂紋或有其它缺陷，檢測(cè)線圈與其接近時(shí)，渦流發(fā)生畸變，影響次級(jí)磁場(chǎng)，進(jìn)而影響檢測(cè)線圈中的感應(yīng)電流，檢測(cè)線 圈中的電流的變化，表明構(gòu)件發(fā)生損傷。40. 渦流檢測(cè)分為高頻渦流檢測(cè)（50kHz）和低頻渦流檢測(cè)。趨膚效應(yīng)：渦流的磁場(chǎng)會(huì)引起交變電流趨向構(gòu)件表面，表面電流密度最大，隨著深度增加，電流密 度減弱41渦流檢測(cè)法的適用范圍檢杳導(dǎo)電構(gòu)件的疲勞損傷和腐蝕損傷。對(duì)鋁合金是首詵的

20、無(wú)損檢測(cè)方法 不適用非金屬構(gòu)件，如塑料、玻璃纖維復(fù)合材料等的損傷高頻渦流可檢測(cè)試件表面或近表面的損傷，而低頻渦流可檢測(cè)構(gòu)件隱蔽面或緊固件孔壁上的損 傷對(duì)于鋼構(gòu)件一般不采用渦流檢測(cè)法探傷。 不能檢測(cè)出平行于探測(cè)面的層狀裂紋。厚度小于 1.5 mm 的薄板材，板邊緣或緊固件孔邊的邊界效應(yīng)較大，給檢測(cè)帶來(lái)一定的困難 42超聲波檢測(cè)法 :高頻聲束（頻率在 2okHz 以上）射入被檢材料，經(jīng)過(guò)不同介質(zhì)分界面會(huì)發(fā)生反射， 檢測(cè)者分析反射聲束信號(hào)，便可確定缺陷或損傷的存在及其位置。超聲波的發(fā)射與接收是利用 壓電材料的壓電效應(yīng) 來(lái)實(shí)現(xiàn)的 超聲波是一種 波長(zhǎng)比光波長(zhǎng)，比普通電波短，頻率高于 2okHz 的機(jī)械波

21、 43縱波檢測(cè)法的適用范圍:? 易檢測(cè)出與工件探測(cè)面走向平行的缺陷? 受儀器盲區(qū)和分辨力的限制，表面和近表面檢測(cè)能力低? 適用于檢測(cè)大面積的厚工件，定位簡(jiǎn)單橫波檢測(cè)法的適用范圍:? 可發(fā)現(xiàn)與工件表面成一定角度的缺陷或損傷? 輔助縱波檢測(cè)，檢測(cè)垂直于探測(cè)面的缺陷或損傷。 應(yīng)用:可檢測(cè)金屬、非金屬、復(fù)合材料的內(nèi)部及表面缺陷（裂紋損傷和腐蝕損傷） 感，只要聲束方向與裂紋面夾角達(dá)到一定要求，就可清晰地顯示出裂紋損傷 44磁粉檢測(cè) 的原理:（通過(guò)檢測(cè)漏磁來(lái)發(fā)現(xiàn)缺陷）鐵磁試件被磁化后， 若試件存在表面或近表面缺陷， 會(huì)使試件表面產(chǎn)生漏磁。 許多小磁疇，磁化前，磁疇隨機(jī)取向，磁性抵消；被磁化時(shí)，磁疇規(guī)則排列

22、，呈現(xiàn)磁極。，對(duì)平面缺陷十分敏鐵磁性工件中存在著當(dāng)工件表面或近表面存在與磁化方向近于垂直的裂紋缺陷時(shí)， 磁力線會(huì)彎曲， 呈繞行趨勢(shì)， 溢出表面的磁力線叫做缺 陷漏磁。漏磁場(chǎng)強(qiáng)度取決于缺陷尺寸、方向和位置以及試件的磁化強(qiáng)度。漏磁場(chǎng)強(qiáng)度越大，缺陷部位越容易吸附磁粉，越能顯示出磁粉跡痕，觀察磁粉跡痕判斷缺陷所在。周向磁化法:直接通電法、電極法、芯棒法 縱向磁化法:線圈法、電磁鐵法、感應(yīng)電流法 復(fù)合磁化法適用于鐵磁性構(gòu)件表面或近表面缺陷（或裂紋） 。主要檢測(cè)鍛鋼件及焊件，不適用于奧氏體不銹鋼（非 磁性材料） 。注意: 磁粉檢測(cè)后要對(duì)零件進(jìn)行 退磁 。45傳統(tǒng)的故障診斷方法包括 邏輯診斷方法、統(tǒng)計(jì)診斷方

23、法和模糊診斷方法 。 46邏輯診斷法師根據(jù)故障特性 （故障信息或征兆）與故障狀態(tài)的邏輯關(guān)系，運(yùn)用推理的方式進(jìn)行故障 診斷的方法。有效決策規(guī)則：將有效邏輯基中全部變?cè)ㄈ≈禐?）或逆變?cè)ㄈ≈禐?）邏輯乘，再求邏輯和. 有效決策主范式:從決策規(guī)則出發(fā)，通過(guò)邏輯運(yùn)算，得到 概括邏輯診斷步驟 :1.全部變?cè)蚰孀冊(cè)壿嫵说倪壿嫼痛_定考慮的因素 , 建立決策規(guī)則 ; 建立有效決策規(guī)則或有效決策主范式 ; 將給定元件狀態(tài)的元件變?cè)蚰孀冊(cè)M成征兆函數(shù)2.3. 態(tài)識(shí)別或故障診斷 . 注: 此節(jié)求有效邏輯基，通過(guò)分析故障成因函數(shù)查找故障原因是重點(diǎn)。 47統(tǒng)計(jì)診斷方法:, 待定元件變?cè)蚰孀冊(cè)M成成因函數(shù) , 進(jìn)行狀確定臨界值 X0 是重點(diǎn)。根據(jù)對(duì)平均冒險(xiǎn)率的分析，提出以下四種確定臨界值Xo的方法:在滿足平均冒險(xiǎn)率最小的條件下，即使- 皮爾遜方法。最小冒險(xiǎn)法、最小錯(cuò)誤診斷概率方法、極小極大法和紐曼R = Rmax時(shí)，確定臨界值 Xo